发光分析用检测装置及自动分析装置的制作方法

本发明涉及发光分析用检测装置及自动分析装置，特别涉及有效抑制发光分析用检测装置中的定量下限的恶化的技术。

背景技术：

例如专利文献1公开了一种作为与发光分析用检测装置相关的技术。该专利文献1中的自动分析装置的目的是即使对于微量的反应液，也能稳定地实现高sn(signal/noise：信号/噪声)的检测。

而且，利用光检测器经由光学窗对来自含有发光物质的反应液的光进行检测，处理其输出并对包含于反应液中的发光物质的量进行分析，在此情况下，通过在光学窗与光检测器之间设置由与光学窗相向的射入口、与光检测器受光面相向的射出口、以及使从射入口射入的光反射并向射出口传播的反射面构成的光传输光学系统，从而抑制来自发光物质的光量的减少，并且还降低由来自流动单元的温度导致的噪声的影响，由此来实现高sn分析。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2011-232132号公报

技术实现要素：

发明所要解决的技术问题

上述的专利文献1中的自动分析装置对在流动单元内产生的光的光量减少进行抑制，并且利用光传输光学系统使光到达光检测器。然而，在该结构中，存在以下问题：为了提高sn比，想要分开来自成为测定对象的发光物质的信号发光和来自非测定对象的背景发光。

因此，本发明人进行了发光分析用检测装置的研究，该发光分析用检测装置使用了光传输光学系统(相当于后述的高反射导光系统)及光学滤光片。在研究中，发生了如下问题：在将光学滤光片和高反射导光系统安装于装置时，来自高反射导光系统的压力局部地作用于较薄的圆板状的光学滤光片，因此光学滤光片发生了破损。或者，发生了如下问题：高反射导光系统或光学滤光片的中心轴相对于光检测器、窗材发生偏移。

这些问题使每个装置的发光量的偏差增大，使装置的定量下限恶化。而且，还存在如下问题：在装置组装后及元器件更换后无法用肉眼观察来确认上述问题的发生。

本发明的目的是提供一种技术：通过使sn比及光检测效率较高，并且防止光学滤光片的损坏，防止高反射导光系统或光学滤光片的中心轴相对于光检测器、窗材发生偏移，从而能抑制装置的定量下限的恶化。

关于本发明的上述目的及其他目的和新的特征，参照本说明书的阐述及附图应该会变得更加清楚。

解决技术问题的技术方案

在本申请中公开的发明中，若对于代表性的发明的概要进行简单的说明，则如下所述。

即，代表性的发光分析用检测装置具有构件、窗材、光检测器、高反射导光系统以及光学滤光片。构件具有对试料进行发光分析的分析区域。窗材在分析区域使从试料发出的光透过。

光检测器对透过窗材的光进行检测。高反射导光系统具有高反射导光面，该高反射导光面对从与窗材相对的入射口射入的由试料发出的光进行反射，并且传输至与光检测器的受光面相对的出射口。光学滤光片设置于被窗材、光检测器以及高反射导光系统所包围的空间，使从试料发出的测定对象的信号发光透过窗材与光检测器之间。

利用定位部将光学滤光片固定于窗材或光检测器，该光学滤光片的外周形状小于形成于高反射导光系统的对光学滤光片进行嵌合的嵌合部的内侧形状。

尤其，光学滤光片的外周形状是光学滤光片的面积相对于高反射导光系统中的入射口或者出射口的开口面积的比率为90％以上～小于100％。

发明效果

在本申请中公开的发明中，若对于通过代表性的发明获得的效果进行简单的说明，则如下所述。

能够抑制发光分析用检测装置中的定量下限的恶化。

附图说明

图1是表示实施方式1所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。

图2是表示根据本发明人的研究的发光分析用检测装置中的一个示例的说明图。

图3是关注于图2的发光分析用检测装置的特别是从分析区域产生的光的传输的主要部分的说明图。

图4是表示本发明人所研究的问题的发光分析用检测装置的说明图。

图5是表示图4的发光分析用检测装置所具有的高反射导光系统的一个示例的说明图。

图6是表示光学滤光片的厚度与光学滤光片的破损率之间的关系的说明图。

图7是表示图1的发光分析用检测装置中的光学仿真结果的说明图。

图8是表示实施方式2所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。

图9是表示实施方式3所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。

图10是表示实施方式4所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。

图11是表示实施方式5所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。

图12是示意性表示实施方式6所涉及的自动分析装置中的结构的一个示例的俯视图。

具体实施方式

在以下的实施方式中，为了方便，在需要时会分割成多个部分或实施方式进行说明，但除了特别明确表示的情况以外，它们并不是彼此无关的，会存在一方是另一方的一部分或全部的变形例、详细说明、补充说明等关系。

此外，在以下的实施方式中，在提到要素的数量等(包含个数、数值、量、范围等)时，除了特别明确表示的情况以及在原理上明确限定为特定数量的情况等以外，并不限于该特定的数量，也可以在特定的数量以上或以下。

而且，在以下的实施方式中，其构成要素(还包含要素步骤等)除了特别明确表示的情况以及认为在原理上明确为必须的情况等以外，当然并非是必须的。

同样，在以下的实施方式中，在提到构成要素等形状、位置关系等时，除了特别明确表示的情况以及考虑在原理上明确否定的情况等以外，包含实质上与其形状等近似或类似的情况等。这对于上述数值及范围也同样。

此外，在用于说明实施方式的所有附图中，对于相同的构件原则上标注相同的标号，省略其重复说明。

(关于发光分析)

发光分析是用于微量成分的分析的方法中的一个，一般灵敏度高于吸收测定，广泛用于环境分析、医药品分析、食品分析、临床检查等领域。此处所说的发光是指激发状态的物质变为基底状态时进行发光。

发光根据电子的激发的原因进行分类。例如，分类成：由于受热导致电子激发时的发光是热致发光；由于光照射导致电子激发时的发光是光致发光；以及由于电压导致电子激发时的发光是场致发光。本实施方式所涉及的发光分析用检测装置包含能适用于上述各种发光方式的发光分析的测定容器。

以下，使用附图对于实施方式进行说明。

在各实施方式中，对于将本发明适用于化学发光的发光分析的情况进行举例说明。化学发光也是发光的一种方式，是在利用化学反应所生成的物质从激发状态变为基底状态时放出光的现象。利用酶来促进化学反应的萤火虫等生物发光是化学发光的一种。

