专利名称：决定存储器模块控制信号的品质参数的方法及其电子装置的制作方法
技术领域：
本发明有关于一种电脑设定的方法及其电子装置。
背景技术：
随着电脑技术的提升，使用者除了一般正常的使用需求外，有时也想要对于系统 的中央处理单元(CPU)或存储器模块进行更进一步的微调。通过使中央处理单元(CPU) 或存储器模块工作于比原来更高的频率下的超频技术，可以进一步提升系统的执行效能。 为了达到此目的，在高阶的主板上，在储存有包含电脑里所有信息的基本输入输出系统 (basic input/output system, BIOS)中会提供存储器模块的控制信号的相关选项如地址 /指令(Address/Command,简称AddrCmd)、芯片选择(chip select,简称CS) /存储器芯片 内部的存储器信号终端电阻(on-die termination,简称ODT)、数据选通脉冲信号(Data strobe,简称DQS)以及时脉致能(clock enable,简称CKE)控制信号的微调(FineDelay)， 让超频玩家或硬件工程师可以手动做一些微调以增加存储器的超频性。
然而，在现有的架构下，这些设定必须于重开机后才会执行，而且必须在操作系统 下用测试程序才能知道微调的结果是否可正常运作。举例来说，使用者必须反复调整BIOS 中的存储器信号相关的选项后，重开机到磁盘操作系统(DOS)下直接量测相关信号的输出 或执行相关测试程序来检查系统的稳定性，以确定是否有足够的信号边限(margin)来做 为超频的空间。如果微调后的结果反而会降低系统的稳定度或使得中央处理单元(CPU)或 存储器模块无法操作于所设定的参数时，不仅无法提升系统的效能，还有可能导致系统数 据遗失或受损。 因此，需要一种可以简单得到存储器相关控制信号的相关信号边限的方法，以方 便使用者进行超频。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的之一即在于提供一种决定存储器模块的控制信号的参数 的方法以及其电子装置，可以简单得到存储器相关控制信号的信号边限，以方便使用者安 全地进行超频。 基于上述目的，本发明提供一种决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法，
适用于一电子装置，其中电子装置至少包括一中央处理单元以及一存储器模块且存储器模
块包括多个品质参数并工作于一第一频率。方法包括下列步骤。执行一中央处理单元超频
程序，以得到一可正常工作的最高中央处理单元频率，其中中央处理单元超频程序用以调
整该中央处理单元的频率。接着，将中央处理单元的频率调整至最高中央处理单元频率，致
使存储器模块工作于一第二频率，其中第二频率高于该第一频率。之后，调整一品质参数，
并针对品质参数调整后的系统执行一存储器测试，以得到品质参数的一上限值与一下限
值。最后，利用品质参数的上限值与下限值，决定出品质参数的一最佳值。 本发明另提供一种电子装置，用以决定存储器模块的控制信号的品质参数，其包括一中央处理单元、一存储器模块、一超频单元、一调整单元以及一决定单元。存储器模块 具有一品质参数且工作于一第一频率。超频单元执行一中央处理单元超频程序，以得到一 可正常工作的最高中央处理单元频率，将中央处理单元的频率调整至最高中央处理单元频 率，致使存储器模块工作于一第二频率，其中第二频率高于第一频率且中央处理单元超频 程序用以调整中央处理单元的频率。调整单元调整一品质参数，并针对品质参数调整后的 系统执行一存储器测试，以得到品质参数的一上限值与一下限值。决定单元利用品质参数 的上限值与下限值，决定出品质参数的一最佳值。 本发明另提供一种决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法，适用于一电子 装置，其中电子装置至少包括一中央处理单元以及一存储器模块且该存储器模块包括多个 品质参数。方法包括下列步骤。首先，调整一品质参数，并针对品质参数调整后的系统执行 一存储器测试，以得到品质参数的一上限值与一下限值。接着，利用品质参数的上限值与下 限值，决定出品质参数的一最佳值。其中，品质参数至少包括一地址/指令信号延迟微调 (fine delay) 、一 CS/0DT信号延迟微调、DQS信号延迟微调以及CKE信号延迟微调。
