技术特征：
技术总结
本发明涉及一种集成电路测试装置，尤其涉及一种集成电路板硬度测试装置。本发明要解决的技术问题是提供一种可代替人工检测硬度、检测迅速、使用效果好的集成电路板硬度测试装置。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路板硬度测试装置，包括有固定架、第一锥齿轮、电机、第二锥齿轮、第三转轴、第三轴承、凸轮、滚轴、连接杆、扇形齿轮、齿条等；固定架左部从上到下依次设有第三轴承和电机，电机上设有第一锥齿轮，第三轴承内设有第三转轴。本发明可代替人工检测硬度、检测迅速，使用本设备可以快速完成集成电路板的硬度测试工作，实用性强，节省了大量人工劳动力，为人们提供方便。
技术研发人员：张健;刘超群;阳冬;其他发明人请求不公开姓名
受保护的技术使用者：郑世珍
技术研发日：2017.11.14
技术公布日：2018.05.01