化学发光的分析一般例如首先将经由对应的输液单元提供的混合了至少一种化学发光试剂的溶液、即试料提供给测定容器来进行化学反应。之后，通过使用了光电子倍增管、光电二极管等光电转换元件的光检测器在测定容器内对通过化学发光由溶液产生的光进行检测。然后，利用光电转换元件转换成与入射光量对应的电流强度，并基于该电流强度进行发光强度的测定。

另外，化学发光的发光波长一般大多在可见光区域(350nm～800nm)。因而，在各实施方式中，将信号发光的波长作为可见光来进行说明，但即使是可见光区域以外的发光波长，若选定与波长特性一致的构件，则本申请的结构也具有相同的效果。

(实施方式1)

在以下的实施方式中，为了便于理解本发明的特征，与相对于本发明的比较技术进行比较来进行说明。

首先，对于相对于本发明的比较技术进行说明。

(相对于本发明的比较技术)

使用图2～图4，对于相对于本发明的比较技术进行说明。

图2是示出本发明人的研究的发光分析用检测装置中的一个示例的说明图。图2所示的发光分析用检测装置是省略了后述的图4的光学滤光片203以及高反射导光系统201后的基础模型，相当于半成品。

图2所示的发光分析用检测装置包括：包含单元基座101、窗材104、内壁112的测定容器；测定容器保持构件113；光检测器106；以及光检测器保持构件108。

单元基座101是具有用于对作为分析对象的试料进行发光分析的分析区域102的圆板状构件，构成该发光分析用检测装置的底部。分析区域102夹着窗材104与光检测器106相对，在分析区域102从试料发出的光透过窗材104射入至光检测器106。

在图2的发光分析用检测装置中，举例示出如下情况：将单元基座101的直径设为50mm左右，将分析区域102设为在俯视时呈5mm×5mm左右的四边形，将试料放入至该分析区域102来实施发光分析。但是，还能考虑如下结构：将分析区域102作为流路来形成，使试料流通至分析区域102。

窗材104是与单元基座101一起构成测定容器的圆板状的构件，经由空腔103，与分析区域102相对。空腔103是具有规定的厚度、换言之上下方向的尺寸的空间。该空腔103被单元基座101、窗材104、以及内壁112包围。

此处，空腔103的厚度设为例如0.5mm。该空腔103覆盖分析区域102的整个面，在发光分析时，被与水相同的折射率1.33的液体充满。

窗材104是构成光学窗的构件，该光学窗用于利用光检测器106观察从分析区域102的试料发出的光，用在分析区域102使从试料发出的光透过的材质来构成，覆盖空腔103的整个面。窗材104例如由丙烯酸等形成。此处，将窗材104的厚度即上下方向的尺寸设为4mm左右，将直径设为45mm左右，将折射率设为1.49左右。

测定容器保持构件113是保持测定容器的构件。能用于将本发光分析用检测装置与外部的未图示的分析装置机械连接。作为保持、连接以外的目的，例如能例举出为了进行高精度的分析、通过将测定容器与未图示的外部的温度调整设备热连接来容易地进行温度调整。

在该情况下，作为测定容器保持构件113的材料优选使用铝、铜等热传导性较高的材料。此外，为了高效地检测发光，并且进行测定容器的温度调整，优选为覆盖窗材104的“侧面”、以及“上表面外周部的至少一部分”。

上表面外周部是指上表面、即与光检测器106相对的面内的外周部。此外，作为其他目的，例如还能例举出测定容器的保护。而且，作为其他目的，能例举出：防止测定所不需要的来自外部的光通过测定容器，并射入至光检测器106，成为噪声光。

测定容器保持构件113中，为了高效地使来自外部的无用发光衰减，因此优选为实施去光泽加工以及涂成黑色加工。在图2的情况下，将材料作为铝，并进行了去光泽加工以及涂成黑色加工。

而且，测定容器保持构件113的温度控制通过使用了珀耳帖元件的未图示的外部的温度调整设备，进行对于测定容器的温度控制。此时，为了高效地进行测定容器的温度控制，采用如下结构：覆盖窗材104的侧面、以及与光电面107相对的区域以外的上表面的圆环状区域、即上表面外周部114。

光检测器106是检测透过窗材104的光的传感器，例如能使用光电子倍增管或光电二极管。此处，例如设为光电子倍增管。

窗材104具有直径28mm左右的圆筒形。在光检测器106的底部设置有作为受光面的光电面107。此外，光检测器106通过与未图示的外部进行电力输入输出用的布线来进行外部连接。光电面107直径15mm左右，经由空气层105与窗材104相对。将空气层105的厚度即上下方向的尺寸设为3mm左右，将折射率设为1.00左右。此外，光检测器106被光检测器保持构件108覆盖。

光检测器保持构件108是保持光检测器106的构件。也能用于将发光分析用检测装置与外部的未图示的分析装置机械连接。作为保持、连接以外的目的，能例举出：防止测定所不需要的来自外部的光射入至光检测器106而成为噪声光。在该情况下，至少需要覆盖检测光的光检测器106。

光检测器保持构件108中，为了高效地使来自外部的无用发光衰减，优选为实施去光泽加工以及涂成黑色加工。光检测器保持构件108可以设为与测定容器保持构件113一体型的构件。

此外，作为其他目的，能例举出防止光检测器106的特性根据从外部施加的电磁场变化。因此，还能具有磁屏蔽、电场屏蔽的功能。而且，为了防止光检测器106中的玻璃发光，也可以使用适当的绝缘材料。在该情况下，绝缘材料例如是ptfe(polytetrafluoroetylene：聚四氟乙烯)等。

在上述结构的发光分析用检测装置中，在分析区域102从试料发出的光透过空腔103及窗材104取出至测定容器的外部、图2中的空气层105。

从测定容器射出的光通过空气层105射入至光检测器106的光电面107，并光电转换成电信号。另外，空腔103的光的入射面、即分析区域102的上表面、空腔103和窗材104的界面、窗材104与空气层105的界面、以及光电面107全部实质上平行，在图2中，设为水平。

在图2中，信号发光109是从成为测定对象的发光物质产生并从分析区域102的中央前进至0度的角度的信号发光。此处，角度是指相对于通过分析区域102的中央的法线l构成的角度。

