专利名称：一种工件用平面度测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测量装置，尤其涉及一种工件用平面度测量装置。背景技在机械电器行业中，经机加工后的零件表面或压铸，浇铸的毛坯表面，其平面度有技术要求，必须经测量后判断其是否合格。测量方法有很多，如1、将工件放在平板上，用塞片塞插进行测量。2、将平尺放在工件平面上，用塞片塞插测量。3、将工件放在平板上，被测平面向上，用三个可调支承从下方顶住工件，在平面上调出三个等高点作为理想平面的零点，再用可移动指示表测量。4、将工件放置于三坐标机上测量。但是，这些方法均适合于在测量室内操作，且测量速度较慢，效率不高。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种工件用平面度测量装置。为实现本发明的目的一种工件用平面度测量装置，包括有底座，其中所述的底座上设置有基准平板；所述的基准平板上分布有预留孔；所述的预留孔内分布有位移传感器；所述位移传感器的尾端连接有处理组件。进一步地，上述的一种工件用平面度测量装置，其中，所述位移传感器的测头端高出基准平板。更进一步地，上述的一种工件用平面度测量装置，其中，所述的处理组件包括有机箱，所述的机箱上设置有显示器与控制面板，所述的机箱内设置有数据处理器；所述数据处理器与显示器、控制面板、位移传感器分别采用导线相连。更进一步地，上述的一种工件用平面度测量装置，其中，所述的位移传感器的行程为0 2毫米，分辨率为0. 001毫米。更进一步地，上述的一种工件用平面度测量装置，其中，所述的基准平板上设置有校零平板。再进一步地，上述的一种工件用平面度测量装置，其中，所述的底座底部设置有可调式底角；或是，所述的底座底部设置有防滑垫。采用本发明技术方案，通过基准平板与位移传感器的配合，通过处理组件的有效参与，能够实现快速检测。由此，能够在生产现场使用，随时跟踪质量。并且，本发明操作简单方便，加工现场的所有操作工都能方便使用。本发明的目的、优点和特点，将通过下面优先实施例的非限制性说明进行图示和解释，这些实施例是参照附图仅作为例子给出的。
图1是本工件用平面度测量装置的构造示意图。图中各附图标记的含义如下
1底座2基准平板3位移传感器 4机箱5显示器6控制面板
具体实施例方式如图1所示的一种工件用平面度测量装置，包括有底座1，其特别之处在于本发明所采用的底座1上设置有基准平板2，该基准平板2上分布有预留孔。同时，在预留孔内分布有位移传感器3。并且，该位移传感器3的尾端连接有处理组件。结合本发明一较佳的实施方式来看，为了有利于对各种类型工件的表面进行较佳的感知，本发明所采用的位移传感器3的测头端高出基准平板2。同时，位移传感器3的行程为0 2毫米，分辨率为0. 001毫米。进一步来看，为了便于操作人员的使用操作，亦为了进行精确检测，本发明使用的处理组件包括有机箱4，该机箱4上设置有显示器5与控制面板6。同时，在机箱4内设置有数据处理器。由此，数据处理器与显示器5、控制面板6、位移传感器3分别采用导线相连。当然，考虑到操作人员能够迅速对基准平板2进行校零调整，在基准平板2上设置有校零平板。再者，从便于使用的合理化角度考虑，本发明在底座1底部设置有可调式底角。当然，亦可以在底座1底部设置有防滑垫。本发明的检测原理是根据平面度的定义，平面上所有的点在垂直于平面方向上的距离之差的最大值即为该平面的平面度。为此，本发明运用多个位移传感器3测量平面上不同区域的点在垂直于平面方向上的距离，并计算其最大值最小值的差值，即可测量出平面度。具体来说，当这些位移传感器3的检测头被挤压缩到和基准平板2相平的时候，所有位移传感器3测头虚拟的平面与基准平板2共面，即其平面度认定为0。在工件测量时，所有位移传感器3与工件平面接触而压缩的位移电信号由导线传输给数据处理器，数据处理器将处理的结果显示于显示器5上。这样就实现了对平面度的测量。从本发明的实施过程来看，基准平板2由钢板精密磨削加工制成，由四根立柱将其固定在底座1上。该处理组件可以固定地安放在桌面上，或制成小车可随意移动摆放。校零平板由钢板经精密机加工制成。基准平板2，校零平板均应达到0-1级精度。操作规程如下——首先是开机插上电源，接通电源开关，显示器5上显示用标准件定标、测量工件、校零、设置参数、显示测头、数据查询、时钟查询、选择程序。之后，进行定标按1#键，按显示器5提示将校零平板平稳地放在仪器的基准平板 2上，按确认键后将其取走。设定平面度的上限值，按确认键。然后进行测量按2#键进入工件测量状态，将工件放上后，显示器5上即显示各测点的位移传感器3读数。随后机芯判定所有位移传感器3读数都小于设定值，工件合格，绿灯亮。大于设定值，工件不合格，红灯亮。最后关闭测量仪测量完毕，先关闭电源开关，再断开点源。通过上述的文字表述并结合附图可以看出，采用本发明后，通过基准平板与位移传感器的配合，通过处理组件的有效参与，能够实现快速检测。由此，能够在生产现场使用， 随时跟踪质量。并且，本发明操作简单方便，加工现场的所有操作工都能方便使用。
当然，以上仅是本发明的具体应用范例，对本发明的保护范围不构成任何限制。除上述实施例外，本发明还可以有其它实施方式。凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本发明所要求保护的范围之内。
权利要求
1.一种工件用平面度测量装置，包括有底座，其特征在于所述的底座上设置有基准平板；所述的基准平板上分布有预留孔；所述的预留孔内分布有位移传感器；所述位移传感器的尾端连接有处理组件。
2.根据权利要求1所述的一种工件用平面度测量装置，其特征在于所述位移传感器的测头端高出基准平板。
3.根据权利要求1所述的一种工件用平面度测量装置，其特征在于所述的处理组件包括有机箱，所述的机箱上设置有显示器与控制面板，所述的机箱内设置有数据处理器；所述数据处理器与显示器、控制面板、位移传感器分别采用导线相连。
4.根据权利要求1所述的一种工件用平面度测量装置，其特征在于所述的位移传感器的行程为0 2毫米，分辨率为0. 001毫米。
5.根据权利要求1所述的一种工件用平面度测量装置，其特征在于所述的基准平板上设置有校零平板。
6.根据权利要求1所述的一种工件用平面度测量装置，其特征在于所述的底座底部设置有可调式底角；或是，所述的底座底部设置有防滑垫。
全文摘要
本发明涉及一种工件用平面度测量装置，包括有底座，其特点是本发明所采用的底座上设置有基准平板，该基准平板上分布有预留孔。同时，在预留孔内分布有位移传感器。并且，该位移传感器的尾端连接有处理组件。由此，通过基准平板与位移传感器的配合，处理组件的有效参与，能够实现快速检测，能够在生产现场使用，随时跟踪质量。并且，本发明操作简单方便，加工现场的所有操作工都能方便使用。
文档编号G01B7/34GK102538660SQ20101059594
公开日2012年7月4日 申请日期2010年12月20日 优先权日2010年12月20日
发明者柏尚忠 申请人:苏州春兴精工股份有限公司