测试装置的制作方法

本申请涉及零件检测技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术：

随着电芯能量密度的提升和电芯铝箔封装袋厚度的减小，电芯铝箔封装袋的腐蚀和破损情况也在逐渐恶化。传统技术中，通常采用手动检测的方式检测电芯铝箔封装袋是否出现腐蚀或者破损。具体地，操作人员手持万用表表棒分别接触电芯铝箔封装袋的铝层和正极(或负极)，通过目视方式读出电压值，进而判断电芯铝箔封装袋是否出现腐蚀或者破损。然而，此种方式需要人工实施，导致人力浪费问题比较严重。

技术实现要素：

本申请提供了一种测试装置，以节约人力。

本申请提供的测试装置用于检测电芯，其包括驱动机构、电芯定位台和测试机构，所述电芯定位台用于与电芯定位配合，所述测试机构包括测试探头，所述测试探头包括刀架以及固定于所述刀架上的导电刀片，所述导电刀片相对于所述刀架的外伸距离为预设值，所述导电刀片用于刺破电芯铝箔封装袋，所述驱动机构用于驱动所述电芯定位台和测试机构中的至少一者，以使两者具有相对靠近或相对远离的运动方向。

优选地，所述测试探头为两个，且两个所述测试探头电连接。

优选地，所述测试探头还包括固定于所述刀架上的定位凸部，所述定位凸部相对于所述刀架向所述导电刀片所在一侧凸出，且所述定位凸部与所述刀架围成电芯容纳空间。

优选地，所述定位凸部为两个，两个所述定位凸部分别位于所述导电刀片的相对两侧，且两个所述定位凸部与所述刀架共同围成所述电芯容纳空间。

优选地，所述刀架包括本体和限位块，所述限位块可拆卸地安装于所述本体上，所述导电刀片相对于所述限位块的外伸距离为所述预设值。

优选地，所述导电刀片固定于所述本体上。

优选地，所述测试探头还包括固定座和弹性缓冲件，所述刀架滑动安装于所述固定座上，所述刀架的滑动方向为靠近或远离所述电芯定位台的方向，所述弹性缓冲件设置于所述固定座与所述刀架之间。

优选地，所述弹性缓冲件的延伸方向与所述刀架的滑动方向相平行。

优选地，还包括与所述测试探头相连的辅助测试探头，所述辅助测试探头和所述电芯定位台用于分布于极耳的相对两侧。

优选地，所述电芯定位台包括支架以及安装于所述支架上的极耳定位部和推送机构，所述推送机构用于向电芯施加推动力，所述极耳定位部用于与电芯的极耳定位配合，所述推动力的方向为靠近极耳定位部的方向。

本申请提供的技术方案可以达到以下有益效果：

使用本申请所提供的测试装置时，可以通过驱动机构带动电芯定位台和测试机构中的至少一者，以使两者相对靠近，在这一过程中，电芯将与测试机构的导电刀片接触，使得导电刀片划破电芯铝箔封装袋，进而与铝层接触，以此检测电芯铝箔封装袋是否出现腐蚀或者破损。显然，该测试装置采用驱动机构实现测试机构与电芯之间的接触，以此降低检测过程中的人工参与程度，进而节约人力。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。

附图说明

图1为本申请实施例所提供的测试装置的结构示意图；

图2为图1中A部分的一种结构示意图；

图3为图1中A部分的另一种结构示意图；

图4为本申请实施例所提供的测试探头的结构示意图；

图5为图4所示结构的主视图；

图6为图4所示结构的侧视图；

图7为本申请实施例所提供的电芯定位台的部分结构示意图。

附图标记：

1-电芯；

2-电芯定位台；

200-支架；

201-极耳定位部；

202-推送机构；

203-夹紧机构；

3-测试机构；

30-测试探头；

30a-第一测试探头；

30b-第二测试探头；

300-刀架；

300a-本体；

300b-限位块；

301-导电刀片；

302-定位凸部；

303-固定座；

304-弹性缓冲件；

31-辅助测试探头；

4-上料定位模块；

5-托盘；

6-上料机械手；

7-下料机械手；

8-下料输送带。

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

具体实施方式

下面通过具体的实施例并结合附图对本申请做进一步的详细描述。

如图1-7所示，本申请实施例提供了一种测试装置，该测试装置用于检测电芯1，其包括驱动机构(图中未示出)、电芯定位台2和测试机构3。

电芯定位台2用于与电芯1定位配合，具体地，电芯定位台2上可以开设定位槽，该定位槽的轮廓与电芯1的轮廓相适配，使得电芯1被放置于该定位槽内以后就无法相对于定位槽移动。对于单个电芯定位台2来说，其上定位的电芯1可以是一个，也可以是多个。

