一种集成电路板硬度测试装置的制作方法

文档序号:14302543阅读:120来源:国知局
一种集成电路板硬度测试装置的制作方法

本发明涉及一种集成电路测试装置,尤其涉及一种集成电路板硬度测试装置。



背景技术:

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“ic”表示。集成电路发明者为杰克·基尔比(基于锗(ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。

硬度,物理学专业术语,材料局部抵抗硬物压入其表面的能力称为硬度。固体对外界物体入侵的局部抵抗能力,是比较各种材料软硬的指标。由于规定了不同的测试方法,所以有不同的硬度标准。各种硬度标准的力学含义不同,相互不能直接换算,但可通过试验加以对比。

集成电路板是现在一种必不可少的电子元件,收到广泛的应用,集成电路板在制作时,需要对其硬度进行测试,人工测试耗费时间,浪费大量精力,效率较低,因此亟需研发一种可代替人工检测硬度、检测迅速、使用效果好的集成电路板硬度测试装置。



技术实现要素:

(1)要解决的技术问题

本发明为了克服人工测试耗费时间、浪费大量精力、效率较低的缺点,本发明要解决的技术问题是提供一种可代替人工检测硬度、检测迅速、使用效果好的集成电路板硬度测试装置。

(2)技术方案

为了解决上述技术问题,本发明提供了这样一种集成电路板硬度测试装置,包括有固定架、第一锥齿轮、电机、第二锥齿轮、第三转轴、第三轴承、凸轮、滚轴、连接杆、扇形齿轮、齿条、滑轨、滑块、钻头,固定架左部从上到下依次设有第三轴承和电机,电机上设有第一锥齿轮,第三轴承内设有第三转轴,第三转轴下部设有第二锥齿轮,第二锥齿轮与第一锥齿轮啮合,第三转轴上部安装有凸轮,固定架上部通过销轴转动式安装有连接杆,连接杆左端设有滚轴,滚轴与凸轮配合,连接杆右端设有扇形齿轮,固定架右部安装有滑轨,滑轨上滑动式设有滑块,滑块上安装有齿条,齿条与扇形齿轮啮合,齿条底部安装有钻头。

优选地,还包括有第一轴承、第一转轴、第一传送轮、第二轴承、第二转轴、第二传动轮、传送带,固定架下部从左到右依次设有第一轴承和第二轴承,第一轴承内设有第一转轴,第一转轴上设有第一传送轮,第二轴承内设有第二转轴,第二转轴上设有第二传送轮,第一传送轮与第二传送轮之间设有传送带。

优选地,还包括有铁块和支撑杆,固定架右部设有支撑杆,支撑杆上设有铁块。

优选地,还包括有槽轮、锁盘、转盘、第一皮带轮、拨杆、第五轴承、连接皮带、第五转轴和第二皮带轮,固定架下部设有第五轴承,第五轴承内设有第五转轴,第五转轴上设有转盘和第二皮带轮,转盘上设有锁盘和拨杆,第一转轴上设有槽轮,槽轮与锁盘接触,电机上设有第一皮带轮,第一皮带轮与第二皮带轮之间设有连接皮带。

优选地,还包括有第一连接块、弹簧、第二连接块、指针和刻度尺,齿条下部安装有第一连接块,第一连接块下部安装有弹簧,弹簧下端安装有第二连接块,第二连接块下部安装有钻头,第二连接块右部安装有指针,固定架右部安装有刻度尺。

工作原理:需要检测集成电路板的硬度时,人工启动电机不断转动,使第一锥齿轮不断转动,使第二锥齿轮不断转动,通过第三转轴使凸轮不断转动,通过滚轴使连接杆不断上下摆动,使扇形齿轮不断上下摆动,使齿条不断上下移动,使钻头不断上下移动,对集成电路板进行挤压,根据集成电路板上的印记深度判断硬度。

