本实用新型涉及一种导线的制备装置，尤其涉及一种镀层测厚仪。
背景技术：
在导线的制备过程中，需要对导线的镀层厚度进行测定，判定该导线的镀层是否达标。由于镀层的厚度非常薄，用传统的厚度测量方法行不通，现有技术中采用X射线进行镀层厚度测量，这种机器由于需要产生X射线，因此结构复杂，一旦出现故障需要专业的厂家人员来维修，使用成本比较高。
技术实现要素：
为了解决背景技术中存在的问题，本实用新型提供了一种电镀导体镀层厚度测厚仪，该测厚仪采用光学的办法，能够准确的测量镀层厚度，并且结构简单，故障率低，使用成本低。
为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：
一种电镀导体镀层测厚仪，包括激光发生器，其特征在于，所述激光发生器的激光出口对面间隔一定距离设置有反射器，反射器朝向激光发生器的一侧具有反射面，反射面的下方设置有两个光感应器，两个光感应器之间留有空隙，两个光感应器通过分别与中央处理器通讯相连；
光感应器下方设置有基台，基台上两个光感应器的下方分别搁置有导体基材和带镀层的导体。
所述反射面与水平方向成45°角。
本实用新型的有益效果是：该测厚仪采用光学的办法，能够准确的测量镀层厚度，并且结构简单，故障率低，使用成本低。
附图说明
下面结合附图对本实用新型进一步说明
图1为本实用新型所述测厚仪的结构原理示意图。
具体实施方式
下面结合附图说明和具体实施方式对本实用新型作进一步描述：
实施例1
如图1所示，一种电镀导体镀层测厚仪，包括激光发生器1，激光发生器1的对面间隔一定距离设置有反射器2，反射器2上具有一个反射面，反射面与水平方向成45°角，反射面的下方设置有两个光感应器3，两个光感应器3之间留有空隙，两个光感应器3分别与中央处理器8相连；光感应器3下方设置有基台9，基台9上两个光感应器3的下方分别搁置有导体基材7和带镀层的导体6。
测量时，激光发生器1发射两道激光4，激光4经过反射面反射后从光感应器3之间的空隙穿出射向基台9，调整激光发生器1射出激光的出射角度，使两道激光4经过反射后恰好从空隙的边缘穿过，由于导体是金属，具有一定的反光能力，激光经导体或导体镀层反射后射到光感应器3上，光感应器3将感应的不同反射位置发送给中央处理器8，中央处理器8经过计算带镀层和不带镀层的反射光线的入射位置差距从而得到镀层的厚度。
本领域技术人员将会认识到，在不偏离本发明的保护范围的前提下，可以对上述实施方式进行各种修改、变化和组合，并且认为这种修改、变化和组合是在独创性思想的范围之内的。