样本分析装置及样本分析装置光源部件的更换方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种样本分析装置及样本分析装置光源部件的更换方法。
【背景技术】
[0002]有一种样本分析装置配备有光源部件(比如参照美国专利申请公报第2010/0290952 号)。
[0003]美国专利申请公报第2010/0290952号中公开了一种样本分析装置，它具有运送收纳样本容器的架的运送构件部件以及对运送构件部件提供的样本进行光学测定的检测构件部主机。运送构件部件设置在检测构件部主机前面。检测构件部主机具有机壳。机壳中有光源部件、可拆装地安放光源部件的光源安放部件、通过含样本的分析用试样检测出光源部件照射的光的检测部件。机壳包含侧面地开口的开口部件。光源部件由用户通过开口部件进行更换。
[0004]根据美国专利申请公报第2010/0290952号，由于光源部件设置在检测构件部主机内部，所以光源部件更换作业难以进行，用户期望加以改善。
[0005]本发明的目的就是使样本分析装置的光源部件的更换作业更易于进行。
【发明内容】
[0006]本发明的范围只由后附权利要求书所规定，在任何程度上都不受这一节
【发明内容】
的陈述所限。
[0007]本发明提供:一种样本分析装置，其包括:
运送装置，运送安放样本容器的样本架；测定装置主机，测定所述运送装置运送的所述样本架上安放的所述样本容器中的样本；其中所述运送装置具有可拆装地安放光源部件的光源安放部件；所述测定装置主机具有检测部件，该检测部件用于通过含所述样本的分析用试样检测出所述光源安放部件上安放的所述光源部件照射的光。
[0008]优选地，所述运送装置与所述测定装置主机紧邻配置。
[0009]优选地，所述运送装置具有放置所述样本架的架供应部件、运送放置在所述架供应部件上的所述样本架的架运送部件、存放所述架运送部件运送的所述样本架的架存放部件；所述光源安放部件与所述架供应部件或所述架存放部件紧邻配置。
[0010]优选地，所述运送装置有用于取出、放入所述光源部件的、向方开口的开口部件。
[0011]优选地，所述运送装置与所述测定装置主机紧邻配置；所述测定装置主机具有与所述运送装置相紧邻的前面和与所述前面基本垂直相交的侧面；从侧面看所述开口部件与所述架运送部件重叠。
[0012]优选地，所述架运送部件包括设置所述样本容器的设置面；所述开口部件的上缘部分配置在与所述设置面基本相同的高度位置。
[0013]优选地，所述运送装置与所述测定装置主机紧邻配置；所述测定装置主机具有与所述运送装置紧邻的前面、与所述前面基本垂直相交的第一侧面和第二侧面；所述样本分析装置还包括配置在所述第一侧面一侧的操作屏；所述架供应部件配置于所述第一侧面一侧；所述开口部件与所述架供应部件的所述第一侧面一侧紧邻配置。
[0014]优选地，所述光源安放部件能够通过所述开口部件向上方取出所述光源部件。
[0015]优选地，在平面示图中所述开口部件与所述光源安放部件重叠。
[0016]优选地，在平面示图中所述开口部件面积大于所述光源部件的面积。
[0017]优选地，所述测定装置主机包括:位于所述运送装置紧邻的一侧的相反一侧的里侧、用于从所述测定装置主机内部向外部排出空气的排气口，以及连接所述排气口、将所述光源部件放出的热量引导到所述排气口的风道。
[0018]优选地，还包括连接所述光源部件和所述检测部件的光纤。
[0019]优选地，所述运送装置与所述测定装置主机紧邻配置；所述测定装置主机具有在与所述运送装置紧邻一侧有孔的前面；所述运送装置以所述光纤和所述光源安放部件通过所述孔连接的状态安装在所述测定装置主机上。