因为还包括有第一轴承、第一转轴、第一传送轮、第二轴承、第二转轴、第二传动轮、传送带,固定架下部从左到右依次设有第一轴承和第二轴承,第一轴承内设有第一转轴,第一转轴上设有第一传送轮,第二轴承内设有第二转轴,第二转轴上设有第二传送轮,第一传送轮与第二传送轮之间设有传送带,将集成电路板放到传送带上,人工转动第一传送轮,通过传送带使集成电路板移动。

因为还包括有铁块和支撑杆,固定架右部设有支撑杆,支撑杆上设有铁块,钻头挤压集成电路板时,对其起到支撑作用,使用效果好。

因为还包括有槽轮、锁盘、转盘、第一皮带轮、拨杆、第五轴承、连接皮带、第五转轴和第二皮带轮,固定架下部设有第五轴承,第五轴承内设有第五转轴,第五转轴上设有转盘和第二皮带轮,转盘上设有锁盘和拨杆,第一转轴上设有槽轮,槽轮与锁盘接触,电机上设有第一皮带轮,第一皮带轮与第二皮带轮之间设有连接皮带,人工启动电机不断转动,使第一皮带轮不断转动,通过连接皮带使第二皮带轮不断转动,通过第五转轴使转盘不断转动,通过拨杆间接性转动槽轮,使第一皮带轮间歇性转动,使传送带间歇性传送集成电路板。

因为还包括有第一连接块、弹簧、第二连接块、指针和刻度尺,齿条下部安装有第一连接块,第一连接块下部安装有弹簧,弹簧下端安装有第二连接块,第二连接块下部安装有钻头,第二连接块右部安装有指针,固定架右部安装有刻度尺,弹簧可以对挤压起到缓冲作用,第二连接块向下移动,使指针向下移动,根据指针在刻度尺上的位置判断硬度。

(3)有益效果

本发明可代替人工检测硬度、检测迅速,使用本设备可以快速完成集成电路板的硬度测试工作,实用性强,节省了大量人工劳动力,为人们提供方便。

附图说明

图1是本发明的第一种主视结构示意图。

图2是本发明的第二种主视结构示意图。

图3是本发明的第三种主视结构示意图。

图4是本发明的第四种主视结构示意图。

图5是本发明的第五种主视结构示意图。

附图中的标记为:1-固定架,2-第一轴承,3-第一转轴,4-第一传送轮,5-第二轴承,6-第二转轴,7-第二传动轮,8-传送带,11-铁块,12-支撑杆,13-第五轴承,14-连接皮带,16-第二皮带轮,17-第一锥齿轮,18-电机,19-第二锥齿轮,25-槽轮,26-锁盘,27-转盘,28-第一皮带轮,29-拨杆,30-第五转轴,31-第三转轴,32-第三轴承,33-凸轮,34-滚轴,35-连接杆,36-扇形齿轮,37-齿条,38-滑轨,39-滑块,40-钻头,41-第一连接块,42-弹簧,43-第二连接块,44-指针,45-刻度尺。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。

实施例1

一种集成电路板硬度测试装置,如图1-5所示,包括有固定架1、第一锥齿轮17、电机18、第二锥齿轮19、第三转轴31、第三轴承32、凸轮33、滚轴34、连接杆35、扇形齿轮36、齿条37、滑轨38、滑块39、钻头40,固定架1左部从上到下依次设有第三轴承32和电机18,电机18上设有第一锥齿轮17,第三轴承32内设有第三转轴31,第三转轴31下部设有第二锥齿轮19,第二锥齿轮19与第一锥齿轮17啮合,第三转轴31上部安装有凸轮33,固定架1上部通过销轴转动式安装有连接杆35,连接杆35左端设有滚轴34,滚轴34与凸轮33配合,连接杆35右端设有扇形齿轮36,固定架1右部安装有滑轨38,滑轨38上滑动式设有滑块39,滑块39上安装有齿条37,齿条37与扇形齿轮36啮合,齿条37底部安装有钻头40。

