一种新型测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种新型测试装置，包括分别置于待测产品两侧的测试片，所述测试片前端分别置有定位凸块，所述定位凸块呈圆锥状，且顶部打磨圆滑，将待测产品的引脚限制住，使其不发生左右前后的晃动，又增强美观性。
【专利说明】一种新型测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种新型测试装置，属于电子元件领域。
【背景技术】
[0002]在电子生产领域，对每一个产品都需要进行测试，测试片的结构也需随着产品的更新而不断改进。目前小产品DFN产品测试座上的定位槽只能对产品左右进行定位，机台在高速运行时产品前后有晃动，造成测试接触不良和机台卡料，从而测试良率低和机台故障率高。本实用新型通过在测试片顶端增加定位凸块，使测试片具备产品前后的限位功能，在产品有前后偏移时能对产品进行定位使产品与测试片完好接触，提高测试良率与机台稳定性。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于提供一种新型测试装置，通过在测试片顶端增加定位凸块，使测试片具备产品前后的限位功能，在产品有前后偏移时能对产品进行定位使产品与测试片完好接触。
[0004]为达到上述目的，本实用新型提供了一种新型测试装置，包括分别置于待测产品两侧的测试片，所述测试片前端分别置有定位凸块，所述定位凸块呈圆锥状，且顶部打磨圆滑，将待测产品的引脚限制住，使其不发生左右前后的晃动，又增强美观性。
[0005]本实用新型的进一步改进在于:所述定位凸块斜度为40° -60°，保证了足够将待测产品限定住，不随着机台在高速运行时发生晃动。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图1为本实用新型的结构示意图；
[0007]附图标号:1_测试片，2-定位凸块，3-待测产品，4-引脚。
【具体实施方式】
[0008]为了加深对本实用新型的理解，下面将结合附图和实施例对本实用新型做进一步详细描述，该实施例仅用于解释本实用新型，并不对本实用新型的保护范围构成限定。
[0009]参见附图1，本实用新型提出了一种新型测试装置，包括分别置于待测产品3两侧的测试片1，所述测试片I前端分别置有定位凸块2，所述定位凸块2呈圆锥状，且顶部打磨圆滑，将待测产品的引脚限制住，使其不发生左右前后的晃动，又增强美观性；所述定位凸块2斜度为40° -60°，保证了足够将待测产品限定住，不随着机台在高速运行时发生晃动。
[0010]使用时，待测产品3通过流水线装置传送至测试区，待测产品3上的两引脚4分别置于两侧测试片I的顶端，定位凸块2将整个待测产品3前后左右限制住，不使其来回活动，减少测试接触不良，减少机台的卡料，提高设备的稳定性。
【权利要求】
1.一种新型测试装置，包括分别置于待测产品(3)两侧的测试片(I)，其特征在于:所述测试片(I)前端分别置有定位凸块(2)，所述定位凸块(2)呈圆锥状，且顶部打磨圆滑。
2.如权利要求1所述的一种新型测试装置，其特征在于:所述定位凸块(2)斜度为40。-60。。
【文档编号】G01R1/02GK203385756SQ201320460053
【公开日】2014年1月8日 申请日期:2013年7月31日 优先权日:2013年7月31日
【发明者】茆健 申请人:常州银河世纪微电子有限公司