2、…、N-1 ;第N光反射透射部5将第N荧光反射至第N光探测部、将第N+1荧光透射至第N+1光探测部；另外，在图3中，光反射透射部I将激发光反射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光透射出去；在图4中，光反射透射部I将激发光透射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光反射出去。
[0034]图5、图6是本实用新型实施例4的发光物质检测装置的结构框图，该实施例是在实施例1上进一步改进的优选实施例，如图5和图6所示，优选地，所述光反射透射部I 2、以及第I至第N光反射透射部为透射反射镜；优选地，所述光汇聚及收集部I为凸透镜、折射式显微镜物镜、折反射式显微镜物镜或反射式显微镜物镜；在图5和图6中，第I光反射透射部3将第I荧光透射至第I光探测部、将其余荧光反射至第2光反射透射部4 ;第i光反射透射部将第i荧光透射至第i光探测部、将其余荧光反射至第i+Ι光反射透射部，i =
2、…、N-1 ;第N光反射透射部5将第N荧光透射至第N光探测部、将第N+1荧光反射至第N+1光探测部；另外，在图5中，光反射透射部I将激发光反射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光透射出去；在图6中，光反射透射部I将激发光透射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光反射出去。
[0035]图7是本实用新型实施例5的物品鉴别系统的结构框图，如图7所示，所述物品鉴别系统8能够对具有发光物质7的物品6进行鉴别，发光物质7可以以涂布、粘贴、印刷等方式转移在标的物表面，或标的物包装上，或标的物附属物上；所述物品鉴别系统8包括上述任一实施例中的发光物质检测装置。
[0036]图8、图9是本实用新型实施例6的物品鉴别系统的结构示意图，该实施例是在实施例I上进一步改进的优选实施例，所述发光物质由近红外光激发而产生近红外荧光和可见荧光，如图8、图9所示，优选地，当N = I时，所述光反射透射组包括第I光反射透射部3，该第I光反射透射部3将光反射透射部I 2透射或反射过来的焚光分离为近红外焚光和可见荧光；第I光探测部和第2光探测部分别探测近红外荧光和可见荧光；进一步地，第I光反射透射部3可以将近红外荧光反射至第I光探测部，将可见荧光透射至第2光探测部，第I光探测部可以采用红外硅光电二极管，如IR-333B/H0/L2器件，或具有可见光抑制能力的红外探测器，第2光探测部可以采用可见光探测器，进一步地，所述可见光探测器采用对可见光灵敏度高、红外光灵敏度低的硅光电二极管，进一步地，对于波长大于800nm的光，第I光反射透射部的透射率大于70% ;对于波长小于SOOnm的光，所述第I光反射透射部的反射率大于70% ;进一步地，第I光反射透射部3还可以将可见荧光反射至第I光探测部，将近红外荧光透射至第2光探测部，第I光探测部可以采用可见光探测器，进一步地，所述可见光探测器采用对可见光灵敏度高、红外光灵敏度低的硅光电二极管；第2光探测部可以采用红外硅光电二极管，如IR-333B/H0/L2器件，或具有可见光抑制能力的红外探测器，进一步地，对于波长大于SOOnm的光，第I光反射透射部3的反射率大于70% ;对于波长小于SOOnm的光，所述第I光反射透射部3的透射率大于70% ;;作为优选，所述光反射透射部I 2在近红外光波长范围内，对近红外光的反射率为40?60% ;所述光反射透射部I 2在可见光波长范围内，对可见光的透射率为70%以上；同样地，还包括:将光反射透射部I 2反射或透射过来的激发光汇聚至发光物质，并收集发光物质发射的荧光的光汇聚及收集部1，进一步地，光汇聚及收集部I为凸透镜、折射式显微镜物镜、折反射式显微镜物镜或反射式显微镜物镜；进一步地，所述激发光源为近红外光源，当第I光探测部或第2光探测部为可见光探测器时，在激发光源和可见光探测器之间还配置有对激发光进行衰减或滤除的滤光器，当第I光探测部或第2光探测部为近红外光探测器时，在激发光源关闭后实现近红外荧光信号的探测；另外，在图8中，光反射透射部I将激发光反射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光透射出去；在图9中，光反射透射部I将激发光透射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光反射出去；通过该实施例能够实现对具有激发下发出近红外荧光和可见荧光的发光物质的物品的检测和鉴别。
