本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路及其测试方法、测试系统。
背景技术：
有源矩阵有机发光二极管(英文activematrixorganiclightemittingdiode，简称amoled)显示器件由于其具有高亮度、广视角、可实现柔性显示等特点，被广泛应用于各个领域。由于amoled显示器件的内部电路较为复杂，致使amoled显示器件在实际应用时容易产生较多的电学不良。例如：amoled显示器件中用于驱动每一个像素单元发光的驱动晶体管内部的体电荷无法得到释放，使得驱动晶体管存在特性翘尾现象，而这种特性翘尾现象会使驱动晶体管具有较大的漏电流，导致amoled显示器件关态异常，容易产生电性亮点和漏光现象。
为了解决上述问题，目前业内的通用手段是对amoled显示面板进行驱动晶体管老化处理，进而使得驱动晶体管翘尾后移，减小漏电流的产生，消除由于驱动晶体管的漏电流较高而产生的电性亮点和漏光现象。而受到显示面板的栅扫描驱动方式限制，实际老化过程中需要将用于老化的测试信号输入移位寄存器单元，再通过移位寄存器单元的内部转化输出一组信号进入显示区域，进而完成老化过程。
然而老化过程中加入的测试信号明显区别于正常显示过程中的信号，一般地，对驱动晶体管进行老化的测试信号具有高电压和反向的特性。而由于现有的从驱动芯片直接输出的测试信号无法避免超调量和环境因素的影响，导致实际输入产品的测试信号并不是理想状态下的测试信号，而这种非理想状态下的测试信号输入产品后，容易造成产品的移位寄存器单元损坏，进而导致产品出现异常显示的问题。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种测试电路及其测试方法、测试系统，用于解决现有的测试电路不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。
为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
本发明的第一方面提供一种测试电路，包括：
测试信号输入端，用于输入初始测试信号；
信号输出端，用于输出目标测试信号；
分别与所述测试信号输入端和所述信号输出端连接的信号整形模块，所述信号整形模块用于将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号。
进一步地，所述信号输出端包括：n个信号输出端口，所述信号输出端口用于输出目标测试信号；
所述信号整形模块包括：与所述n个信号输出端口一一对应的n个信号整形单元，每一个所述信号整形单元分别与所述测试信号输入端和对应的所述信号输出端口连接；
所述信号整形单元用于将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号，并通过对应的信号输出端口输出，n为大于或等于1的整数。
进一步地，所述信号整形单元包括：
第一基准信号输入端，用于输入第一基准信号；
第一子单元，分别与所述测试信号输入端、对应的信号输出端口和所述第一基准信号输入端连接；
所述第一子单元用于将所述初始测试信号中的幅值高于所述第一基准信号的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号。
进一步地，所述第一子单元包括依次串联的多个高电平整形二极管，沿着所述高电平整形二极管的导通方向，第一个高电平整形二极管的阳极分别与所述测试信号输入端和对应的信号输出端口连接，最后一个高电平整形二极管的阴极与所述第一基准信号输入端连接。
进一步地，所述信号整形单元还包括：
第二基准信号输入端，用于输入第二基准信号；
第二子单元，分别与所述测试信号输入端、对应的信号输出端口和所述第二基准信号输入端连接；
所述第二子单元用于将所述初始测试信号中的幅值低于所述第二基准信号的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号。
进一步地，所述第二子单元包括依次串联的多个低电平整形二极管，沿着所述低电平整形二极管的导通方向，第一个低电平整形二极管的阳极与所述第二基准信号输入端连接，最后一个低电平整形二极管的阴极分别与所述测试信号输入端和对应的信号输出端口连接。
进一步地，所述高电平整形二极管和所述低电平整形二极管均为高频二极管。