实施例2

一种集成电路板硬度测试装置,如图1-5所示,包括有固定架1、第一锥齿轮17、电机18、第二锥齿轮19、第三转轴31、第三轴承32、凸轮33、滚轴34、连接杆35、扇形齿轮36、齿条37、滑轨38、滑块39、钻头40,固定架1左部从上到下依次设有第三轴承32和电机18,电机18上设有第一锥齿轮17,第三轴承32内设有第三转轴31,第三转轴31下部设有第二锥齿轮19,第二锥齿轮19与第一锥齿轮17啮合,第三转轴31上部安装有凸轮33,固定架1上部通过销轴转动式安装有连接杆35,连接杆35左端设有滚轴34,滚轴34与凸轮33配合,连接杆35右端设有扇形齿轮36,固定架1右部安装有滑轨38,滑轨38上滑动式设有滑块39,滑块39上安装有齿条37,齿条37与扇形齿轮36啮合,齿条37底部安装有钻头40。

还包括有第一轴承2、第一转轴3、第一传送轮4、第二轴承5、第二转轴6、第二传动轮7、传送带8,固定架1下部从左到右依次设有第一轴承2和第二轴承5,第一轴承2内设有第一转轴3,第一转轴3上设有第一传送轮4,第二轴承5内设有第二转轴6,第二转轴6上设有第二传送轮,第一传送轮4与第二传送轮之间设有传送带8。

实施例3

一种集成电路板硬度测试装置,如图1-5所示,包括有固定架1、第一锥齿轮17、电机18、第二锥齿轮19、第三转轴31、第三轴承32、凸轮33、滚轴34、连接杆35、扇形齿轮36、齿条37、滑轨38、滑块39、钻头40,固定架1左部从上到下依次设有第三轴承32和电机18,电机18上设有第一锥齿轮17,第三轴承32内设有第三转轴31,第三转轴31下部设有第二锥齿轮19,第二锥齿轮19与第一锥齿轮17啮合,第三转轴31上部安装有凸轮33,固定架1上部通过销轴转动式安装有连接杆35,连接杆35左端设有滚轴34,滚轴34与凸轮33配合,连接杆35右端设有扇形齿轮36,固定架1右部安装有滑轨38,滑轨38上滑动式设有滑块39,滑块39上安装有齿条37,齿条37与扇形齿轮36啮合,齿条37底部安装有钻头40。

还包括有第一轴承2、第一转轴3、第一传送轮4、第二轴承5、第二转轴6、第二传动轮7、传送带8,固定架1下部从左到右依次设有第一轴承2和第二轴承5,第一轴承2内设有第一转轴3,第一转轴3上设有第一传送轮4,第二轴承5内设有第二转轴6,第二转轴6上设有第二传送轮,第一传送轮4与第二传送轮之间设有传送带8。

还包括有铁块11和支撑杆12,固定架1右部设有支撑杆12,支撑杆12上设有铁块11。

实施例4

一种集成电路板硬度测试装置,如图1-5所示,包括有固定架1、第一锥齿轮17、电机18、第二锥齿轮19、第三转轴31、第三轴承32、凸轮33、滚轴34、连接杆35、扇形齿轮36、齿条37、滑轨38、滑块39、钻头40,固定架1左部从上到下依次设有第三轴承32和电机18,电机18上设有第一锥齿轮17,第三轴承32内设有第三转轴31,第三转轴31下部设有第二锥齿轮19,第二锥齿轮19与第一锥齿轮17啮合,第三转轴31上部安装有凸轮33,固定架1上部通过销轴转动式安装有连接杆35,连接杆35左端设有滚轴34,滚轴34与凸轮33配合,连接杆35右端设有扇形齿轮36,固定架1右部安装有滑轨38,滑轨38上滑动式设有滑块39,滑块39上安装有齿条37,齿条37与扇形齿轮36啮合,齿条37底部安装有钻头40。

