专利名称：一种连接插针的基材成分分析方法
技术领域：
本发明涉及一种连接插针的基材成分的分析方法。
背景技术：
一种连接器件，内部的金属插针，该插针对导电性及机械强度都有一定的要求，这种插针表面都有镀层，且这种插针比较小，长度一般只有1 2cm，截面尺寸Imm左右，对这种插针基材的成分分析，由于比较小且有镀层，化学的分析方法无法进行。因此需要一种新的方法来进行插针基材的成分分析。
发明内容
为了解决现有化学方法不能进行插针基材成分分析的问题，本发明提出以下技术
方案
一种连接插针的基材成分分析方法，该方法包括以下步骤
A、将插针样品用环氧树脂进行固封；
B、将固封好的插针样品进行研磨、抛光、清洗；
C、使用扫描电子显微镜和能谱仪对清洗后的插针样品进行分析，得出基材成分含量和比例。本发明带来的有益效果是
1、本发明方法可以测量金属插针内的微量元素，测量精度比较高；
2、本发明方法可以不受金属插针表面镀层的影响，对基材成分进行有效地分析。
具体实施例方式下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。本实施例对某品牌的连接插针的成分进行分析，以判断其可靠性和导电性，具体步骤如下
A、将插针样品用环氧树脂进行固封；
B、将固封好的插针样品进行研磨、抛光、清洗；
C、使用扫描电子显微镜和能谱仪对清洗后的插针样品进行分析，得出基材成分含量和比例，如表一所示，
表一插针各金属元素含量表
权利要求
1. 一种连接插针的基材成分分析方法，其特征在于该方法包括以下步骤A、将插针样品用环氧树脂进行固封；B、将固封好的插针样品进行研磨、抛光、清洗；C、使用扫描电子显微镜和能谱仪对清洗后的插针样品进行分析，得出基材成分含量和比例。
全文摘要
本发明提供了一种连接插针的基材成分分析方法，该方法包括以下步骤A、将插针样品用环氧树脂进行固封；B、将固封好的插针样品进行研磨、抛光、清洗；C、使用扫描电子显微镜和能谱仪对清洗后的插针样品进行分析，得出基材成分含量和比例。本发明带来的有益效果是本发明方法可以测量金属插针内的微量元素，测量精度比较高；本发明方法可以不受金属插针表面镀层的影响，对基材成分进行有效地分析。
文档编号G01N23/22GK102411010SQ20111022995
公开日2012年4月11日 申请日期2011年8月11日 优先权日2011年8月11日
发明者闫武杰 申请人:上海华碧检测技术有限公司