测量治具的制作方法

本发明涉及一种测量治具，特别是一种电子元件的测量治具。

背景技术：

作为电子产品中的各种电子零件的沟通媒介，主机板上搭载有所述的多种电子零件，以提供使用者多样化的功能。而为了因应不同的需求，对应电子产品因而需要不同等级或不同类型的运算效能。即使是同一类型的电子产品，厂商也会因客群的不同而推出不同系列的产品系列。

在以往，由于电子产品的种类不多，主机板都被设定好对应于某一规格的电子零件。例如对电脑的主机板来说，其零组件可能都被设定于某一组态，以配合某一规格的中央处理器进行运算。而如今随着技术的演进以及市场的需求，同一块主机板也可视实际所需而配置不同规格的中央处理器。换句话说，主机板零组件的设定组态不再仅限于同一种设定组态，进而使得以往的测试治具已经不敷使用，因而必须开发新的测试治具以符合主机板的设计趋势。

技术实现要素：

本发明在于提供一种测量治具，以克服现今主机板具有多种设定组态而使得一般的测试治具不敷使用的问题。

本发明提供了一种测量治具，适于插设于主机板上的处理器插槽。测量治具包含基板、至少一第一电压针脚、至少一第二电压针脚、至少一第一信号针脚与处理单元。基板具有第一面与第二面。至少一第一电压针脚位于第二面。至少一第二电压针脚位于第二面。至少第一信号针脚位于第二面。处理单元位于第一面。处理单元电性连接于至少一第一电压针脚、至少一第二电压针脚与至少一第一信号针脚。当测量治具插设于处理器插槽时，处理单元分别从至少一第一电压针脚读取至少一第一电压值、从至少一第二电压针 脚读取至少一第二电压值并从至少一第一信号针脚读取至少一第三电压值。

综上所述，本发明提供了一种测量治具。当测量治具插设于处理器插槽时，测量治具的处理单元分别从不同的针脚读取对应的电压值。藉此，本发明提供的测量治具得以对具有不同设定组态的主机板进行测量。此外，本发明提供的测量治具还能用以测量不同针脚间是否有短路或断路的情况发生，而较以往的测量治具提供更多样化的测量功能。

以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明是用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求更进一步的解释。

附图说明

图1为根据本发明一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。

图2为根据本发明一实施例所绘示的主机板的俯视示意图。

图3为根据本发明一实施例所绘示的测量治具的仰视示意图。

图4为根据本发明另一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。

其中，附图标记说明如下：

1000 测量治具

1200 基板

1221、1222、1223、1224 第一电压针脚

1231 通信针脚

1241、1242、1243 第二电压针脚

1250 存储单元

1261、1262、1263 第一信号针脚

1270 电源连接端

1280 处理单元

1290 提示模块

2000 主机板

2200 处理器插槽

2400 电子元件

3000 电源供应器

P1 第一面

P2 第二面

具体实施方式

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使本领域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、申请专利范围及附图，本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。

请参照图1，图1为根据本发明一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。如图1所示，测量治具1000适于插设于主机板2000上的处理器插槽2200。测量治具1000包含基板1200、第一电压针脚1221、1222、第二电压针脚1241、1242、第一信号针脚1261、1262与处理单元1280。基板1200具有第一面P1与第二面P2。第一电压针脚1221、1222位于第二面P2。第二电压针脚1241、1242位于第二面P2。第一信号针脚1261、1262位于第二面P2。处理单元1280位于第一面P1。处理单元1280电性连接于第一电压针脚1221、1222、第二电压针脚1241、1242与第一信号针脚1261、1262。处理单元1280例如为微处理器(micro control unit,MCU)，但并不以此为限。

在一实施例中，第一电压针脚1221、1222、第二电压针脚1241、1242与第一信号针脚1261、1262自处理单元1280延伸而出，并穿过基板1200而露出于第二面P2。在另一实施例中，处理单元1280具有引脚，处理单元1280的引脚穿过基板1200以电性连接第一电压针脚1221、1222、第二电压针脚1241、1242与第一信号针脚1261、1262。在另一实施例中，第一电压针脚1221、1222、第二电压针脚1241、1242与第一信号针脚1261、1262穿过基板1200以电性连接处理单元1280。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限。

