专利名称：用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测系统，尤其涉及一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统。
背景技术：
近年来，便携式信息电子产品与移动通信产品皆朝着轻薄短小、多功能、高可靠度与低价化的趋势发展。顺应这个趋势，在电子产品的电路设计中，各式各样的电子元件也必须面对着集成整合化的问题。电子元件小型化一直是产业界的发展主流，例如随着传统仅具有纯语音通信功能的移动电话陆续消失，消费者对移动电话的需求更趋向于多元化方向发展，其中包括记事功能、短信传输及多媒体影音传输等附加的应用直接带动了移动电话在产品设计上的变革，也正因为产品设计趋于复杂，其所使用到的电子元件数目也愈来愈多。电子元件的可靠度及产品的良率会影响到各种产品在使用上的品质及性能表现。一般而言，电子元件在制造完成后均会进行目视检测的流程，以确保电子元件具有一定的品质。在公知技术中，电子元件会放置在一大型转盘上，以供多组摄像机提取电子元件的表面图像，但为了得到电子元件底面的图像，大型转盘则必须是透光材质，以利摄像机捕捉电子元件的底面图像。
发明内容
本发明的目的在于提供一种多轨式检测系统，其可用于检测多个电子元件的外观。本发明其中一实施例提供一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其包括一转盘模块、一进料模块、一无振动模块、一检测模块、及一分类模块。转盘模块包括一旋转底盘结构及一设置于旋转底盘结构上的中空透明转盘结构，其中中空透明转盘结构的下表面区分成一内圈区域与一围绕内圈区域的外圈区域，中空透明转盘结构的内圈区域被旋转底盘结构所遮盖，中空透明转盘结构的外圈区域被裸露在外，中空透明转盘结构的上表面具有至少两个位于外圈区域上方的环形导引区域，且上述多个电子元件依序排列在两个环形导引区域上。进料模块包括至少一邻近中空透明转盘结构的进料单元，其中进料单元具有至少两个用于导引上述多个电子元件的V形进料槽。无振动模块包括至少一邻近中空透明转盘结构且设置于中空透明转盘结构与进料模块之间的无振动导引块，其中无振动导引块具有至少两个分别连通于两个V形进料槽且分别对应于两个环形导引区域的V形无振动导引槽，且上述多个在两个V形进料槽内的电子元件依序被两个V形无振动导引槽导引到两个环形导引区域上。检测模块包括多个邻近中空透明转盘结构的电子元件检测单元，其中上述多个电子元件检测单元依序围绕中空透明转盘结构。分类模块邻近中空透明转盘结构且设置于进料模块与上述多个电子元件检测单元中的最后一个之间。本发明另外一实施例提供一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其与上述其中一实施例最大的差别在于多轨式检测系统还进一步包括一校正模块及一微调模块。校正模块包括至少两个设置于中空透明转盘结构上方的校正单元，其中每一个校正单元包括至少两个相互配合以用于校正每一个电子元件的方位的校正元件，且两个校正元件彼此分离一特定距离以形成一位于两个校正元件之间的电子元件导引通道。微调模块包括至少两个设置于中空透明转盘结构上方且分别邻近两个校正单元的微调单元，其中两个微调单元分别位于两个环形导引区域的内侧旁，且每一个微调单元具有至少一用于接触每一个电子元件的内侧表面以微调每一个电子元件的方位的微调元件。本发明另外再一实施例提供一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其与上述其中一实施例最大的差别在于上述多个电子元件经过上述多个电子元件检测单元的检测而被分类成多个良好电子元件、多个不良电子元件及多个再测试电子元件。分类模块包括至少一用于收集上述多个良好电子元件的第一收容单元、至少一用于收集上述多个不良电子元件的第二收容单元及至少一用于收集上述多个再测试电子元件的第三收容单元，且第一收容单元、第二收容单元与第三收容单元组合成单个收容结构。
