一种具有垂直升降式多读写卡座的ic卡芯片测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，所述测试系统包括：进卡槽、水平运动伺服电机、水平送卡轨道、至少两个垂直升降多卡槽结构、垂直运动伺服电机、垂直运动丝杠、废卡槽、成品卡收卡槽、可编程控制器PLC和工控机；该测试系统采用二组以上垂直升降的多IC卡读写卡座作为进卡机构，相邻连接在一条搬送IC卡的轨道上；一个收废卡槽，用来收取IC卡芯片测试不成功的卡片；对测试或个人化成功的IC卡通过搬运机构进入与水平送卡轨道相垂直的自动收卡皮带转动的平台。该测试系统可最大限度地减少手工测试带来的人为错误，控制误判率在千分之三以下，大大提高了劳动生产率、自动化程度高、成本低。
【专利说明】一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统【技术领域】
[0001]本实用新型涉及非接触式IC卡的测试相关【技术领域】，尤其涉及一种平行双垂直升降式多读写卡座并行的接触式与非接触式IC卡芯片测试(个人化)设备。
【背景技术】
[0002]目前ISO标准接触与非接触IC卡已被广泛应用在交通卡、门禁控制卡、移动通信卡、银行卡等领域；同时，在应用前各类接触或非接触IC卡都必须被写入数据，这些数据可以是某一类卡相同的数据，也可以是某一类卡中每张卡有不一样的数据(称个人化数据)。目前对这些数据的写入分两种方法:
[0003]I)、用单一读写卡器以人工的方式一张一张的写入；
[0004]发明人发现这种方式的缺点在于:劳动力强度大，数据漏写与写错经常发生。
[0005]2)、采用国外进口的多个读写卡座以圆盘进卡并行自动测试接触式与非接触式IC卡芯片(个人化)设备；
[0006]发明人人发现这种方式的缺点在于:多个读写卡座圆盘进卡并行自动测试接触式与非接触式IC卡芯片(个人化)设备，制造商已经申请了多重专利保护，所以这设备销售价格高，从二百多万人民币到六，七百万人民币不等，国内的IC卡生产厂家难以承受这样的价格。
实用新型内容
[0007]本实用新型的目的在于，克服现有技术的上述不足，提供一种自动化程度高、价格便宜、误判率低的具有 升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统。
[0008]为达上述目的，本实用新型提供了一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其包括:进卡槽、水平运动伺服电机、水平送卡轨道、至少两个垂直升降多卡槽结构、垂直运动伺服电机、垂直运动丝杠、废卡槽、成品卡收卡槽、收废卡气缸、可编程控制器PLC和工控机；
[0009]所述水平运动伺服电机，分别与所述进卡槽、所述水平送卡轨道和所述PLC连接，用于在所述PLC的控制下从所述进卡槽获取存储的多个待测试的IC卡，并驱动所述水平送卡轨道运送所述多个待测试的IC卡；
[0010]所述至少两个垂直升降多卡槽结构，分别与所述工控机连接，并且通过所述垂直运动丝杠连接至所述垂直运动伺服电机,用于在所述垂直运动伺服电机和所述垂直运动丝杠的带动下作垂直升降运动，从所述水平送卡轨道中依次获取待测试的IC卡；每个垂直升降多卡槽结构上设置有垂直分布的多个嵌入式IC卡读写机，所述多个嵌入式IC卡读写机分别通过串口与所述工控机相连接，每个嵌入式IC卡读写机对其内的IC卡进行读写卡操作；
[0011 ] 所述垂直运动伺服电机，与所述PLC连接，用于在所述PLC的控制下驱动所述垂直运动丝杠带动所述至少两个垂直升降多卡槽结构作升降运动；[0012]所述工控机，与所述PLC连接，用于监视与控制PLC的运行状态，控制所述IC卡读写机对待测试的IC卡进行测试处理，向所述PLC发送对于每一待测试的IC卡的测试结果
信号;
[0013]所述PLC，分别与所述工控机、所述垂直运动伺服电机、所述水平运动伺服电机、所述收废卡气缸连接，用于控制所述水平送卡轨道的运行，并控制所述至少两个垂直升降多卡槽结构中多个IC卡读写机按先进先出顺序对多个待测试的IC卡进行测试，实时采集所述工控机发送的测试结果信号，将测试成功的卡由所述水平运动伺服电机驱动所述水平送卡轨道存放入所述成品卡收卡槽，并启动所述收废卡气缸将测试失败的卡存放入所述废卡槽。
[0014]作为优选地，所述的具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，还可包括:触摸LCD显示屏，与所述PLC连接，用于显示所述PLC的运行状态。
