1.一种金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，包括：
插拔公头，所述插拔公头设有一个以上探针，一个以上所述探针并列间隔设置，所述探针通过第一导电线电连接至电流源或电压测量装置；
插拔母座，所述插拔母座用于装设有一个以上待测金属元件，一个以上所述待测金属元件并列间隔设置，一个以上所述待测金属元件与一个以上所述探针一一相应设置，所述待测金属元件通过第二导电线电连接至电压测量装置或电流源；及
驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述插拔公头与所述插拔母座之间实现插拔操作，所述插拔公头插入所述插拔母座时，所述探针与所述待测金属元件相接触。
2.根据权利要求1所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，所述电流源与所述电压测量装置均为一个，一个以上所述探针电性连接至所述电流源，还包括一个以上控制开关，一个以上所述控制开关与一个以上所述探针一一相应，所述第一导电线设有控制开关，一个以上所述待测金属元件电性连接至所述电压测量装置。
3.根据权利要求2所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，还包括控制器，所述控制器与所述驱动机构、所述控制开关电性连接，所述控制器用于控制所述驱动机构来回驱动所述插拔公头、并用于控制所述控制开关断开或闭合。
4.根据权利要求1所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，还包括支撑座，所述支撑座设有滑轨，所述插拔母座固定设置在所述支撑座上，所述插拔公头设有与所述滑轨相配合的滑动件，所述插拔公头通过所述滑动件装设在所述滑轨上，所述驱动机构与所述插拔公头传动相连，所述驱动机构用于驱动所述插拔公头沿着所述滑轨来回移动。
5.根据权利要求1所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，所述探针包括针筒、装设在所述针筒中的针头以及套设在所述针头外的弹簧，所述针筒内侧壁设有第一凸缘与第二凸缘，所述针头侧壁设有第三凸缘，所述第三凸缘位于所述第一凸缘与所述第二凸缘之间，所述弹簧两端分别抵触所述第二凸缘与所述第三凸缘。
6.根据权利要求1～5任一项所述的金属元件接触电阻的测试装置，其特征在于，所述待测金属元件为金手指或金属焊盘。