一种片式电子元件外观检测机的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子元器件制造检测领域，具体是指将片式电子元件进行外观质量检测分选的一种片式电子元件外观检测机。
【背景技术】
[0002]我国改革开放政策的成功实施，极大地促进了经济的飞速发展，国家日益繁荣昌盛，人民生活水平迅速提高，家用电器进入千千万万家庭。家用电器的核心电路就是由里面的大量电子元件组成，尤其是电容、电感、电阻等三大片式元件，这三大元件的市场需求量每年均以两位数增长。由于家用电器的功能越来越多，体积越来越小，迫使片式元件必须向微型化的方向发展，元件尺寸越做越小，从0805、0603，发展到0402、0201，乃至更小。0603表示片式元件的长宽高为0.06*0.03*0.03英寸。
[0003]随着片式元件的微型化，在生产当中对片式元件外观质量的检测，变得越来越困难；传统的外观检测，是依靠人工，用肉眼直接观察或用肉眼通过显微镜观察，剔除存在外观缺陷的元件。这种工艺存在很大的弊端:一、人的眼睛容易疲劳，出错率及漏检率都相当高，检验质量也不稳定；二、不同的人判断缺陷的标准存在差异，使得检验结果缺乏统一标准；三、生产效率低，尤其不适合微小元器件高速、高效率生产需求；四、人工成本高。
[0004]基于上述原因，为了产品提高质量，降低成本，电子元件的检测分选迟早要走自动检测分选这条路，而且谁早一日采用自动分选机，谁就能在质量和成本上占有竞争优势，这是大多数元件制造商的共识。
[0005]根据这种状况，国外已研制出了用于片式元件尤其是微小元件的自动外观检测分选设备，比如，韩国RTS公司研制出的外观检测机，已在中国大陆多家企业试运行。不过，这类设备价格高，结构复杂，操作难，维修也难，而且检测速度比较慢。检测速度只能达到2000-3000 片 / 分钟。
【发明内容】
[0006]
为了解决现有技术外观检测机存在的效率低，价格高，结构复杂问题，本发明提出了一种效率高，检测精度高、性能可靠的一种片式电子元件外观检测机。
[0007]本发明使用的技术方案如下:
一种片式电子元件外观检测机，包括进料机构、透明转盘输送机构、检测机构、分选机构和控制系统，所述检测机构包括位置检测单元、C C D摄像单元、L E D照明单元、对焦调整单元；所述进料机构由圆盘送料器和直线送料器组成；所述透明转盘输送机构包括玻璃圆盘。
[0008]所述C C D摄像单元的设置至少一个，至多六个，设于玻璃圆盘的上、下或边缘位置；在每个c C D摄像单元中部，设有对焦调整单元；在每个C C D摄像单元旁边，设有LE D照明单元。
[0009]所述位置检测单元，设于玻璃圆盘的上部位置，并且位于直线送料器和C C D摄像单元之间。
[0010]所述分选机构设置一个，包括高速电磁阀和合格仓、不合格仓、重测仓；分选机构设于检测机构之后。
[0011]所述控制系统和进料机构、透明转盘输送机构、检测机构、分选机构电连接。
[0012]本发明工作过程如下:
开机之前，先将片式电子元件倒进圆盘送料器中，开机后，圆盘送料器将片式电子元件输送至直线送料器，自动排列成一字形队列，进入旋转的玻璃圆盘，片式电子元件跟随玻璃圆盘一起转动，到达位置检测单元时，控制系统指示设置于玻璃圆盘上下的多个C CD摄像单元工作，分别摄取片式电子元件六个面的清晰图像，随后图像信息进入控制系统进行处理，与事先储存的不合格品图像数据进行对比，如果两者图像相同或者近似，说明此电子元件为不合格品，分选机构根据数据处理结果将不合格品高速吹进不合格品仓，合格品则进入合格品仓，数据不清晰的则进入重测仓，完成一个检测周期。
[0013]本发明的有益效果是:
I)由于使用玻璃圆盘，实现对电子元件的六个面进行高速检测。
[0014]2)使用一个分选机构，结构简单，维修方便，效率高，减少差错。
[0015]3)检测机构包括位置检测单元、C C D摄像单元、L E D照明单元、对焦调整单元，可以对电子元件的六个面进行直接摄像和传送信息，处理信息效率高，适应高速检测作业。
