按键测试装置及方法
【专利摘要】本发明提出一种按键测试装置，包含升降机构、至少一管体及拉杆；升降机构具有透孔；管体对应透孔而设置于升降机构上方，管体内活动容设有第一配重、第二配重及第三配重；第一配重活动容设于管体内最底端，第一配重凸设有向下穿出透孔外的测试头，以压持待测按键；第二配重活动叠置于第一配重上方；第三配重活动叠置于第二配重上方，第二配重与第三配重之间连设有挠性引线；拉杆连动第三配重作升降运动，藉此改变待测按键上的配重，以检测按键的各项性能；本发明亦提出使用上述按键测试装置测试按键性能的按键测试方法。
【专利说明】按键测试装置及方法
【技术领域】
[0001] 本发明有关于一种按键测试装置及方法，特别有关于一种可测试按键的多项性能 的按键测试装置及方法。
【背景技术】
[0002] -般而言，电子装置都具有可供使用者操作的按键，按键的好坏直接影响了使用 者对电子装置的功能操控，因此，对按键进行测试为产品出厂前的必要流程。传统的按键测 试程序，是由一测试者以手指去按该键盘上的每一按键。如果能够正确地分辨该测试者所 按的每一按键，并据以执行相对应的运作，就表示该待测按键是正常的，否则，就表示该待 测按键是不良品。然而待检测的按键或键盘数量庞大，如果测试工程师仅靠手动按键来执 行所有测试，不仅测试速度慢，效率低，还有可能造成测试的遗漏。
[0003] 更重要的是，按键的各项性能皆有预设的数值规范，例如按键的支撑力范围、按键 对按压力道的灵敏度或是按键的回弹力范围，皆需要符合制造商所预设的数值规范，以提 供使用者良好的使用经验。
[0004] 然而人工测试，仅能依据测试工程师的「手感」经验，以判断按键的各项性能，无法 量化复制，造成按键测试进度缓慢，不符经济效益。而且测试工程师的主观判定，并无法准 确的检测出按键的性能是否精准的落在预设的数值规范，造成每一按键所展现的性能有所 不同，进而使每一使用者的使用者经验，皆有所差异。
[0005] 综上所述，在现有技术中，采用人工方式进行按键测试，无法精准检测按键的各项 性能，且检测效率低落，此实为市场应用上刻不容缓且亟需解决的问题。
【发明内容】
[0006] 有鉴于此，本发明提出一种按键测试装置，包含：升降机构、至少一管体及拉杆。 升降机构具有至少一透孔；至少一管体对应至少一透孔而设置于升降机构上方，至少一管 体内容设有第一配重、第二配重及第三配重；第一配重活动容设于管体内最底端，第一配重 凸设有测试头，测试头向下穿出透孔外；第二配重活动容设于管体内，并叠置于第一配重上 方；第三配重活动容设于管体内，并叠置于第二配重上方，第二配重与第三配重之间连设有 挠性引线；拉杆连动第三配重作升降运动。
[0007] 本发明另提出一种按键测试方法，包含下列步骤：
[0008] A步骤：提供按键测试装置，其包含有升降机构及至少一管体，至少一管体内活动 容设有第一配重及第二配重，第一配重凸设有测试头并向下穿出升降机构的对应的透孔 夕卜，第二配重叠置于第一配重上方；
[0009] B步骤：提供至少一待测按键至升降机构下方，并对应至至少一管体内第一配重 的测试头；
[0010] C步骤：降下升降机构自起始位置至测试位置，使测试头负载于待测按键上；及
[0011] D步骤：量测至少一待测按键的导通状态。
[0012] 本发明再提出一种按键测试方法，包含下列步骤：
[0013] 步骤：提供按键测试装置，其包含有升降机构、至少一管体及拉杆，至少一管体内 活动容设有第一配重、第二配重及第三配重，第一配重凸设有测试头并向下穿出升降机构 的对应的透孔外，第二配重叠置于第一配重上方，第三配重并藉由挠性引线连结于第二配 重上拉杆连结于第三配重上；
[0014] 步骤：提供至少一待测按键至升降机构下方，并对应至至少一管体内第一配重的 测试头；
[0015] 步骤：将升降机构移动至测试位置，该测试头负载于待测按键上；
[0016] 步骤：驱动拉杆上升，使第三配重不叠置于第二配重上；
[0017] 步骤：量测至少一待测按键的导通状态；
[0018] 步骤：驱动拉杆下降，使第三配重叠置于第二配重上；
[0019] 步骤：量测至少一待测按键的导通状态。
[0020] 本发明的其中一特点在于，通过第一配重上的测试头压抵待测按键，并藉由改变 管体内配重的位置或是改变升降机构位置，使压抵于待测按键上的重量改变，或是待测按 键运行的行程距离改变，进而检测待测按键的各项性能。
[0021] 以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使本领域技 术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、权利要求书及 附图，本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。
【专利附图】
【附图说明】
[0022] 图1为理想的按键行程距离一力量曲线规格。
[0023] 图2A为本发明实施例结构的立体示意图。
[0024] 图2B为本发明实施例结构的分解示意图。
[0025] 图3为本发明另一实施例的测视剖面作动示意图。
[0026] 图4为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图(一)。
[0027] 图5为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图(二)。