[0037]以上所述，仅为本实用新型较佳的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种发光物质检测装置，其特征在于，所述检测装置包括: 提供激发光的激发光源； 将激发光反射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光透射出去，或者将激发光透射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光反射出去的光反射透射部I ; 用于将光反射透射部I透射或反射过来的荧光通过反射和透射分离为不同荧光的光反射透射组；所述光反射透射组包括第I至第N光反射透射部； 第I光反射透射部将光反射透射部I透射或反射过来的荧光分离为第I荧光和其余荧光；所述第I光反射透射部将第I荧光反射至第I光探测部、将其余荧光透射至第2光反射透射部，或者将第I荧光透射至第I光探测部、将其余荧光反射至第2光反射透射部； 第i光反射透射部将第i_l光反射透射部反射或透射过来的荧光分离为第i荧光和其余荧光；所述第i光反射透射部将第i荧光反射至第i光探测部、将其余荧光透射至第i+1光反射透射部，或者将第i荧光透射至第i光探测部、将其余荧光反射至第i+Ι光反射透射部，i = 2、...、N-1 ； 第N光反射透射部将第N-1光反射透射部反射或透射过来的荧光分离为第N荧光和第N+1荧光；所述第N光反射透射部将第N荧光反射至第N光探测部、将第N+1荧光透射至第N+1光探测部，或者将第N荧光透射至第N光探测部、将第N+1荧光反射至第N+1光探测部； 分别用于探测第I至第N+1荧光信号的第I至第N+1光探测部。
2.根据权利要求1所述的发光物质检测装置，其特征在于所述检测装置还包括:将光反射透射部I反射或透射过来的激发光汇聚至发光物质，并收集发光物质发射的荧光的光汇聚及收集部。
3.根据权利要求1所述的发光物质检测装置，其特征在于当第j荧光与激发光不在同一波长范围内，在激发光源和第j光探测部之间还配置有对激发光进行衰减或滤除的滤光器，j = 1、2、…、N、N+1。
4.根据权利要求1所述的发光物质检测装置，其特征在于当第j荧光与激发光在同一波长范围内，第j光探测部在激发光源关闭后实现第j荧光信号的探测，j = 1、2、…、N、N+1。
5.根据权利要求1所述的发光物质检测装置，其特征在于所述光反射透射部1、以及第I至第N光反射透射部为透射反射镜。
6.根据权利要求2所述的发光物质检测装置，其特征在于所述光汇聚及收集部为凸透镜、折射式显微镜物镜、折反射式显微镜物镜或反射式显微镜物镜。
7.—种物品鉴别系统，所述物品上具有发光物质，其特征在于所述物品鉴别系统包括如权利要求1至6任一项所述的发光物质检测装置。
8.根据权利要求7所述的物品鉴别系统，所述发光物质由近红外光激发而产生近红外荧光和可见荧光，其特征在于当N = I时，所述光反射透射组包括第I光反射透射部，该第I光反射透射部将光反射透射部I透射或反射过来的焚光分离为近红外焚光和可见焚光；第I光探测部和第2光探测部分别探测近红外荧光和可见荧光。
9.根据权利要求8所述的物品鉴别系统，其特征在于所述光反射透射部I在近红外光波长范围内，对近红外光的反射率为40?60% ;所述光反射透射部I在可见光波长范围内，对可见光的透射率为70 %以上。
10.根据权利要求8所述的物品鉴别系统，其特征在于对于波长大于SOOnm的光，第I光反射透射部的反射率大于70% ;对于波长小于SOOnm的光，所述第I光反射透射部的透射率大于70%。
【专利摘要】本实用新型公开了一种发光物质检测装置、物品鉴别系统；所述检测装置包括：激发光源；将激发光反射至发光物质，并将发光物质由激发光照射而发射的荧光透射出去的光反射透射部Ⅰ；用于将光反射透射部Ⅰ透射过来的荧光通过反射和透射分离为不同荧光的光反射透射组；所述光反射透射组包括第1至第N光反射透射部；分别用于探测第1至第N+1荧光信号的第1至第N+1光探测部。本实用新型通过多个光反射透射部的设置，能够有效实现不同荧光的分离，并且通过多个光反射透射部构建荧光传导和探测光路系统，便于光探测部与待测荧光的对准，实现探测的不同荧光来自同一检测区域，进而保证待测特征的一致性，提高了检测结果的准确程度和可靠性。
【IPC分类】G01N21-64
【公开号】CN204374085
【申请号】CN201520095146
【发明人】于涛, 约翰·M·N·休斯顿, 汪卫平
【申请人】优品保技术（北京）有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2015年2月10日