[0015]作为优选地，所述成品卡收卡槽是设置于所述水平送卡轨道的终点，与所述水平送卡轨道垂直。
[0016]作为优选地，所述垂直升降多卡槽结构上垂直分布有多个卡座，每个卡座上设置一个IC卡读写机。
[0017]作为优选地，所述IC卡可为接触式或者非接触式IC卡。
[0018]作为优选地，所述串口可以是RS-232接口、RS-422接口或者RS-485接口。
[0019]作为优选地，所述至少两个垂直升降多卡槽结构互相平行。
[0020]本实用新型的上述技术方案的有益技术效果在于:
[0021]该测试或数据个人化设备是采用垂直升降平台，每个垂直升降平台包含有垂直分布的多个嵌入式IC读写机，从而解决了在一条生产线上使用多个读写机而使生产线的长度过长的问题，在本实用新型这种垂直升降平台节约了搬送IC卡线的长度。
[0022]本实用新型实施例还很好地解决了在并行的二个或以上的垂直升降多卡座进卡系统中的先进先出的问题。
【专利附图】
【附图说明】
[0023]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1为本实用新型实施例的一种平行双垂直升降式多读写卡座IC卡芯片测试系统的总体结构示意图；
[0025]图2为本实用新型实施例的垂直升降多卡槽结构的示意图。
【具体实施方式】
[0026]为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0027]本实用新型实施例的测试系统采用二组以上(可以是一组或多组)垂直升降的多IC卡读写卡座(后称垂直升降多卡槽结构、垂直升降台，每组垂直升降台可以包含一个以上的卡座)作为进卡机构，相邻连接在一条搬送IC卡的轨道(水平送卡轨道)上；其还具有一个进卡槽，以及在二组垂直升降台后面某一位置放置的一个收废卡槽(或平台)，用来收取IC卡芯片测试不成功的卡片；对测试或个人化成功的IC卡通过搬运机构(如皮带和伺服电机)进入与水平送卡轨道相垂直的由自动收卡皮带转动的平台。
[0028]图1为本实用新型实施例的一种平行双垂直升降式多读写卡座IC卡芯片测试系统的总体结构示意图。如图1所示，该测试系统100包括:
[0029]进卡槽102、水平运动伺服电机104、水平送卡轨道106、至少两个垂直升降多卡槽结构108、垂直运动伺服电机110、垂直运动丝杠112、工控机114、可编程控制器PLC116、成品卡收卡槽118和废卡槽120 ；
[0030]水平运动伺服电机104，分别与进卡槽102、水平送卡轨道106和PLC116连接，用于在PLC116的控制下从进卡槽102获取存储的多个待测试的IC卡，并驱动水平送卡轨道106运送多个待测试的IC卡；
[0031]至少两个垂直升降多卡槽结构108，分别与工控机114连接，并且通过垂直运动丝杠112连接至垂直运动伺服电机110，用于在垂直运动伺服电机110和垂直运动丝杠112的带动下作垂直升降运动，从水平送卡轨道中106依次获取待测试的IC卡；每个垂直升降多卡槽结构108上设置有垂直分布的多个嵌入式IC卡读写机，多个嵌入式IC卡读写机分别通过串口与工控机114相连接，每个嵌入式IC卡读写机对其内的IC卡进行读写卡操作；
[0032]垂直运动伺服电机110，与PLCl 16连接，用于在PLCl 16的控制下驱动垂直运动丝杠112带动至少两个垂直升降多卡槽结构108作升降运动；
[0033]工控机114，与PLCl 16连接，用于监视与控制PLCl 16的运行状态，控制IC卡读写机对待测试的IC卡进行测试处理，向PLC116发送对于每一待测试的IC卡的测试结果信号;
[0034]PLC116，与工控机114、垂直运动伺服电机110、水平运动伺服电机104连接，用于控制水平送卡轨道106的运行,并控制至少两个垂直升降多卡槽结构108中多个IC卡读写机按先进先出顺序对多个待测试的IC卡进行测试，实时采集工控机114发送的测试结果信号，将测试成功的卡由水平运动伺服电机104驱动水平送卡轨道106存放入成品卡收卡槽118，并将测试失败的卡存放入废卡槽120。
[0035]作为优选地，该具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统100还可包括:收废卡气缸122，与PLCl 16连接，用于当测试失败的卡接近到废卡槽120时，在PLCl 16的控制下而启动，以将测试失败的卡收进废卡槽120。
[0036]作为优选地，该具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统100还可包括:触摸IXD显示屏(未绘示)，与PLCl 16连接，用于显示PLCl 16的运行状态。