测试机构3包括测试探头30，该测试探头30包括刀架300以及固定于刀架300上的导电刀片301，该导电刀片301相对于刀架300的外伸距离为预设值，导电刀片301用于刺破电芯铝箔封装袋。此处的预设值可以根据电芯铝箔封装袋的厚度设置，以此控制导电刀片301伸入电芯铝箔封装袋的距离，防止导电刀片301破坏电芯的其他结构。

驱动机构用于驱动电芯定位台2和测试机构3中的至少一者，以使两者具有相对靠近或相对远离的运动方向。该驱动机构可以采用液力驱动机构、电力驱动机构、气动驱动机构等等。电芯定位台2与测试机构3相对靠近时，导电刀片301靠近电芯1并可以刺破电芯铝箔封装袋；电芯定位台2与测试机构3相对远离时，导电刀片301远离电芯1进而复位。

使用本申请所提供的测试装置时，首先通过驱动机构带动电芯定位台2和测试机构3中的至少一者，以使两者相对靠近，在这一过程中，电芯1将与测试机构3的导电刀片301接触，使得导电刀片301划破电芯铝箔封装袋，进而与铝层接触，然后通过读取电压值的方式，检测电芯铝箔封装袋是否出现腐蚀或者破损。根据这一检测结果，就可以对电芯1的合格品和不合格品进行比较准确的分选。

检测完毕后，再通过驱动机构带动电芯定位台2和测试机构3中的至少一者，以使两者相对远离即可。显然，该测试装置采用驱动机构实现测试机构3与电芯1之间的接触，以此降低检测过程中的人工参与程度，进而节约人力。另外，该测试装置还可以准确控制导电刀片301刺入电芯铝箔封装袋的深度，以此保证电芯1的结构完整性。

当测试探头30仅设置为一个时，并不能准确获知该测试探头30是否与电芯铝箔封装袋接触良好。因此，可将测试探头30设置为两个，即图3中所示的第一测试探头30a和第二测试探头30b，两者电连接。在驱动机构的作用下，第一测试探头30a和第二测试探头30b均可刺破电芯铝箔封装袋，如果两者与电芯铝箔封装袋之间可以形成回路，则表示第一测试探头30a和第二测试探头30b与电芯铝箔封装袋接触良好，否则接触不良。具体地，第一测试探头30a和第二测试探头30b可以通过继电器并联。

进一步地，前述测试探头30还可包括固定于刀架300上的定位凸部302，该定位凸部302相对于刀架300向导电刀片301所在的一侧凸出，且定位凸部302与刀架300围成电芯容纳空间。也就是说，当导电刀片301刺入电芯铝箔封装袋内时，定位凸部302处于电芯边缘的附近处，因此，该定位凸部302可以为导电刀片301的运动提供参考，以此准确地控制导电刀片301的运动轨迹，提高检测精度。

为了强化前述定位凸部302的技术效果，还可以将定位凸部302设置为两个，此两个定位凸部302分别位于导电刀片301的相对两侧，且两个定位凸部302与刀架300共同围成电芯容纳空间。

本申请实施例提供的刀架300可以采用一体式结构，其上安装导电刀片301的位置需要频繁地与电芯1接触，两者之间的作用力会导致刀架300发生变形，这一变形会使刀架300与电芯1的限位位置发生变化，最终造成导电刀片301刺入电芯铝箔封装袋的深度有可能超出前述预设值，此时就需要整体更换刀架300，导致测试装置的维护成本偏高。为此，刀架300可具体包括本体300a和限位块300b，该限位块300b可拆卸地安装于本体300a上，导电刀片301相对于限位块300b的外伸距离为预设值。如此设置后，限位块300b将位于本体300a与电芯定位台2之间，以此通过限位块300b对导电刀片301的刺入深度进行限制，当限位块300b的变形量达到极限值时，单独更换限位块300b即可，因此该方案可以降低测试装置的维护成本。

