光电鼠标芯片的图像测试方法

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光电鼠标芯片的图像测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及光电鼠标生产中的测试领域,尤其是一种光电鼠标芯片的测试方法。
【背景技术】
[0002]光电鼠标芯片中的CMOS图像传感器在生产后,会生产出一定数量的图像存在坏点(损坏的像素点)的不良品;或者在光电鼠标芯片封装过程中可能会有一些污点掉落在CMOS图像传感器上;还有其他额外的因素,这些都可能导致图像变差,从而影响鼠标的移动性能。
[0003]在批量生产中,如果没有良好的测试方案,则将会在光电鼠标芯片的良品中混入一些残次品,影响了整批芯片的质量。

【发明内容】

[0004]本发明的目的在于克服现有技术中存在的不足,提供一种光电鼠标芯片的图像测试方法,此测试方法精度高,可减少误判的可能性,能够很好地挑选出优质光电鼠标芯片。本发明采用的技术方案是:
一种光电鼠标芯片的图像测试方法:使用一个主机连接光电鼠标芯片,所述光电鼠标芯片包括接口控制器、LED灯光控制模块、DSP算法模块、图像读写控制器、存储器和CMOS图像传感器;然后进行以下步骤:
SI,主机通过接口控制器发送控制权转移指令至图像读写控制器,图像读写控制器接管DSP算法模块的控制权;
S2,主机向图像读写控制器发送图像读写指令,图像读写控制器从CMOS图像传感器中获得图像写入存储器,然后从存储器中读出图像,再通过接口控制器将图像传送给主机;S3,主机通过接口控制器发送灯光控制指令至LED灯光控制模块,使得LED灯光控制模块调节LED灯的曝光时间,再按照步骤S2的方法获取不同LED灯的曝光时间下的图像。
[0005]2.如权利要求1所述的光电鼠标芯片的图像测试方法,其特征在于:
在步骤S3之后,通过图像人工查看或图像自动判断的方法对光电鼠标芯片的质量进行判断。
[0006]3.如权利要求2所述的光电鼠标芯片的图像测试方法,其特征在于:
图像自动判断的方法具体为:
主机发送一个预设的LED灯光曝光时间最佳值至光电鼠标芯片中的LED灯光控制模块,LED灯光控制模块按照此LED灯光曝光时间最佳值控制LED灯光,主机再按照步骤S2的方法获取整幅图像;主机对获得的整幅图像中的各像素点亮度值进行比较,计算每个像素点与其周围的像素点亮度值的差值,若存在差值超过设定阈值的情况,则判断该像素点存在问题。
[0007]本发明的优点在于:
(I)实现资源的最大化利用,存储器既能工作时使用,又可以在测试时使用,节省资源,节省开销。
[0008](2)此方法既能进行产品的自动化批量测试,又能人为的人工实时查看图像品质。从而能够对产品的图像品质进行客观的评价。
[0009](3)复用了通用的接口(USB、PS/2、SP1、I2C、RS232等),节省资源同时使测试更加简单、易用。
[0010](4)此测试方法精度高,减少误判的可能性,能够很好地挑选出优质光电鼠标芯片。
[0011](5)能够在能读取图像的基础上,又能控制LED灯光,对光电鼠标芯片的操控比较灵活。
【附图说明】
[0012]图1为本发明的实施例测试系统示意图。
[0013]图2为本发明的测试过程流程图。
【具体实施方式】
[0014]下面结合具体附图和实施例对本发明作进一步说明。
[0015]本发明提出的光电鼠标芯片的图像测试方法,可以通过图1所示的一个测试系统实现。
[0016]图1中的测试系统,包括一个主机,该主机可通过USB、PS/2、SP1、I2C、RS232等接口连接光电鼠标芯片。主机可以是一台PC或者一个微控制器。
[0017]在光电鼠标芯片中,包括接口控制器1、LED灯光控制模块2、DSP算法模块3、图像读写控制器4、存储器5和CMOS图像传感器6。其中的接口控制器I用于连接主机;LED灯光控制模块2连接光电鼠标的LED。
[0018]光电鼠标芯片通过LED灯光照射,光经过透镜折射照射到物体表面,光再经过反射到CMOS图像传感器6,CMOS图像传感器6将光信号转化为电信号,电信号的值经过一系列的处理转换就是图像值。
[0019]在光电鼠标工作时,图像读写控制器4把控制权交给DSP算法模块3,DSP算法模块3控制图像读写控制器4,图像读写控制器4将从CMOS图像传感器6中获得的图像写入存储器5,然后DSP算法模块3通过图像读写控制器4从存储器5中读出图像,将图像读入DSP算法模块3中。