上述的光在充满空腔103的水中前进，通过窗材104、以及空气层105，无较大损耗地到达光电面107。

另一方面，从成为测定对象的发光物质产生，并从分析区域102的中央以一定范围的角度、例如25度左右前进的信号发光110在充满空腔103的水中前进，在与窗材104的界面上发生折射。而且，在窗材104与空气层105的界面发生折射而到达光检测器保持构件108或测定容器保持构件113。从而，产生较大的光损耗。

这样成为较大损耗的光产生的主要原因是来自分析区域102的发光是由与水相同折射率的液体产生的。对于这点利用图3进行说明。

图3是关注于图2的发光分析用检测装置的特别是从分析区域102产生的光的传输的主要部分的说明图。

来自分析区域102的发光在从与空气相同的折射率1.00的空腔1001产生的情况下，根据后述的斯涅耳定律，求出的光路的一个示例成为图3的左侧所示的那样，能以与从分析区域102射出时相同的角度在空气层105中进行传输。该发光是例如与来自稀薄的气体状物质等气体的发光对应。

另一方面，在图2的发光分析用检测装置中，来自分析区域102的发光是从与水相同的折射率的液体产生的情况下，如图3的右侧所示，以比从分析区域102射出时更大的角度，在空气层105中进行传输。

因而，光到达光检测器保持构件108或测定容器保持构件113的比例增加。这样，在发光侧为液体的发光分析用检测装置中，与发光侧是具有与空气相同的折射率的气体的情况相比，光容易从中心轴向外部扩散，容易散失。

此外，图2中的信号发光111在充满空腔103的水中前进，在与窗材104的界面上发生折射，进而在窗材104与空气层105的界面上发生全反射。因此，无法前往空气层105。从而，这种情况也会产生较大的光损耗。此处，信号发光111从成为测定对象的发光物质产生，从分析区域102的中央以一定以上的角度例如50度前进。

这样，相对于从分析区域102发出的光的法线l构成的角度分成以下三种情况：从成为测定对象的发光物质产生，并且从分析区域102出来的信号发光到达光电面107的情况；虽然前往空气层105，但不直接到达光电面107的情况；或者在窗材104与空气层105之间发生全反射，不到达到空气层105为止的情况。

该角度的边界值根据下式的斯涅耳定律求出。

n1·sinθ1＝n2·sinθ2

其中，n1、n2是介质1、2的折射率，θ1是介质1内的入射角，θ2是介质2内的折射角。

在图2的发光分析用检测装置中，将上述的信号发光直接到达光电面的情况、不直接到达光电面的情况、以及不到达空气层的情况分开的角度的边界值分别计算为38.5度、48.8度。

此外，图2所示的光209是从作为非测定对象的发光物质产生并从分析区域102的中央前进至0度的角度的背景发光。上述的光从试料中的发光促进物质、杂质、非特异结合物质、或者非特异吸附物质等产生，并且与来自测定对象的信号发光相同地到达至光检测器106，使测定的sn比降低。

以上是图2所示的成为基础模型的发光分析用检测装置的说明。

图4是表示本发明人所研究的问题的发光分析用检测装置的说明图。此外，对于与图2相同的部分，在图4中标注相同符号并省略说明。

图4的发光分析用检测装置是由将高反射导光系统201和光学滤光片203追加到图2中所示的基础模型后的结构构成的。

利用剖面线示出的光学滤光片203由较薄的圆板状的构件构成。光学滤光片203利用透射率的波长特性的不同，由试料发出的光中，使来自测定对象的信号发光109相对于作为来自非测定对象的背景发光的光209高效地透过。

因而，可以改善测定的sn，因此能改善装置的定量下限。光学滤光片203的材料一般是玻璃。即使在光学滤光片203中，材料也设为玻璃，使用一般的吸收型滤光片。此外，光学滤光片203的厚度是0.5mm左右，直径是22mm左右。

<高反射导光系统的结构示例>

接着，使用图5，对于高反射导光系统201进行说明。

图5是表示图4的发光分析用检测装置所具有的高反射导光系统201的一个示例的说明图。

高反射导光系统201如图5所示由中空圆筒形构成，外周径为22mm左右，内周径为20mm左右，将高度设为3.0mm左右。

其内侧面为反射率较高的高反射导光面303。高反射导光系统201对由入射口301射入的光线304进行反射，从相反侧的出射口302射出光线304。在图5中，在高反射导光系统201的内表面形成反射面，但也可以在外侧的面上形成反射面。

高反射导光面303由铝、金等金属离子相对于基材的溅射、电镀、或者反射膜等高反射率材料所形成的结构构成。基材例如由丙烯酸等成形树脂或玻璃形成。

此外，成为高反射率材料的金属离子的溅射或电镀的反射率为约85％左右。在相同的反射膜的情况下，厚度数百微米左右，反射率90％以上。

在图5的高反射导光系统201的情况下，设为使用玻璃作为基材并在其内表面上通过对金进行溅射来进行成膜的结构。

另外，为了使成为测定对象的波长的光高效地传输，高反射导光面303的反射率优选为具有至少80％以上的反射率，进一步优选为具有85％以上的反射率。

具有上述的高反射导光系统201的发光分析用检测装置的结构中，射出的光线202能通过高反射导光面303进行反射，传输至光检测器106，而不会到达光检测器保持构件108或者测定容器保持构件113而被吸收。因而，能提高光检测效率。

<课题>

接着，对于图4示出的发光分析用检测装置中的课题进行说明。

首先，对于第1课题进行说明。为了防止从液体中的试料发出并透过窗材104的光不必要地散失，增加系统的机械稳定性，图4所示的光检测器106、高反射导光系统201、光学滤光片203、窗材104需要在空间上固定各个位置。

然而，在图4那样的结构中，高反射导光系统201是树脂成形品或者玻璃这样的较硬的构件，因此来自具有中空形状的高反射导光系统201的压力210局部地作用于较薄的圆板状的光学滤光片203。因此，有可能会发生光学滤光片203破损或者破裂这样的问题。

光学滤光片203的破损通过破损片的光的散射、吸收等，使作为光学滤光片203的光透过特性变化，因此使每个装置的发光量的偏差增大，使装置的定量下限恶化。关于每个装置的发光量偏差的增大使装置的定量下限恶化，在后文中阐述。

另外，为了避免光学滤光片203的破损，还考虑高反射导光系统201和光学滤光片203或者窗材104之间隔开间隔，换言之隔开距离。

然而，在该情况下，存在以下问题：信号发光从隔开的空间漏出，从而被光检测器保持构件108或者测定容器保持构件113所吸收。此外，存在以下问题：由于成为发光部的分析区域102与光检测器106的距离远离，伴随光传输距离的增大，传输中途的吸收、反射损耗增大，因此光传输效率降低。而且，产生如下等问题：在光检测器保持构件108或者测定容器保持构件113无法完全吸收的来自外部的光到达光检测器106，成为噪声光。

