前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本申请保护的范围。
[0052] 本申请的主要思想之一可以包括：
[0053] 通过将样本点所在空间区域中的一个平面分割为多个区域，利用每一个区域中的 至少三个样本点拟合得出每一个区域对应的初始曲面，并可以根据样本点到每一个区域对 应的初始曲面的距离，可以得出最优初始曲面，进而利用所述最优初始曲面以及其他样本 点可以拟合得到空间区域对应的最终的曲面。通过选择一个平面分割为多个区域，以区域 为基准进行处理，相较于现有技术中随机选择样本点，可以大大减少运算量，提高了处理速 度。
[0054] 下面结合附图，对本申请实施方案进行详细描述。
[0055] 图1为本申请实施例提供的一种信息处理方法一个实施例的流程图，本申请技术 方案具体应用于电子设备中。
[0056] 所述方法可以包括以下几个步骤：
[0057] 101 :将样本点所在空间区域中的一个平面，分割为多个区域。
[0058] 102 :选择位于每一区域中的至少三个样本点，拟合得到每一区域对应的初始曲 面。
[0059] 103 :根据所述空间区域中的样本点距离每一初始曲面的距离，选择最优的初始曲 面。
[0060] 104 :利用所述最优的初始曲面，以及距离所述最优的初始曲面一定距离的样本 点，拟合得到所述空间区域中的样本点对应的曲面。
[0061] 在空间区域中，样本点通常利用三维坐标表示，包括第一坐标信息、第二坐标信息 以及第三坐标信息。例如XYZ坐标。
[0062] 样本点所在空间区域中的一个平面可以是空间区域中的任一个平面。其中，为了 进一步简化拟合操作，该平面可以选择由空间区域中所有样本点的第一坐标以及第二坐标 构成。例如样本点的以XYZ坐标系表示时，Z轴通常表示深度信息，因此可以选择由于所有 样本点的XY坐标构成的平面作为待分割的平面。
[0063] 本申请实施例中，首先将选择的一个平面分割为多个区域，针对每一个区域，选择 至少三个样本点，拟合出一个初始曲面。
[0064] 其中，作为一种特殊的情况，该曲面具体可以是指平面。
[0065] 得出每一区域对应的初始曲面之后，可以计算空间区域中各个样本点到每一个初 始曲面的距离，进而可以选出最优的初始曲面。
[0066] 利用该最优的初始曲面以及距离该最优的初始曲面一定距离的样本点，可以拟合 得到空间区域中样本点对应的曲面，该曲面也即与各个样本点距离最接近。
[0067] 以曲面具体为平面，最终拟合得到空间区域中样本点对应的平面为例。
[0068] 平面方程为：Ax+By+Cz+D = 0。
[0069] 其中，A、B、C、D均为常数系数，x、y、z分别表示第一坐标、第二坐标以及第三坐标。 [0070] 点到平面的距离公式为：
[0072] 其中，（X。，y。，z。）表示任意一点的坐标。
[0073] 从而每一个区域，根据至少三个样本点，可以得到一个平面方程，即拟合出一个平 面。
[0074] 根据点到平面距离公式，可以计算得到空间区域中样本点距离每一个区域对应的 平面的距离，进而可以选择得到初始平面。
[0075] 利用初始平面的方程以及，距离初始平面一定距离的样本点坐标，通过例如最小 二乘法等拟合算法，可以得到空间区域对应的最终平面。点与平面拟合的算法可以多种，与 现有技术相似，本申请不对此进行限制。
[0076] 在本申请实施例中，通过将一个平面分割为多个区域，利用至少三个样本点拟合 得出每一个区域对应的初始曲面，并可以根据样本点到每一个区域对应的初始曲面的距 离，可以得出最优的初始曲面，进而利用最优的初始曲面以及其他样本点可以拟合得到空 间区域对应的最终的曲面。通过选择一个平面分割为多个区域，以区域为基准进行处理，相 较于现有技术中随机选择样本点，可以大大减少运算量，提高了处理速度。
[0077] 其中，将样本点所在空间区域中的一个平面，分割为多个区域可以具体是均匀分 割为形状大小一致的区域，将平面均匀分割为形状大小一致的区域，可以保证空间区域中 每一个样本点被选择的概率相等。从而使得拟合得到曲面更加准确。
[0078] 为了进一步保证空间区域中的每一个样本点被选择概率相等。在每一个区域中选 择的至少三个样本点，在各个区域中的位置相同。
[0079] 也即针对每一区域，选择每一区域中与其他区域选择的样本点相同位置处的至少 三个样本点，拟合得到每一区域对应的初始曲面。
[0080] 也即至少三个样本点中的每一个样本点在每一个区域中的位置相同。
[0081] 作为一种可能的实现情况，可以是将样本点所在空间区域中的一个平面均匀分割 为形状大小一致的区域具体可以是，将样本点所在空间区域中的一个平面均匀分割为形状 大小一致的方块；选择每一个方块中选择由斜对角线划分得到两个三角形中的一个，其中 各个方块中选择的一个三角形位置相同；利用每一个三角形的三个顶点对应的样本点，拟 合得到每一区域对应的初始曲面。
[0082] 为了进一步提高拟合的曲面的准确性，根据所述空间区域中的样本点距离每一初 始曲面的距离，选择最优的初始曲面可以是：
[0083] 针对每一初始曲面，计算所述空间区域中不包括拟合所述初始曲面的至少三个样 本点的其他样本点到所述初始曲面的距离，并统计所述其他样本点中到所述初始曲面的距 离在预设距离内的样本点数量；
[0084] 将在预设距离内样本点数量最多对应的初始曲面为最优的初始曲面。
[0085] 为了进一步提高拟合的曲面的准确性，所述利用所述最优的初始曲面，以及距离 所述最优的初始曲面一定距离的样本点，拟合得到所述空间区域中的样本点对应的曲面可 以是：
[0086] 按照每一样本点到所述最优的初始曲面的距离从小到大的顺序，选择预设数量的 样本点；
[0087] 利用所述最优的初始曲面以及所述预设数量的样本点，拟合得到所述空间区域中 的样本点对应的曲面。
[0088] 其中，预设数量的样本点，距离所述最优的初始曲面在一定距离内。
[0089] 因此，按照每一样本点到所述初始曲面的距离从小到大的顺序，选择预设数量的 样本点可以是：
[0090] 在距离所述最优的初始曲面一定距离内的样本点中，按照每一样本点到所述最优 的初始曲面的距离从小到大的顺序，选择预设数量的样本点。
[0091] 当然，也可以直接计算每一样本点到所述最优的初始曲面的距离，选择位于一定 距离内的全部样本点，结合所述最优的初始曲面，拟合得到最终的曲面。
[0092] 图2为本申请实施例提供的一种信息处理方法另一个实施例的流程图，本申请实 施例技术方案具体应用于电子设备中。
[0093] 所述方法可以包括以下几个步骤：
[0094] 201 :将样本点所在空间区域中的一个平面，均匀分割为形状且大小一样的区域。
[0095] 具体的，可以是将由各个样本点的第一坐标以及第二坐标构成的平面，均匀分割 形状且大小一样的区域。
[0096] 202 :选择每一区域中与其他区域相同位置处的至少三个样本点，拟合得到每一区 域对应的初始曲面。
[0097] 也即至少三个样本点的每一个样本点在每一个区域中的位置相同。
[0098] 203 :统计