测量治具1000经由第一电压针脚1221、1222、第二电压针脚1241、1242与第一信号针脚1261、1262以插设于处理器插槽2200。当测量治具1000插设于处理器插槽2200时，处理单元1280分别从第一电压针脚1221、1222读取至少一第一电压值、从第二电压针脚1241、1242读取至少一第二电压 值并从第一信号针脚1261、1262读取至少一第三电压值。第一电压针脚1221、1222与第二电压针脚1241、1242例如用以传输主机板2000供应的电能。第一信号针脚1261、1262例如用以传输主机板2000传输的时钟脉冲信号、状态指示信号或控制信号。

在一实施例中，第一电压针脚1221、1222与第二电压针脚1241、1242经由处理器插槽2200分别电性连接主机板2000上的多个供电模块，供电模块例如为电压脉冲宽度调变集成电路(pulse width modulation integrated circuit,PWM IC)。而第一信号针脚1261、1262则例如电性连接至直接媒体接口总线(direct media interface bus,DMI bus)、供电状态线路、时钟脉冲信号线路或其他处理器需要的信号线路。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限。

于实务上，处理器插槽2200用以提供多种不同的电压，换句话说，测量治具1000所具有的针脚的类型及数量并不以第一电压针脚1221、1222、第二电压针脚1241、1242与第一信号针脚1261、1262为限，处理单元1280所能读到的电压值也并不以第一电压值、第二电压值与第三电压值为限。在一实施例中，处理单元1280例如能经由处理器插槽2200读到主机板2000上各个电压脉冲宽度调变集成电路输出给处理器插槽2200的供电电压，所述的供电电压、第一电压值与第二电压值例如为公知的VCORE、VCCGT、VDDQ、VCCIO或VCCSA，此些电压参数为本领域技术人员所知悉，在此并不予赘述。处理单元1280例如经由串行电压识别(Serial Voltage Identification,SVID)电性连接主机板2000，而第三电压值则例如为上述各种信号线路可能的电压准位，在此同样不予以限制。

请一并参照图2与图3，图2为根据本发明一实施例所绘示的主机板的俯视示意图，图3为根据本发明一实施例所绘示的测量治具的仰视示意图。图2及图3的主要目的是为揭示本发明的测量治具1000与主机板2000的相对接合关系，因此图3所示的主机板2000仅为举例示范，经调整针脚数量及各元件的配置方式，本发明所提供的测量治具1000还可适用于其他类型的主机板2000，而不仅以附图所绘者为限制。

在此实施例中，测量治具1000经由如图中所示的针脚组合插设于主机板2000的处理器插槽2200中。所述的针脚组合具有如前述的第一电压针脚 1221、1222、第二电压针脚1241、1242与第一信号针脚1261、1262。需注意的是，为求叙述简明，在附图中以较易阅读的方式绘示各针脚，并且仅标示说明所需的针脚，以避免图面混乱。换句话说，图2与图3及其对应的相关叙述仅为举例示范说明，测量治具1000实际上所具有的针脚类型，针脚尺寸、针脚形状、针脚数量及其相对位置并不以附图上所绘者为限。

而如图3所示，第一电压针脚1221相邻于第二电压针脚1241，第一电压针脚1222相邻于第一信号针脚1261。在一实施例中，对应于主机板2000上线路的电压准位的异同，第一电压针脚1221与第一电压针脚1222上的电压准位应彼此大致上相同，第二电压针脚1241与第二电压针脚1242上的电压准位应彼此大致上相同。且，第一电压针脚1221与第一电压针脚1222上的电压准位与第二电压针脚1241与第二电压针脚1242上的电压准位彼此相异。

在一实施例中，处理单元1280通过判读各针脚上是否具有预期的电压准位以判断主机板2000是否正常。在另一实施例中，处理单元1280还通过判读相邻的第一电压针脚1221与第二电压针脚1241上的电压准位是否相同，从而判断主机板2000上的对应线路是否有短路的现象。在另一实施例中，于一种测试程序里，主机板2000仅经由第一电压针脚1221、1222与第二电压针脚1241、1242供电给测量治具1000，并不经由第一信号针脚1261、1262提供相关信号给测量治具1000。此时，处理单元1280通过判读第一信号针脚1261、1262是否具有预期之外的电压准位来判断主机板2000的相关线路是否有异常。或者，处理单元1280通过判读脚第一信号针脚1261与相邻的第一电压针脚1222是否具有相同的电压来判断相关线路是否有短路的现象。