为使本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举出较佳实施 例，并配合所附图式，作详细说明如下。
图1所示为一依据本发明实施例的电子装置的区块示意图。 图2所示为一依据本发明实施例的决定存储器模块的控制信号的品质参数的方 法的流程图。 图3所示为另一依据本发明实施例的决定存储器模块的控制信号的品质参数的 方法的流程图。 图4所示为一依据本发明实施例的品质参数与相关设定值的对照表。 图5所示为一依据本发明实施例的决定存储器模块的控制信号的品质参数的方
法的详细流程。 图6所示为一依据本发明实施例的测试样本挑选过程的示意图。
具体实施例方式
本发明实施例中提供一种决定存储器模块控制信号的品质参数的方法。 前述控制信号可为AddCmd信号、CS/ODT信号、DQS信号以及CKE信号等；而前述品
质参数可为AddrCmd信号延迟(fine delay) 、CS/ODT信号延迟、DQS信号延迟(fine delay)
以及CKE信号延迟等。 该决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法可用以于BIOS内提供可以辅助
超频玩家或硬件工程师微调的功能，使其可以容易地知道如何微调才能增加系统稳定度或
超频性，而且不会有系统数据遗失或受损的疑虑。于每次微调后，自动或手动执行存储器相
关测试，以确认微调结果，进而找出可使存储器模块稳定工作的控制信号的品质参数的信
号边限，并由信号边限中得到一最佳值，以提供使用者最佳的超频性。值得注意的是，存储
器模块的控制信号的品质参数的调整是在不改变存储器模块原有的规范下进行的。 图1所示为一依据本发明实施例的电子装置100的区块示意图。如图所示，电子装置100中至少包括了一中央处理单元(central processing unit,CPU) 110、一存储器控 制器120、一存储器模块130、一超频单元140、一调整单元150、一决定单元160以及一测试 单元170。其中，中央处理单元110通过一总线与存储器控制器120、超频单元140、调整单 元150、决定单元160以及测试单元170耦接。 存储器控制器120通过多个的控制信号S以控制存储器模块130的组态，并对 其进行存取。其中控制信号S至少包括AddrCmd、 CS/ODT、 DQS以及CKE控制信号。其中， AddrCmd信号用以指定存储器模块130中进行数据存取的存储器单元，CS信号用以致能存 储器模块130，CKE控制信号用以致能存储器模块130的时脉信号以及ODT信号用以致能用 以接收数据信号的内部(on-die)终端电阻。这些控制信号的品质参数则至少包括每一信 号的预设时间以及延迟时间微调，但不限于此。举例来说，品质参数调整包括AddCmd延迟 微调(finedelay) 、CS/ODT延迟微调、DQS延迟微调以及CKE延迟微调等等。CS/0DT延迟微 调用以控制CS以及ODT接脚与预设时间之间的延迟时间。CKE预设时间设定用以设定CKE 接脚的预设时间，CKE延迟微调则用以控制CKE接脚与预设时间之间的延迟时间。
