技术总结
本实用新型公开了一种金属元件接触电阻的测试装置，包插拔公头、插拔母座及驱动机构。插拔公头设有一个以上探针。一个以上探针并列间隔设置，探针通过第一导电线电连接至电流源或电压测量装置。插拔母座用于设有并列间隔设置的一个以上待测金属元件。待测金属元件与探针相应设置。待测金属元件通过第二导电线电连接至电压测量装置或电流源。驱动机构用于驱动插拔公头与插拔母座之间实现插拔操作。插拔公头插入插拔母座时，探针与待测金属元件相接触。驱动机构驱动插拔公头来回往复插入到插拔母座过程中，待测金属元件随着探针插拔次数增多逐渐老化，电压测量装置能够测试记录分析待测金属元件逐渐老化过程中的接触电阻的变化情况。
技术研发人员：张智畅;陈蓓;曾志军
受保护的技术使用者：广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;天津兴森快捷电路科技有限公司
文档号码：201620765911
技术研发日：2016.07.18
技术公布日：2017.02.22