专利名称：磁感应强度测量方法
技术领域：
本发明涉及一种测量方法，且特别涉及一种表面磁感应强度的测量方法。
背景技术：
永磁体广泛用于民用、工业和汽车零部件产品中，置于开关、电机、传感器等元件中，产生一个固定强度的磁场。因此，永磁体的磁感应强度是永磁体的一个至关重要的指标。目前，测量磁感应强度，采用的都是高斯计，将探头置于磁体表面，在设备上读出磁感应强度值。但是，由于高斯计为接触式测量，其测量准确度受到探头的测量位置、角度、 力度大小的影响。因此，采用高斯计来测量永磁体的磁感应强度很难保证测量的精度。因此在对永磁体的磁感应强度验收过程中，很容易产生纠纷。
发明内容
本发明提出一种磁感应强度测量方法，可以用于永磁体产品的验收，也可用于磁体的磁感应强度分析，具有广泛的应用前景。为了达到上述目的，本发明提出一种磁感应强度测量方法，用于测量被测磁体的磁感应强度值，其适用于磁感应强度测量仪，磁感应强度测量方法包括以下步骤安装被测磁体；调整被测磁体与磁感应传感器的距离；判断磁感应传感器感测到的磁场强度是否大于阀值，若判断结果为“否”，继续调整被测磁体的位置，若判断结果为“是”，则执行下一步骤；以及根据被测磁体所处的位置得到位置对应的磁感应强度值。进一步说，其中安装被测磁体这一步骤中，被测磁体被固定夹持在工件夹持装置中。进一步说，调整被测磁体与磁感应传感器的距离之一步骤中，通过将工件夹持装置在导轨中滑动以调整被测磁体的位置。进一步说，导轨具有多个磁感应强度值的刻度，根据被测磁体所处的刻度读取刻度对应的磁感应强度。进一步说，还包括对磁感应强度测量仪进行标定，包括以下步骤a.安装标准磁体；b.调整标准磁体与磁感应传感器的距离；c.判断磁感应传感器感测到的磁场强度是否大于阀值，若判断结果为“否”，继续调整标准磁体的位置，若判断结果为“是”，则执行下一步骤；d.测量并记录磁感应传感器与标准磁体的距离，重复执行步骤b d，记录多个距离的数值，当重复次数达到10次，执行下一步骤；e.取多个距离的数值的平均值，在导轨上相应位置标记对应的标准磁感应强度的刻度。进一步说，在标定过程中，采用多个不同磁感应强度的标准磁体，重复步骤a e。进一步说，根据公式
权利要求
1.一种磁感应强度测量方法，用于测量被测磁体的磁感应强度值，其适用于磁感应强度测量仪，其特征是，包括以下步骤安装所述被测磁体；调整所述被测磁体与磁感应传感器的距离；判断所述磁感应传感器感测到的磁场强度是否大于阀值，若判断结果为“否”，继续调整所述被测磁体的位置，若判断结果为“是”，则执行下一步骤；以及根据被测磁体所处的位置得到所述位置对应的磁感应强度值。
2.根据权利要求1所述的磁感应强度测量方法，其特征是，其中安装所述被测磁体这一步骤中，所述被测磁体被固定夹持在工件夹持装置中。
3.根据权利要求2所述的磁感应强度测量方法，其特征是，调整所述被测磁体与磁感应传感器的距离之一步骤中，通过将所述工件夹持装置在导轨中滑动以调整所述被测磁体的位置。
4.根据权利要求2所述的磁感应强度测量方法，其特征是，所述导轨具有多个磁感应强度值的刻度，根据被测磁体所处的刻度读取所述刻度对应的磁感应强度。
5.根据权利要求4所述的磁感应强度测量方法，其特征是，还包括对所述磁感应强度测量仪进行标定，包括以下步骤a.安装标准磁体；b.调整所述标准磁体与磁感应传感器的距离；c.判断所述磁感应传感器感测到的磁场强度是否大于阀值，若判断结果为“否”，继续调整所述标准磁体的位置，若判断结果为“是”，则执行下一步骤；d.测量并记录磁感应传感器与所述标准磁体的距离，重复执行步骤b d，记录多个距离的数值，当重复次数达到10次，执行下一步骤；e.取多个距离的数值的平均值，在导轨上相应位置标记对应的标准磁感应强度的刻度。
6.根据权利要求5所述的磁感应强度测量方法，其特征是，在标定过程中，采用多个不同磁感应强度的标准磁体，重复步骤a e。
7.根据权利要求5所述的磁感应强度测量方法，其特征是，根据公式其中d为所述磁感应传感器与所述待测磁体的距离，H为磁体的磁场强度，u为空气磁导率，Br为所述磁感应传感器所感测到的磁场强度，采用插值法计算等距离刻度的磁感应强度值并将磁感应强度值标记在导轨上。
全文摘要
本发明提出一种磁感应强度测量方法，用于测量被测磁体的磁感应强度值，其适用于磁感应强度测量仪。磁感应强度测量方法包括以下步骤安装被测磁体；调整被测磁体与磁感应传感器的距离；判断磁感应传感器感测到的磁场强度是否大于阀值，若判断结果为“否”，继续调整被测磁体的位置，若判断结果为“是”，则执行下一步骤；根据被测磁体所处的位置得到位置对应的磁感应强度值。本发明采用了非接触式测量方法测量被测磁体的磁感应强度值，通过机械和电子技术的结果，能够减少已知测量方法中的各种不稳定的变量的影响，使得测量结果足够客观、精确。
文档编号G01B5/02GK102279372SQ20101019848
公开日2011年12月14日 申请日期2010年6月11日 优先权日2010年6月11日
发明者庞川, 张周良, 张晶晶, 洪磊, 龚辉 申请人:上海德科电子仪表有限公司, 上海森太克汽车电子有限公司