通过不同的设定值，可以改变存储器模块130的效能。然而，必须找出存储器模块 130的这些品质参数的信号边限，才能确保存储器模块130正常稳定地运作。假设存储器模 块130的品质参数的设定值超出了信号边限的范围，可能会降低存储器模块130的效能，甚 至造成存储器模块130的毁坏。 于实施例中，品质参数可包括一个自动以及多个手动设定值选项，用以提供使用 者微调品质参数的设定值。 请参见图4。图4所示为一依据本发明实施例的品质参数与相关设定值的对照表 400。举例来说，CS/0DT的预设时间可包括有[自动]、[1/2 MEMCLK]、 [1 MEMCLK]的设定 值，CS/0DT延迟时间可包括有[自动]、[无延迟]、[l/MMEMCLK延迟]、[2/64 MEMCLK延 迟]、…[31/64 MEMCLK延迟]的设定值以供使用者进行选择，其中MEMCLK表示系统的存 储器模块时脉周期。举例来说，当CS/0DT延迟时间设定为[2/64MEMCLK延迟]时，表示CS/ ODT延迟时间为CS/0DT预设时间后的2/64个系统的存储器模块时脉周期的时间。
当启动存储器模块130的控制信号的品质参数的微调功能时，超频单元140执行 一中央处理单元超频程序，调整系统频率(即中央处理单元110的工作频率)以得到一可 正常工作的最高中央处理单元频率。调整单元150用以调整选取的控制信号的品质参数的 设定值，测试单元170于调整单元150的每次调整后，针对系统执行一存储器测试，以得到 每一品质参数的一上限值与一下限值。决定单元160利用调整单元150得到的每一品质参 数的上限值与下限值，依据一既定规则决定出每一品质参数的一最佳值。详细的数据处理 流程将介绍于下。 图2所示为一依据本发明实施例的决定存储器模块的控制信号的品质参数的方 法200的流程图。请同时参照图1。首先，当使用者欲进行存储器模块的控制信号的参数微 调时，于步骤S210，于BIOS程序执行时，启动存储器模块的控制信号的参数微调功能。在启 动存储器模块的控制信号的参数微调功能后，装置100可提供一个包括所有可调整品质参 数的选项列表的选单(图未示)，使用者可从选单中选取一个想要微调的品质参数。每个品 质参数具有一预设值，此预设值可使存储器模块稳定正常地工作。 一般而言，这些品质参数 在每个频率下具有一个信号边限，随着存储器模块的类型或布局不同，此信号边限也将有所不同。 接着，于步骤S220，调整单元150自动调整选取的控制信号的品质参数的设定值， 并且于调整后，由测试单元170针对系统执行一存储器测试，对存储器模块130进行读写测 试以测试系统的稳定性，藉此得到选取品质参数的一上限值与一下限值。此上限值与下限 值可界定其信号边限。换言之，只要设定的参数值在上限值与下限值之间，存储器模块130 皆可正常稳定地工作。 之后，于步骤S230，决定单元160再利用得到的品质参数的上限值与下限值，依据 既定的规则，决定出品质参数的一最佳值。此既定的规则可以是一运算方式，例如可以将上 限值与下限值平均后再将其平均值设为最佳值，但不限于此。 最后，使用者便可将决定出的最佳值设为选取的控制信号的品质参数的预设值， 中央处理单元110将依据新的预设值(最佳值)控制存储器控制器120相关控制信号的输 出以存取存储器模块130。由于此最佳值已事先经过验证，可于中央处理单元110的有效工 作频率下保持系统稳定的运作，因此可使得电子装置100得到最佳的超频性。
为了能更快速地找到信号边限的上下限值，于另一实施例中，可于步骤S220之前 由超频单元140先执行一中央处理单元超频程序。请参见图3。 图3所示为另一依据本发明实施例的决定存储器模块的控制信号的品质参数的 方法300的流程图。 方法300与方法200类似，差别在于，在步骤S210执行后，先执行步骤S212的中 央处理单元超频程序，以得到一可正常工作的最高中央处理单元频率。中央处理单元超频 程序用以调整中央处理单元的频率，可以将目前的中央处理单元频率逐步增加并进行测试 以找出可正常工作的最高中央处理单元频率。接着，于步骤S214，将中央处理单元频率调整 到最高频率下。关于中央处理单元超频程序如何得到可正常工作的最高中央处理单元频率 的详细方法请参见以下图5的说明。 