专利名称：芯片测试机的托盘夹结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及芯片测试机领域，尤其是芯片测试机的托盘夹结构。
背景技术：
在芯片测试时，需要使用托盘将需要检测的芯片承载在其上，然后通过机械结构输送到检测为进行检测，在检测时，一般是下压待检测的芯片，是芯片的引脚与探针接触，从而实现检测，但是由于同一托盘上一般承载有多排待测芯片，在一排芯片进行下压检测时，整个大托盘会产生振动，由此会产生其他位于托盘上的芯片的位置产生轻微的移动，由于芯片的引脚和探针间距都较为紧密，芯片的位置的轻微移动往往会造成引脚与探针的对位发生偏差，影响检测结果。
发明内容本实用新型提供一种能够在芯片检测时对托盘进行固定的芯片测试机的托盘夹结构。为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案它安装于托盘夹输送导轨上，包括一固定于托盘夹输送导轨上的支架，所述的支架上安装有一汽缸，汽缸顶部连接一上夹具，所述的导轨内侧面设有一下夹具，汽缸驱动上夹具向下夹具偏移形成夹紧。优选地，所述的支架呈倒L形，L形支架的水平边安装于托盘夹输送导轨的上表面，L形支架的垂直边安装于托盘夹输送导轨的外侧面。优选的，所述的上夹具外侧端部通过一转轴连接于汽缸的输出端，上夹具中部下表面设有一下突部，下突部上设有一轴孔，支架的水平边上对应所述轴孔的位置设有外轴孔，外轴孔和轴孔中设有一转轴。优选的，所述的上夹具包括一水平部及由水平部一端向斜下方延伸的夹头，水平部另一端与汽缸连接，所述的下突部安装于水平部下表面上。优选地，所述的支架的水平部上表面包括位于上夹具夹头下方的低水平面，位于上夹具下突部下方的高水平面，及由高水平面向垂直边延伸的斜面。优选地，所述的汽缸底部通过一转轴安装于L形支架的垂直边上。由于采用了上述结构，本实用新型的芯片测试机的托盘夹结构在使用托盘进给待检测芯片时，在进行检测的过程中可以使用汽缸驱动上夹具下压配合下夹具夹紧托盘，将托盘固定住，避免了检测过程中的托盘振动，从而消除了其他位置的待检测芯片的位置偏移，保证了芯片进给的稳定性，提高了芯片检测的准确性。
图I是本实用新型的托盘夹与导轨安装结构示意图；图2是本实用新型的托盘夹安装侧面结构图。
具体实施方式
结合图I与图2所示，本实施例的芯片测试机的托盘夹结构安装于托盘夹输送导轨I上，一般设置两条托盘夹输送导轨I，托盘2位于两条托盘夹输送导轨I之间,托盘夹结构包括一固定于托盘夹输送导轨上的支架3，所述的支架3上安装有一汽缸4，汽缸4顶部连接一上夹具5，所述的导轨I内侧面设有一下夹具6，汽缸4驱动上夹具5向下夹具6偏移形成夹紧托盘2，从而实现托盘2的固定。进一步的，为了实现部件见的更好配合，本实施例中所述的支架3呈倒L形，L形支架3的水平边31安装于托盘夹输送导轨I的上表面，L形支架3的垂直边32安装于托盘夹输送导轨I的外侧面。具体的，所述的上夹具5外侧端部通过一转轴7连接于汽缸4的输出端，上夹具5中部下表面设有一下突部51，下突部51上设有一轴孔，支架3的水平边31上对应所述轴孔 的位置设有外轴孔，外轴孔和轴孔中设有一转轴8。为了使上夹具受汽缸的驱动更加直接，获取更好的夹紧效果，本实施例中所述的上夹具5包括一水平部52及由水平部52 —端向斜下方延伸的夹头53，水平部52另一端与汽缸4连接，所述的下突部51安装于水平部52的下表面上。在夹紧时，汽缸向上推动上夹具5的水平部52，使水平部52沿转轴8偏转，前端的夹头53下压，从而与下夹具6相配合夹紧托盘2。由于支架3的水平部31位于上夹具的下方，而上夹具5在进行夹紧和松开时沿以转轴8为中心发生上下的运动，为了使支架3的水平部31不对上夹具4的运动产生影响，本实施例中，所述的支架3的水平部31上表面包括位于上夹具夹头下方的低水平面312，位于上夹具下突部下方的高水平面313，及由高水平面向垂直边延伸的斜面314。由于在汽缸安装的时候需要分别连接于支架3的垂直部32和上夹具5上，为了避免公差对部件配合产生的影响，本实施例中，所述的汽缸4底部通过一转轴9安装于L形支架4的垂直边32上。以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种芯片测试机的托盘夹结构，安装于托盘夹输送导轨上，其特征在于包括一固定于托盘夹输送导轨上的支架，所述的支架上安装有一汽缸，汽缸顶部连接一上夹具，所述的导轨内侧面设有一下夹具，汽缸驱动上夹具向下夹具偏移形成夹紧。
2.如权利要求I所述的芯片测试机的托盘夹结构，其特征在于所述的支架呈倒L形，L形支架的水平边安装于托盘夹输送导轨的上表面，L形支架的垂直边安装于托盘夹输送导轨的外侧面。
3.如权利要求2所述的芯片测试机的托盘夹结构，其特征在于所述的上夹具外侧端部通过一转轴连接于汽缸的输出端，上夹具中部下表面设有一下突部，下突部上设有一轴孔，支架的水平边上对应所述轴孔的位置设有外轴孔，外轴孔和轴孔中设有一转轴。
4.如权利要求3所述的芯片测试机的托盘夹结构，其特征在于所述的上夹具包括一水平部及由水平部一端向斜下方延伸的夹头，水平部另一端与汽缸连接，所述的下突部安 装于水平部下表面上。
5.如权利要求4所述的芯片测试机的托盘夹结构，其特征在于所述的支架的水平部上表面包括位于上夹具夹头下方的低水平面，位于上夹具下突部下方的高水平面，及由高水平面向垂直边延伸的斜面。
6.如权利要求5所述的芯片测试机的托盘夹结构，其特征在于所述的汽缸底部通过一转轴安装于L形支架的垂直边上。
专利摘要本实用新型涉及芯片测试机领域，尤其是芯片测试机的托盘夹结构。安装于托盘夹输送导轨上，包括一固定于托盘夹输送导轨上的支架，所述的支架上安装有一汽缸，汽缸顶部连接一上夹具，所述的导轨内侧面设有一下夹具，汽缸驱动上夹具向下夹具偏移形成夹紧。本实用新型的芯片测试机的托盘夹结构在使用托盘进给待检测芯片时，在进行检测的过程中可以使用汽缸驱动上夹具下压配合下夹具夹紧托盘，将托盘固定住，避免了检测过程中的托盘振动，从而消除了其他位置的待检测芯片的位置偏移，保证了芯片进给的稳定性，提高了芯片检测的准确性。
文档编号G01R1/04GK202502117SQ201120461930
公开日2012年10月24日 申请日期2011年11月18日 优先权日2011年11月18日
发明者金英杰 申请人:金英杰