[0037]作为优选地，该成品卡收卡槽118是设置于水平送卡轨道106的终点，与水平送卡轨道106垂直。
[0038]作为优选地，该垂直升降多卡槽结构108上垂直分布有多个卡座，每个卡座上设置一个IC卡读写机。[0039]作为优选地，IC卡可为接触式或者非接触式IC卡。
[0040]作为优选地，串口可以是RS-232接口、RS-422接口或者RS-485接口。
[0041 ] 该测试或数据个人化设备由于是采用垂直升降平台，每个垂直升降平台包含有垂直分布的多个IC读写机(嵌入式读写机)在这一垂直面中，从而解决了在一条生产线上使用多个读写机而使生产线的长度过长的问题，在本实用新型中这种垂直升降平台节约了搬送IC卡线的长度。
[0042]本实用新型实施例还很好地解决了在并行的二个或以上的垂直升降多卡座进卡系统中的先进先出的问题。
[0043]图2为本实用新型实施例的垂直升降多卡槽结构108的示意图。图2示出了二个平行垂直升降式多读写卡座并行的接触式与非接触式IC卡芯片测试(个人化)设备的垂直升降台的多卡槽结构图。在图2中，A(B) I中A表示垂直升降台A ；B表示垂直升降台B ；1-8:分别表不一号至八号嵌入式IC卡读写机。[0044]如图2所示，两个平行垂直升降多卡槽结构(以下简称垂直升降台)先进先出的结构特点描述如下:
[0045]一个由PLC (可编程控制器)与垂直运动伺服电机控制的垂直升降装置(平台)通常带有8个独立的嵌入式IC卡读写机，8个独立的嵌入式IC卡读写机与上位多串口工控PC机相联接。垂直升降台里的多个IC卡读写机对其中的IC卡完成读写卡操作后，由工控PC机的串口通知PLC按先进先出的原则同时按好卡与坏卡的固定存放位置处理好卡与坏卡。反复循环直到处理完预定的计划量。
[0046]当初次进卡时垂直升降台是在下方的，即Al (BI)位，完成的Al (BI)位的进卡，垂直升降台上升一位到A2 (B2)位，以此类推到AS (B8)，此时为升到最高，在完成测试后，马上又下降到底等按Al (BI)，A2 (B2)…….AS (B8)的次序出卡，同时进入第二循环进卡。
[0047]结合参阅图1-图2，本实用新型实施例的两个平行垂直升降式多个IC卡读写机并行数据处理IC卡芯片测试系统的工作原理/过程包括:
[0048](I)被测试或数据个人化的卡按先进先出的原则从“进卡槽”底部拉出，由水平运动伺服电机经水平运行皮带依次进出二个平行垂直升降台中的多个IC卡读写机中，并行地进行处理。
[0049](2) 二个平行的垂直升降台中的嵌入式IC卡读写机(例如每组8个)按先进先出的原则进行测试或者读写卡操作，上位工控PC机将完成测试或数据个人化的卡通知控制本测试系统的PLC进行皮带搬送卡的处理。本步骤中，上位工控PC机对进入IC卡读写机中的卡进行并行的IC芯片的数据处理，将处理完的结果通知PLCjP:A1 ；A2 ；A3……..;B1 ；B2 ；B3……中的卡的测试结果“通过”或“不通过”。
[0050](3)控制本测试系统运行的PLC按收到工控PC机发送来的测试或数据个性化成功与不成功的卡的信号，按次序将已测试或个性化完的卡送入收卡槽或废卡槽来处理。本步骤具体为，PLC控制水平轨道与二平行垂直升降台多个IC卡读写机按先进先出的原则运行，同时控制收废卡的气缸的工作，当PLC实时采集到上位工控PC机发回的各IC卡读写机对应的IC卡的数据处理结果时，即:A1 ；A2 ；A3……..;B1 ；B2 ；B3……中的卡的测试结果“通过”或“不通过”。按好卡由水平运动伺服电机运行水平搬送皮带将好卡进收卡平台(槽)；当废卡到废卡平台(槽)时，PLC启动收废卡气缸将废卡收进废卡槽的方法处理已测试或数据个人化的卡。
[0051](4) PLC控制二个平行的垂直升降台在初次进卡时垂直升降台总是在下方依次进卡后朝上升，本实用新型实施例可以用如下一种按先进先出的方法来按次序搬送IC卡，具体为:二个(N)平行垂直升降台同时平行升降一进卡位，水平位移送二张卡的方法来完成。即:A1 (Kl)，BI (K2) — A2 (K3)，B2 (K4) — A3 (K5)，B3 (K6)等…。
[0052]注:A1 (KO)表示Al卡槽没卡；A2 (Kl)表示A2卡槽为I号卡；B1 (K8)表示BI卡槽为8号卡；N表不多个。
[0053]与现有技术相比，本实用新型具有以下优点:
[0054]一、最大限度地减少了手工测试或个性化IC卡芯片带来的人为错误，控制误判率在千分之三以下，大大提高了劳动生产率。