当中央处理单元频率调整到最高频率时，存储器模块的工作频率也将由原本的频 率调整至比原本的频率高且对应此最高频率的新工作频率下。 之后，再将存储器模块操作于新工作频率下执行步骤S220以及S230，自动调整选 取的控制信号的信号品质参数的设定值，并且于调整后针对品质参数调整后的系统执行一 存储器测试，以测试系统的稳定性，藉此得到选取信号品质参数的一上限值与一下限值。再 利用得到的信号品质参数的上限值与下限值，依据既定的规则，决定出信号品质参数的一 最佳值。 已知地，当中央处理单元频率提高时，存储器模块的频率也会被相对地提高，因此 当执行中央处理单元超频程序时，存储器模块也会相对地被超频。又，存储器模块于不同的 频率下具有不同的信号边限，并且工作频率愈高时，其信号边限愈小，因此所需的上下限值 寻找时间也会愈少。 举例来说，假设存储器模块的某一品质参数于一第一频率(例如500MHz)下的信 号边限为10-90，则当其操作于一比第一频率更高的第二频率(例如600MHz)下的信号边限 可能縮小为30-70。换言之，当存储器模块的频率提高时，可以更快速地找到信号边限。
图5所示为一依据本发明实施例的决定存储器模块的控制信号的品质参数的方 法500的详细流程。假设于此实施例中，电子装置100至少包括具有可调整存储器选项的
8功能，并且使用者欲进行存储器选项的微调，于是进入BIOS设定画面，选择想要微调的品 质参数的选项(例如图4中的"CS/0DT延迟微调"选项)后，按预设的热键启动自动微调功 能。 接着，执行步骤S510-S530的中央处理单元超频程序以找出中央处理单元所能容 许的最高工作频率，其作法主要如下 如步骤S510，系统频率自动逐步增加，并且每增加一定频率后，自动执行BIOS内 建的相关存储器测试程序。接着，如步骤S520，判断存储器测试结果。如果存储器测试结果 为正确(即步骤S520的是)，则继续执行步骤S520-S530，再将系统频率自动逐步增加后执 行BIOS内建的相关存储器测试程序，并判断存储器测试结果。反之，如果存储器测试结果 为不正确(即步骤S520的否)，如步骤S530，则回复上一次测试结果正确的频率。此时，上 一次测试结果正确的频率即为中央处理单元所能容许的最高工作频率。
为进一步说明并便利区分中央处理单元超频程序中不同时点的存储器测试，以下 将系统频率第一次增加后的存储器测试称为初始存储器测试；初始存储器测试结果为正确 而再次增加系统频率后的存储器测试称作复加存储器测试。值得注意的是，初始存储器测 试及复加存储器测试，在实质上仍为BIOS内建的相关存储器测试程序所进行的存储器测 承上而言，当欲找出中央处理单元所能容许的最高工作频率时，先将一中央处理 单元频率递增一既定值(例如一既定频率)以产生一第一测试值，并就第一测试值执行一 初始存储器测试。若初始存储器测试的结果为正确时，将第一测试值再递增一既定值以产 生一第二测试值，并就第二测试值执行一复加存储器测试。若复加存储器测试的结果为正 确时，将第二测试值递增既定值以产生一第三测试值，并就第三测试值再次执行一复加存 储器测试；如此依前法判断、递增既定值并执行复加存储器测试，直到复加存储器测试的结 果为不正确时，以最后测试结果正确的测试值设为最高中央处理单元频率(举例而言，若 再次执行的复加存储器测试的结果为不正确时，便将第二测试值设为最高中央处理单元频 率)。 反之，若初始存储器测试的结果为不正确时，便将未递增既定值前的中央处理单 元频率设为最高中央处理单元频率。 完成中央处理单元超频程序之后，再执行步骤S540-S590，以找出品质参数中设定 值选项的上下限值，其作法主要如下 如步骤S540，将想要微调的选项内容，从原本的预设值逐步降低设定，并且每降低 一定程度，自动执行BI0S内建存储器测试程序。接着，如步骤S550，判断存储器测试结果是 否正确。