技术总结
本发明涉及一种用于对异质材料中的缺陷进行超声检测和表征的方法，包括以下步骤：‑对于多个探头位置(z)中的每个位置，对于多元件探头(1)的多种配置，通过至少一个发射换能器(14)发射超声波并通过至少一个接收换能器(15)获取测量信号，‑实施聚焦算法，并且对于每个探头位置(z)获得图像，其中图像的每个像素表示聚焦幅值与其相关联的材料的探测点(w)，‑对于每个探测点(w)，确定幅值的中心趋势的度量和表示幅值的可变性的函数，‑对于每个图像，校正幅值，‑基于经校正的图像检测和表征材料中的缺陷。
技术研发人员：保罗·卡西斯;尼古拉斯·保罗
受保护的技术使用者：法国电力公司
技术研发日：2019.09.02
技术公布日：2021.06.18