[0055]二、在这设备上能同时并行运行多个IC卡读写机对芯片进行测试或数据个人化，这极大地提高了单位时间里完成量。
[0056]三、使用范围广:能对ISO标准接触式IC卡或非接触式IC卡的各类芯片做测试或个人化数据写入。
[0057]四、自动化程度高:本实施例以工控电脑(PC)来控制测试系统上多个IC卡读写机的数据读写成功与否的完成状况，并且利用工控电脑(PC)来监控PLC的运行状态，如:某一IC卡在测试系统上所处的位置，数据读写成功的卡与不成功卡的处理情况等，利用PLC按照先进先出的要求，按次序将已完成测试或个人化的IC卡自动进入收卡平台，同时对IC芯片测试或个人化不成功的卡送至废卡槽。这实现了自动化的进出卡和测试，自动化程度高，效率极大提高，同时成本降低。
[0058]以上实施例仅用以说明本实用新型实施例的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型实施例各实施例技术方案的精神和范围。
【权利要求】
1.一种具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其特征在于，所述测试系统包括:进卡槽、水平运动伺服电机、水平送卡轨道、至少两个垂直升降多卡槽结构、垂直运动伺服电机、垂直运动丝杠、废卡槽、成品卡收卡槽、收废卡气缸、可编程控制器PLC和工控机； 所述水平运动伺服电机，分别与所述进卡槽、所述水平送卡轨道和所述PLC连接，用于在所述PLC的控制下从所述进卡槽获取存储的多个待测试的IC卡，并驱动所述水平送卡轨道运送所述多个待测试的IC卡； 所述至少两个垂直升降多卡槽结构，分别与所述工控机连接，并且通过所述垂直运动丝杠连接至所述垂直运动伺服电机，用于在所述垂直运动伺服电机和所述垂直运动丝杠的带动下作垂直升降运动，从所述水平送卡轨道中依次获取待测试的IC卡；每个垂直升降多卡槽结构上设置有垂直分布的多个嵌入式IC卡读写机，所述多个嵌入式IC卡读写机分别通过串口与所述工控机相连接，每个嵌入式IC卡读写机对其内的IC卡进行读写卡操作；所述垂直运动伺服电机，与所述PLC连接，用于在所述PLC的控制下驱动所述垂直运动丝杠带动所述至少两个垂直升降多卡槽结构作升降运动； 所述工控机，与所述PLC连接，用于监视与控制PLC的运行状态，控制所述IC卡读写机对待测试的IC卡进行测试处理，向所述PLC发送对于每一待测试的IC卡的测试结果信号；所述PLC，分别与所述工控机、所述垂直运动伺服电机、所述水平运动伺服电机、所述收废卡气缸连接，用于控制所述水平送卡轨道的运行，并控制所述至少两个垂直升降多卡槽结构中多个IC卡读写机按先进先出顺序对多个待测试的IC卡进行测试，实时采集所述工控机发送的测试结果信号，将测试成功的卡由所述水平运动伺服电机驱动所述水平送卡轨道存放入所述成品卡收卡槽，并启动所述收废卡气缸将测试失败的卡存放入所述废卡槽。
2.根据权利要求1所述的具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其特征在于，还包括: 触摸IXD显示屏，与所述PLC连接，用于显示所述PLC的运行状态。
3.根据权利要求1所述的具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其特征在于: 所述成品卡收卡槽是设置于所述水平送卡轨道的终点，与所述水平送卡轨道垂直。
4.根据权利要求1所述的具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其特征在于: 所述垂直升降多卡槽结构上垂直分布有多个卡座，每个卡座上设置一个IC卡读写机。
5.根据权利要求1所述的具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其特征在于:所述IC卡为接触式或者非接触式IC卡。
6.根据权利要求1所述的具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其特征在于:所述串口是RS-232接口、RS-422接口或者RS-485接口。
7.根据权利要求1所述的具有垂直升降式多读写卡座的IC卡芯片测试系统，其特征在于:所述至少两个垂直升降多卡槽结构互相平行。
【文档编号】G06K17/00GK203562005SQ201320657523
【公开日】2014年4月23日 申请日期:2013年10月23日 优先权日:2013年10月23日
【发明者】忻伟 申请人:上海聚硕科技有限公司