本发明的有益效果在于，综上所述，本发明实施例所提供的多轨式检测系统，其可通过“V形进料槽与V形无振动导引槽相互配合”的设计，以使得本发明的多轨式检测系统可以更正确地检测到多个电子元件的外观。为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而所附附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
图I为本发明用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统的立体示意图；图2为本发明用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统的俯视示意图；图3为本发明转盘模块的侧视剖面示意图；图4为本发明进料模块与无振动模块的立体示意图；图5为本发明校正模块与微调模块的俯视示意图；图6为本发明其中一电子元件检测单元的一部分容置于转盘模块的容置空间的侧视剖面示意图；以及图7为本发明分类模块的侧视示意图。其中，附图标记说明如下电子元件E 内侧表面El
良好电子元件E’
不良电子元件E”
再测试电子元件E’’’
转盘模块I 旋转底盘结构10
中空透明转盘结构11
内圈区域110
外圈区域111
中空部分IlA
内圈部分IlB
外圈部分IlC容置空间IlR
环形导引区域IlG
进料模块 2 进料单元20
V形进料槽200 ；
无振动模块 3 无振动导引块30
V形无振动导引槽300
校正模块 4 校正单元40
校正元件400电子元件导引通道400P
微调模块 5 微调单元50
.微调元件500 检测模块 6 电子元件检测单元60
反射镜601
图像提取镜头602
分类模块 7 第一收容单元7A
第二收容单元7B
第三收容单元7C
第一分类入口70A
第二分类入口70B
* 第三分类入口70C
第一喷嘴71A
第二喷嘴71B
第三喷嘴71C
第一输送管路72A
第二输送管路72B
第三输送管路72C
第一收集盒73A
第二收集盒73B
第三收集盒73C
具体实施方式
请参阅图I至图7所示，本发明提供一种电子元件E外观的多轨式检测系统，其包括一转盘模块I、一进料模块2、一无振动模块3、一校正模块4、一微调模块5、一检测模块
6、及一分类模块7。首先，配合图I、图2与图3所示，转盘模块I包括一旋转底盘结构10及一设置于旋转底盘结构10上的中空透明转盘结构11。举例来说，旋转底盘结构10可为一非中空的金属底盘，且中空透明转盘结构11可为一固定(例如通过多个螺丝的锁固方式来固定)在旋转底盘结构10上的透明玻璃转盘。由于中空透明转盘结构10为一中空的结构，因此可大大节省制作中空透明转盘结构10的材料成本。由于旋转底盘结构10可直接锁固在一旋转轴上，所以当转盘模块I需要进行拆卸或安装时，只需要拆卸或安装旋转底盘结构10即可，而不需要动到中空透明转盘结构11，以避免中空透明转盘结构11在经常拆卸或安装下导致损坏而降低使用寿命。另外，中空透明转盘结构11的下表面可区分成一内圈区域110与一围绕内圈区域 110的外圈区域111，中空透明转盘结构11的内圈区域110被旋转底盘结构10所遮盖，且中空透明转盘结构11的外圈区域111被裸露在外。中空透明转盘结构11的上表面具有至少两个位于外圈区域111上方的环形导引区域IlG(如图2与图3所示)，且上述多个电子元件E可依序排列在两个环形导引区域IlG上(如图3所示)。此外，中空透明转盘结构11可区分成一中空部分11A、一围绕中空部分IlA的内圈部分IlB及一围绕内圈部分IlB的外圈部分11C。中空透明转盘结构11的中空部分IlA位于旋转底盘结构10上以形成一容置空间11R，中空透明转盘结构11的内圈部分IlB设置于旋转底盘结构10上，且中空透明转盘结构11的外圈部分IlC被悬空。另外，中空透明转盘结构11的内圈区域110位于内圈部分IlB的下表面上，中空透明转盘结构11的外圈区域111位于外圈部分IlC的下表面上，且两个环形导引区域IlG位于中空透明转盘结构11的外圈部分IlC的上表面上。再者，配合图I、图2与图4所示，进料模块2包括至少一邻近中空透明转盘结构11且用于导引上述多个电子元件E的进料单元20，其中进料单元20具有至少两个用于导引上述多个电子元件E的V形进料槽200。