技术领域本公开一般地涉及用于测试电路板及在其上的设备的测试探针及其他设备。
背景技术：
现今的探测应用需要将测试探针连接到电路板上的非常小的设备来进行测试的。从探针到被测设备(DUT)的这些连接通常借由非常细的导线(例如，0.004-0.008”)建立。典型的探针组件通常包括安装到示波器的补偿箱，某个长度(例如，36-47”)的同轴电缆，以及具有探针尖部的测试探针。当探针尖部连接到DUT，来自电路板组件或者探针组件(包括线缆)的任何运动或力将会传递到DUT和探针尖部之间的细导线连接，不期望地和不利地导致电路径的断开。先前尝试的解决方案包括非常靠近DUT地将探针尖部用胶带连接或胶接到电路板组件，从而消除在导线上的任何线缆拉拽。然而，这已经受到用户的显著关注，用户可能更喜欢用于在探针尖部附近的机械应力释放的某种类型的方案。因而，需要一种改进的测试探针组件。
技术实现要素：
所公开技术的实施例一般地关于磁性锚基部组件，其构造成与一个或多个测试探针联接以保护其免于遭受无意的撞击或其他运动，否则这些无意的撞击或其他运动会导致在(一个或多个)测试探针和被测设备(DUT)之间已经建立的电连接中断或断开。附图说明图1示出了与根据所公开技术的某些实施例的磁性锚基部组件牢固联接的测试探针的示例。图2示出了与根据所公开技术的某些实施例的磁性联接部件牢固联接的测试探针的第一示例。图3示出了与根据所公开技术的某些实施例的磁性联接部件牢固联接的测试探针的第二示例。具体实施方式所公开技术的实施例一般地关于各种系统和方法，用于提供保护例如免于遭受撞击或其他无意运动，其会导致定位在一个或多个连接点处或附近的测试探针(包括测试探针尖部)到被测设备(DUT)的电连接的中断或甚至完全断开。所公开技术的某些实施例包括柔性电路和柔性连接器，它们是小、轻、柔性的，并且提供平坦表面用于方便的附接(例如，VHB带接或胶接)到印刷电路板(PCB)。图1示出了与根据所公开技术的某些实施例的磁性锚基部组件150牢固联接的测试探针110、120、130和140的第一示例100。每个测试探针110、120、130和140分别包括柔性主体112、122、132和142，并且分别包括连接到测试设备(例如示波器)的线缆116、126、136和146。每个测试探针110、120、130和140还分别包括柔性连接器114、124、134和144，其构造成与柔性电路(未示出)物理联接并且电连接到柔性电路，柔性电路构造成与DUT(未示出)集成在一起或者以其他方式与DUT电联接，从而提供在DUT和测试设备之间的电联接。在示例100中，磁性锚基部组件150包括磁性联接部件155，其构造成分别借由金属带118、128、138和148将每个测试探针110、120、130和140与其牢固联接。每个金属带118、128、138和148可以分别与测试探针110、120、130和140永久地或临时地集成在一起、或分别附接到测试探针110、120、130和140、或以其他方式分别与测试探针110、120、130和140联接。在该过渡处提供这样的锚点可以有利地消除关于柔性电路或线缆116、126、136和146的任何潜在拉拽问题。在某些实施例中，磁性锚基部组件150是重的金属基部，其可以包括若干个强钕磁体。锚基部组件150的底部可以包括非导电性、高摩擦(例如，粘性的)片，其提供附加的剪切阻力，用于将锚基部组件150安装在DUT附近。磁性锚基部组件150的磁性联接部件155可以分开，以便于使用磁性的另外的附接选项。例如，磁性联接部件155可以实际上放置在任何含铁金属表面(例如，桌子或固定物)上，从而给用户提供沿着多个不同朝向定位任意或全部测试探针110、120、130和140的能力。图2示出了与根据所公开技术的某些实施例的磁性联接部件255(例如由图1所示的磁性联接部件155)牢固联接的测试探针210、220、230和240的第一示例200。在该示例中，磁性子部件215、225、235和245(例如钕磁体)与磁性联接部件255集成在一起以促进或执行分别在磁性联接部件255和测试探针210、220、230和240之间借由金属带218、228、238和248的磁性联接，金属带218、228、238和248分别与测试探针210、220、230和240集成在一起、或分别附接到测试探针210、220、230和240、或者以其他方式分别与测试探针210、220、230和240联接。图3示出了与根据所公开技术的某些实施例的磁性联接部件355(例如由图1所示的磁性联接部件155)牢固联接的测试探针310和340的第二示例300。在该示例中，磁性子部件(例如钕磁体)与磁性联接部件355集成在一起以促进或执行分别在磁性联接部件355和测试探针310和340之间借由金属带318和348的磁性联接，金属带318和348分别与测试探针310和340集成在一起、或分别附接到测试探针310和340、或者以其他方式分别与测试探针310和340联接。在该示例中，两个磁性子部件325和355目前不与测试探针联接。在某些实施例中，附接到测试探针(例如，图1的测试探针110、120、130和140)的一个或多个金属带(例如，图1的金属带118、128、138和148)可以被上色，例如用于仪器通道标识。例如，每个金属带可以具有特定颜色，用于视觉上使用户能够识别哪个通道对应于该金属带所联接到的测试探针。在含铁金属中设计有色的标记带可以有利地允许用户将探针组件的线缆端部附接到构造成提供强线缆应力释放的磁性锚基部组件。已经参考所示的实施例描述和图示了本发明的原理，但是应该认识到在不脱离该原理的情况下所示实施例可以在布置和细节方面被修改，并且可以以任何期望的方式组合。而且，虽然前面的讨论集中于特定的实施例，但是可以预期其他构造。具体地，即使在本文中使用了例如“根据本发明的实施例”等的措辞，这些措辞指的是一般性参考实施例的可能性，而不是意图将本发明限制到特定的实施例构造。当在本文中使用时，这些术语可以涉及相同或不同的实施例，其能够结合到其他实施例中。因此，考虑到在本文中描述的实施例的宽泛排列组合，本详细描述和所附的材料旨在仅为示例性的，并且不应该看作限制本发明的范围。因此，所请求保护的发明是可落入所附权利要求及其等同物的范围和精神内的所有此类修改。