[0020]然后DSP算法模块3可通过对图像计算得到鼠标的位移,鼠标位移数据可通过接口控制器I以及与主机的接口发送给主机。
[0021]当图像不佳(过亮或过暗MtDSP算法模块3可控制LED灯光控制模块2控制LED灯光的曝光时间。
[0022]进行测试时,进行以下步骤:
SI,主机通过接口控制器I发送控制权转移指令至图像读写控制器4,图像读写控制器4接管DSP算法模块3的控制权;
S2,主机向图像读写控制器4发送图像读写指令,图像读写控制器4从CMOS图像传感器6中获得图像写入存储器5,然后从存储器5中读出图像,再通过接口控制器I将图像传送给主机;
S3,主机通过接口控制器I发送灯光控制指令至LED灯光控制模块2,使得LED灯光控制模块2调节LED灯的曝光时间,再按照步骤S2的方法获取不同LED灯的曝光时间下的图像。
[0023]随后,可进行图像人工查看或图像自动判断。
[0024]人工查看主机上得到的图像时,能够看到整幅图像所有的像素点。本实施例一幅图像为256个像素点。在主机的图像中可以清楚的看出是否有污染或者损坏的像素点。还可以观察图像的对比度是否良好。在鼠标运动时,能够观察连续帧运动图像的好坏。还可以观察LED灯光变化时,图像质量如何。
[0025]图像自动判断可在主机上利用程序自动实现,可进行产品的自动化批量测试。
[0026]主机发送一个预设的LED灯光曝光时间最佳值至光电鼠标芯片中的LED灯光控制模块2,LED灯光控制模块2按照此LED灯光曝光时间最佳值控制LED灯光,主机再按照步骤S2的方法获取整幅图像;主机对获得的整幅图像中的各像素点亮度值进行比较,计算每个像素点与其周围的像素点亮度值的差值,若存在差值超过设定阈值的情况,则判断该像素点存在问题。从而可推断CMOS图像传感器有坏点或者上面有污点。
【主权项】
1.一种光电鼠标芯片的图像测试方法,其特征在于:使用一个主机连接光电鼠标芯片,所述光电鼠标芯片包括接口控制器(1)、LED灯光控制模块(2)、DSP算法模块(3)、图像读写控制器⑷、存储器(5)和CMOS图像传感器(6);然后进行以下步骤: SI,主机通过接口控制器(I)发送控制权转移指令至图像读写控制器(4),图像读写控制器(4)接管DSP算法模块(3)的控制权; S2,主机向图像读写控制器(4)发送图像读写指令,图像读写控制器(4)从CMOS图像传感器¢)中获得图像写入存储器(5),然后从存储器(5)中读出图像,再通过接口控制器(1)将图像传送给主机; S3,主机通过接口控制器(I)发送灯光控制指令至LED灯光控制模块(2),使得LED灯光控制模块(2)调节LED灯的曝光时间,再按照步骤S2的方法获取不同LED灯的曝光时间下的图像。
2.如权利要求1所述的光电鼠标芯片的图像测试方法,其特征在于: 在步骤S3之后,通过图像人工查看或图像自动判断的方法对光电鼠标芯片的质量进行判断。
3.如权利要求2所述的光电鼠标芯片的图像测试方法,其特征在于: 图像自动判断的方法具体为: 主机发送一个预设的LED灯光曝光时间最佳值至光电鼠标芯片中的LED灯光控制模块(2),LED灯光控制模块(2)按照此LED灯光曝光时间最佳值控制LED灯光,主机再按照步骤S2的方法获取整幅图像;主机对获得的整幅图像中的各像素点亮度值进行比较,计算每个像素点与其周围的像素点亮度值的差值,若存在差值超过设定阈值的情况,则判断该像素点存在问题。
【专利摘要】本发明提供一种光电鼠标芯片的图像测试方法:使用一个主机连接光电鼠标芯片,然后进行以下步骤:S1,主机通过接口控制器发送控制权转移指令至图像读写控制器,图像读写控制器接管DSP算法模块的控制权;S2,主机向图像读写控制器发送图像读写指令,图像读写控制器从CMOS图像传感器中获得图像写入存储器,然后从存储器中读出图像,再通过接口控制器将图像传送给主机;S3,主机通过接口控制器发送灯光控制指令至LED灯光控制模块,使得LED灯光控制模块调节LED灯的曝光时间,再按照步骤S2的方法获取不同LED灯的曝光时间下的图像。此测试方法精度高,可减少误判的可能性,能够很好地挑选出优质光电鼠标芯片。
【IPC分类】G01N21-88
【公开号】CN104792795
【申请号】CN201510219423
【发明人】徐康, 胡韬
【申请人】无锡英斯特微电子有限公司
【公开日】2015年7月22日
【申请日】2015年4月30日
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