本发明涉及一种测绘支架。
背景技术
在测绘中，经常需要对角度进行测量，但是，现有的测绘支架没有这方面的功能，需要人工测量或采用其它方式测量。
技术实现要素：
针对上述不足之处，本发明的目的就在于提供一种测绘支架，该测绘支架使得测量角度不需要接触就可以进行角度测量。
本发明的技术方案是：一种测绘支架，包括支架本体(2)，所述测绘支架还包括角度测量装置(3)、水平调节装置(1)和水平检测装置，角度测量装置(3)、水平调节装置(1)和水平检测装置均设置在支架本体(2)上，角度测量装置(3)内装有角度测量光学片。
作为优选，所述角度测量光学片包括基体(31)，基体(31)上方设置有上透镜(32)，下方设置有下透镜(33)，上透镜(32)由上球形凸起段(34)和上平坦段(37)交替组成，上球形凸起段(34)的半径为r1，上球形凸起段(34)两端点之间的直线距离为d,上平坦段(37)两端点之间的距离为d1；下透镜(33)由下球形凸起段(35)和下平坦段(38)交替组成，下球形凸起段(35)的半径为rm，下球形凸起段(35)两端点之间的直线距离与上球形凸起段(34)两端点之间的直线距离相等，下平坦段(38)两端点之间的距离与上平坦段(37)两端点之间的距离相等；下球形凸起段(35)表面上涂覆有反射图层(36)；上球形凸起段(34)与下球形凸起段(35)具有同一圆心(39)，并具有同一中心线(310)。
作为优选，所述d：d1的比值为8:1～20:1。
作为优选，所述上透镜(32)、基体(31)、下透镜(33)一体成型。
作为优选，所述上透镜(32)、基体(31)、下透镜(33)均由光学透明材料制成，该光学透明材料为光学玻璃。
作为优选，所述光学玻璃为防辐照光学玻璃或钡火石光学玻璃。
作为优选，所述角度测量光学片厚度为100-200微米。
作为优选，所述测绘支架还设置有底座(7)，底座(7)连接在支架本体(2)底部，底座(7)从上到下渐变式增大。
作为优选，所述支架本体(2)由水平段、对称斜段和对称竖直段组成，水平段长度短于对称竖直段之间的距离，对称斜段一端连接水平段，另一端连接对称竖直段，水平段位于对称竖直段上方，水平调节装置(1)设置在对称竖直段上，角度测量装置3和水平检测装置设置在水平段上。
作为优选，所述水平检测装置由带刻度的圆盘(4)、连接丝线(5)和摆动钢球(6)组成，摆动钢球(6)连接在连接丝线(5)端头，测试人员可以根据摆动钢球(6)摆动的角度来检测测试架是否水平。
与现有技术相比，本发明的有益效果在于：本发明通过设置基体，基体上方设置上透镜，下方设置有下透镜，以及交替的上球形凸起段、上平坦段、下球形凸起段、下平坦段、反射图层，使得β</＝βmax光线逆向通过上透镜，从而实现角度测量，使得不需要人工接触被检测物体即可以完成测量事宜。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本发明整体结构示意图；
图2为本发明角度测量光学片结构示意图；
图3为本发明角度测量光学片原理图示意图；
图4为本发明逆向光强度与β之间的关系图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。
在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外，本发明要指出的是，本发明中，如未特别写出具体涉及的结构、连接关系、位置关系、动力来源关系等，则本发明涉及的结构、连接关系、位置关系、动力来源关系等均为本领域技术人员在现有技术的基础上，可以不经过创造性劳动可以得知的。
实施例1
如图1-4所示，一种测绘支架，包括支架本体2、角度测量装置3、水平调节装置1和水平检测装置，角度测量装置3、水平调节装置1和水平检测装置均设置在支架本体2上，角度测量装置3内装有角度测量光学片。