另外，为了避免光学滤光片203的破损，还考虑高反射导光系统201与光学滤光片203或者窗材104之间插入缓冲材料。然而，在该情况下，装置的成本会随着缓冲材料的价格而增加。而且，存在如下等问题：作为光源的分析区域102与光检测器106的距离增大从而光量减少；以及产生缓冲材料自身的光的吸收损耗。

接着，第二个问题是高反射导光系统201的中心轴相对于光学滤光片203、以及光检测器106发生偏移。中心轴的偏移使高反射导光系统201的光损耗的降低效果变化，因此每个装置的发光量的偏差增大，使后述的装置的定量下限恶化。同样，有时光学滤光片203的中心轴也会发生偏移。

而且，作为第三个问题，能例举：在进行了一次装置的组装后，难以对上述的发光分析用检测装置中的高反射导光系统201以及光学滤光片203和窗材104或者光检测器106的定位不良、光学滤光片203的破损进行确认。

这是因为：为了防止如上述那样，测定所不需要的来自外部的光等射入至光检测器106而成为噪声光的情况，高反射导光系统201以及光学滤光片203和窗材104、光检测器106被光检测器保持构件108或者测定容器保持构件113所覆盖，难以进行内部的肉眼观察的确认。上述的问题例如在装置的组装时等发生。

接着，对于第4问题进行说明。在发光分析用检测装置中，包含分析区域102、窗材104、单元基座101的测定容器在分析时根据暴露在各种ph试剂中的情况、各种反应情况，存在电流流过等。

因而，本测定容器是在测定时施加负荷的构成要素，因此是希望一般每测定一定次数就进行更换的更换元器件。然而，即使在测定容器的更换时，与装置组装时同样地也会发生如下的问题：高反射导光系统201及光学滤光片203和窗材104或者光检测器106的定位不良、光学滤光片203的破损。

存在更换作业不是在组装装置的工厂内进行、在工厂外装置的组装由不专业的销售担当者或者装置的使用者来进行的情况，因此上述的问题更严重。

而且，第5个问题是来自光学滤光片的厚度的光损耗的增大。即，由于光学滤光片203具有一定厚度，存在通过光学滤光片203的端面而被光检测器保持构件108或测定容器保持构件113所吸收的光。这是由例如成为测定对象的发光物质所产生，并且从分析区域102的端部起在一定角度的方向上前进的信号发光204(图4)等。

特别是，测定容器保持构件113为了进行高效的温度控制，而积极地覆盖窗材104的上表面外周部114的情况下，在光学滤光片203的附近配置有测定容器保持构件113。因此，测定容器保持构件113的吸收变大。

作为引起这样的情况的主要原因，首先可举出：在发光分析用检测装置中，来自作为光源的分析区域102的发光如图3中说明的那样，是来自液体区域的发光。

而且，可举出与使用了激光那样的指向性光源的吸光度计不同，来自作为光源的分析区域102的发光基本上是扩散光源、即光向各个方向射出的情况。

此外，可举出：在发光分析用检测中，测定容器优选为进行温度控制。而且，在上述的结构中，作为光源的分析区域102与作为受光部的光电面107的距离远离光学滤光片203的厚度部分，因此光电面107上的受光量仍然减少。

此处，对于由于装置的偏差增大导致装置的定量下限恶化的情况进行说明。装置的定量下限是根据clsi的方针(clinicalandlaboratorystandardsinstitute(临床和实验室标准化研究所)ep17―a、vol.24、no.34、18页)、相对合计误差(relativetotalerror)与极限cv值(例如10～20％左右)相等的检体浓度。相对合计误差定义为装置间差异等系统误差以及低浓度样品中的标准偏差的常数倍的和。因而，装置间差异的增大直接变为定量下限的增大。

<发光分析用检测装置的结构例>

因此，本发明人专心研究的结果发现了利用图1所示的结构能解决上述问题。

图1是表示本发明实施方式1所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。在该图1中，与上述图4中相同的部分标注相同标号并省略说明。发光分析用检测装置例如用于临床检查、医药品分析、食品分析、或者环境分析等领域。

图1的发光分析用检测装置相对于图4所示的发光分析用检测装置的结构，是使用粘结材料401将光学滤光片203粘结至窗材104的结构。由此，成为相对于窗材104进行光学滤光片203的定位的结构。作为粘结材料401例如使用丙烯酸树脂类uv(紫外线)固化型粘结材料。

此外，光学滤光片203存在于被窗材104、高反射导光系统201、以及光检测器106包围的空间402。此处，“被窗材104、高反射导光系统201、光检测器106包围的空间”是指高反射导光系统201的入射口301(图5)与窗材104相接触，高反射导光系统201的出射口302(图5)与光检测器106相接触，从而构成闭合的空间的意思。

图4的发光分析用检测装置中，高反射导光系统201不与窗材104接触。因此，不能认为构成闭合的空间。在该空间中，以与光学滤光片203嵌合的形式配置有高反射导光系统201。

光学滤光片203的外周径设为19.9mm左右。这是相对于高反射导光系统201的内周径20mm左右为99.5％左右的大小。即，使光学滤光片203的外周径小于高反射导光系统201中的与光学滤光片203嵌合部分(嵌合部分)即入射口301的直径。

利用上述的结构，使光学滤光片203存在于被窗材104、高反射导光系统201、以及光检测器106包围的空间，并使光学滤光片203的外周径小于高反射导光系统201的入射口径，从而能抑制光学滤光片203的破损。

此外，通过使用粘结材料401来将光学滤光片203粘结至窗材104，从而相对于窗材104进行光学滤光片203的定位，并且对准中心轴。而且，在该空间内，以与光学滤光片203嵌合的形式配置有高反射导光系统201，从而光学滤光片203与高反射导光系统201的空间上的位置固定。其结果，即使对于窗材104及光检测器106也能使轴对准。

即，根据图1的发光分析用检测装置的结构，能使高反射导光系统201的中心轴相对于窗材104、光检测器106、以及光学滤光片203对准。

而且，存在上述的定位及嵌合，因此在装置的组装后及元器件的更换时，不需要对高反射导光系统201及光学滤光片203和窗材104或者光检测器106的定位不良、光学滤光片203的破损进行肉眼确认。