举例来说，进料单元20可以靠着持续振动的方式，以使得上述多个电子元件E可在两个V形进料槽200内持续的向前移动，而不致产生电子元件E卡料的情况。另外，配合图I、图2与图4所示，无振动模块3包括至少一邻近中空透明转盘结构11且设置于中空透明转盘结构11与进料模块2之间的无振动导引块30，其中无振动导引块30具有至少两个分别连通于两个V形进料槽200且分别对应于两个环形导弓I区域IIG的V形无振动导引槽300，且上述多个在两个V形进料槽200内的电子元件E依序被两个V形无振动导引槽300导引到两个环形导引区域IlG上。此外，无振动导引块30与进料单元20彼此分离一小于每一个电子元件E长度的距离，且无振动导引块30与中空透明转盘结构11彼此分离一特定距离。换言之，由于无振动导引块30与持续产生振动的进料单元20相隔一特定距离，所以无振动导引块30能够持续处于平稳而无振动的状态，进而使得每一个电子元件E可以平稳且无误地从每一个V形无振动导引槽300导引到每一个相对应的环形导引区域IlG上。另外，配合图I、图2与图5所示，校正模块4包括至少两个设置于中空透明转盘结构11上方的校正单元40，其中每一个校正单元40包括至少两个相互配合以用于校正每一个电子元件E的方位(方向及/或位置)的校正元件400,且两个校正元件400彼此分离一特定距离以形成一位于两个校正元件400之间的电子元件导引通道400P。换言之，每一个从V形无振动导引槽300所导引出的电子元件E可以先通过每一个相对应的校正单元40来进行粗略的导引(亦即让每一个电子元件E通过每一个相对应的电子元件导引通道400P)，一般称之为电子元件E的粗导，以使得每一个电子元件E的位置可以较正确地安置在每一个相对应的环形导引区域IlG上。此外，配合图I、图2与图5所示，微调模块5包括至少两个设置于中空透明转盘结构11上方且分别邻近两个校正单元40的微调单元50，其中两个微调单元50分别位于两个环形导引区域IlG的内侧旁，且每一个微调单元50具有至少一用于接触每一个电子元件E的内侧表面El以微调每一个电子元件E的方位的微调元件500。换言之，每一个经过校正单元40进行粗略导弓I后的电子元件E可以通过每一个相对应的微调单元50来进行较细微的导引(亦即通过微调单元50的侧边来轻触电子元件E的内侧表面E1)，一般称之为电子元件E的细导，以使得每一个电子元件E的位置可以更正确地安置在每一个相对应的环形 导引区域IlG上。再者，配合图I、图2与图6所示，检测模块6包括多个邻近中空透明转盘结构11的电子元件检测单元60，其中上述多个电子元件检测单元60依序围绕中空透明转盘结构11 (例如图2所示，上述多个电子元件检测单元60的围绕范围将近5/8个圆周大小)。另夕卜，上述多个电子元件检测单元60中的一部分(图6中显示其中一个电子元件检测单元60)设置于容置空间IlR内及容置空间I IR上方，且上述每一个设置于容置空间IlR内与容置空间IlR上方的电子元件检测单元60包括一反射镜601及一设置于反射镜601上方的图像提取镜头602。由于电子元件检测单元60可以设置于容置空间IlR内，所以本发明通过反射镜601与图像提取镜头602的配合，即可正确地提取到电子元件E的内侧表面El的正面图像。举例来说，电子元件检测单元60的数量共有12个，其中6个电子元件检测单元60负责位于其中一环形导引区域IlG上的多个电子元件E的检测，且其余6个电子元件检测单元60则负责位于另外一环形导引区域IlG上的多个电子元件E的检测。另外，配合图I、图2与图7所示，分类模块7邻近中空透明转盘结构11且设置于进料模块2与上述多个电子元件检测单元60中的最后一个之间。此外，上述多个电子元件E经过上述多个电子元件检测单元60的检测而被分类成多个良好电子元件E’、多个不良电子元件E”及多个再测试电子元件E’”。分类模块7包括至少一用于收集上述多个良好电子元件E’的第一收容单元7A、至少一用于收集上述多个不良电子元件E”的第二收容单元7B及至少一用于收集上述多个再测试电子元件E’ ”的第三收容单元7C，且第一收容单元7A、第二收容单元7B与第三收容单元7C并非三个独立的结构，而是被组合成单个收容结构。