步加寿命试验下数控系统可靠性评定系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开一种步加寿命试验下数控系统可靠性评定系统。数控系统可靠性评估是对数控系统可靠性水平的定量评价，在可靠性增长过程中是必不可少的。本发明主要包括基于温-湿双应力的加速试验，优化设设计针对数控系统可靠性评估的双应力加速退化试验，降低了试验费用、缩短了试验周期；采用双应力加速退化模型，丰富试验数据；针对数控系统竞争失效的特点，建立可靠性评估模型；针对失效数据小样本的特征，采用Bayes方法对模型参数进行评估，提高评估准确度。
【专利说明】步加寿命试验下数控系统可靠性评定系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种数控系统可靠性评定系统。特别是涉及一种高效、可靠性高的步加寿命试验下数控系统可靠性评定系统。
【背景技术】
[0002]目前可靠性评估常用的方法为基于失效时间数据的评估方法，这种方法所用失效数据的来源主要有两种:一种是被广泛采用的寿命试验方法，另一种方法是目前应用较多的加速试验方法。
[0003]寿命试验的缺点是数据获取所需的试验时间长、费用高，对于高可靠长寿命数控系统来说是难以承受的。在此情况下，如何对其进行可靠性评估，国内外许多学者进行了研究。戴怡、游达章、凌光等基于工作现场收集的故障数据应用Bayes理论对数控系统评估方法开展了研究。但在评估过程中所用数据需要较长时间的积累，影响了评估结果的时效性。
[0004]加速寿命试验包括恒加试验、步加试验和序加试验。步加试验相对于恒加试验，具有试样失效较快，所需样本量较小的优点；相对于序加试验，又具有统计方法较成熟，试验设备简单的优点，因此被认为是加速试验在工程应用中的一个发展方向。为进一步缩短试验时间、减小试验的样本量，陈文华、钱萍等学者对试验方案的优化进行了研究。在单应力加速试验中，为了保持产品的失效机理在试验过程中保持不变，应力水平不宜提得过高，这样试验的时间就会增加。为了进一步把试验时间缩短，许多学者开始在两个加速应力同时作用下加速产品的失效，这就是双应力加速寿命试验。目前，采用较多的应力有温度、振动、湿度和电应力等。
[0005]但以上研究工作大多是针对单个元件、部件开展的，针对数控系统的双应力加速试验则未见报道。数控系统主要是由元器件、电路板、电连接器和绝缘材料等组成的。
【发明内容】
[0006]本发明所要解决的技术问题是，提出了一种高效、可靠性高的步加寿命试验下数控系统可靠性评定系统。
[0007]本发明所采用的技术方案是:
[0008]I快速评估试验方案
[0009]针对采用现场跟踪试验故障数据的可靠性评估方法存在的不足，提出在失效机理不变的前提下，开展温-湿双应力步加试验，缩短试验周期，降低试验费用。温-湿双应力步加试验下数控系统快速评估方案。
[0010]2小样本评估方案
[0011]2.1基于最大熵原理确定分布参数的联合验前分布
[0012]设( η，m)关于η，m的边缘分布密度分别是π n ( Π , m)、π m ( n , m),则有:
OO
[0013]πη(η,ιη)= ^π(η, m)dm
-CO[0014]
【权利要求】
1.一种步加寿命试验下数控系统可靠性评定系统，其特征在于它包括:基于温-湿双应力的加速试验，采用双应力加速退化模型建立可靠性评估模型，采用Bayes方法对模型参数进行评估。
【文档编号】G05B23/02GK103777621SQ201210395391
【公开日】2014年5月7日 申请日期:2012年10月18日 优先权日:2012年10月18日
【发明者】李彬, 何兴军, 刘学江 申请人:天津职业技术师范大学