如果存储器测试结果为正确(步骤S550的是)，则继续执行步骤S540-S550，再将 选项的设定值自动逐步降低，执行BIOS内建存储器测试程序并判断存储器测试结果是否 正确。如果存储器测试结果有问题(步骤S550的否)，如步骤S560，回复上一次测试结果 为正确的设定值并记录为此选项的下限值。 接着，如步骤S570，将想要微调的选项内容，从原本的预设值逐步增加设定，并且 每增加一定程度，自动执行BIOS内建存储器测试程序。接着，如步骤S580，判断存储器 测试结果是否正确。如果存储器测试结果为正确(即步骤S580的是)，则继续执行步骤 S570-S580，再将选项的设定值自动逐步增加，执行BIOS内建存储器测试程序并判断存储器测试结果是否正确。如果存储器测试结果为不正确(即步骤S580的否)，如步骤S590， 回复上一次测试结果为正确的设定值并记录为此选项的上限值。 为进一步说明并便于区分不同时点的存储器测试，以下将品质参数第一次调整后 的存储器测试称为初始存储器测试；初始存储器测试结果为正确而再次调整品质参数后的 存储器测试称作复加存储器测试。 承上而言，当欲找出品质参数中选项的上限值时，先将品质参数中的预设值递增 一既定值以产生一第一测试值；再就该第一测试值执行一初始存储器测试，并根据初始存 储器测试的结果判断是否要执行一复加存储器测试。 若初始存储器测试的结果为正确时，将第一测试值再递增既定值以产生一第二测
试值，并就该第二测试值执行一复加存储器测试。若该复加存储器测试的结果为正确时，将
第二测试值再递增既定值以产生一第三测试值，并再次就该第三测试值执行一复加存储器
测试；依前法判断、递增既定值并执行复加存储器测试，直到复加存储器测试的结果为不正
确时才停止复加存储器测试，并以最后测试结果为正确的测试值设为上限值。 反之，若该初始存储器测试的结果为不正确时，便直接将前述品质参数中的预设
值设为上限值。 另外一方面，当欲找出品质参数中选项的下限值时，先将品质参数中的预设值递 减一既定值以产生一第一测试值；再就该第一测试值执行一初始存储器测试，并根据初始 存储器测试的结果判断是否要执行一复加存储器测试。 若该初始存储器测试的结果为正确时，将第一测试值再递减一既定值以产生一第 二测试值，并就该第二测试值执行一复加存储器测试。若该复加存储器测试的结果为正确 时，将第二测试值再递减既定值以产生一第三测试值，并再次就该第三测试值执行一复加 存储器测试；依前法判断、递减既定值并执行复加存储器测试，直到复加存储器测试的结果 为不正确时才停止复加存储器测试，并以最后测试结果为正确的测试值设为下限值。
反之，若该初始存储器测试的结果为不正确时，便直接将前述品质参数中的预设 值设为下限值。 经过此调整找出品质参数的选项的上下限值后，接着，如步骤S592，利用上下限值 以及既定规则，产生最佳值。举例来说，可将上下限值的平均值设为此选项最大信号边限 (margin)的最佳值。之后，使用者可以根据自动微调的结果来设定选项，将其参数值设为此 最佳值，即可有最佳超频性。 此外，实施例中还包括各种不同品牌存储器模块的相关测试程序以及数种不同的 存储器测试样本(pattern)群组，这些测试程序以及存储器测试样本群组将储存于测试程 序及样本库180中。测试单元170可以依据测得的存储器模块类型选择合适的测试程序以 及测试样本，以对存储器不同区块做读写测试，更准确地找出存储器模块的控制信号的信 号品质参数的信号边限。 图6所示为一依据本发明实施例的测试样本挑选过程的示意图。如图所示，首先， 如步骤S610，先判别出存储器模块类型。当判别出存储器模块类型之后，如步骤S620，测试 单元170可依据判别出的存储器模块类型，由测试程序及样本库180中得到对应判别出的 存储器模块类型的测试程序以及测试样本群组。其中，此测试样本群组包括可用于存储器 模块的一或多个存储器模块测试样本。接着，如步骤S630，由测试样本群组中挑选一测试样本以进行存储器测试。于步骤S630中，装置可提供一选单，列出测试样本群组中的所有测
