专利名称：永磁体剩磁温度系数测量装置及测量方法
技术领域：
本发明属于永磁材料的特性参数测量技术，涉及一种永磁体剩磁温度系数测量装置及测量方法。
背景技术：
永磁体剩磁温度系数常用的测量方法是通过测量不同温度下的退磁曲线来实现。 现有技术的试样放在两个加热极头之间，两个加热极头设置在磁化装置内，分布为N极和S 极。而且样品上缠绕有接在B (J)积分器上的磁通探测线圈，附近设置有接在H积分器上的磁场探测线圈，两个积分器均连接在X-Y记录仪或计算机上。同时励磁电源与磁化装置和 B(J)积分器相连。所述测量装置将测得的T1和T2温度下所对应的Br按(1)式计算得到剩磁的温度系数aBr为:
权利要求
1.一种永磁体剩磁温度系数测量装置，其特征在于基于一个非共面环形激光器，该非共面环形激光器内具有四条依次相通的毛细孔，在其中的一条毛细孔中放置有法拉第旋光元件[1]，待测永磁体[13]放置在激光器外面靠近法拉第旋光元件[1]的面上，待测永磁体[13]上贴有温度传感器[2]，另外，所述非共面环形激光器四条毛细孔两两相交处安装有一对平面镜[6]和一对带稳频压电组件的球面镜[3]，其中，合光棱镜[9]安装在平面镜 [6]上，并与光电转换器[8]相接，而光电转换器与控制电路[18]相连，该控制电路直接与非共面环形激光器的阴极以及两个阳极[4]相连，同时两个带稳频压电组件的球面镜[3] 和温度传感器[2]也与控制电路[18]相连。
2.根据权利要求1所述的永磁体剩磁温度系数测量装置，其特征在于整个测量装置放置在一个高低温试验箱中，由高低温试验箱提供不同的环境温度。
3.根据权利要求1所述的永磁体剩磁温度系数测量装置，其特征在于所述四条毛细孔的轴线不在一个平面内。
4.一种基于权利要求1至3任一项所述永磁体剩磁温度系数测量装置的永磁体剩磁温度系数测量方法，其特征在于，选择熔石英玻璃作为旋光元件的材料，基于公式O)，测量非共面环形激光器的偏频量fB随温度的变化量，从而得到永磁体剩磁温度系数，
5.根据权利要求4所述的永磁体剩磁温度系数测量方法，其特征在于其中，verdet系数的温度系数小于lOppm，其厚度d的温度系数为0. 5ppm。
全文摘要
本发明涉及一种用于测量永磁体剩磁温度系数的装置及方法。该装置基于一个非共面环形激光器，在其中的一条毛细孔中放置有法拉第旋光元件。将待测永磁体放置在激光器外面靠近法拉第旋光元件的面上。永磁体上贴有温度传感器。将整个装置放置在高低温箱中。其中，偏频量本发明选择熔石英玻璃作为旋光元件，其Verdet系数的温度系数小于10ppm，d的温度系数为0.5ppm，稳频控制可以保证在-45℃～+70℃范围内Δvc的稳定度为10-9。本发明通过测量偏频量随温度的变化可以测得永磁体剩磁温度系数，测量精度优于3×10-5，并且具有简便易行的优点。
文档编号G01R33/12GK102445672SQ20111028191
公开日2012年5月9日 申请日期2011年9月19日 优先权日2011年9月19日
发明者于文东, 傅鑫, 王珂, 胡强, 陈勇, 陈林峰, 韩宗虎 申请人:中国航空工业第六一八研究所