举例来说，首先，配合图2与图7所示，第一收容单元7A包括至少两个第一分类入口 70A、至少两个设置于中空透明转盘结构11上方且将上述多个位于两个环形导引区域IlG上的良好电子元件E’吹入两个第一分类入口 70A内的第一喷嘴7IA(如图2所示)、至少两个分别连通于两个第一分类入口 70A的第一输送管路72A、及至少一连通于两个第一输送管路72A的第一收集盒73A。此外，第二收容单元7B包括至少两个第二分类入口 70B、至少两个设置于中空透明转盘结构11上方且将上述多个位于两个环形导引区域IlG上的不良电子元件E”吹入两个第二分类入口 70B内的第二喷嘴71B(如图2所示)、至少两个分别连通于两个第二分类入口 70B的第二输送管路72B及至少一连通于两个第二输送管路72B的第二收集盒73B。另外，第三收容单元7C包括至少两个第三分类入口 70C、至少两个设置于中空透明转盘结构11上方且将上述多个位于两个环形导引区域IlG上的再测试电子元件E’ ”吹入两个第三分类入口 70C内的第三喷嘴7IC(如图2所示)、至少两个分别连通于两个第三分类入口 70C的第三输送管路72C及至少一连通于两个第三输送管路72C的第三收集盒73C。因此，由于上述多个位于两个环形导引区域IlG上的良好电子元件E’可以同时被收集在同一个第一收集盒73A内(如图7中两条中心线所经过的路径所示)，上述多个位于两个环形导引区域IlG上的不良电子元件E”可以同时被收集在同一个第二收集盒73B内(如图7中两条中心线所经过的路径所示)，且上述多个位于两个环形导引区域IlG上的再 测试电子元件E’”可以同时被收集在同一个第三收集盒73C内(如图7中两条虚线所经过的路径所示)，所以本发明分类模块7的使用空间及制作成本皆可有效降低。〔实施例的功效〕综上所述，本发明实施例所提供的多轨式检测系统，其可通过“V形进料槽与V形无振动导引槽相互配合”的设计，以使得本发明的多轨式检测系统可以更正确地检测到多个电子元件的外观。再者，本发明亦可通过每一个相对应的校正单元来进行粗略的导引，以使得每一个电子元件的位置可以较正确地安置在每一个相对应的环形导引区域上。此外，本发明亦可通过每一个相对应的微调单元来进行较细微的导引，以使得每一个电子元件的位置可以更正确地安置在每一个相对应的环形导引区域上。另外，本发明亦可将上述多个良好电子元件同时收集在同一个第一收集盒内，将上述多个不良电子元件同时收集在同一个第二收集盒，且将上述多个再测试电子元件同时收集在同一个第三收集盒内，以有效地降低分类模块的使用空间及制作成本。以上所述仅为本发明的较佳可行实施例，非因此局限本发明的专利范围，故举凡运用本发明说明书及附图内容所为的等同技术变化，均包含于本发明的范围内。
权利要求
1.一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，包括 一转盘模块，其包括一旋转底盘结构及一设置于该旋转底盘结构上的中空透明转盘结构，其中该中空透明转盘结构的下表面区分成一内圈区域与一围绕该内圈区域的外圈区域，该中空透明转盘结构的内圈区域被该旋转底盘结构所遮盖，该中空透明转盘结构的外圈区域被裸露在外，该中空透明转盘结构的上表面具有至少两个位于该外圈区域上方的环形导引区域，且上述多个电子元件依序排列在上述至少两个环形导引区域上； 一进料模块，其包括至少一邻近该中空透明转盘结构的进料单元，其中上述至少一进料单元具有至少两个用于导引上述多个电子元件的V形进料槽； 一无振动模块，其包括至少一邻近该中空透明转盘结构且设置于该中空透明转盘结构与该进料模块之间的无振动导引块，其中上述至少一无振动导引块具有至少两个分别连通于上述至少两个V形进料槽且分别对应于上述至少两个环形导引区域的V形无振动导引槽，且上述多个在上述至少两个V形进料槽内的电子元件依序被上述至少两个V形无振动导引槽导引到上述至少两个环形导引区域上；以及 一检测模块，其包括多个邻近该中空透明转盘结构的电子元件检测单元，其中上述多个电子元件检测单元依序围绕该中空透明转盘结构；以及 一分类模块，其邻近该中空透明转盘结构且设置于该进料模块与上述多个电子元件检测单元中的最后一个之间。