基于上述测试电路的技术方案，本发明的第二方面提供一种测试电路的测试方法，包括：
接收测试信号输入端输入的初始测试信号；
通过信号整形模块将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号；
通过信号输出端将所述目标测试信号输出。
进一步地，所述信号输出端包括：n个信号输出端口；
所述信号整形模块包括：与所述n个信号输出端口一一对应的n个信号整形单元，每一个所述信号整形单元分别与所述测试信号输入端和对应的所述信号输出端口连接；
所述通过信号整形模块将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号的步骤具体包括：
通过所述信号整形单元将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号；
所述通过信号输出端将所述目标测试信号输出的步骤具体包括：
通过与所述信号整形单元对应的信号输出端口将所述目标测试信号输出。
进一步地，所述信号整形单元包括：
第一基准信号输入端，用于输入第一基准信号；
第一子单元，分别与所述测试信号输入端、对应的信号输出端口和所述第一基准信号输入端连接；
所述通过所述信号整形单元将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号的步骤具体包括：
通过所述第一子单元将所述初始测试信号中的幅值高于所述第一基准信号的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号。
进一步地，所述信号整形单元还包括：
第二基准信号输入端，用于输入第二基准信号；
第二子单元，分别与所述测试信号输入端、对应的信号输出端口和所述第二基准信号输入端连接；
所述通过所述信号整形单元将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号的步骤还具体包括：
通过所述第二子单元将所述初始测试信号中的幅值低于所述第二基准信号的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号。
基于上述测试电路的技术方案，本发明的第三方面提供一种测试系统，包括上述测试电路，所述测试电路的信号输出端用于将目标测试信号输出至待测试产品。
本发明提供的技术方案中，测试电路包括测试信号输入端、信号整形模块和信号输出端，在利用该测试电路向待老化产品输入测试信号时，能够通过信号整形模块对由测试信号输入端输入的初始老化信号进行整形，得到滤除噪声信号的目标测试信号，然后再将目标测试信号经过信号输出端输出至待老化产品。因此，本发明提供的测试电路能够将初始测试信号中的噪声信号滤除，使得加入到待老化产品中的目标测试信号为理想状态下的测试信号，从而很好的解决了现有的测试电路不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为示波器显示的受环境影响的测试信号的波形示意图；
图2为示波器显示的受超调量影响的测试信号的波形示意图；
图3为本发明实施例提供的测试电路的第一结构示意图；
图4为本发明实施例提供的测试电路的第二结构示意图；
图5为待老化产品出现异常时不同支路的测试信号的第一波形示意图；
图6为受到其它待老化产品干扰后的测试信号的第一波形示意图；
图7为受到其它待老化产品干扰后的测试信号的第二波形示意图；
图8为待老化产品出现异常时不同支路的测试信号的第二波形示意图；
图9为测试信号经第一子单元整形前后的波形示意图；
图10为测试信号经第二子单元整形前后的波形示意图；
图11为测试信号经第一子单元和第二子单元整形前后的波形示意图。
附图标记：
1-测试电路，10-测试信号输入端，
11-信号整形模块，110-信号整形单元，
1101-第一子单元，1102-第二子单元，
12-信号输出端，120-信号输出端口，
2-待老化产品，vgh-第一基准信号输入端，
vgl-第二基准信号输入端。
具体实施方式
为了进一步说明本发明实施例提供的测试电路及其测试方法、测试系统，下面结合说明书附图进行详细描述。
如背景技术所述，在制作oled显示器件时，在oled显示器件的显示区域形成的驱动晶体管由于体电荷无法得到释放，导致其存在特性翘尾现象，而这种现象使得驱动晶体管具有较大的漏电流，会使得oled显示器件关态异常，容易产生电性亮点和漏光现象。