试样本，以供使用者进行选择。举例来说，测试样本群组中可包含一第一测试样本以及一第
二测试样本，其中第一测试样本将存储器模块全部写入1再读出判断存储器模块是否正常
工作，而第二测试样本将存储器模块全部写入0再读出判断是否正常工作。同时使用第一
测试样本以及第二测试样本进行测试，将进一步确认存储器模块的稳定性。 因此，通过上述的存储器测试样本挑选过程，使用者可以选择多种不同的存储器
测试样本进行测试，可更进一步确认存储器模块的稳定性，进而获得更高的超频性。 此外，于一实施例中，使用者也可选择手动调整品质参数的设定值，当使用者设定
好欲调整的设定值之后，选项设定值一变动之后，就立刻执行设定(不用重新开机)，并可
按另一热键执行存储器测试程序以得知调整的参数是否可使存储器模块稳定工作。 举例来说，使用者可以输入一手动调整命令，并输入欲调整的选项的设定值。例
如，请参见图4，使用者可以选择除了 [自动]之外的其中一个设定值以指定其设定值。当
使用者设定完成后，可以按一热键以自动执行存储器测试程序以测试存储器模块是否可正
常工作于该欲调整的选项值下。存储器测试的结果将立刻回报于使用者，倘若测试结果有
问题时，表示设定的参数值不正确，因此使用者便不会使用这个参数来进行超频，可确保存
储器模块不会操作于不当的设定值下，不会有系统数据遗失或受损的疑虑。 综上所述，依据本发明的决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法及相关装
置，当存储器的控制信号的参数的微调功能被启动时，电子装置将自动执行一中央处理单
元(CPU)超频程序，以将中央处理单元设定于一可正常工作的最高频率，进而使得存储器
模块的频率也跟着提高，接着再由提高的频率下，执行内建的存储器测试程序，确认调整的
结果，进而测得这些控制信号的参数的一信号边限，最后再利用信号边限的上下限值以及
一特定规则，得到控制信号的参数的最佳值，由于微调的结果于调整时即可得知，不用进入
操作系统，因此不会有系统数据遗失或受损的疑虑。 上述说明提供数种不同实施例或应用本发明的不同方法。实例中的特定装置以及 方法是用以帮助阐释本发明的主要精神及目的，当然本发明不限于此。 因此，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉 此项技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做些许更动与润饰，因此本发明的保护 范围当视权利要求书所界定者为准。
权利要求
一种决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法，适用于电子装置，其中上述电子装置至少包括中央处理单元以及包括多个品质参数并工作于第一频率的存储器模块，其特征是，上述方法包括下列步骤执行中央处理单元超频程序，以得到可正常工作的最高中央处理单元频率，其中上述中央处理单元超频程序用以调整上述中央处理单元的频率；将上述中央处理单元的频率调整至上述最高中央处理单元频率，致使上述存储器模块工作于第二频率，其中上述第二频率高于上述第一频率；调整至少一个上述品质参数，并针对品质参数调整后的系统执行存储器测试，以得到上述品质参数的上限值与下限值；以及利用上述品质参数的上述上限值与上述下限值，决定出上述品质参数的最佳值。
