技术特征：
技术总结
本发明公开了一种工作场所超细颗粒、细颗粒暴露水平的评价方法，包括以下步骤：(1)识别颗粒产生源；(2)测量背景颗粒的数量浓度；(3)在作业区选取测量点，获得各测量点颗粒的数量浓度；(4)计算得到各测量点颗粒的数量浓度和背景颗粒的数量浓度的比值，据此评价工作场所超细颗粒、细颗粒的暴露水平。本发明利用工作场所内测试点的颗粒数量浓度与背景颗粒的数量浓度的比值表征工作场所超细颗粒、细颗粒暴露水平，相对于质量浓度更符合实际暴露情况，扣除了背景颗粒的影响，结果也更准确。
技术研发人员：张美辨;高向景;唐仕川;邹华
受保护的技术使用者：浙江省疾病预防控制中心
技术研发日：2017.03.28
技术公布日：2017.08.29