针对上述问题，现有技术中一般通过老化工艺对驱动晶体管进行老化，以使得驱动晶体管翘尾后移，从而减小漏电流的产生。该老化工艺主要是向待老化的产品中加入高偏压的测试信号，而理想的高偏压测试信号能够使老化过程顺利进行，不会对待老化的产品产生影响，异常的高偏压测试信号会对待老化产品产生不良的影响，容易导致待老化产品出现显示异常等不良，因此，在进行老化工艺时，需要向产品加入满足要求的精确度较高的测试信号。
但是，现有技术中，一般采用驱动芯片来向待老化产品提供测试信号，而由驱动芯片提供的测试信号不仅存在无法避免的超调量问题，而且还会受到环境影响，导致加入到待老化产品中的测试信号中携带噪声信号，测试信号无法达到理想化。
具体地，请参阅图1，图1中为示波器显示的测试信号的波形示意图，图1中的a部分即为受到环境影响后，导致测试信号出现了尖峰的噪声信号，在利用该测试信号对待老化产品进行老化时，会对待老化的产品产生不良的影响。请参阅图2，图2同样为示波器显示的测试信号的波形示意图，图2中的b1和b2部分即为超调量导致的测试信号异常，使得测试信号携带了噪声信号，而在利用该测试信号对待老化产品进行老化时，同样会对待老化的产品产生不良的影响
为了解决上述问题，本发明的发明人经研究发现，可以在测试信号的输入端引入信号整形模块，从而使得经过整形后的测试信号能够实现理想化，避免由于测试信号不合适导致待老化产品出现不良的问题。
如图3所示，本发明实施例提供了一种测试电路1，包括：
测试信号输入端10，用于输入初始测试信号；
信号输出端12，用于输出目标测试信号；
分别与测试信号输入端10和信号输出端12连接的信号整形模块11，信号整形模块11用于将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号，并将目标测试信号通过信号输出端12输出。
具体地，上述测试电路1在实际工作时，由测试信号输入端10输入初始测试信号，然后通过信号整形模块11对该初始测试信号进行整形，以将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号，接着再将目标测试信号通过信号输出端12输出至待老化的产品中。需要说明的是，上述测试信号输入端10可与驱动芯片连接，并由驱动芯片为测试信号输入端10提供初始测试信号。上述初始测试信号中的噪声信号可以是由环境因素产生的，也可以是由于超调量导致产生的。
根据上述测试电路1的具体结构和工作过程可知，本发明实施例提供的测试电路1包括测试信号输入端10、信号整形模块11和信号输出端12，在利用该测试电路1向待老化产品输入测试信号时，能够通过信号整形模块11对由测试信号输入端10输入的初始老化信号进行整形，得到滤除噪声信号的目标测试信号，然后再将目标测试信号经过信号输出端12输出至待老化产品。因此，本发明实施例提供的测试电路1能够将初始测试信号中的噪声信号滤除，使得加入到待老化产品中的目标测试信号为理想状态下的测试信号，从而很好的解决了现有的测试电路1不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。
进一步地，请参阅图4，上述实施例提供的信号输出端12包括：n个信号输出端口120，信号输出端口120用于输出目标测试信号；信号整形模块11包括：与n个信号输出端口120一一对应的n个信号整形单元110，每一个信号整形单元110分别与测试信号输入端10和对应的信号输出端口120连接；信号整形单元110用于将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号，并将目标测试信号通过与信号整形单元110对应的信号输出端口120输出，n为大于或等于1的整数。
具体地，当信号输出端12包括n个信号输出端口120，且信号整形模块11包括n个信号整形单元110时，上述测试电路1的具体工作过程为：由测试信号输入端10输入初始测试信号，n个信号整形单元110均对接收到的初始测试信号进行整形，以将接收到的初始测试信号中的噪声信号滤除得到n个目标测试信号，然后n个目标测试信号一一对应经过n个信号输出端口120输出至对应的n个待老化产品中。