对应于上述，于一实施例中，处理单元1280还依据一控制信号产生一组判断参数，所述的判断参数例如具有对应于第一电压值、第二电压值与第三电压值的多个标准电压值。处理单元1280依据此组判断参数与测量得的第一电压值、第二电压值及第三电压值，产生一组判断结果。更详细地来说，处理单元1280例如判断测量得的第一电压值、第二电压值及第三电压值与判断参数中的标准电压值的相对关系，例如是否大于、小于或相等，来判断相关线路是否有异常。处理单元1280如何依据判断参数及各测量电压进行 判断乃为本领域技术人员得依实际所需而自行设计，在此并不限定判断参数的内容以及数量。

此外，在另一实施例中，处理单元1280还可模拟处理器负载的变化以检测相关线路是否能够忍受处理器的负载异动。更详细地来说，处理单元1280还依据控制信号，从第一电压针脚1221、1222中的至少一个针脚抽取第一电流。此时，处理单元1280还判读相关针脚上的电压准位的变化是否在可以忍受的范围或标准，以判断相关线路是否有异常。例如，处理单元1280可判读相关针脚上的电压准位是否大于一预设上限或小于一预设下限。或者，处理单元1280可判读相关针脚上的电压准位是否在一预设时间拉回所欲的电压准位。甚或，处理单元1280可判读相关针脚上在一预设时间内的平均电压是否符合要求。上述仅为举例示范，在此并不限定处理单元1280如何依据相关针脚上的电压准位进行判断。

请接着参照图4，图4为根据本发明另一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。在图4所对应的实施例中，测量治具1000还具有通信针脚1231、存储单元1250、电源连接端1270与提示模块1290。主机板2000还具有电子元件2400。通信针脚1231、存储单元1250、电源连接端1270与提示模块1290电性连接处理单元1280。电子元件2400电性连接处理器插槽2200。其中，通信针脚1231例如为系统管理总线(system management bus,SM bus)，存储单元1250例如为易失性存储器或非易失性存储器，提示模块1290例如为发光二极管(light emitting diode,LED)或蜂鸣器，电子元件2400例如为电压脉冲宽度调变集成电路。上述仅为举例示范，实际上并不以此限制各元件的数量以及类型。

通信针脚1231位于第二面P2，处理单元1280通过通信针脚1231与电子元件2400沟通。而在另一实施例中，处理单元1280还通过通信针脚1231与另一类型的测试治具进行沟通。在此实施例中，处理单元1280例如可将测量得的结果传送给所述的另一类型的测量治具以进行后续处理。存储单元1250用以存储所述的测量得的第一电压值、第二电压值与第三电压值。当存储单元1250为非易失性存储器时，即使不供电给测量治具1000，相关测量资料依然可以保存在存储单元1250，使用者可在测量之后将存储单元1250自测量治具1000取下，并以其他电子设备自存储单元1250中读出相关测量 资料以进行分析。电源连接端1270用以可插拔地插设于电源供应器3000，以使测量治具1000自电源供应器3000取得电源。在此实施例，当处理单元1280在前述的过程中判断主机板2000的相关线路有瑕疵时，处理单元1280还驱动提示模块1290选择性地发出声音或亮光，以示警于使用者。

综合以上所述，本发明提供了一种测量治具。当测量治具插设于处理器插槽时，测量治具的处理单元分别从至少一第一电压针脚读取至少一第一电压值、从至少一第二电压针脚读取至少一第二电压值并从至少一第一信号针脚读取至少一第三电压值。借着于不同的针脚读取对应的电压准位，本发明提供的测量治具得以对具有不同设定组态的主机板进行测量。此外，本发明提供的测量治具还能用以测量不同针脚间是否有短路或断路的情况发生，而较以往的测量治具提供更多样化的测量功能。此外，还可缩短人工检测的时间并减少人为误判所造成的损失，另一方面还提高检测精准度而提升产品品质，避免检测失准而造成成本的上升。

虽然本发明以前述的实施例公开如上，然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内，所为的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的权利要求。