[0016]4)本发明全自动作业，取代人工操作，生产效率高，检测质量稳定，成本低。
【附图说明】
[0017]图1为本发明一种片式电子元件外观检测机示意图。
[0018]图2为图1中B-B局部剖视放大示意图。
[0019]图中I一圆盘送料器，2—直线送料器，3—检测机构，4一玻璃圆盘，5—控制系统，6一分选机构，7—位置检测单元，31—C C D摄像单元，32—L E D照明单元，33—对焦调整单元，61—合格仓，62—不合格仓，63—重测仓，9一片式电子元件，10—电连接线。
[0020]图中箭头所示为圆盘送料器、玻璃圆盘及片式电子元件的转动方向。
【具体实施方式】
[0021]图1为本发明一种片式电子元件外观检测机示意图，包括进料机构、透明转盘输送机构、检测机构、分选机构和控制系统，所述检测机构包括位置检测单元、c C D摄像单元、L E D照明单元、对焦调整单元；进料机构由圆盘送料器和直线送料器组成；透明转盘输送机构包括玻璃圆盘。
[0022]C C D摄像单元的设置六个，设于玻璃圆盘的上、下或边缘位置；在每个C C D摄像单元中部，设有对焦调整单元；在每个C C D摄像单元旁边，设有L E D照明单元。
[0023]位置检测单元，设于玻璃圆盘的上部位置，并且位于直线送料器和C C D摄像单元之间，当片式电子元件到来时，检测单元通过控制系统指示其它机构工作。
[0024]分选机构设置一个，包括高速电磁阀和合格仓、不合格仓、重测仓；分选机构设于检测机构之后。高速电磁阀图中未示出。
[0025]控制系统和进料机构、透明转盘输送机构、检测机构、分选机构电连接。控制系统除了指挥各机构工作外，还存储大量现有片式电子元件合格品与不合格品图像信息，将被测片式电子元件的即时图像信息进行对比，从而达到对产品进行分选的目的。
【主权项】
1.一种片式电子元件外观检测机，包括进料机构、透明转盘输送机构、检测机构、分选机构和控制系统，其特征在于:所述检测机构包括位置检测单元、c C D摄像单元、LED照明单元、对焦调整单元；所述进料机构由圆盘送料器和直线送料器组成；所述透明转盘输送机构包括玻璃圆盘。2.根据权利要求1所述的一种片式电子元件外观检测机，其特征在于:所述CC D摄像单元的设置至少一个，至多六个，设于玻璃圆盘的上、下或边缘位置；在每个C C D摄像单元中部，设有对焦调整单元；在每个C C D摄像单元旁边，设有L E D照明单元。3.根据权利要求1和2所述的一种片式电子元件外观检测机，其特征在于:所述位置检测单元，设于玻璃圆盘的上部位置，并且位于直线送料器和c C D摄像单元之间。4.根据权利要求1所述的一种片式电子元件外观检测机，其特征在于:所述分选机构设置一个，包括高速电磁阀和合格仓、不合格仓、重测仓；分选机构设于检测机构之后。5.根据权利要求1所述的一种片式电子元件外观检测机，其特征在于:所述控制系统和进料机构、透明转盘输送机构、检测机构、分选机构电连接。
【专利摘要】本发明涉及电子元器件制造检测领域的一种片式电子元件外观检测机，包括进料机构、透明转盘输送机构、检测机构，分选机构和控制系统；进料机构由圆盘送料器和直线送料器组成；透明转盘输送机构包括玻璃圆盘；检测机构包括位置检测单元、ＣＣＤ摄像单元、ＬＥＤ照明单元、对焦调整单元，设于透明玻璃圆盘的上、下及边缘位置，检测机构设置六套；分选机构包括高速电磁阀和合格仓、不合格仓、重测仓；本发明使用玻璃圆盘，实现对电子元件的六个面进行高速检测，使用一个分选机构，结构简单，维修方便，检测机构可以对电子元件的六个面进行直接摄像和传送信息，适应高速检测作业，取代人工操作，检测质量稳定，成本低。
【IPC分类】G01N21/84
【公开号】CN105352962
【申请号】CN201510799608
【发明人】梁耀国, 吴忻生, 梁国衡, 袁鹏, 谢广裕, 江玉娟
【申请人】肇庆市宏华电子科技有限公司
【公开日】2016年2月24日
【申请日】2015年11月19日