一种lcd抗冲击能力测试方法
【专利摘要】一种LCD抗冲击能力测试方法，该测试方法包括：步骤a.对测试样品进行预处理并调节冲击机台施放的半正弦波冲击的冲击能量至预设值；步骤b.对测试样品的直角坐标轴±X、±Y和±Z六个轴向中的一个轴向施以半正弦波冲击；步骤c.检测测试样品是否出现异常，若否进入步骤d；步骤d.判断半正弦波冲击的冲击能量是否达到极限值，若是进入步骤e，若否,增加半正弦波冲击的冲击能量并回到步骤b。本发明通过在不同的轴向上使用不同冲击能量的半正弦波冲击对LCD进行冲击，以LCD的显示状况和各部分结构是否出现异常来判断该部位是否存在设计缺陷实现了即能测出LCD的破坏极限又能够帮设计者找出LCD抗冲击的弱点的效果。
【专利说明】一种LCD抗冲击能力测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种LCD抗冲击能力测试方法，尤其涉及多轴向的LCD抗冲击能力测
试方法。
【背景技术】
[0002]随着LCD应用越来越广泛，LCD的需求量也越来越大，但LCD的运输封装技术没有跟上需求量的发展从而导致IXD在生产、搬运和运输过程中很容易由于受冲击环境破坏，给企业造成不必要的损失，甚至是造成客户的流失。要解决上述的问题就需要一种能够测试出LCD经受冲击破坏的极限并知道LCD的抗冲击弱点在何处的测试方法，以便设计者能够从设计上进行有效的设计预防。
[0003]现有技术的测试方法是通过调整冲击平台高度以及铺设的缓冲垫来控制冲击速度和持续时间，现有技术虽然简单但是只能测出LCD的破坏极限不能够帮设计者找出LCD抗冲击的弱点。
【发明内容】
[0004]本发明要解决的技术问题在于克服上述现有技术存在的不足，而提出一种LCD抗冲击能力测试方法，以解决现有技术中的LCD抗冲击能力测试方法不能测出LCD抗冲击的弱点的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本发明提出一种LCD抗冲击能力测试方法，该测试方法包括:步骤a.对测试样品进行预处理并调节冲击机台施放的半正弦波冲击的冲击能量至预设值；步骤b.对测试样品的直角坐标轴±X、±￥和土Z六个轴向中的一个轴向施以半正弦波冲击；步骤c.检测测试样品是否出现异常，若否进入步骤d;步骤d.判断半正弦波冲击的冲击能量是否达到极限值，若是，进入步骤e，若否，增加半正弦波冲击的冲击能量并回到步骤b ;步骤e.判断测试样品的六个轴向是否均已测试通过，若否，则改变测试样品接受半正弦波冲击的轴向并回到步骤a，若是，则判断测试样品合格。
[0006]优选地，在步骤c中，若是则进入步骤g，步骤g为直接记录测试结果。
[0007]优选地，步骤a的预设值为140G/2ms。
[0008]优选地，步骤d的极限值为冲击平台能承受的极限值。
[0009]优选地，冲击平台能承受的极限值为300G/2ms。
[0010]优选地，步骤a的预处理包括将测试样品固定在冲击平台上，使测试样品处于正常工作状态并记录测试样品的画面品质状况。
[0011]优选地，步骤c的检测测试样品具体包括:
对测试样品进行画面品质检查和/或将测试样品拆开对内部零部件性能及紧固度检查。
[0012]优选地，步骤g的测试结果具体包括测试过程和失效现象。
[0013]优选地，步骤d的增加半正弦波冲击的强度的具体步骤为以20G/2ms的变化幅度增加半正弦波冲击的冲击能量。
[0014]与现有技术相比，本发明的有益效果包括:本发明通过在不同的轴向上使用不同冲击能量的半正弦波冲击对LCD进行冲击，以LCD的显示状况和各部分结构是否出现异常来判断该部位是否存在设计缺陷实现了即能测出LCD的破坏极限又能够帮设计者找出LCD抗冲击的弱点的效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1为本发明实施例的LCD抗冲击能力测试方法的流程图。
[0016]图2为本发明实施例的冲击机台的结构示意图。
【具体实施方式】
[0017]为了进一步说明本发明的原理和结构，现结合附图对本发明的优选实施例进行详细说明。