2.如权利要求I所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，该旋转底盘结构为一非中空的金属底盘，且该中空透明转盘结构为一固定在该旋转底盘结构上的透明玻璃转盘。
3.如权利要求I所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，该中空透明转盘结构区分成一中空部分、一围绕该中空部分的内圈部分及一围绕该内圈部分的外圈部分，该中空透明转盘结构的中空部分位于该旋转底盘结构上以形成一容置空间，该中空透明转盘结构的内圈部分设置于该旋转底盘结构上，该中空透明转盘结构的外圈部分被悬空，且上述至少两个环形导引区域位于该中空透明转盘结构的外圈部分上。
4.如权利要求3所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，上述多个电子元件检测单元中的一部分设置于该容置空间内及该容置空间上方，且上述每一个设置于该容置空间内与该容置空间上方的电子元件检测单元包括一反射镜及一设置于该反射镜上方的图像提取镜头。
5.如权利要求I所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，上述至少一无振动导引块与上述至少一进料单元彼此分离一小于每一个电子元件长度的距离，且上述至少一无振动导引块与该中空透明转盘结构彼此分离一特定距离。
6.如权利要求I所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，上述多个电子元件经过上述多个电子元件检测单元的检测而被分类成多个良好电子元件、多个不良电子元件及多个再测试电子元件，且该分类模块包括至少一用于收集上述多个良好电子元件的第一收容单元、至少一用于收集上述多个不良电子元件的第二收容单元及至少一用于收集上述多个再测试电子元件的第三收容单元。
7.如权利要求6所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，上述至少一第一收容单元包括至少两个第一分类入口、至少两个设置于该中空透明转盘结构上方且将上述多个位于上述至少两个环形导引区域上的良好电子元件吹入上述至少两个第一分类入口内的第一喷嘴、至少两个分别连通于上述至少两个第一分类入口的第一输送管路及至少一连通于上述至少两个第一输送管路的第一收集盒。
8.如权利要求6所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，上述至少一第二收容单元包括至少两个第二分类入口、至少两个设置于该中空透明转盘结构上方且将上述多个位于上述至少两个环形导引区域上的不良电子元件吹入上述至少两个第二分类入口内的第二喷嘴、至少两个分别连通于上述至少两个第二分类入口的第二输送管路及至少一连通于上述至少两个第二输送管路的第二收集盒。
9.如权利要求6所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，上述至少一第三收容单元包括至少两个第三分类入口、至少两个设置于该中空透明转盘结构上方且将上述多个位于上述至少两个环形导引区域上的再测试电子元件吹入上述至少两个第三分类入口内的第三喷嘴、至少两个分别连通于上述至少两个第三分类入口的第三输送管路及至少一连通于上述至少两个第三输送管路的第三收集盒。
10.如权利要求I所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，该多轨式检测系统还进一步包括一校正模块，其包括至少两个设置于该中空透明转盘结构上方的校正单元，其中每一个校正单元包括至少两个相互配合以用于校正每一个电子元件的方位的校正元件，且上述至少两个校正元件彼此分离一特定距离以形成一位于上述至少两个校正元件之间的电子元件导引通道。
11.如权利要求10所述的用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，该多轨式检测系统还进一步包括一微调模块，其包括至少两个设置于该中空透明转盘结构上方且分别邻近上述至少两个校正单元的微调单元，其中上述至少两个微调单元分别位于上述至少两个环形导引区域的内侧旁，且每一个微调单元具有至少一用于接触每一个电子元件的内侧表面以微调每一个电子元件的方位的微调元件。
