一种荧光粉抗衰减特性检测方法
【专利摘要】一种荧光粉抗衰减特性检测方法，将荧光粉进行加水混合粉浆化处理以后，通过加热干燥，分散过筛后，利用真空紫外光谱分析仪进行激发，根据其粉浆化前后亮度维持率的大小，定性判断荧光粉抗衰减特性的强弱。
【专利说明】一种荧光粉抗衰减特性检测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种荧光粉特性检测方法，特别涉及一种荧光粉抗衰减特性检测方 法。
【背景技术】
[0002] 随着人类社会的不断发展，人们的物质生活水平不断提高，人们对照明光源的要 求不断更新，紧凑型，高负载带罩灯已成为照明领域的主流。同以往产品相比，此类产品管 径较细，管压大，管内短波紫外辐射随着管径的细化而不断增强，使荧光灯的衰减增大，弓丨 起光裒、色漂移等问题。
[0003] 目前，灯用荧光粉主要是以粉末特性检测为主，而对于这种高负载用荧光粉的衰 减特性检测，则需要将此荧光粉制成灯管，然后进行长时间点燃，再进行抗衰减特性检测。
【发明内容】
[0004] 为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供了一种荧光粉抗衰减特性 检测方法，可以直接进行荧光粉抗衰减特性检测，避免了复杂的制灯过程，通过对荧光粉抗 衰减特性的提前检测，避免了荧光灯制成后出现衰减大的问题，降低了制造成本，也对荧光 粉的品质提升起到了推动作用。
[0005] 为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是：
[0006] 一种荧光粉抗衰减特性检测方法，包括下述步骤：
[0007] 步骤一，搅拌混合分散：
[0008] 将待测荧光粉加入80?90摄氏度的纯水中，荧光粉的加入量为纯水质量的30? 50%，搅拌均匀后，利用超声波进行分散，超声波功率200w，超声时间3?5分钟；
[0009] 步骤二，加热千燥：
[0010] 然后进行粉浆沉降，沉降时间为2?3小时，使荧光粉彻底沉降完全，界限清晰，倒 掉粉浆上层的澄清液，进行粉块千燥，千燥温度100?120摄氏度，千燥时间8?12小时， 使荧光粉干燥完全；
[0011] 步骤三，分散过筛：
[0012] 将干燥完全的荧光粉用120目筛网进行粉体过筛一遍，再利用240目筛网再过一 遍筛，取样利用真空紫外光谱分析仪进行粉浆化前、后亮度维持率大小检测，根据亮度维持 率大小，判断荧光粉抗衰减性能的强弱，如果亮度维持率大，则认为该荧光粉抗衰减能力 强，反之，则弱。
[0013]
[0014]
【权利要求】
1. 一种荧光粉抗衰减特性检测方法，其特征在于，包括下述步骤： 步骤一，搅拌混合分散： 将待测荧光粉加入80?90摄氏度的纯水中，荧光粉的加入量为纯水质量的30? 50%，搅拌均匀后，利用超声波进行分散，超声波功率200w，超声时间3?5分钟； 步骤二，加热干燥： 然后进行粉浆沉降，沉降时间为2?3小时，使荧光粉彻底沉降完全，界限清晰，倒掉粉 浆上层的澄清液，进行粉块干燥，干燥温度100?120摄氏度，干燥时间8?12小时，使荧 光粉干燥完全； 步骤三，分散过筛： 将干燥完全的荧光粉用120目筛网进行粉体过筛一遍，再利用240目筛网再过一遍筛， 取样利用真空紫外光谱分析仪进行粉浆化前、后亮度维持率大小检测，根据亮度维持率大 小，判断荧光粉抗衰减性能的强弱，如果亮度维持率大，则认为该荧光粉抗衰减能力强，反 之，则弱。
【文档编号】G01N21/33GK104297193SQ201410508555
【公开日】2015年1月21日 申请日期:2014年9月28日 优先权日:2014年9月28日
【发明者】薛敏华 申请人:彩虹集团电子股份有限公司