[0018]请参阅图1，本发明提供一种LCD抗冲击能力测试方法，该方法包括
步骤a:对测试样品进行预处理并调节冲击机台施放的半正弦波冲击的冲击能量至预设值；
步骤a的预处理包括将测试样品固定在冲击平台上，使测试样品处于正常工作状态并记录测试样品的画面品质状况。步骤a的预设值为140G/2ms。
[0019]步骤a的目的是首先记录了测试前的样品的工作状态方便与测试后的样品状况进行比对，调节冲击能量至合适的预设值可以方便测试的进行以及确保后续测试的有效性，过高的预设值可能直接将测试样品冲坏，无法相对准确的知道样品的抗冲击极限，而过低的预设值可能会额外增加大量的测试次数，产生不必要的浪费。在本实施例中，预设值为140G/2ms，在其他实施例中，预设值可以根据测试样品的不同而设定成其他数值。
[0020]步骤b:对测试样品的直角坐标轴±X、土Y和土Z六个轴向中的一个轴向施以半正弦波冲击。
[0021]步骤b的目的在于通过半正弦波冲击模拟测试样品在运输过程中的冲撞现象，对样品的抗冲击能力进行测试。
[0022]步骤c:检测测试样品是否出现异常；若是，则进入步骤g ;若否，则进入步骤d。
[0023]步骤c的检测测试样品具体包括:对测试样品进行画面品质检查和/或将测试样品拆开对内部零部件性能及紧固度检查。
[0024]步骤c的目的在于将接受冲击后的样品的画面品质与步骤a中记录的品质状况进行比较以判断样品是否在接受冲击后出现了异常，再检查样品的内部零件是否因为冲击而发生松动，即可较全面对样品判断在该冲击能量下是否出现异常。
[0025]步骤g:直接记录测试结果。
[0026]步骤g的测试结果具体包括测试过程和失效现象。
[0027]步骤g的目的在于当样品出现异常时将样品测试过程和失效现象记录后，设计人员可以通过对记录的数据进行分析从而方便找出样品结构上的薄弱环节，以进行设计上的修改使得产品的抗冲击性能提高，例如:接受冲击后发现螺钉出现松动，设计人员就可以更改固定方式将螺钉换成其他固定方式或更换螺钉的型号等方式来解决结构缺陷。[0028]步骤d:判断半正弦波冲击的冲击能量是否达到极限值，若是，进入步骤e，若否，增加半正弦波冲击的冲击能量并回到步骤b。
[0029]步骤d的目的在于，通过不断的增加半正弦波的冲击能量，使得多次测试之后冲击能量达到样品的抗冲击极限，这样多次不间断的增加冲击能量可以使得当出现异常时，冲击能量和样品的抗冲击极限间的误差不会超过冲击能量一次增加的值。在本实施例中，增加半正弦波冲击的强度的具体步骤为以20G/2ms的变化幅度增加半正弦波冲击的冲击能量，选用20G/2ms的目的在于这个增加的幅度即不会太小导致要额外进行多次测试才能达到样品的抗冲击极限，也不会太大而导致误差过大。
[0030]在本实施例中，极限值为冲击平台能承受的极限值，冲击平台能承受的极限值为300G/2ms。在其他实施例中，根据不同类型的冲击平台，极限值的大小也可以不同，并且极限值也可以自行规定一个具体的数值，例如:在平常的运输过程中发生碰撞的冲击能量一般为250G/2ms则可以将极限值定为280G/2ms。
[0031]步骤e:判断测试样品的六个轴向是否均已测试通过，若否，则改变测试样品接受半正弦波冲击的轴向并回到步骤a，若是，则判断测试样品合格。
[0032]步骤e的目的在于当测试样品在一个轴向上接受了极限值的冲击没有发生异常时，则证明这个测试样品在这个轴向上已经满足了要求，但是由于不同轴向上给与相同的冲击时零件承受的冲击能量并不相同，所以在不同轴向上施加冲击时可能导致原来没有出现异常的零件出现问题。
[0033]由于IXD板一般为长方体，直角坐标轴±X、±￥和土Z六个轴向可以较全面的模拟在运输途中的各种冲击，所以在这六个轴向的冲击测试均通过之后，判断样品合格。
[0034]请参阅图2，冲击机台包括缓冲装置1、悬吊装置2和冲击平台3，测试样品4固定在冲击平台3上，悬挂装置2将冲击平台3悬挂在缓冲装置I上方固定高度处，测试时悬挂装置2松开冲击平台3，冲击平台自由落体与缓冲装置I碰撞对测试样品产生冲击。
[0035]测试样品4和冲击平台3接触的一面即是测试样品3接受冲击的一面，要更换测试样品接受冲击的方向只需要将测试样品4换一个朝向重新固定在冲击平台3上即可。
