一种pcb电气性能测试治具的针盘的制作方法
【专利摘要】本实用新型适用于PCB测试治具【技术领域】，提供了一种PCB电气性能测试治具的针盘，包括两个主导层、若干导向层、垫圈、至少两根探针及支撑杆。两个主导层间隔设置，若干导向层沿竖直方向相间地设置于两个主导层之间，垫圈设置于相邻的两个导向层之间，探针及支撑杆穿设于主导层与导向层上，导向层的数量为五个。本实用新型在针盘整体高度不变的情况下，将导向层的数量由原来的三个变为五个，缩小了相邻两个导向层之间的间距，防止了探针在测试受压时中部发生弯曲，避免了针盘内部发生短路。而且，导向层的间距变小，不仅有利于探针的固定，还缩小了工人在插针时偏移的范围，可更快地完成插针工作。
【专利说明】一种PCB电气性能测试治具的针盘
【技术领域】
[0001]本实用新型属于PCB测试治具【技术领域】，尤其涉及一种PCB电气性能测试治具的针盘。
【背景技术】
[0002]PCB电气测试治具主要用于给探针导向及固定，如图1所示，为现有的一种PCB电气测试治具的针盘10(Γ，该针盘10(Γ设置有两个主导层I及位于两主导层I之间的3个导向层2，探针4穿设在主导层i及导向层2上，主导层I及导向层2通过支撑柱5 (铜柱)进行固定连接，上下两个导向层2之间通过垫圈3 '相隔，因为导向层2数量较少，因此两个导向层2的间距较大。在市场上，探针4的长度是固定的，因此，针盘的整体高度是一个定值。在测试时，探针4的一端抵顶PCB，另一端抵顶线盘；探针的直径(6-8mil)很小，故探针4受力时中间部位容易弯曲，该针盘100 '相邻两个导向层2的最大间距为9.7mm,最小间距为7.9mm，在探针4较密集的区域，相邻的两根探针4的中间部位容易弯曲并相互接触，导致测试针盘内部短路，造成误测。另一方面，导向层2主要起固定及导向作用，导向层2间的间距过大，导致了探针4固定不稳定，影响了治具的品质。此外，工人插针时需要根据面板I上的针孔进行导向，工人将探针4穿入面板上的针孔时，间距越大，探针4可偏移的斜率就越大，工人越难对位插针，影响了插针速度。
实用新型内容
[0003]本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种PCB电气性能测试治具的针盘，旨在解决现有技术中的治具针盘因面板间距过大而带来的治具内部易发生短路及插针速度慢的问题。
[0004]本实用新型是这样实现的，一种PCB电气性能测试治具的针盘，包括两个主导层、若干导向层、垫圈、至少两根探针及支撑杆；所述两个主导层间隔设置，所述若干导向层沿竖直方向相间地设置于所述的两个主导层之间，所述垫圈设置于相邻的两个导向层之间，所述探针及支撑杆穿设于所述主导层与导向层上，所述导向层的数量为五个。
[0005]进一步地，每一所述导向层的厚度均相同。
[0006]进一步地，每一所述导向层的厚度均为1.0mm。
[0007]进一步地，所述五个导向层之间的垫圈高度分别为3.0mm、3.0mm、5.0mm、6.0mm、6.5mmο
[0008]本实用新型与现有技术相比，有益效果在于:本实用新型在针盘整体高度不变的情况下，将导向层的数量由原来的三个变为五个，缩小了相邻两个导向层之间的间距，防止了探针在测试受压时中部发生弯曲，避免了针盘内部发生短路。而且，导向层的间距变小，不仅有利于探针的固定，还缩小了工人在插针时偏移的范围，可更快地完成插针工作。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1是现有技术中的一种PCB电气性能测试治具的针盘的纵向剖视示意图。
[0010]图2是本实用新型实施例提供的一种PCB电气性能测试治具的针盘的纵向剖视示意图。
【具体实施方式】
[0011]为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0012]如图2所示，为本实用新型的一较佳实施例，一种PCB电气性能测试治具的针盘100，包括两个主导层1、若干导向层2、垫圈3、至少两根探针4及支撑杆5。
[0013]两个主导层I间隔设置，若干导向层2沿竖直方向相间地设置于两个主导层I之间，垫圈3设置于相邻的两个导向层2之间，探针4及支撑杆5穿设于主导层I与导向层2上，导向层2的数量为五个。
[0014]本实施例在针盘100整体高度不变的情况下，将导向层2的数量由原来的三个变为五个，缩小了相邻两个导向层2之间的间距，防止了探针4在测试受压时中部发生弯曲，避免了针盘100内部发生短路。而且，导向层2的间距变小，不仅有利于探针4的固定，还缩小了工人在插针时偏移的范围，可更快地完成插针工作。
[0015]具体地，每一导向层2的厚度均为1.0_。五个导向层2之间的垫圈3高度分别为3.0mm、3.0mm、5.0mm、6.0mm、6.5mm0
[0016]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1. 电气性能测试治具的针盘，包括两个主导层、若干导向层、垫圈、至少两根探针及支撑杆；所述两个主导层间隔设置，所述若干导向层沿竖直方向相间地设置于所述的两个主导层之间，所述垫圈设置于相邻的两个导向层之间，所述探针及支撑杆穿设于所述主导层与导向层上，其特征在于，所述导向层的数量为五个。
2.如权利要求1所述的？(?电气性能测试治具的针盘，其特征在于，每一所述导向层的厚度均相同。
3.如权利要求2所述的？(?电气性能测试治具的针盘，其特征在于，每一所述导向层的厚度均为1.0伽10
4.如权利要求1至3中任意一项所述的？(?电气性能测试治具的针盘，其特征在于，所述五个导向层之间的垫圈高度分别为3.0伽1、3|。臟上。臟上。臟上5伽10
【文档编号】G01R1/04GK204255987SQ201420660166
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年11月6日 优先权日:2014年11月6日
【发明者】陈代树 申请人:竞华电子(深圳)有限公司