而且，还消除了由上述的光学滤光片203的厚度引起的光损耗的增大。即，在到达光学滤光片203的端面的光403到达端面后，被高反射导光系统201所反射，从而防止发生不必要地散失而被光检测器保持构件108或测定容器保持构件113等吸收并损耗。

尤其是，即使在为了对测定容器进行温度控制而设为将测定容器保持构件113覆盖到窗材104的上表面外周部114为止的结构的情况下，也能抑制测定容器保持构件113引起的光的损耗。

此外，分析区域102与作为受光部的光电面107之间的距离没有了光学滤光片203的厚度程度的增大。因而，其结果，光能到达光电面107为止，而无较大的损耗。

而且，通过厚度程度的距离变短，能进行发光分析用检测装置的小型化。

从而，利用上述的结构，能避免发光分析用检测装置中的高反射导光系统201及光学滤光片203与窗材104或光检测器106的定位不良、光学滤光片203的破损。

其结果，能提供一种发光分析用检测装置，其sn比及光检测效率较高，并且抑制了装置的定量下限的恶化。

另外，作为粘结材料401，不限于上述的丙烯酸类uv固化型粘结材料，能使用环氧树脂类或热固化型等各种粘结材料。其中，优选为选择考虑了进行粘结的基材、例如窗材104的材质即丙烯酸类、以及光学滤光片203的材质即玻璃的相互的粘结性的材料。此外，优选为使用来自试料的信号发光的光透过率较高的材料。

而且，作为粘结材料401，也可以使用双面胶带。通过使用双面胶带，能重新粘贴。尤其在作为更换元器件的测定容器中，若能再利用光学滤光片，则能降低作为更换元器件的测定容器的成本。

作为双面胶带优选为使用来自试料的信号发光的透过率较高的材料。为了高效的传输成为测定对象的波长的光，粘结材料401的透过率优选为至少85％以上，进一步优选为90％以上。

另外，粘结材料401在窗材104与光学滤光片203之间没有夹空气层，而是光学接触即紧密地接触，因此还具有以下效果：抑制窗材104的表面上的光的菲涅耳反射或全反射，使光高效地到达光学滤光片203。为了获得后述的光取出层的效果，保持了上述的光学接触的粘结的定位也是必不可少的。

此外，使用了粘结材料401作为定位技术，但也可设置能将光学滤光片203嵌到窗材104上的切槽部。利用上述的结构，将光学滤光片203嵌到切槽部，因此光学滤光片203与窗材104的定位变得容易。

此外，在使用光电子倍增管作为光检测器106的情况下，存在进一步的效果。即，能将光学滤光片203的上表面与光检测器106之间的空气层105的厚度变厚切槽部的深度程度，而不改变光源、换言之分析区域102与光检测器106的距离。此处，光学滤光片203的上表面表示光检测器106侧的面。

一般，在光电子倍增管的光电面107的上方，存在用于使在该光电面107产生的电子碰撞的未图示的阴极。该阴极典型地施加负1000伏特左右的高电压。

从而，已知在光电子倍增管的光电面侧的面、即光检测器106的空气层105侧的面上存在与阴极有较大的电位差的层的情况下，由于强电场效果导致玻璃发光。具有较大的电位差的层是例如固定于接地电位的电极层或者接地点等。

该玻璃的发光成为光电子倍增管的较大的噪声的主要因素。因此，将上述的光学滤光片203的上表面与光检测器106之间的绝缘层即空气层105的厚度变厚切槽部的深度程度，从而能实现降低分析中的噪声。

此外，在图1的发光分析用检测装置中，对于将光电子倍增管适用于光检测器106的情况进行举例说明，但还能适用例如光电二极管等其他光电转换元件。

其中，在光检测器106为光电子倍增管的情况下，“光学滤光片203粘结到窗材104”相对于“光学滤光片203粘结到光检测器106”具有以下优点。

即，考虑到在将光学滤光片203粘结到光电子倍增管时，构成光电子倍增管的外侧的材料一般为中空玻璃管，首先为了避免玻璃管的破损，需要慎重地处理。

此外，在光学滤光片203的粘结工序中，将光电子倍增管的光电面107暴露于大量的来自外部的光，可能会带来光电面107的不可逆性劣化。对于“光学滤光片203粘结到光电子倍增管”这样的方法，与“光学滤光片203粘结到窗材104”相比，能消除上述的风险。

此外，光学滤光片203的厚度优选为0.2mm左右以上～2.0mm左右以下。小于0.2mm时，玻璃加工精度偏差变大，光学滤光片203的厚度的偏差成为装置间误差的主要因素。因此，有可能难以提供高精度的发光分析用检测装置。此外，在考虑粘结的情况下，安装变得困难，在安装时可能会出现破损。

另一方面，在大于2.0mm时，光学滤光片的透射率降低，从而光检测效率降低。此外，通过存在足够的厚度，从而降低由于从高反射导光系统201按压的力导致在光学滤光片203产生破损的可能性。

尤其是光学滤光片203的厚度优选为0.5mm左右以上～1.5mm左右以下。若为0.5mm以上，则从市售的光学滤光片中选定光学滤光片变得容易。

<关于光学滤光片的破损防止效果>

此外，在1.5mm以下时，能显著地获得由图1的发光分析用检测装置的结构所示出的光学滤光片的破损防止效果。此处，使用图6对于上述情况进行说明。

图6是表示光学滤光片的厚度与光学滤光片的破损率的关系的说明图。该图6示出了将图4的发光分析用检测装置和图1的发光分析用检测装置中的光学滤光片以及高反射导光系统201的安装进行了20次时的光学滤光片的厚度与光学滤光片的破损率的关系。

在图6中，用圆形标记示出的线图即比较例1示出图4的发光分析用检测装置的情况。四边形标记的线图即本结构例1示出图1的发光分析用检测装置的情况。其中，为了仅检讨厚度的影响，光学滤光片用相同厚度的玻璃板代替。

如图6所示，在比较例1所示出的图4的结构中，在玻璃板的厚度为2mm以下时，会发生破损，尤其是在1.5mm以下时，破损率超过了35％。另一方面，在本申请结构1所示出的图1的结构中，与玻璃板的厚度无关，不会发生破损。