[0028] 图6为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图(三)。
[0029] 图7为本发明实施例结构的起始状态示意图。
[0030] 图8为本发明实施例结构的侧视剖面作动示意图（四）。
[0031] 图9A为本发明实施例的操作流程示意图(一)。
[0032] 图9B为本发明实施例的操作流程示意图(二)。
[0033] 图9C为本发明实施例的操作流程示意图(三）
[0034] 图10为本发明再一实施例结构的侧视剖面作动不意图(一)。
[0035] 图11为本发明实施例的操作流程示意图（四）。
[0036] 图12A为本发明再一实施例的侧视剖面作动示意图(二)。
[0037] 图12B为本发明再一实施例的侧视剖面作动示意图(三)。
[0038] 图13A为本发明实施例的操作流程示意图（五)。
[0039] 图13B为本发明实施例的操作流程示意图(六)。
[0040] 【符号说明】
[0041] 11升降机构
[0042] 111 透孔
[0043] 12 管体
[0044] 121 第一配重
[0045] 121a 测试头
[0046] 122 第二配重
[0047] 123第三配重
[0048] 123a 限位槽
[0049] 123b限位区间
[0050] 124挠性引线
[0051] 13 拉杆
[0052] 131限位件
[0053] 2待测按键
[0054] 3升降装置
[0055] Pl支撑力测试点
[0056] Sl行程位置
[0057] Fl 力量
[0058] P2支撑力测试点
[0059] S2行程位置
[0060] F2 力量
[0061] P4回弹力测试点
[0062] S4行程位置
[0063] F4 力量
[0064] FP触发点
[0065] Ll 曲线
[0066] L2 曲线
【具体实施方式】
[0067] 请参照图1，为待测理想的按键行程距离一力量曲线规格。一般而言，功能正常的 按键需具备各项性能，例如回弹力、支撑力及运行的行程距离，以具备基本的工作效能，且 针对不同产品或是根据使用者经验，按键的回弹力、支撑力或运行的行程距离皆可预设一 特定数值范围，以提供较佳的使用经验。如图1所示，纵轴为施加于功能正常的按键上的力 量变化；横轴为按键运行的行程位置变化，上方的曲线Ll为按键于按压行程中的力量变化 曲线；下方的曲线L2为为按键于回弹行程中的力量变化曲线，兹配合第1表，按键的行程距 离-力量表，进行说明：
[0068] 第1表：按键的行程距离-力量规格表
[0069]
【权利要求】
1. 一种按键测试装置，其特征在于，包含： 一升降机构； 至少一管体，该升降机构连动该管体作升降运动，该至少一管体内容设有一第一配重、 一第二配重及一第三配重；该第一配重活动容设于该管体内最底端，该第一配重凸设有一 测试头；该第二配重活动容设于该管体内，并叠置于该第一配重上方；该第三配重活动容 设于该管体内，并叠置于该第二配重上方，该第二配重与该第三配重之间连设有一挠性引 线；及 一拉杆，该拉杆连动该第三配重作升降运动。
2. 如权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，该拉杆向上拉动该第三配重，使该 第三配重不叠置在该第二配重上。
3. 如权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，该拉杆向上拉动该第三配重，促使 该第三配重通过该挠性引线向上拉动该第二配重，使该第二配重不叠置在该第一配重上。
4. 如权利要求1、2或3所述的按键测试装置，其特征在于，该第一配重与该第二配重的 总重量小于等于该待测按键的预设支撑力的下限值。
5. 如权利要求4所述的按键测试装置，其特征在于，该第一配重、第二配重及第三配重 的总重量大于等于该待测按键的预设支撑力的上限值。
6. 如权利要求4所述的按键测试装置，其特征在于，该第一配重的重量小于等于该待 测按键的预设回弹力的设定值。
7. 如权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，该拉杆包含一限位件，该第三配重 包含对应该限位件的一限位槽，该限位槽具有一限位区间，该限位件容设于该限位槽内，并 轴向活动于该限位区间。
8. 如权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，更包含一升降装置连接该拉杆，该 升降装置驱动该拉杆相对于该管体作升降运动。
9. 如权利要求1所述的按键测试装置，该升降机构为一升降板，且该升降板具有一透 孔，该测试头向下穿出该透孔。
10. -种按键测试方法，其特征在于，包含下列步骤： A步骤：提供一按键测试装置，其包含有一升降机构及至少一管体，该升降机构连动该 管体作升降运动，该至少一管体内活动容设有一第一配重及一第二配重，该第一配重凸设 有一测试头，该第二配重叠置于该第一配重上方； B步骤：提供至少一待测按键至该测试头下方，并对应至该至少一管体内第一配重的 测试头； C步骤：将该升降机构置于一测试位置，使该测试头负载于该待测按键上；及 D步骤：量测该至少一待测按键的导通状态。
11. 如权利要求10所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重与该第二 配重的总重量小于等于该待测按键的预设支撑力的下限值。
