技术特征：
技术总结
本发明公开一种测试电路及其测试方法、测试系统，涉及显示技术领域，为解决现有的测试电路不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。所述测试电路包括：测试信号输入端，用于输入初始测试信号；信号输出端，用于输出目标测试信号；分别与所述测试信号输入端和所述信号输出端连接的信号整形模块，所述信号整形模块用于将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号。本发明提供的测试电路用于为待测试产品提供测试信号。
技术研发人员：高弘玮;张国庆;杨红霞;赵普查;白晓鹏;赵科;贾智慧;宗岩;王晓伟;刘耀荣
受保护的技术使用者：鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司;京东方科技集团股份有限公司
技术研发日：2018.03.28
技术公布日：2018.09.21