2. 根据权利要求1所述的方法，其特征是，上述执行上述中央处理单元超频程序以得 到上述可正常工作的最高中央处理单元频率的步骤包括将中央处理单元频率递增一频率，并执行初始存储器测试；以及 判断上述初始存储器测试结果是否为正确若上述初始存储器测试结果为正确，则再递增上述频率，并执行复加存储器测试及判 断上述复加存储器测试结果是否为正确；若上述复加存储器测试结果为正确，则再递增上 述频率并执行一复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否为正确；而若上述复 加存储器测试结果为不正确，则回复上一次测试结果为正确的频率，并以上述频率为最高 中央处理单元频率；而若上述初始存储器测试的结果为不正确时，将上述中央处理单元频率设为上述最高 中央处理单元频率。
3. 根据权利要求1所述的方法，其特征是，其中上述品质参数具有预设值，并且上述得 到上述品质参数的上述下限值的步骤包括将上述预设值递减既定值，并执行初始存储器测试；以及 判断上述初始存储器测试结果是否为正确；若上述初始存储器测试结果为正确，则再递减上述预设值，并执行复加存储器测试及 判断上述复加存储器测试结果是否为正确；若上述复加存储器测试结果为正确，则再递减 上述预设值并执行一复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否为正确；而若上 述复加存储器测试结果为不正确，则回复上一次测试结果为正确的预设值，并以上述预设 值为上述下限值；若上述初始存储器测试的结果为不正确时，将上述预设值设为上述下限值。
4. 根据权利要求3所述的方法，其特征是，其中得到上述品质参数的上述上限值的步 骤包括将上述预设值递增一既定值，并执行一初始存储器测试；以及 判断上述初始存储器测试结果是否正确；若上述初始存储器测试结果为正确，则再递增上述预设值，并执行复加存储器测试及 判断上述复加存储器测试结果是否正确；若上述复加存储器测试结果为正确，则再递增上 述预设值并执行一复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否正确；而若上述复 加存储器测试结果为不正确，则回复上一次测试结果为正确的预设值，并以上述预设值为上述上限值；若上述初始存储器测试的结果为不正确时，将上述预设值设为上述上限值。
5. 根据权利要求1所述的方法，其特征是，其中上述利用上述品质参数的上述上限值 与上述下限值决定出上述品质参数的上述最佳值的步骤为将上述上限值与上述下限值进行平均，以得到平均值作为上述最佳值。
6. 根据权利要求1所述的方法，其特征是，其中上述品质参数至少包括地址/指令信号 延迟、CS/0DT信号延迟、DQS信号延迟以及CKE信号延迟。
7. 根据权利要求2、3或4所述的方法，其特征是，其中上述执行上述存储器测试的步 骤，还包括依据上述存储器模块的类型，得到对应的存储器测试样本；以及利用得到的上述存储器测试样本，执行上述初始存储器测试或上述复加存储器测试。
8. 根据权利要求l所述的方法，其特征是，还包括 提供对应上述存储器模块的多个存储器测试样本；以及由上述这些存储器测试样本中选择第一存储器测试样本以执行上述存储器测试。
9. 根据权利要求8所述的方法，其特征是，还包括由上述这些存储器测试样本中选择第二存储器测试样本以对上述存储器模块的不同 区块执行读写测试。
10. 根据权利要求l所述的方法，其特征是，还包括 输入手动调整命令； 输入上述品质参数的调整值；以及自动执行存储器测试程序测试上述存储器模块，并依据上述存储器测试程序的测试结 果，判断上述存储器模块是否可正常工作于上述调整值下。
11. 根据权利要求l所述的方法，其特征是，还包括将上述中央处理单元的频率调整至上述最高中央处理单元频率，并以上述最佳值设定 上述存储器模块，以使上述存储器模块工作于上述第二频率下。
12. —种电子装置，用以决定存储器模块的品质参数，其特征是，包括 中央处理单元；存储器模块，具有品质参数且工作于第一频率；超频单元，执行中央处理单元超频程序，以得到可正常工作的最高中央处理单元频率， 将上述中央处理单元的频率调整至上述最高中央处理单元频率，致使上述存储器模块工作 于第二频率，其中上述第二频率高于上述第一频率且上述中央处理单元超频程序用以调整 上述中央处理单元的频率；调整单元，调整上述品质参数，并执行存储器测试，以得到上述品质参数的上限值与下 限值；以及决定单元，利用上述品质参数的上述上限值与上述下限值，决定出上述品质参数的最 佳值。
