X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备的制作方法

本发明属于制样工具技术领域，用于x射线荧光光谱检测过程中微量粉末样品的制备。

背景技术：

x射线荧光光谱仪是利用荧光x射线而进行物质成分分析的一种检测仪器，它既能够对物质进行定量分析，也可以进行定性分析。因此，x射线荧光光谱仪已广泛应用于生物、医学、材料等学科领域中，促进了各有关学科的发展。

目前，利用x射线荧光光谱仪检测粉末样品时，通常将其压制成直径3.5厘米，厚度2毫米的致密片状标准样品。当检测微量粉末时，由于粉末的体积不足，通常无法制备标准样品。传统的解决办法是，在微量粉末中添加一定量的成分已知的粉末粘结剂与待测微量粉末混合，以制备标准样品。但使用粘结剂具有以下三个缺点，第一，粘结剂的加入将引入新的杂质，增大分析误差；第二，对于浓度低的元素或轻元素会因为被稀释而导致谱线强度变低，如果粘结剂颗粒度较大，还会引起颗粒度效应，从而无法定量分析。第三，粘结剂的加入会使分析线强度下降，影响轻元素和痕量元素的检测下限。为此，本发明致力于解决传统微量粉末样品制备方法所带来的弊端。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种x射线荧光光谱粉末制样装置，有助于解决传统制样方法的弊端。

本发明的技术方案：

一种x射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备，包括底板1、导柱2、弹簧3、螺栓4、滑道板5、螺母6、垫片7、功能板8、定位板9和定位柱10；

多个螺栓4的一端固定连接在底板1的两侧，成两排，导柱2套在螺栓4外部，两滑道板5套装于导柱2上；导柱2外套有弹簧3，弹簧3位于底板1和滑道板5之间，实现限位；螺母6与螺栓4的另一端配合固定，二者间设有垫片7；

所述的滑道板5一侧设有阶梯状凹槽结构，其上的凹槽与功能板8上凸起配合安装，其阶梯结构与功能板8的阶梯结构卡固；

所述的功能板8为两侧设有阶梯状的凸起结构，其上设有旋钮11、大圆形压片12、环形压片13、小圆形压片14和加样槽15；旋钮11和加样槽15设置于功能板8的上表面，通过控制旋钮11，实现功能板8的移动；加样槽15位于功能板8的端部，加样槽15上设有加料孔16，样品通过加料孔16进入样品环；大圆形压片12、环形压片13和小圆形压片14设置于功能板8的下表面，小圆形压片14位于环形压片13上，形成凸台结构；操作过程中，首先调节功能板8的位置，使大圆形压片12的中轴线与样品环的中轴线重合，样品环中的样品被压实后，移动功能板8，使样品环的中轴线与小圆形压片14的中轴线重合，再次压样品，使样品形成凹槽；移动功能板(8)，使样品环的中轴线与加料孔(16)的中轴线重合，通过加料孔(16)将样品粉末加入小圆形压片(14)压出的凹槽中；

所述的定位柱10固定在底板1上，用于支撑定位板9，定位板9实现样品环的定位；

所述的定位板9为具有弧形槽的板；

盛放适量粘结剂的样品环置于定位板9的弧形槽的圆心处，通过依次移动功能板8，实现压平粘结剂表面、压出盛放微量粉末的圆形槽和添加微量粉末的功能。

本发明的优异效果：在制备的标准样品中，使待测微量粉末与粘结剂分隔开，避免了将二者混合以制备标准样品的弊端，结合样品盒的使用以实现对微量粉末的直接检测，提高x射线荧光光谱仪对微量粉末的检测精度。

附图说明

图1是本发明x射线荧光光谱微量粉末样品制备装置的整体结构示意图。

图2是本发明x射线荧光光谱微量粉末样品制备装置中功能板主视图。

图3是本发明x射线荧光光谱微量粉末样品制备装置中功能板俯视图。

图中：1底板；2导柱；3弹簧；4螺栓；5滑道板；6螺母；7垫片；

8功能板；9定位板；10定位柱；11旋钮；12大圆形压片；13环形压片；

14小圆形压片；15加样槽；16加料孔。

具体实施方式

以下结合技术方案和附图详细叙述本发明的具体实施方式。

实施例

将制样装置放在水平面上，然后将盛放适量粘结剂的样品环放在定位板弧形槽的圆心处，使样品环的圆心与功能板上大圆形压片的圆心位于同一竖直线上，用手压下滑道板，使滑道板与功能板整体往下平移，使用功能板上的大圆形压片将粘结剂的表面压平，然后让滑道板在弹簧的作用下复位，移动功能板，使功能板上的小圆形压片的圆心与样品环的圆心位于同一竖直线上，再次用手压下滑道板，使滑道板与功能板整体往下平移，使用功能板上的小圆形压片在粘结剂的平面上压出盛放微量粉末的凹槽，滑道板复位后，再次移动功能板，使加料孔的圆心与样品环的圆心位于同一竖直线上，将放在加料槽槽的微量粉末添加到小圆形压片压出的凹槽中，最后，将样品环移到压力机上，压实粉末，制备标准样品。

技术特征：

技术总结
本发明提供了一种X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备，属于制样工具技术领域，用于X射线荧光光谱检测过程中微量粉末样品的制备。针对无法制备标准样品的微量粉末，传统的解决办法是将微量粉末与粘结剂混合以制备标准样品。但这种方法会引入新的杂质，增大分析误差，影响轻元素和痕量元素的检测下限。为此，本发明通过在粘结剂中压出盛放微量粉末的圆形槽，使待测微量粉末集中在粘结剂的中上部，避免待测微量粉末被稀释，从而提高了检测精度。

技术研发人员：张环月;权北北;刘向辉;邹龙江;季首华
受保护的技术使用者：大连理工大学
技术研发日：2017.04.24
技术公布日：2017.09.05