认为该结果是因为本结构例1是压力不施加于玻璃板的结构。认为滤光片的破裂的块数还依赖于作业者的技术水平，根据图1的发光分析用检测装置的结构，能容易地安装光学滤光片及高反射导光系统。

<发光分析用检测装置的有效性>

此外，为了确认图1的发光分析用检测装置的有效性，进行了光学仿真。图7是表示图1的发光分析用检测装置中的光学仿真的结果的说明图。

该图7示出了在比较例1、比较例2、以及本结构例1的各个结构中对改变光学滤光片的厚度或者高反射导光系统高度的增加程度时到达光检测器106的到达光量(相对值)进行了计算的仿真结果。

在图7中，用圆形标记示出的线图即比较例1示出图4的发光分析用检测装置的情况。用四边形标记示出的线图即比较例2示出图4的发光分析用检测装置中，不配置光学滤光片，取而代之将高反射导光系统201的高度增加一定厚度程度(以下成为高反射导光系统高度增加程度)的情况。三角形标记所示出的线图即本结构例1示出图1的发光分析用检测装置的情况。

例如，在比较例2中，高反射导光系统高度增加程度为0.1mm时，若与原本的高反射导光系统201的高度(3.0mm)对齐，则高反射导光系统201的高度成为3.1mm。比较例1以及本结构例1中的高反射导光系统的高度始终为3mm。

此外，为了仅讨论厚度的效果，光学滤光片用厚度不同的玻璃板代替。根据图7，可知在比较例1中，越增加玻璃板的厚度，检测光量越大幅地降低。

认为这是由于随着玻璃板的厚度增加，从玻璃板的端面泄漏而被测定容器保持构件113吸收的光量、以及从分析区域102直接到达光检测器106的光量减少。

此处，在仅增加了高反射导光系统201的高度的比较例2中，对于高反射导光系统高度增加程度的增大的光量的减少与比较例1相比较少。认为这是由于比较例1中的光损耗的大部分是“从玻璃板的端面泄漏而被测定容器保持构件113吸收的光量”导致的。

此外，在本结构例1中，即使增加玻璃板的厚度，也完全看不到光量的减少。因而，在本结构例1中，能配置需要的厚度的光学滤光片而不会伴随光量的减少。

此外，不言而喻，在图1的发光分析用检测装置中，可以像将光学滤光片设为1块，例如将长波长切割滤光片设为1块并将短波长切割滤光片设为1块那样，重叠具有不同的波长特性的光学滤光片2块或2块以上。在该情况下，光学滤光片203的厚度成为重叠后的滤光片全部的厚度的合计值。

入射口或出射口的内周形状、以及光学滤光片的外周形状为圆形，光学滤光片的外周径优选为构成和光学滤光片的嵌合部的入射口或出射口的内周径的95％以上。

此时，光学滤光片对于入射口或出射口的内周开口面积的比率为(90％)2≈90％。通过这样选定直径，能以一定精度定位光学滤光片和高反射导光系统。

此处，将光学滤光片和高反射导光系统的入射口或出射口的形状设为圆形，但是当然也可以是其他形状，例如四边形等任意的形状。

其中，在光学滤光片和高反射导光系统的入射口或出射口之间能进行一定的嵌合、定位，为了获得本实施方式1的效果，如上述那样光学滤光片的面积相对于入射口或出射口的内周开口面积的比率优选为90％以上(小于100％)。而且，进一步优选为98％以上(小于100％)。这是之前所述的“使光学滤光片203的外周径小于高反射导光系统201的出射口径”的具体含义。

另外，图1的发光分析用检测装置的结构与在显微镜、望远镜的镜筒内配置光学滤光片的结构不同。在显微镜、望远镜的镜筒内配置光学滤光片的光学系统一般是平行光学系统，因此不会发生想要将窗材与光检测器的距离固定成一定这样的课题。此外，也不会发生由于将距离设为一定而想要降低装置间的发光强度差、改善定量下限这样的课题。

显微镜、望远镜的系统的目的是使用透镜来成像，因此优选为使成像的光以外的光不射入至光检测器。因而，一般为了去除来自外部的多余的光(杂散光)而将镜筒内表面涂黑的系统与如本实施方式1那样，在被进行去除杂散光的光检测器保持构件或者测定容器保持构件所覆盖的发光分析用检测装置内，与配置有具备具有相反作用的高反射面的光传输光学系统的系统不同。

而且，在显微镜、望远镜的系统中，也不会对镜筒部进行像测定容器保持构件那样的温度控制。因而，也会发生由于温度控制用的测定容器保持构件导致的光的吸收损耗这样的问题。

(实施方式2)

<发光分析用检测装置的结构例>

图8是表示本实施方式2所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。在图8中，对于与上述的图1相同的部分标注相同标号并省略说明。

图8的发光分析用检测装置与上述实施方式1的图1不同点在于：光学滤光片203经由粘结材料401与光检测器106粘结。

通过该结构，也能获得与上述实施方式1的情况相同的效果。即，通过使光学滤光片203存在于被窗材104、高反射导光系统201、以及光检测器106所包围的空间中，从而能防止透过窗材的光不必要地散失而被光检测器保持构件108或测定容器保持构件113等吸收并损耗。

而且，通过使光学滤光片203的外周径小于高反射导光系统201的出射口径，从而不仅能使中心轴对准，还能抑制光学滤光片203的破损。

此外，通过使用粘结材料401将光学滤光片203粘结至光检测器106，从而相对于光检测器106进行光学滤光片203的定位，并使中心轴对准。而且，在该空间内，以与光学滤光片203嵌合的形式配置有高反射导光系统201，从而光学滤光片203与高反射导光系统201的空间位置固定，也能使轴相对于窗材104以及光检测器106对准。

即，利用图8所示的结构，能使高反射导光系统201的中心轴相对于窗材104、光检测器106、以及光学滤光片203对准。而且，存在上述的定位和嵌合，因此在装置的组装后以及元器件的更换时，不需要肉眼确认防止高反射导光系统201及光学滤光片203与窗材104或光检测器106的定位不良、光学滤光片203的破损。

从而，能提供一种发光分析用检测装置，其能避免发光分析用检测装置中的高反射导光系统201及光学滤光片203与窗材104或光检测器106的定位不良、光学滤光片203的破损，sn比以及光检测效率较高，并且抑制了装置的定量下限的恶化。

而且，“光学滤光片203粘结到光检测器106”相对于“光学滤光片203粘结到窗材104”具有以下优点。即，通过将光学滤光片203粘结至光检测器106，光学滤光片203能与作为更换元器件的测定容器分开。因而，能抑制测定容器的成本的上升。