角度测量光学片包括基体31，基体31上方设置有上透镜32，下方设置有下透镜33，上透镜32、基体31、下透镜33一体成型。
上透镜32由上球形凸起段34和上平坦段37交替组成，上球形凸起段34的半径为r1，上球形凸起段34两端点之间的直线距离为d,上平坦段37两端点之间的距离为d1。
下透镜33由下球形凸起段35和下平坦段38交替组成，下球形凸起段35的半径为rm，下球形凸起段35两端点之间的直线距离与上球形凸起段34两端点之间的直线距离相等，下平坦段38两端点之间的距离与上平坦段37两端点之间的距离相等。d：d1的比值为8:1～20:1。
下球形凸起段35表面上涂覆有反射图层36。上球形凸起段34的焦距等于光学片的厚度。
上球形凸起段34与下球形凸起段35具有同一圆心39，并具有同一中心线310，这样的设置使得当焦点位于反射图层36时，本发明具有逆向反射特性。
上透镜32、基体31、下透镜33均由光学透明材料制成，光学透明材料为具有折射率n的光学透明基体。
本发明中，光学透明材料优选光学玻璃，光学玻璃中优选折射率高的光学玻璃。
本发明中，光学玻璃优选钡火石光学玻璃。
本发明中，光学玻璃也可以采用防辐照光学玻璃。
角度测量光学片厚度为t。t为100-200微米。
第一光线311、第二光线312以角度β入射，第一光线311与上透镜32呈直角射入，第一光线311不会被上透镜32反射，其在反射图层36反射，反射回来的光线同射入的路径相同。第二光线312与上透镜32不相垂直，第二光线312会被上透镜32的上球形凸起段34折射，由于上球形凸起段34的焦距与反射图层36重合，第二光线312与第一光线311射到下透镜33的同一位置。然而，第二光线312却与下球形凸起段35的反射图层36呈角度α，第二光线312将被下透镜33反射成反射光线313，再次以角度α反射。当反射光线313到达上球形凸起段34，它再次折射并在进入光学片后以相同的角度β离开光学片。β为光线与上球形凸起段34与下球形凸起段35的中心线310之间的夹角。
当第三光线315以β＝0射入，光线折后焦点位于下球形凸起段35的中心314处。当β<βmax,光线折后焦点虽然不位于下球形凸起段35的中心314处，但仍然位于下球形凸起段35上点314处，当β＝βmax，光线焦点聚焦处位于下球形凸起段35的边缘316处，当β>βmax，光线焦点位于基体1内点317处，此时，光线并不反射回上透镜32而是在基体31内散发，此时，光学片并不逆向发射。
逆向光的强度在β</＝βmax时基本上没有变化，当β>βmax时，逆向光基本上为零而变暗。
测绘支架还设置有底座7，底座7连接在支架本体2底部，底座7从上到下渐变式增大，以便于测绘支架稳定。
支架本体2由水平段、对称斜段和对称竖直段组成，水平段长度短于对称竖直段之间的距离，对称斜段一端连接水平段，另一端连接对称竖直段，水平段位于对称竖直段上方，水平调节装置1设置在对称竖直段上，角度测量装置3和水平检测装置设置在水平段上。
水平检测装置由带刻度的圆盘4、连接丝线5和摆动钢球6组成，摆动钢球6连接在连接丝线5端头，测试人员可以根据摆动钢球6摆动的角度来检测测试架是否水平。
本说明书描述了本发明的实施例的示例，并不意味着这些实施例说明并描述了本发明的所有可能形式。应理解，说明书中的实施例可以多种替代形式实施。附图无需按比例绘制；可放大或缩小一些特征以显示特定部件的细节。公开的具体结构和功能细节不应当作限定解释，仅仅是教导本领域技术人员以多种形式实施本发明的代表性基础。本领域内的技术人员应理解，参考任一附图说明和描述的多个特征可以与一个或多个其它附图中说明的特征组合以形成未明确说明或描述的实施例。说明的组合特征提供用于典型应用的代表实施例。然而，与本发明的教导一致的特征的多种组合和变型可以根据需要用于特定应用或实施。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。