[0036]在本实施例中，140G/2ms中的140G指的是冲击平台3与缓冲装置I接触产生冲击时冲击平台收到的加速度为140个重力加速度，2ms指的是冲击平台3与缓冲装置I的缓冲时间2ms，通过动量定理就可以计算出冲击产生的冲击力。以20G/2ms的变化幅度增加指的是140G/2ms、160G/2ms、180G/2ms、200G/2ms这样的方式增加。而这种增加方式，则是通过使用不同材质的缓冲装置1、改变缓冲装置I的厚度和/或增加悬挂装置2悬挂冲击平台3的高度从而使得冲击平台3在相同的缓冲时间下与缓冲装置I接触的初速度变大，这样冲击平台3与缓冲装置I接触时的加速度就会增大。
[0037]综上所述，本发明通过在不同的轴向上使用不同冲击能量的半正弦波冲击对LCD进行冲击，以LCD的显示状况和各部分结构是否出现异常来判断该部位是否存在设计缺陷实现了即能测出LCD的破坏极限又能够帮设计者找出LCD抗冲击的弱点的效果。[0038]以上所述仅为本发明的较佳可行实施例，并非限制本发明的保护范围。凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的【技术领域】，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
【权利要求】
1.一种LCD抗冲击能力测试方法，其特征在于，该测试方法包括: 步骤a.对所述测试样品进行预处理并调节冲击机台施放的半正弦波冲击的冲击能量至预设值； 步骤b.对所述测试样品的直角坐标轴±乂、±￥和±2六个轴向中的一个轴向施以所述半正弦波冲击； 步骤c.检测所述测试样品是否出现异常，若否，进入步骤d ； 步骤d.判断所述半正弦波冲击的冲击能量是否达到极限值，若是，进入步骤e，若否，增加所述半正弦波冲击的冲击能量并回到步骤b ； 步骤e.判断所述测试样品的六个轴向是否均已测试通过，若否，则改变所述测试样品接受半正弦波冲击的轴向并回到步骤a，若是，则判断测试样品合格。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤c中，若是则进入步骤g，所述步骤g为直接记录测试结果。
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤a的预设值为140G/2ms。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤d的极限值为所述冲击平台能承受的极限值。
5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述冲击平台能承受的极限值为300G/2ms。
6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤a的预处理包括将测试样品固定在冲击平台上，使所述测试样品处于正常工作状态并记录测试样品的画面品质状况。
7.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述步骤c的检测所述测试样品具体包括: 对测试样品进行画面品质检查和/或将测试样品拆开对内部零部件性能及紧固度检查。
8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述步骤g的测试结果具体包括测试过程和失效现象。
9.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤d的增加所述半正弦波冲击的强度的具体步骤为以20G/2ms的变化幅度增加所述半正弦波冲击的冲击能量。
【文档编号】G01M7/08GK103454057SQ201210175100
【公开日】2013年12月18日 申请日期:2012年5月30日 优先权日:2012年5月30日
【发明者】周明杰, 王永清 申请人:海洋王（东莞）照明科技有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明技术有限公司