专利名称：一种同时适于测试线路板上各种电子元件参数的表笔的制作方法
技术领域：
一种同时适于测试线路板上各种电子元件参数的表笔所属领域本实用新型涉及万用表等测量仪器仪表所配用的测试表笔，尤其是同 时适用于测试已焊接或插接在线路板上的各种电子元件参数的表笔。
背景技术：
众所周知，现有的万用表等测量仪器仪表所配测试表笔，由绝缘的笔杆、顶端为尖 锥形的金属探针、导线及导线插头等构成。现有表笔用于测试已焊接或插接在线路板上的电子元器件，如测试集成电路块的 相关参数，由于集成电路块的引出脚是一个接一个紧密排列的，相邻两个引出脚间只有很 小的间隙，当现有表笔的探针磁触所测引出脚时，由于并无固定接触位置的结构功能，尖滑 的探针极易从所测引出脚滑落，同时碰触到相邻的引出脚，引起测量结果的不实变化。若集 成电路块处于通电状态，则还可能造成短路，烧毁集成电路块。如测试三极管中间的一极， 则易碰触旁边的两极。有的元件如电阻，往往位置紧贴线路板，引出线很短，现有表笔电不 易稳定地与之接触。
发明内容针对现有表笔的上述不足，本实用新型提供一种适用于测试线路板上各种电子元 件的表笔，通过改变探针端形状，可以让表笔方便可靠地与所测引出脚接触，不易与相邻引 出脚相碰。该表笔仍由笔杆、探针、导线及导线插头构成，但探针头部形状由尖锥形改为如图 1所示的扁平状，中间开有一个小凹口，其总宽度应小于集成电路块引出脚最大宽度。用 于线路板上集成电路块测试时，探针头部插置于所测引出脚与其插孔之间存在的微小缝隙 处，这样可以既保证与所测引出脚可靠接触，又不会左右移动与相邻引出脚相碰。用于线路 板上电阻、二极管、三极管等电子元件上参数测试时，可以探针头部的凹口，卡住所测引出 脚，保证稳定可靠的接触。
图1探针头部形状和测试位置示意图附图标记1、插座；2、集成电路块；3、插孔；4、引出脚；5、集成电路块测试位置示 意；6、探针头部
具体实施方式
探针的后半部嵌入笔杆，在笔杆中间与导线相连，导线的另一端连接插头，插头的 类型视所配属的仪表而定(如是配万用表还是配示波器)。探针的头部为如图1所示的扁 平状，中间开有一小凹口，其头部总宽度小于集成电路块引出脚最大宽度。
权利要求一种同时适于测试线路板上各种电子元件参数的表笔.由探针、笔杆、导线及导线插头构成，其特征是探针头部形状为扁平状，中间开有一小凹口。
专利摘要一种同时适用于测试线路板上各种电子元件参数的表笔，其探针头部形状由尖锥形改为扁平状，中间并开有一小凹口，可以方便可靠地与所测试的线路板上的集成电路块、电阻、三极管等电子元件的引出脚接触。
文档编号G01R1/02GK201576007SQ20092017199
公开日2010年9月8日 申请日期2009年5月12日 优先权日2009年5月12日
发明者强晓明 申请人:强晓明