12. 如权利要求10所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该按键测试装置包含 一拉杆，该至少一管体内活动容设有一第三配重，该拉杆连结于该第三配重上以连动该第 三配重作升降运动，该第三配重并藉由一挠性引线连结于该第二配重上，且叠置于该第二 配重上。
13. 如权利要求12所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤的该第三配重包含一限 位槽，该限位槽具有一限位区间；该拉杆包含一限位件并对应容设于该限位槽内，且轴向活 动于该限位区间；该按键测试方法更包含下列步骤于该D步骤之前： C1步骤：驱动该拉杆下降，使该限位件的上侧不接触该限位槽。
14. 如权利要求12或13所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤的该第一配重、第 二配重及第三配重的总重量大于等于该待测按键的预设支撑力的上限值。
15. 如权利要求10所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该按键测试装置包含 一拉杆以连动该第二配重作升降运动；该按键测试方法更包含下列步骤： 在C步骤中：驱动该拉杆下降，促使该待测按键为已导通状态；及 D步骤之前，加入E步骤：驱动该拉杆上升带动该第二配重上升，使该第二配重不叠置 在该第一配重上。
16. 如权利要求15所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该至少一管体内活动 容设有一第三配重，该拉杆连结于该第三配重上，该第三配重并藉由一挠性引线连结于该 第二配重上； 其中，该C步骤中的驱动该拉杆下降，促使该第三配重叠置于该第二配重上方，藉由该 第三配重的重量负荷加压于该测试头上，以令该待测按键为已导通状态。
17. 如权利要求15所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重的重量小 于等于该待测按键的预设回弹力的设定值。
18. 如权利要求16所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤的该第三配重包含一限 位槽，该限位槽具有一限位区间；该拉杆包含一限位件并对应容设于该限位槽内，且轴向活 动于该限位区间； 其中，该C步骤的驱动该拉杆下降，使该限位件的上侧不接触该限位槽。
19. 如权利要求10所述的按键测试方法，其特征在于，该C步骤的该升降机构自一起始 位置至该测试位置所运行的行程距离小于使该待测按键导通所预设的行程距离，且负载于 该测试按键上的总重量大于该待测按键的预设支撑力的上限值。
20. -种按键测试方法，其特征在于，包含下列步骤： A步骤：提供一按键测试装置，其包含有一升降机构、至少一管体及一拉杆，该升降机 构连动该管体作升降运动，该至少一管体内活动容设有一第一配重、一第二配重及一第三 配重，该第一配重凸设有一测试头，该第二配重叠置于该第一配重上方，该第三配重并藉由 一挠性引线连结于该第二配重上，该拉杆连结于该第三配重上； B步骤：提供至少一待测按键至该升降机构下方，并对应至该至少一管体内第一配重 的测试头； C步骤：将该升降机构移动至一测试位置，使该测试头负载于该待测按键上； D步骤：驱动该拉杆上升，使该第三配重不叠置于该第二配重上； E步骤：量测该至少一待测按键的导通状态； F步骤：驱动该拉杆下降，使该第三配重叠置于该第二配重上；及 G步骤：量测该至少一待测按键的导通状态。
21. 如权利要求20所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重与该第二 配重的总重量小于等于该待测按键的预设支撑力的下限值。
22. 如权利要求20所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重、第二配 重及第三配重的总重量大于等于该待测按键的预设支撑力的上限值。
23. 如权利要求20所述的按键测试方法，其特征在于，该E步骤的驱动该拉杆下降，促 使该第三配重叠置于该第二配重上方，藉由该第三配重的重量负荷加压于该测试头上，以 令该待测按键为已导通状态；该按键测试方法更包含下列步骤于G步骤之后： H步骤：驱动该拉杆上升带动该第二配重上升，使该第二配重不叠置在该第一配重上； 及 I步骤：量测该至少一待测按键的导通状态。
24. 如权利要求22所述的按键测试方法，其特征在于，该A步骤中该第一配重的重量小 于等于该待测按键的预设回弹力的设定值。
25. 如权利要求21所述的按键测试方法，其特征在于，更包含下列步骤于该C步骤之 刖： J步骤：驱动该拉杆下降，使该第三配重叠置于该第二配重上； K步骤：移动该升降机构自一起始位置至一过敏测试位置，使该测试头负载于该待测 按键上，其中该升降机构自该起始位置至该过敏测试位置所运行的行程距离小于使该待测 按键导通所预设的行程距离；及 L步骤：量测该至少一待测按键的导通状态。
【文档编号】G01R31/327GK104375080SQ201310359636
【公开日】2015年2月25日 申请日期:2013年8月16日 优先权日:2013年8月16日
【发明者】林仁信 申请人:群光电子股份有限公司