13. 根据权利要求12所述的电子装置，其特征是，还包括测试单元，用以依据上述存储 器模块的类型，得到对应的存储器测试样本，并利用得到的上述存储器测试样本，执行上述 存储器测试。
14. 根据权利要求13所述的电子装置，其特征是，还包括测试数据库，用以提供对应上 述存储器模块的多个存储器测试样本，其中上述测试单元是由上述这些存储器测试样本中 选择第一存储器测试样本以执行上述存储器测试。
15. 根据权利要求14所述的电子装置，其特征是，其中上述测试单元更由上述这些存储器测试样本中选择第二存储器测试样本以对上述存储器模块的不同区块执行读写测试。
16. 根据权利要求12所述的电子装置，其特征是，其中上述品质参数至少包括地址/指 令信号延迟微调、CS/0DT信号延迟微调、DQS信号延迟微调以及CKE信号延迟微调。
17. —种决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法，适用于电子装置，其中上述电 子装置至少包括中央处理单元以及存储器模块且上述存储器模块包括多个品质参数，其特 征是，包括下列步骤调整至少一上述品质参数，并执行存储器测试，以得到上述品质参数的上限值与下限 值；以及利用上述品质参数的上述上限值与上述下限值，决定出上述品质参数的最佳值， 其中上述品质参数至少包括地址/指令信号延迟微调、CS/ODT信号延迟微调、DQS信号 延迟微调以及CKE信号延迟微调。
18. 根据权利要求17所述的方法，其特征是，其中上述品质参数具有预设值，并且上述 得到上述品质参数的上述下限值的步骤包括将上述预设值递减既定值，并执行初始存储器测试；以及 判断上述初始存储器测试结果是否为正确；若上述初始存储器测试结果为正确，则再递减上述预设值，并执行复加存储器测试及 判断上述复加存储器测试结果是否为正确；若上述复加存储器测试结果为正确，则再递减 上述预设值并执行一复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果是否为正确；而若上 述复加存储器测试结果为不正确，则回复上一次测试为正确的预设值，并以上述预设值为 上述下限值；而若上述初始存储器测试的结果为不正确时，将上述预设值设为上述下限值。
19. 根据权利要求18所述的方法，其特征是，其中上述得到上述品质参数的上述上限 值的步骤包括将上述预设值递增既定值，并执行初始存储器测试；以及 判断上述初始存储器测试结果是否正确若上述初始存储器测试结果为正确，则再递增上述预设值，并执行复加存储器测试及 判断上述复加存储器测试结果；若上述复加存储器测试结果为正确，则再递增上述预设值 并执行一复加存储器测试及判断上述复加存储器测试结果；而若上述复加存储器测试结果 为不正确，则回复上一次测试结果为正确的预设值，并以上述预设值为上述上限值；而若上述初始存储器测试的结果为不正确时，将上述预设值设为上述上限值。
全文摘要
本发明提供一种决定存储器模块控制信号的品质参数的方法及其电子装置，其中电子装置至少包括中央处理单元以及存储器模块，且存储器模块包括多个品质参数并工作于第一频率。方法包括下列步骤执行中央处理单元超频程序，以得到可正常工作的最高中央处理单元频率；调整一个品质参数，并针对品质参数调整后的系统执行一存储器测试，以得到品质参数的上限值与下限值，进而决定出信号品质参数的最佳值。
文档编号G06F1/08GK101739062SQ20081017837
公开日2010年6月16日 申请日期2008年11月27日 优先权日2008年11月27日
发明者简志升 申请人:华硕电脑股份有限公司