更详细地说，在实际生产中，为了提高产能，可利用一个测试电路同时对多个待老化产品进行老化测试，但是这种提供测试信号的方式容易导致当有一个待老化产品发生异常时，会影响输入至其他待老化产品中的测试信号，使其他待老化产品出现不良，请参阅图5，从图5中能够看出，当与e点对应的待老化产品2出现异常时，e点处的测试信号受到影响，测试信号的波形出现失真，而由于e点与f点电连接，导致f点处的测试信号也受到影响，使得输入至与f点对应的待老化产品中的测试信号携带噪声信号，测试信号的波形也出现严重的失真现象。如图6和图7所示，为受到其它待老化产品干扰后的测试信号的波形示意图，图中的c、d为由于干扰产生的噪声信号。
为了解决上述问题，上述实施例提供的测试电路中，如图4所示，通过在对应每一个待老化产品的信号输出端口120处均设置了一个信号整形单元110，从而实现对输出至各待老化产品的测试信号均进行整形，以避免输入至当前待老化产品中的测试信号受到其他同时进行老化测试的待老化产品的干扰。具体请参见图8，从图8中能够看出，当与e＇点对应的待老化产品2出现异常，导致e＇点的测试信号出现异常时，由于e＇点与f＇点之间设置有信号整形单元110，使得f＇点处的测试信号不会受到e＇点的影响，从而保证了与f＇点对应的待老化信号能够接收到理想化的目标测试信号。
根据上述分析可知，上述实施例提供的测试电路中，通过设置信号整形模块11包括分别与测试信号输入端10连接的n个信号整形单元110，信号输出端12包括与n个信号整形单元110一一对应连接的n个信号输出端口120，不仅能够实现利用一个测试电路1同时对n个待老化产品进行老化测试，很好的提高了产能，还能够避免同时进行老化测试的各待老化产品之间产生影响，保证了输出至每一个待老化产品中的测试信号均为理想化的目标测试信号，进一步提升了待老化产品的老化良率。
需要说明的是，上述实施例提供的测试电路中，在测试信号输入端10与信号整形模块11之间可设置0欧姆的电阻排，以方便检测测试电路中的测试信号的波形。
进一步地，请参阅图9和图11，上述信号整形单元110包括第一基准信号输入端vgh和第一子单元1101；其中，第一基准信号输入端vgh用于输入第一基准信号；第一子单元1101分别与测试信号输入端10(signalin)、对应的信号输出端口120(signalout)和第一基准信号输入端vgh连接；第一子单元1101用于将初始测试信号中的幅值高于第一基准信号的噪声信号滤除，得到目标测试信号。
具体地，上述信号整形单元110所包括的第一子单元1101分别与测试信号输入端10、对应的信号输出端口120和第一基准信号输入端vgh连接，由测试信号输入端10输入的初始测试信号传输至信号整形单元110时，信号整形单元110中的第一子单元1101能够将初始测试信号中幅值高于第一基准信号的噪声信号滤除，得到理想化的目标测试信号，并通过对应的信号输出端口120输出至对应的待老化产品。
进一步地，请继续参阅图10和图11，上述信号整形单元110还包括第二基准信号输入端vgl和第二子单元1102；其中，第二基准信号输入端vgl用于输入第二基准信号；第二子单元1102分别与测试信号输入端10、对应的信号输出端口120和第二基准信号输入端vgl连接；第二子单元1102用于将初始测试信号中的幅值低于第二基准信号的噪声信号滤除，得到目标测试信号。
具体地，上述信号整形单元110所包括的第二子单元1102分别与测试信号输入端10、对应的信号输出端口120和第二基准信号输入端vgl连接，由测试信号输入端10输入的初始测试信号传输至信号整形单元110时，信号整形单元110中的第二子单元1102能够将初始测试信号中幅值低于第二基准信号的噪声信号滤除，得到更加理想化的目标测试信号，并通过对应的信号输出端口120输出至对应的待老化产品。
上述实施例提供的测试电路中，设置各信号整形单元110包括第一子单元1101和第二子单元1102，使得通过信号整形单元110对初始测试信号进行整形时，能够通过信号整形单元110中的第一子单元1101将初始测试信号中幅值高于第一基准信号的噪声信号滤除，并能够通过信号整形单元110中的第二子单元1102将初始测试信号中幅值低于第二基准信号的噪声信号滤除，从而使得经信号整形单元110整形后得到的目标测试信号为理想化的测试信号，解决了现有的测试电路1不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。
