自电容触控面板的缺陷检测装置与检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及内嵌式触摸屏领域，尤其涉及一种自电容触控面板的缺陷检测装置与检测方法。
【背景技术】
[0002]目前，自电容触控面板因其具有结构简单、响应速度快以及灵敏度高等优点而获得了越来越广泛的应用，特别是在便携式移动设备等对体积要求较严格的场合中。为了进一步缩小触控面板的尺寸，现有技术中一般利用触控操作区域内的公共电极层(COM层)分割成的多个小区块来形成触控电极。
[0003]图1为现有技术的IPS液晶显示器的自电容触控面板的结构示意图，图2为现有技术的用于自电容触控面板的缺陷检测方案的示意图。在图1中，11为由公共电极层分割形成的触控电极，12为用于连接每个触控电极与探测电路的信号线，在触控电极11与信号线12之间还设置有绝缘层13，各触控电极11与对应的信号线12通过绝缘层13上的过孔14电连接。由于需要在显示时通过信号线12为每个触控电极11传输公共电极的电压Vcom信号，因此信号线12—般会贯穿整个触控操作区域。具有上述结构的触控面板，易在信号线12和与其连接的触控电极11以外的，且位于同一列的其他触控电极11之间发生短路，进而导致探测电路不能正确识别出触碰的位置以及显示异常。例如在图2中，信号线12a用于连接位于触控电极矩阵第一行第一列的触控电极all，它将贯穿位于第一列的其他触控电极，在信号线12a与除触控电极all以外的其他触控电极之间易发生短路。
[0004]现有技术中检测信号线12与触控电极11之间是否存在上述短路缺陷的检测方案如图2所示。将各奇数列信号线12均连接于检测数据线Tl，各偶数列信号线12均连接于检测数据线T2。实际上，是将触控电极矩阵的各奇数行上的触控电极11均连接于检测数据线Tl，将触控电极矩阵的各偶数行上的触控电极11均连接于检测数据线T2，开关元件用于控制信号线12与检测数据线Tl和T2的接通与断开。可以通过对Tl和T2分别施加检测信号，根据各行触控电极所对应的区块所显示出的画面来判断是否存在短路缺陷。但上述检测方案只能检测出全部奇数行与全部偶数行之间发生短路的情况，而无法进一步确定短路缺陷的具体范围。
[0005]综上，亟需一种新的检测方案以解决上述问题。
【发明内容】
[0006]本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种新的检测方案以确定自电容触控面板的短路缺陷的具体范围。
[0007]为了解决上述技术问题，本申请的实施例首先提供了一种自电容触控面板的缺陷检测装置，设置有与多行触控电极分别连接的多个驱动电路，所述驱动电路包括:预充单元，用于产生为各触控电极同时预置第一电压的充电控制信号；同步单元，用于产生为各触控电极逐行施加第二电压的充电控制信号；输出单元，根据所述充电控制信号分别输出第一电压与第二电压对所述触控电极进行充电；截止单元，根据各行触控电极所具有的电压控制位于该行触控电极前面一行的触控电极的充电路径的开启与关闭。
[0008]优选地，所述驱动电路还包括:锁存单元，与所述同步单元相连接，存储用于逐行启动各驱动电路的触发信号。
[0009]优选地，所述锁存单元的输入端与位于该锁存单元前面一行的锁存单元的输出端相连接。
[0010]优选地，所述截止单元串联接于所述同步单元与所述输出单元之间，所述截止单元的控制信号输入端与位于该截止单元后面一行的输出单元的输出端相连接。
[0011]优选地，所述截止单元通过所述触控电极的第一电压信号开启，通过所述触控电极的第二电压信号关闭。
[0012]优选地，所述截止单元包括开关元件。
[0013]优选地，所述同步单元的时钟信号输入端与所述锁存单元的时钟信号输入端在相邻的两行之间交错连接。
[0014]本申请的实施例还提供了一种自电容触控面板的缺陷检测方法，包括:将所述自电容触控面板区域内的各像素电极充电到第三电压；将各触控电极同时充电到第一电压以开启各触控电极的充电路径；将各触控电极逐行充电到第二电压，并根据各行触控电极区块所对应的显示画面来判断是否存在短路缺陷。
[0015]优选地，在根据各行触控电极区块所对应的显示画面来判断是否存在短路缺陷的步骤中包括:当一行或多行触控电极区块所对应的显示画面未显示预设的画面时，则判断为在位于每一行所述一行或多行触控电极后面一行的触控电极与所述一行或多行触控电极之间和/或与位于所述一行或多行触控电极前面的至少一行触控电极之间存在短路缺陷。
[0016]优选地，所述第三电压等于所述第一电压。
[0017]优选地，所述初始画面包括黑色画面，所述测试画面包括白色画面。
[0018]与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果:
[0019]该装置能够进一步检测出存在于触控电极矩阵中各行触控电极之间的短路缺陷的情况，且该装置结构简单，可靠性高。
[0020]本发明的其他优点、目标，和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书，权利要求书，以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
【附图说明】
[0021]附图用来提供对本申请的技术方案或现有技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分。其中，表达本申请实施例的附图与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，但并不构成对本申请技术方案的限制。
[0022]图1为现有技术的IPS液晶显示器的自电容触控面板的结构示意图；
[0023]图2为现有技术的用于自电容触控面板的缺陷检测方案的示意图；
[0024]图3为本申请的自电容触控面板的缺陷检测装置的驱动电路的结构示意图；
[0025]图4为本申请的自电容触控面板的缺陷检测装置与触控电极矩阵的连接示意图；
[0026]图5为本申请一实施例的自电容触控面板的缺陷检测装置的驱动电路的结构示意图；
[0027]图6为本申请的自电容触控面板的缺陷检测装置的检测时序图；
[0028]图7为本申请另一实施例的自电容触控面板的缺陷检测装置的驱动电路的结构示意图；
[0029]图8为本申请的自电容触控面板的缺陷检测方法的流程示意图。
【具体实施方式】
[0030]以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征，在不相冲突前提下可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。
[0031]图3为本申请的自电容触控面板的缺陷检测装置的驱动电路的结构示意图，图4为本申请的自电容触控面板的缺陷检测装置与触控电极矩阵的连接示意图。结合图3和图4可以看出，该自电容触控面板的缺陷检测装置包含设置在触控电极矩阵41的边缘处与多行触控电极分别连接的多个驱动电路30，每个驱动电路30包括预充单元31、同步单元32、输出单元33、截止单元34与锁存单元35。其中，锁存单元35、同步单元32与截止单元34依次串联形成主充电控制路径，预充单元31与上述串联支路并联接于输出单元33，形成辅充电控制路径。图5为根据本申请的一具体实施例，在该实施例中，并联的两条控制路径共同连接于输出单元33的控制信号输入端，下面结合图4和图5详细说明驱动电路30的结构。
[0032]预充单元31用于产生为各触控电极11同时预置第一电压的充电控制信号。具体的，如图5所示，预充单元31包含一个开关元件311，该开关