一种用于检测产品平面度的检具的制作方法

本实用新型涉及检具技术领域，尤其涉及一种用于检测产品平面度的检具。

背景技术：

在现有技术中，产品平面度检测一般是借助高度规的方式来进行检测；然而，对于高度规进行平面度检测方式而言，其存在以下缺陷，具体的：人工高度规打点不同测试结果差异检测出率低，且人工高度规测量效率低，即产品平面不稳定时无法及时检出。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足而提供一种用于检测产品平面度的检具，该用于检测产品平面度的检具设计新颖、结构简单、检测效率高且检出率高。

为达到上述目的，本实用新型通过以下技术方案来实现。

一种用于检测产品平面度的检具，包括有呈水平横向布置的大理石平台，大理石平台的上表面装设有四个呈矩形分布且等高布置的产品支撑块，四个产品支撑块分别为左端前侧支撑块、左端后侧支撑块、右端前侧支撑块、右端后侧支撑块，左端前侧支撑块与左端后侧支撑块前后对齐且间隔布置，右端前侧支撑块与右端后侧支撑块前后对齐且间隔布置，左端前侧支撑块与右端前侧支撑块左右对齐且间隔布置，左端后侧支撑块与右端后侧支撑块左右对齐且间隔布置；

大理石平台的上表面于左端前侧支撑块与右端前侧支撑块之间设置有呈方形长杆形状且沿着前后方向水平延伸的下平面标尺，下平面标尺的前端部延伸至左端前侧支撑块、右端前侧支撑块的前端侧，下平面标尺的后端部延伸至左端后侧支撑块、右端后侧支撑块的后端侧；

大理石平台的上表面于左端后侧支撑块的左端侧装设有左侧标准高度块，大理石平台的上表面于右端后侧支撑块的右端侧装设有右侧标准高度高，左侧标准高度高与右侧标准高度块之间装设有沿着左右方向水平延伸的高度限高块，高度限高块的左端部螺装于左侧标准高度高的上表面，高度限高块的右端部螺装于右侧标准高度高的上表面；左侧标准高度块与右侧标准高度块之间设置有位于高度限高块前侧端且沿着左右方向水平延伸的上平面标尺。

其中，所述左端前侧支撑块与所述左端后侧支撑块之间装设有沿着前后方向水平延伸的左侧连接杆，左侧连接杆的前端部与左端前侧支撑块螺接，左侧连接杆的后端部与左端后侧支撑块螺接。

其中，所述右端前侧支撑块与所述右端后侧支撑块之间装设有沿着前后方向水平延伸的右侧连接杆，右侧连接杆的前端部与右端前侧支撑块螺接，右侧连接杆的后端部与右端后侧支撑块螺接。

本实用新型的有益效果为：本实用新型所述的一种用于检测产品平面度的检具，其包括有呈水平横向布置的大理石平台，大理石平台的上表面装设有四个呈矩形分布且等高布置的产品支撑块，四个产品支撑块分别为左端前侧支撑块、左端后侧支撑块、右端前侧支撑块、右端后侧支撑块，左端前侧支撑块与左端后侧支撑块前后对齐且间隔布置，右端前侧支撑块与右端后侧支撑块前后对齐且间隔布置，左端前侧支撑块与右端前侧支撑块左右对齐且间隔布置，左端后侧支撑块与右端后侧支撑块左右对齐且间隔布置；大理石平台的上表面于左端前侧支撑块与右端前侧支撑块之间设置有呈方形长杆形状且沿着前后方向水平延伸的下平面标尺，下平面标尺的前端部延伸至左端前侧支撑块、右端前侧支撑块的前端侧，下平面标尺的后端部延伸至左端后侧支撑块、右端后侧支撑块的后端侧；大理石平台的上表面于左端后侧支撑块的左端侧装设有左侧标准高度块，大理石平台的上表面于右端后侧支撑块的右端侧装设有右侧标准高度高，左侧标准高度高与右侧标准高度块之间装设有沿着左右方向水平延伸的高度限高块，高度限高块的左端部螺装于左侧标准高度高的上表面，高度限高块的右端部螺装于右侧标准高度高的上表面；左侧标准高度块与右侧标准高度块之间设置有位于高度限高块前侧端且沿着左右方向水平延伸的上平面标尺。通过上述结构设计，本实用新型具有设计新颖、结构简单、检测效率高且检出率高的优点。