需要说明，上述第一基准信号输入端vgh和第二基准信号输入端vgl可均与驱动芯片连接，并由驱动芯片为第一基准信号输入端vgh提供第一基准信号，由驱动芯片为第二基准信号输入端vgl提供第二基准信号。另外，该第一基准信号和第二基准信号均为直流信号，第一基准信号和第二基准信号为分别对应于整流的最高限制电压和最低限制电压。此外，上述第一基准信号和第二基准信号的电平值可根据实际需要的目标测试信号的高电平值和低电平值设置，这样就使得整形后得到的目标测试信号的高电平小于或等于第一基准信号对应的电平值，目标测试信号的低电平大于或等于第二基准信号对应的电平值，从而使得整形后得到的目标测试信号为能够满足需求的理想化测试信号。
上述实施例提供的信号整形单元的具体结构多种多样，下面给出信号测试单元的一种具体结构，并对整形过程进行详细说明。
进一步地，如图11所示，上述第一子单元1101包括依次串联的多个高电平整形二极管，沿着高电平整形二极管的导通方向，第一个高电平整形二极管的阳极分别与测试信号输入端10(signalin)和对应的信号输出端口120(signalout)连接，最后一个高电平整形二极管的阴极与第一基准信号输入端连接。
具体地，在第一子单元1101中的第一个高电平整形二极管的阳极接收到由测试信号输入端10输入的初始测试信号时，当该测试信号中存在幅值高于第一基准信号的噪声信号时，第一子单元1101包括的多个高电平整形二极管由于正向偏压作用导通，使得该幅值高于第一基准信号的噪声信号所对应的多余电荷经多个高电平整形二极管流出，从而使得经过第一子单元1101的测试信号的波形趋于理想化(参见图11中g到g＇)。
进一步地，如图11所示，上述第二子单元1102包括依次串联的多个低电平整形二极管，沿着低电平整形二极管的导通方向，第一个低电平整形二极管的阳极与第二基准信号输入端连接，最后一个低电平整形二极管的阴极分别与测试信号输入端10(signalin)和对应的信号输出端口120(signalout)连接。
具体地，在第二子单元1102中的最后一个低电平整形二极管的阴极接收到由测试信号输入端10输入的初始测试信号时，当该测试信号中存在幅值低于第二基准信号的噪声信号时，第二子单元1102包括的多个低电平整形二极管由于正向偏压作用导通，使得该幅值低于第二基准信号的噪声信号所对应的多余电荷经多个低电平整形二极管流出，从而使得经过第二子单元1102的测试信号的波形进一步趋于理想化(参见图11中h到h＇)。
上述实施例提供的测试电路中，设置第一子单元1101包括依次串联的多个高电平整形二极管，第二子单元1102包括依次串联的多个低电平整形二极管，来实现将接受到的初始测试信号中的噪声信号滤除。由于第一子单元1101和第二子单元1102中均未使用储能器件，使得在通过第一子单元1101和第二子单元1102对初始测试信号进行整形时，不会影响输出的目标测试信号的时序，避免了出现延时现象，因此，在利用上述实施例提供的测试电路1为待老化产品提供测试信号时，不仅能够保证所提供的测试信号为理想化的目标测试信号，还实现了在不产生延时作用的情况下对初始测试信号进行整形，更好的保证了输出至待老化产品中的目标测试信号的准确性。
进一步地，上述采用的高电平整形二极管和低电平整形二极管均为高频二极管。
具体地，由于高频二极管具有较快的反应速度，利用高频二极管作为上述第一子单元1101中的高电平整形二极管和第二子单元1102中的低电平整形二极管，能够使得形成的信号整形单元110在对高频的测试信号进行整形时，具有较快的反应速度，从而更好的保证了将初始测试信号中的噪声信号滤除。需要说明，上述高频二极管的种类多种多样，例如超快恢复二极管，能够在20khz以上的电路中进行工作。
本发明实施例还提供了一种测试电路的测试方法，应用于上述实施例提供的测试电路，该测试方法包括：
接收测试信号输入端10输入的初始测试信号；
具体地，该测试信号输入端10可与驱动芯片连接，并由驱动芯片为测试信号输入端10提供初始测试信号。
通过信号整形模块11将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号；
通过信号输出端12将目标测试信号输出。