[0020]优选地，所述运送装置有用于取出、放入所述光源部件的向上方开口的开口部件；通过混合所述样本和试剂制备所述分析用试样；所述试剂收纳在试剂容器中；所述开口部件上方能够用罩覆盖；所述罩的上面能够设置用于设置所述试剂容器的盖的盖设置部件。[0021 ] 优选地，所述光源部件包括卤素灯。
[0022]优选地，所述测定装置主机包括:样本分装部件，用于将所述运送装置运送的所述样本架上安放的所述样本容器中收纳的样本分装到反应杯中；试剂分装部件，用于将试剂分装到所述反应杯中；所述分析用试样包括所述样本和所述试剂。
[0023]优选地，还包括分析部件，该分析部件根据所述检测部件检测出的信号，分析所述样本中所含有的成分的量或样本中所含有的成分的活性程度。
[0024]本发明还提供一种样本分析装置，包括:配置有操作屏的用于测定样本的测定装置主机，以及具有可拆装地安放光源部件的光源安放部件，在配置有所述操作屏的一侧与所述测定装置主机紧邻设置的机壳；其中，所述测定装置主机具有:检测部件，用于通过含所述样本的分析用试样检测出所述光源安放部件上安放的所述光源部件照射的光。
[0025]优选地，所述机壳有用于取出、放入所述光源部件的向上方开口的开口部件。
[0026]本发明还提供一种更换样本分析装置的光源部件的方法，其特征在于:所述样本分析装置包括:运送安放有样本容器的样本架的运送装置；测定所述运送装置运送的所述样本架上安放的所述样本容器中的样本的测定装置主机；所述方法取出所述运送装置所具有的罩；通过取下所述罩而形成的开口部件更换安放在所述运送装置所具有的光源安放部件上的所述光源部件。
[0027]发明效果
根据本发明，能够很容易地进行样本分析装置光源部件的更换作业。
【附图说明】
[0028]图1为一实施方式涉及的样本分析装置的示意图；
图2为一实施方式涉及的样本分析装置的运送装置和测定装置主机的连接状态图；
图3为一实施方式涉及的样本分析装置的斜视图；
图4为一实施方式涉及的样本分析装置内部的平面图；图5为一实施方式涉及的样本分析装置的光源部件和光源安放部件的斜视图。
【具体实施方式】
[0029]下面参照图1~图5就一实施方式涉及的样本分析装置10的结构进行说明。
[0030]图1所示样本分析装置10是一种用于对混合样本与试剂制备的分析用试样(以下称试样)进行光学测定的装置。样本分析装置10根据测定获得的光学信息对样本成分进行分析。
[0031]样本分析装置10由运送装置10a和测定装置主机10b构成。样本分析装置10在Y2 —侧有运送装置10a，在Y1 —侧有测定装置主机10b。运送装置10a运送安放有样本容器500的样本架500R。测定装置主机10b测定运送装置10a运送的样本架500R上安放的样本容器500中的样本。另外，在本发明书中，所谓“眼前一侧”指在设置状态下样本分析装置10的前侧(Y2侧)。所谓“里侧”指与设置状态下的样本分析装置10眼前一侧相反的一侧(Y1侧)。
[0032]首先，就运送装置10a和测定装置主机10b的连接状态进行说明。然后详细说明运送装置10a和测定装置主机10b。
[0033]如图2所示，运送装置10a具有运送装置机壳100a。运送装置机壳100a是运送装置10a的箱体部分。运送装置机壳100a有一对啮合部件101a。啮合部件101a在运送装置机壳100a的Y1侧端部。啮合部件101a在运送装置机壳100a的X方向两端部。
[0034]测定装置主机10b具有前面101b、第一侧面102b、第二侧面103b、后面104b。测定装置主机10b具有测定装置机壳100b。测定装置机壳100b是测定装置主机10b的箱体部分。前面101b、第一侧面102b、第二侧面103b、后面104b分别是围绕测定装置机壳100b的四周向竖直方向延伸的面。
[0035]前面101b紧邻运送装置10a。前面101b是测定装置机壳100b的Y2 —