12.一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，包括 一转盘模块，其包括一旋转底盘结构及一设置于该旋转底盘结构上的中空透明转盘结构，其中该中空透明转盘结构的下表面区分成一内圈区域与一围绕该内圈区域的外圈区域，该中空透明转盘结构的内圈区域被该旋转底盘结构所遮盖，该中空透明转盘结构的外圈区域被裸露在外，该中空透明转盘结构的上表面具有至少两个位于该外圈区域上方的环形导引区域，且上述多个电子元件依序排列在上述至少两个环形导引区域上； 一进料模块，其包括至少一邻近该中空透明转盘结构且用于导引上述多个电子元件的进料单元； 一校正模块，其包括至少两个邻近该进料模块且设置于该中空透明转盘结构上方的校正单元，其中每一个校正单元包括至少两个相互配合以用于校正每一个电子元件的方位的校正元件，且上述至少两个校正元件彼此分离一特定距离以形成一位于上述至少两个校正元件之间的电子元件导引通道； 一微调模块，其包括至少两个设置于该中空透明转盘结构上方且分别邻近上述至少两个校正单元的微调单元，其中上述至少两个微调单元分别位于上述至少两个环形导引区域的内侧旁，且每一个微调单元具有至少一用于接触每一个电子元件的内侧表面以微调每一个电子元件的方位的微调元件；一检测模块，其包括多个邻近该中空透明转盘结构的电子元件检测单元，其中上述多个电子元件检测单元依序围绕该中空透明转盘结构；以及 一分类模块，其邻近该中空透明转盘结构且设置于该进料模块与上述多个电子元件检测单元中的最后一个之间。
13.一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其特征在于，包括 一转盘模块，其包括一旋转底盘结构及一设置于该旋转底盘结构上的中空透明转盘结构，其中该中空透明转盘结构的下表面区分成一内圈区域与一围绕该内圈区域的外圈区域，该中空透明转盘结构的内圈区域被该旋转底盘结构所遮盖，该中空透明转盘结构的外圈区域被裸露在外，该中空透明转盘结构的上表面具有至少两个位于该外圈区域上方的环形导引区域，且上述多个电子元件依序排列在上述至少两个环形导引区域上； 一进料模块，其包括至少一邻近该中空透明转盘结构且用于导引上述多个电子元件的进料单元； 一检测模块，其包括多个邻近该中空透明转盘结构的电子元件检测单元，其中上述多个电子元件检测单元依序围绕该中空透明转盘结构，且上述多个电子元件经过上述多个电子元件检测单元的检测而被分类成多个良好电子元件、多个不良电子元件及多个再测试电子元件；以及 一分类模块，其邻近该中空透明转盘结构且设置于该进料模块与上述多个电子元件检测单元中的最后一个之间，其中该分类模块包括至少一用于收集上述多个良好电子元件的第一收容单元、至少一用于收集上述多个不良电子元件的第二收容单元及至少一用于收集上述多个再测试电子元件的第三收容单元，且上述至少一第一收容单元、上述至少一第二收容单元与上述至少一第三收容单元组合成单个收容结构。
全文摘要
本发明公开了一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统，其包括转盘模块、进料模块、无振动模块、检测模块及分类模块。转盘模块包括一中空透明转盘结构，其上表面具有至少两个环形导引区域，且多个电子元件依序排列在两个环形导引区域上。进料单元具有两个用于导引多个电子元件的V形进料槽。无振动模块包括一无振动导引块，其具有两个分别连通于两个V形进料槽且分别对应于两个环形导引区域的V形无振动导引槽，且多个在两个V形进料槽内的电子元件依序被两个V形无振动导引槽导引到两个环形导引区域上，以供检测模块与分类模块分别进行检测与分类。本发明可以更正确地检测到多个电子元件的外观。
文档编号G01N21/88GK102749333SQ20111009822
公开日2012年10月24日 申请日期2011年4月18日 优先权日2011年4月18日
发明者倪仁君, 汪秉龙, 陈信呈, 陈桂标 申请人:久元电子股份有限公司