具体地，在接收到由测试信号输入端10输入的初始测试信号后，可通过信号整形模块11对该初始测试信号进行整形，以将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号，接着再将目标测试信号通过信号输出端12输出至待老化的产品中。
本发明实施例提供的测试电路1的测试方法中，能够通过信号整形模块11对由测试信号输入端10输入的初始老化信号进行整形，得到滤除噪声信号的目标测试信号，然后再将目标测试信号经过信号输出端12输出至待老化产品。因此，本发明实施例提供的测试电路1的测试方法能够将初始测试信号中的噪声信号滤除，使得加入到待老化产品中的目标测试信号为理想状态下的测试信号，从而很好的解决了现有的测试电路1不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。
进一步地，上述实施例提供的测试电路中，信号输出端12包括n个信号输出端口120，信号输出端口120用于输出目标测试信号；信号整形模块11包括：与n个信号输出端口120一一对应的n个信号整形单元110，每一个信号整形单元110分别与测试信号输入端10和对应的信号输出端口120连接。
上述通过信号整形模块11将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号的步骤具体包括：通过信号整形单元110将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号。
上述通过信号输出端12将目标测试信号输出的步骤具体包括：
通过与信号整形单元110对应的信号输出端口120将目标测试信号输出。
当测试电路为上述结构时，上述实施例提供的测试电路的测试方法不仅能够实现利用一个测试电路同时对n个待老化产品进行老化测试，很好的提高了产能，还能够避免同时进行老化测试的各待老化产品之间产生影响，保证了输出至每一个待老化产品中的测试信号均为理想化的目标测试信号，进一步提升了待老化产品的老化良率。
进一步地，当上述实施例提供的测试电路1中，信号整形单元110包括第一基准信号输入端vgh和第一子单元1101；其中，第一基准信号输入端vgh用于输入第一基准信号；第一子单元1101分别与测试信号输入端10(signalin)、对应的信号输出端口120(signalout)和第一基准信号输入端vgh连接。
上述通过信号整形单元110将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号的步骤具体包括：通过第一子单元1101将初始测试信号中的幅值高于第一基准信号的噪声信号滤除，得到目标测试信号。
进一步地，上述实施例提供的测试电路中，信号整形单元110还包括第二基准信号输入端vgl和第二子单元1102；其中，第二基准信号输入端vgl用于输入第二基准信号；第二子单元1102分别与测试信号输入端10、对应的信号输出端口120和第二基准信号输入端vgl连接。
上述通过信号整形单元110将初始测试信号中的噪声信号滤除，得到目标测试信号的步骤还具体包括：通过第二子单元1102将初始测试信号中的幅值低于第二基准信号的噪声信号滤除，得到目标测试信号。
上述实施例提供的测试电路1的测试方法中，通过信号整形单元110对初始测试信号进行整形时，能够通过信号整形单元110中的第一子单元1101将初始测试信号中幅值高于第一基准信号的噪声信号滤除，并能够通过信号整形单元110中的第二子单元1102将初始测试信号中幅值低于第二基准信号的噪声信号滤除，从而使得经信号整形单元110整形后得到的目标测试信号为理想化的测试信号，解决了现有的测试电路1不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。
本发明实施例还提供了一种测试系统，包括上述实施例提供的测试电路，该测试电路的信号输出端12用于将目标测试信号输出至待测试产品。
由于上述实施例提供的测试电路能够将初始测试信号中的噪声信号滤除，使得加入到待老化产品中的目标测试信号为理想状态下的测试信号，从而很好的解决了现有的测试电路不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。因此，本发明实施例提供的测试系统在包括上述测试电路时，同样具有上述优点，此处不再赘述。
在上述实施方式的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。