(实施方式3)

<发光分析用检测装置的结构例>

图9是表示本实施方式3所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。在该图9中，对于与上述实施方式1的图1相同的部分也标注相同标号并省略说明。

图9的发光分析用检测装置与上述实施方式2中的图8的发光分析用检测装置的不同点在于：将透镜601作为光提取层经由粘结材料401插入至窗材104上。

透镜601中，例如直径为15.0mm左右，焦点距离为75mm左右，中心厚为1.83mm左右，且曲率半径为38.8mm左右，材质例如为丙烯酸。

将窗材104与透镜601粘结的粘结材料401的目的是防止空气层混入至透镜601与窗材104之间。由此，能够防止发生全反射。

通过这样的图9所示的结构，能获得与上述实施方式2的情况相同的效果。除此以外，根据光学仿真可知利用透镜601，使发光强度提高至2.1倍。即，通过透镜601能使来自窗材104侧的发光高效地传输至光检测器106。这是因为如图9所示那样，能抑制从透镜601射出的光线的、在空气层105与透镜601之间的折射。即，能抑制与空气层105的界面上的全反射损耗。此外，与不配置透镜601的情况相比，能抑制由于在光通过与空气层105的界面后，在高反射导光系统201中进行反射导致的反射损耗以及来自光学滤光片端面的光泄漏。

此外，通过使用透镜601，能获得以下效果。

即，在窗材104与光检测器106之间保持了空气层105的基础上，能提高光检测效率。如上所述，在光电子倍增管的光电面侧的面、即光检测器106的空气层105侧的面上存在与阴极有较大的电位差的层的情况下，由于强电场效果导致玻璃发光，从而成为光电子倍增管的较大的噪声的主要因素。与阴极有较大的电位差的层是例如固定于接地电位的电极层或者接地点等。

因而，通过保持作为绝缘层的空气层105，能实现分析中的噪声的降低。即，利用透镜601能同时降低噪声和提高光检测效率。另外，在图9所示的结构中，设为将光学滤光片203粘结至光检测器106的空气层105侧的面的结构，但也可以设为将光学滤光片203粘结至窗材104的光检测器106侧的面、将透镜601重叠在该光学滤光片203上的结构。即使在该情况下，也能提高上述的光检测效率。此外，通过将作为绝缘层的空气层105保持在透镜601的上表面及未覆盖于透镜601的光学滤光片203的上表面与光检测器106之间，从而能实现分析中的噪声的降低。

(实施方式4)

<发光分析用检测装置的结构例>

图10是表示本实施方式4所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。在图10中，对于与上述实施方式的图1相同的部分也标注相同标号并省略说明。

图10所示的发光分析用检测装置与上述实施方式1的图1的发光分析用检测装置的不同点在于：在光学滤光片203与光检测器106之间，插入有图10的点所示的折射率匹配材料701来作为光提取层，并且充满高反射导光系统201的中空部。

成为折射部的折射率匹配材料701与塑料、玻璃相同，即由具有1.35～1.65的范围的折射率的材料形成。该折射率匹配材料701为了确保与周边构件的密合性，优选为是具有柔软性、换言之具有弹性特性的可挠性橡胶材料。

与周边构件的密合性意味着光学接触。即，在之间不夹有低折射率的空气层105。其结果，根据窗材104、粘结材料401、光学滤光片203、折射率匹配材料701、以及光检测器106的各界面间的微小的折射率差和斯涅耳定律，能较大地抑制光的折射，极少发生折射。从而，由于不发生伴随与空气层的界面上的折射的反射损耗、全反射损耗，因此能将来自窗材104侧的发光高效地传输至光检测器106。

作为具体的材料，例如能选择硅橡胶、丁腈橡胶、乙烯丙烯橡胶、丙烯酸橡胶、聚氨酯橡胶、氟橡胶、或者氯丁橡胶等。

通过该结构，也能获得与上述实施方式1的情况相同的效果。此外，在图10所示的结构中，根据光学仿真可知利用折射率匹配材料701使发光强度提高至3.5倍。

在使用折射率匹配材料701的情况下，与将透镜用作为光提取层的情况不同，利用橡胶材料的粘结性、弹性特性，与窗材104以及光检测器106接触。因而，在更换测定容器等时，能容易地取出折射率匹配材料701。此外，具有以下优点：在装置组装以及测定容器等的重新安装时，能够安装折射率匹配材料701而不使用粘结材料。

除此以外，利用折射率匹配材料的弹性特性，能降低由于中空形状的高反射导光系统201的对于光检测器106、窗材104的按压的压力导致的破损的风险。另外，在图10所示的结构中，设为将光学滤光片203粘结至窗材104的空气层105侧的面的结构，但也可以结构为将光学滤光片203粘结至光检测器106的空气层105侧的面，将折射率匹配材料701重叠在该光学滤光片203与窗材104之间的。即使在该情况下，也能提高上述的光检测效率。此外，在更换测定容器等时，还能容易地取出折射率匹配材料701。而且，还维持以下优点：在装置组装以及测定容器等的重新安装时，能够安装折射率匹配材料701而不使用粘结材料。

(实施方式5)

<发光分析用检测装置的结构例>

图11是表示本实施方式5所涉及的发光分析用检测装置中的结构的一个示例的说明图。在图11中，对于与上述实施方式1的图1相同的部分也标注相同标号并省略说明。

图11所示的发光分析用检测装置与图1的发光分析用检测装置不同点在于：光学滤光片203和粘结材料401嵌入至设置于窗材104的切槽部801，相对于窗材104进行定位。切槽部801的内周径例如是20.0mm左右。

通过该结构，也能获得与上述实施方式1的情况相同的效果。除此以外，在图11的发光分析用检测装置中，通过将光学滤光片203嵌到切槽部801，能使光学滤光片203与窗材104的定位变得容易。

此外，将光电子倍增管用作为光检测器106，因此能使空气层105的厚度变厚与切槽部801的深度程度，而不改变光源、换言之分析区域102与光检测器106的距离。此处，空气层105是光检测器106侧上的面即光学滤光片203的上表面与光检测器106之间的绝缘层。

因此，通过使空气层105的厚度变厚切槽部801的深度程度，从而能实现降低分析中的噪声。

此外，在光学滤光片203与切槽部顶面之间设置有粘结材料401。一般，在切槽加工后切槽部顶面暂时变为粗糙面，但利用这样的结构，能确保作为粗糙面的切槽部顶面与光学滤光片203之间的光学接触、即密合度。