附图说明

下面利用附图来对本实用新型进行进一步的说明，但是附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制。

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型于使用时的结构示意图。

图3为本实用新型于使用时的分解示意图。

在图1至图3中包括有：

1——大理石平台 21——左端前侧支撑块

22——左端后侧支撑块 23——右端前侧支撑块

24——右端后侧支撑块 3——下平面标尺

41——左侧标准高度块 42——右侧标准高度块

5——高度限高块 6——上平面标尺

71——左侧连接杆 72——右侧连接杆

8——检测产品。

具体实施方式

下面结合具体的实施方式来对本实用新型进行说明。

如图1至图3所示，一种用于检测产品平面度的检具，包括有呈水平横向布置的大理石平台（1），大理石平台（1）的上表面装设有四个呈矩形分布且等高布置的产品支撑块，四个产品支撑块分别为左端前侧支撑块（21）、左端后侧支撑块（22）、右端前侧支撑块（23）、右端后侧支撑块（24），左端前侧支撑块（21）与左端后侧支撑块（22）前后对齐且间隔布置，右端前侧支撑块（23）与右端后侧支撑块（24）前后对齐且间隔布置，左端前侧支撑块（21）与右端前侧支撑块（23）左右对齐且间隔布置，左端后侧支撑块（22）与右端后侧支撑块（24）左右对齐且间隔布置。

进一步的，大理石平台（1）的上表面于左端前侧支撑块（21）与右端前侧支撑块（23）之间设置有呈方形长杆形状且沿着前后方向水平延伸的下平面标尺（3），下平面标尺（3）的前端部延伸至左端前侧支撑块（21）、右端前侧支撑块（23）的前端侧，下平面标尺（3）的后端部延伸至左端后侧支撑块（22）、右端后侧支撑块（24）的后端侧。

更进一步的，大理石平台（1）的上表面于左端后侧支撑块（22）的左端侧装设有左侧标准高度块（41），大理石平台（1）的上表面于右端后侧支撑块（24）的右端侧装设有右侧标准高度高，左侧标准高度高与右侧标准高度块（42）之间装设有沿着左右方向水平延伸的高度限高块（5），高度限高块（5）的左端部螺装于左侧标准高度高的上表面，高度限高块（5）的右端部螺装于右侧标准高度高的上表面；左侧标准高度块（41）与右侧标准高度块（42）之间设置有位于高度限高块（5）前侧端且沿着左右方向水平延伸的上平面标尺（6）。

如图1至图3所示，所述左端前侧支撑块（21）与所述左端后侧支撑块（22）之间装设有沿着前后方向水平延伸的左侧连接杆（71），左侧连接杆（71）的前端部与左端前侧支撑块（21）螺接，左侧连接杆（71）的后端部与左端后侧支撑块（22）螺接；相应的，所述右端前侧支撑块（23）与所述右端后侧支撑块（24）之间装设有沿着前后方向水平延伸的右侧连接杆（72），右侧连接杆（72）的前端部与右端前侧支撑块（23）螺接，右侧连接杆（72）的后端部与右端后侧支撑块（24）螺接。

在本实用新型使用过程中，将待检测产品（8）放置于四个产品支撑块，左端前侧支撑块（21）、左端后侧支撑块（22）、右端前侧支撑块（23）、右端后侧支撑块（24）分别支承待检测产品（8），且检测产品（8）的后端边缘部伸入至高度限高块（5）的正下方，高度限高块（5）用于对检测产品（8）进行高度方向限位；待检测产品（8）放置完毕后，左右移动下平面标尺（3）可以对检测产品（8）的下表面进行平面度检测，前后移动上平面标尺（6）可以对检测产品（8）的上表面进行平面度检测。

综合上述情况可知，通过上述结构设计，本实用新型具有设计新颖、结构简单、检测效率高且检出率高的优点。

以上内容仅为本实用新型的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。