可以理解地，刀架300包括本体300a和限位块300b时，导电刀片301可以固定于限位块300b上，然而，通常情况下，导电刀片301在限位块300b上的固定位置不变，使得导电刀片301相对于限位块300b的外伸距离为定值，因此此种测试机构只能适用于一种规格的电芯1的测试。为了拓宽本申请实施例提供的测试装置的适用范围，可将导电刀片301固定于本体300a上。此时，既可以通过更换限位块300b满足精确控制导电刀片301的刺入深度这一目的，还可以改变限位块300b的规格，以使导电刀片301相对于限位块300b的外伸距离发生变化，以此达到前述目的。

上述测试装置实施测试操作时，由于电芯1需要与测试机构3相对运动并最终发生碰撞，因此两者之间的碰撞力可能会导致电芯铝箔封装袋发生变形，致使导电刀片301无法与电芯铝箔封装袋良好接触，或者导电刀片301的刺入深度过大。有鉴于此，测试探头30还可包括固定座303和弹性缓冲件304，固定座303可以由绝缘材料制成，刀架300通过滑轨滑动安装于固定座303上，刀架300的滑动方向为靠近或远离电芯定位台2的方向，弹性缓冲件304设置于固定座303与刀架300之间。此种情况下，当电芯1与导电刀片301接触后，两者之间的作用力将使得导电刀片301相对于固定座303滑动，同时通过弹性缓冲件304对电芯1与导电刀片301之间的作用力进行控制。弹性缓冲件304可以采用弹簧，该弹簧的相对两端分别与刀架300和固定座303固定连接。

为了优化弹性缓冲件304的缓冲效果，弹性缓冲件304的延伸方向与刀架300的滑动方向相平行，以此增大弹性缓冲力304的有效作用力，继而达到前述目的。

一种实施例中，本申请提供的测试装置还可包括与测试探头30相连的辅助测试探头31，该辅助测试探头31和电芯定位台2用于分布于极耳的相对两侧。此辅助测试探头31可以与测试探头30一起向靠近或远离电芯1的方向运动，该辅助测试探头31可以移动至电芯1的上方，然后辅助测试探头31在驱动机构的作用下可以进一步向下移动，并最终与电芯1的极耳相接触，以此对电芯1进行限位，同时实现电芯1的辅助测试。

对于电芯1在电芯定位台2上的具体定位形式，可以作如下限定：如图7所示，电芯定位台2包括支架200、安装于支架200上的极耳定位部201和推送机构202，该推送机构202用于向电芯1施加推动力，极耳定位部201用于与电芯1的极耳定位配合，前述推动力的方向为靠近极耳定位部201的方向。极耳定位部201就是电芯1定位后，用于对电芯1的极耳提供限位的部分，电芯1放置于电芯定位台2上时，极耳与极耳定位部201之间存在一定的距离，推送机构202可以推动电芯1，使得电芯1的极耳运动至极耳定位部201内。

当然，为了提高电芯1的定位精度，上述电芯定位台2还可以包括夹紧机构203，此夹紧机构203可以设置为两个，两个夹紧机构203可以同时向电芯1施加夹紧力。另外，本申请实施例提供的测试装置还可包括上料定位模块4、托盘5、上料机械手6、下料机械手7和下料输送带8，托盘5上可以定位多个电芯1，将托盘5和托盘5上的电芯1整体放入上料定位模块4上，上料机械手6可以将托盘5上的电芯1逐个移动到电芯定位台2上，也可以单次将多个电芯1同时移动到电芯定位台2上，然后就可以对电芯1进行检测。检测完毕后，通过下料机械手7将电芯定位台2上的电芯移动到下料输送带8上，最终完成整个测试过程。另外，下料机械手7可以对测试后的电芯1进行分选。

综上所述，本申请实施例提供的测试装置具有以下有益效果：

1、节省人力

2、测试过程可控

a)测试过程中通过线路切换，可自动检测出测试机构3与电芯铝箔封装袋是否接触良好，接触良好才进行后续的测试，反之则将电芯1作为不合格品挑选出进行复测。

b)由于电芯铝箔封装袋与极耳间电压呈快速下降趋势，可以通过程序控制自动读取数据及处理，实现精确的时间采点。

c)测试探头30与电芯1的接触力度及行程通过机械结构自动控制，不容易损伤电芯1的外观。

3、不良品分选可靠

a)测试仪表的测试数据通过上位软件读取和处理，数据稳定可靠。

b)分选机构通过读取上位机软件处理结果，控制机械手实现合格品和不合格品的自动分选，其动作稳定可靠。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。