(实施方式6)

<自动分析装置的结构例>

图12是示意性表示本实施方式6所涉及的自动分析装置中的结构的一个示例的俯视图。

自动分析装置是对血液、尿液等来自生物的液体试料进行分析的装置。为了高灵敏度地对来自生物的液体试料进行分析，需要从大量的共存成分所含的试料中选择性地识别分析对象成分的技术。

例如，将癌症标志、传染病病毒、激素等中的抗原、抗体作为分析对象即试样的免疫分析中，在血清中较多的(例如约70g/l左右)的蛋白质成分共存，与之相对，分析对象成分为f(毫微微)mol/l～n(纳米)mol/l的量级的极微量。

在要求这样的高灵敏度的生物试样分析中，采用如下的技术：通过利用选择性地与成为分析对象的成分结合的物质，对分析对象选择性地进行标识并进行分离。

例如在免疫分析中一般进行的三明治法中，以下面(1)～(3)所示的工序进行分析。

(1)对于分析对象的抗原，对磁性粒子结合后的第一抗体、以及发光标识物质结合后的第二抗体进行混合，并通过抗原体反应使第一抗体和第二抗体结合。

(2)利用永磁体来磁捕获磁性粒子，将未与磁性粒子结合的共存成分排出至反应容器外。

(3)使与磁性粒子结合的发光标识物质发光，对取决于分析对象的抗原的浓度的发光强度进行测定。

图12所示的自动分析装置具备分析部901、控制部902、输入部903、以及显示装置904。分析部901实施分析动作。控制部902对装置整体进行控制。输入部903用于用户输入信息。显示装置904用于显示信息。

另外，也可以利用显示装置904兼用作输入部903，作为其一个示例，能例举触摸屏式的显示器。

分析部901包括传送机构912、试料探针913、针头安装拆卸部914、针头库915、反应容器库916、针头-反应容器传送机构917、试剂探针清洗部923、磁性粒子搅拌机构924、磁性粒子搅拌机构清洗部925、检测装置931、以及检测装置用分注探针932。

传送机构912是将试料所含的试料容器911传送至试料分注位置的装置。试料探针913是对试料进行分注的装置。针头安装拆卸部914是将一次性针头安装拆卸于试料探针913的装置。

针头库915是供给一次性针头的装置。反应容器库916是供给反应容器的装置。针头-反应容器传送机构917是传送一次性针头以及反应容器的装置。

培养箱919是能以一定温度保持反应容器内的反应液的具备多个开口部918的装置。试剂盘921是对含有分析试剂的试剂容器920进行保持的装置。

试剂分注探针922是将分析试剂分注至培养箱919的装置。试剂探针清洗部923是以水、清洗液对试剂分注探针922进行清洗的装置。

磁性粒子搅拌机构924是在分注前对含有磁性粒子的分析试剂进行搅拌的装置。磁性粒子搅拌机构清洗部925是以水、清洗液对磁性粒子搅拌机构924进行清洗的装置。

检测装置931是进行发光检测的装置。检测装置用分注探针932是将反应液分注至检测装置931的装置。用于供给发光试剂、清洗液、探针清洗液这样的常见试剂的试剂瓶包含预备试剂瓶，在自动分析装置中分别保管有多个试剂瓶，通过插入至各试剂瓶内的试剂管将各个试剂供给至对应的机构。

而且，检测装置931是发光分析用检测装置，能适用例如上述实施方式1或上述实施方式2所涉及的发光分析用检测装置的某一个。包含用于取出来自图1所示的光检测器106的电信号的未图示的电信号处理电路。

接着，对于自动分析装置的分析工序的概要进行说明。

首先，将从反应容器库916供给的反应容器设置于培养箱919上。此外，利用磁性粒子搅拌机构924搅拌包含有磁性粒子的测定试剂，磁性粒子悬浮在该试剂容器内。

接着，利用试剂分注探针922将包含磁性粒子的测定试剂、以及包含第一抗体的测定试剂分注至反应容器内并进行混合，执行一定时间的培养。

之后，利用传送机构912将包含试料的试料容器911传送至试料分装位置，在针头安装拆卸部914中将一次性针头安装于试料探针913，通过该试料探针913将试料分注至培养箱919上的反应容器。接着，利用试剂分注探针922将包含第二抗体的测定试剂分注至反应容器内，并执行一定时间的培养。

而且，利用检测装置用分注探针932将反应容器内的液体分注至检测装置931，在检测装置931中执行发光分析。通过发光分析获得的测定结果显示于显示装置904。

上述的各实施方式所涉及的发光分析用检测装置能有效地增加检测光量，因此通过适用例如图12所示的自动分析装置，能高灵敏度地对分析对象成分进行测定、分析。

此外，发光分析用检测装置是简单的结构，并能容易地进行单元化，因此能容易地定期更换检测装置并进行维护。而且，在上述的各实施方式中，通过任意嵌合能获得期望的效果。

以上，虽然基于实施方式对由本发明人完成的发明进行了具体的说明，但本发明并不限定于上述实施方式，当然可以在不脱离其主旨的范围内进行各种变更。

此外，本发明并非限定于上述的实施方式，还包含各种变形例。例如，上述的实施方式是为了便于理解地说明本发明而进行的详细说明，本发明不必限定于要包括所说明的所有结构。

此外，可以将某个实施方式的结构的一部分替换成其他的实施方式的结构，还可以在某个实施方式的结构中追加其他实施方式的结构。此外，对于各实施方式的结构的一部分，能够进行其他结构的增加、删除、替换。

标号说明

101单元基座

102分析区域

103空腔

104窗材

105空气层

106光检测器

107光电面

108光检测器保持构件

112内壁

113测定容器保持构件

114上表面外周部

201高反射导光系统

203光学滤光片

301入射口

302出射口

303高反射导光面

401粘结材料

601透镜

701折射率匹配材料

801切槽部

901分析部

902控制部

903输入部

904显示装置

911试料容器

912传送机构

913试料探针

914针头安装拆卸部

915针头库

916反应容器库

917针头-反应容器传送机构

919培养箱

920试剂容器

921试剂盘

922试剂分注探针

923试剂探针清洗部

924磁性粒子搅拌机构

925磁性粒子搅拌机构清洗部

931检测装置

932检测装置用分注探针