还包括有第一轴承2、第一转轴3、第一传送轮4、第二轴承5、第二转轴6、第二传动轮7、传送带8,固定架1下部从左到右依次设有第一轴承2和第二轴承5,第一轴承2内设有第一转轴3,第一转轴3上设有第一传送轮4,第二轴承5内设有第二转轴6,第二转轴6上设有第二传送轮,第一传送轮4与第二传送轮之间设有传送带8。

还包括有铁块11和支撑杆12,固定架1右部设有支撑杆12,支撑杆12上设有铁块11。

还包括有槽轮25、锁盘26、转盘27、第一皮带轮28、拨杆29、第五轴承13、连接皮带14、第五转轴30和第二皮带轮16,固定架1下部设有第五轴承13,第五轴承13内设有第五转轴30,第五转轴30上设有转盘27和第二皮带轮16,转盘27上设有锁盘26和拨杆29,第一转轴3上设有槽轮25,槽轮25与锁盘26接触,电机18上设有第一皮带轮28,第一皮带轮28与第二皮带轮16之间设有连接皮带14。

还包括有第一连接块41、弹簧42、第二连接块43、指针44和刻度尺45,齿条37下部安装有第一连接块41,第一连接块41下部安装有弹簧42,弹簧42下端安装有第二连接块43,第二连接块43下部安装有钻头40,第二连接块43右部安装有指针44,固定架1右部安装有刻度尺45。

工作原理:需要检测集成电路板的硬度时,人工启动电机18不断转动,使第一锥齿轮17不断转动,使第二锥齿轮19不断转动,通过第三转轴31使凸轮33不断转动,通过滚轴34使连接杆35不断上下摆动,使扇形齿轮36不断上下摆动,使齿条37不断上下移动,使钻头40不断上下移动,对集成电路板进行挤压,根据集成电路板上的印记深度判断硬度。

因为还包括有第一轴承2、第一转轴3、第一传送轮4、第二轴承5、第二转轴6、第二传动轮7、传送带8,固定架1下部从左到右依次设有第一轴承2和第二轴承5,第一轴承2内设有第一转轴3,第一转轴3上设有第一传送轮4,第二轴承5内设有第二转轴6,第二转轴6上设有第二传送轮,第一传送轮4与第二传送轮之间设有传送带8,将集成电路板放到传送带8上,人工转动第一传送轮4,通过传送带8使集成电路板移动。

因为还包括有铁块11和支撑杆12,固定架1右部设有支撑杆12,支撑杆12上设有铁块11,钻头40挤压集成电路板时,对其起到支撑作用,使用效果好。

因为还包括有槽轮25、锁盘26、转盘27、第一皮带轮28、拨杆29、第五轴承13、连接皮带14、第五转轴30和第二皮带轮16,固定架1下部设有第五轴承13,第五轴承13内设有第五转轴30,第五转轴30上设有转盘27和第二皮带轮16,转盘27上设有锁盘26和拨杆29,第一转轴3上设有槽轮25,槽轮25与锁盘26接触,电机18上设有第一皮带轮28,第一皮带轮28与第二皮带轮16之间设有连接皮带14,人工启动电机18不断转动,使第一皮带轮28不断转动,通过连接皮带14使第二皮带轮16不断转动,通过第五转轴30使转盘27不断转动,通过拨杆29间接性转动槽轮25,使第一皮带轮28间歇性转动,使传送带8间歇性传送集成电路板。

因为还包括有第一连接块41、弹簧42、第二连接块43、指针44和刻度尺45,齿条37下部安装有第一连接块41,第一连接块41下部安装有弹簧42,弹簧42下端安装有第二连接块43,第二连接块43下部安装有钻头40,第二连接块43右部安装有指针44,固定架1右部安装有刻度尺45,弹簧42可以对挤压起到缓冲作用,第二连接块43向下移动,使指针44向下移动,根据指针44在刻度尺45上的位置判断硬度。

以上所述实施例仅表达了本发明的优选实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形、改进及替代,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

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