一种涂层测厚仪探头的制作方法

本实用新型涉及涂层测厚仪领域，具体涉及一种用于涂层厚度仪的探头。

背景技术：

在现代工业中，涂覆有涂层的工件越来越多。例如在能源工业、航天工业中，为防止腐蚀或者获得优良的表面性能，都需要涂覆涂层。

大量的时间证明涂层对金属的特性具有非常重要的影响。例如进行石油输送时，若石油管道表面的涂层较薄，则管道面临被腐蚀的风险，从而导致泄漏的发生。如果涂层偏厚，则容易引起管道中石油堵塞的问题。因此，对涂层的侧厚的研究有非常重要的实际应用意义。

目前涂层的侧厚主要有以下几种方法：

磁吸力涂层测厚、磁感应涂层测厚、射线涂层测厚、超声波涂层测厚、电涡流涂层测厚。

其中电涡流涂层测厚方法优于优点较为突出被广泛使用，电涡流测厚在测量时不需要耦合剂且不容易对工件造成损伤，涡流测厚的灵敏度很高，能快速的对涂层的厚度进行检测。

在进行测量时，校正片被探头压紧在金属基体上。当压力增大时，得到的并联谐振阻抗值减小，测量厚度值也减小，其原因在于：当压力过大时，校正片变形导致被压紧处的厚度小于校正片的正常标定值，进而导致测到的厚度值偏小；当压力过小时，校正片与金属基体之间存在空隙，进而导致测到的厚度大于校正片的标定值，以上两种情况均可导致测量误差。

技术实现要素：

针对上述现有技术的缺陷，需要一种结构来使作用在校正片上的力大小适中并保持不变。

本实用新型提供了一种涂层测厚仪探头，包括线圈骨架、滑筒、螺纹套、支撑筒和弹簧；其中所述线圈骨架固定在所述探头上，所述线圈骨架右侧面中心位置设置有凸起的触点；所述滑筒为空心的两段圆柱形结构，其中左侧圆柱形结构的外径小于右侧圆柱形结构的外径，所述左侧圆柱形结构外侧套接弹簧，所述右侧圆柱形结构内侧设置有线圈骨架，所述右侧圆柱形结构外侧与螺纹套接触，所述右侧圆柱形结构的左端设置有一圈凸起以防限制螺纹套的径向移动；所述螺纹套位于滑筒外部，所述滑筒高出螺纹套一定长度；所述支撑筒上设置有内螺纹与所述螺纹套的内螺纹连接，所述支撑筒左侧内部设置有圆柱形结构，所述圆柱形结构外侧套接弹簧的左侧，所述探头上还固定设置有铜线作为线圈。

进一步地，所述铜线为紫铜线。

进一步地，所述紫铜线的直径为0.3mm。

进一步地，所述线圈骨架设有一圈凹槽供线圈放置，将线圈骨架轴向中心线至凹槽底部距离为定义为内径，线圈骨架轴向中心线至凹槽顶部距离定义为外径，所述外径为13.6mm，内径为10mm。

使用上述探头测量时，探头被压下，线圈骨架顶部的触点与校正片接触，将压力传给与滑筒，滑筒受力后沿螺纹套内滑动并将弹簧压紧。当螺纹套顶部与校正片接触后，滑筒将不再移动，此时压紧在校正片上的力就等于弹簧的弹力。因此每次测量弹簧的形变均一样，即压缩滑筒高出螺纹套长度的压缩量，所以探头作用在校正片上的压力也一样。另外，该设计使用点接触的方式来压紧校正片以防止因探头或基体表面不平整而引起的测量误差。使用上述结构的探头测量涂层厚度时精确度可以达到um级别。

附图说明

图1为本实用新型的探头结构剖视图。

1.线圈骨架、2.滑筒、3.螺纹套、4.支撑筒、5.弹簧。

具体实施方式

如图1所示，一种涂层测厚仪探头，其特征在于，包括线圈骨架1、滑筒2、螺纹套3、支撑筒4和弹簧5；其中所述线圈骨架1固定在所述探头上，所述线圈骨架1右侧面中心位置设置有凸起的触点；所述滑筒2为空心的两段圆柱形结构，其中左侧圆柱形结构的外径小于右侧圆柱形结构的外径，所述左侧圆柱形结构外侧套接弹簧5，所述右侧圆柱形结构内侧设置有线圈骨架1，所述右侧圆柱形结构外侧与螺纹套3接触，所述右侧圆柱形结构的左端设置有一圈凸起以防限制螺纹套3的径向移动；所述螺纹套3位于滑筒2外部，所述滑筒2高出螺纹套一定长度；所述支撑筒4上设置有内螺纹与所述螺纹套3的内螺纹连接，所述支撑筒4左侧内部设置有圆柱形结构，所述圆柱形结构外侧套接弹簧5 的左侧，所述探头上还固定设置有铜线作为线圈。

进一步地，所述线圈骨架为圆柱形结构且中间的直径大于左右侧直径。

实施例1：所述外径为13.6mm，所述内径为10mm，凹槽宽度1.5mm，线圈采用0.3mm的紫铜线，线圈有12层，每层5匝，即线圈共60匝。

实施例2：所述外径为13.6mm，所述内径为8.2，凹槽宽度1.5mm，线圈采用0.3mm的紫铜线，线圈共90匝。

实施例3：所述外径为13mm，所述内径为10，凹槽宽度1.5mm，线圈采用0.3mm的紫铜线，线圈共50匝。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。