专利名称：基板缺陷检测装置的制作方法
技术领域：
本发明关于一种检测装置，特别是关于一种用以检测光盘基板缺陷的基板缺陷检测装置。
背景技术：
近年来，使用光盘片来储存资料已经是越来越普及的资料储存方式，相对的，光盘片的生产量也越来越大，因此光盘片的品质便是大量生产的一个重要指标；一般而言，制作光盘片的首要步骤之一即为形成光盘片的光盘基板，其通常是利用射出成形方式将原物料挤压至一模版上，此时，预刻在模版上的图案便可以决定所形成的光盘基板上的图案，并同时可以定义出所形成的光盘基板的用途，例如，其可以是用来制造CD、CD-R、CD-RW、DVD、DVD-R、DVD-RW等。
承上所述，在制得所需的光盘基板之后，通常会接着于光盘基板上形成所需的膜层，如记录层、反射层、或介电层等。然而，若所制得的光盘基板有缺陷时，则所完成的光盘片可能会不合规格，亦即必须报废；如此将大幅地影响产率、并提高生产成本。因此，于光盘基板形成后，会先对其进行适当的测试，而针对光盘基板上所形成的图案的检测方式，目前并无较有效率的方法，乃是利用人工肉眼直接观察以判断其是否为不良品，但是，此种检测方式并无法有效检测出光盘基板上的微小缺陷，如因射出成形过程中的不当所造成的水波纹图案或刮痕的缺陷，甚至是射出成形过程不完全所造成的光盘基板外围图案不清的情形，这些有缺陷的光盘基板可能无法利用人工方式有效地检测出来。
因此，如何提供一种能够有效地针对光盘基板的缺陷进行检测的基板缺陷检测装置，实为目前最需改善的课题之一。
发明内容
有鉴于上述课题，本发明的目的为提供一种能够有效地检测光盘基板的缺陷的基板缺陷检测装置。
为达上述目的，依本发明的基板缺陷检测装置，其用以检测一光盘基板，其特征是，包含一光源，其发出一光束；一第一偏光板，该光源设置于该第一偏光板的一侧；一第二偏光板，其设置于该第一偏光板的另一侧，且该第一偏光板的偏光方向与该第二偏光板的偏光方向垂直，其中该光盘基板设置于该第一偏光板与该第二偏光板之间，该光束依序穿过该第一偏光板、该光盘基板及该第二偏光板。
本发明还包含以下技术特征一扩散板，其设置于该光源及该第一偏光板之间。
一安定器，其与该光源电连接，以便该光源发出稳定不闪烁的该光束。
复数个保护层，其分别设置于该第一偏光板与该第二偏光板的两侧，以保护该第一偏光板与该第二偏光板。
承上所述，因依本发明的基板缺陷检测装置将待检测的光盘基板设置于二偏光板之间，所以使用者可以于第二偏光板的另一侧快速地观察光盘基板的透光情形，并根据光盘基板的透光情形正确地判断出光盘基板是否存在有前述的缺陷，藉以提高最终光盘产品的产率、及节省其制造成本。
本发明还包括其它技术特征，将通过以下附图和具体实施例作以进一步说明。
图1为一示意图，显示依本发明较佳实施例的基板缺陷检测装置的示意；图2为一示意图，显示利用本发明较佳实施例的基板缺陷检测装置检测光盘基板的示意；以及图3为一示意图，使用者观察测试中的光盘基板的示意。
图中符号说明1 基板缺陷检测装置11 光源12 第一偏光板13 第二偏光板14 扩散板15 安定器16 保护层17 支架2 光盘基板具体实施方式
以下将参照相关附图，说明依本发明较佳实施例的基板缺陷检测装置，其中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。
请参照图1所示，依本发明较佳实施例的基板缺陷检测装置1包括一光源11、一第一偏光板12以及一第二偏光板13。另外，在本实施例中，基板缺陷检测装置1更包括一扩散板14、一安定器15、复数个保护层16及复数个支架17。
如图1所示，第一偏光板12设置于光源11与第二偏光板13之间，而且第一偏光板12的偏光方向与第二偏光板13的偏光方向垂直，因此，当光源11发出一光束时，此光束会依序穿过第一偏光板12及第二偏光板13；扩散板14设置于光源11及第一偏光板12之间，其可以为一可透光的乳白色压克力板，故在光源11所发出的光束穿过第一偏光板12及第二偏光板13之前，能够先让光束穿过扩散板14，以便使得光束能够均匀地穿过第一偏光板12及第二偏光板13；该等保护层16分别设置于第一偏光板12与第二偏光板13的两侧，以保护第一偏光板12与第二偏光板13；安定器15与光源11电连接，以便让光源11能够发出稳定不闪烁的光束；而该等支架17分别设置于第一偏光板12与第二偏光板13之间，以便提供一空间以容置待测试的光盘基板。在本实施例中，保护层16为玻璃板，而光源11可以是白光源，例如为卤素灯管或环形日光灯管。
为使本发明的内容更容易理解，以下将参照图2说明利用依本发明较佳实施例的基板缺陷检测装置1来检测一光盘基板2的详细情形。
首先，将光源11的电源打开，此时光源11发出一光束，其依序穿过第一偏光板12与第二偏光板13；此外，由于光源11与安定器15电连接，所以光源11能够发出稳定不闪烁的光束。
接着，将待测试的光盘基板2移入第一偏光板12与第二偏光板13之间，然后由使用者于第二偏光板13上侧直接观察透过光盘基板2的光束的情形；请参照图3所示，光源11所发出的光束依序穿过扩散板14、第一偏光板12、保护层16、光盘基板2、保护层16、第二偏光板13及保护层16，而使用者则于基板缺陷检测装置1的上侧进行观察；此时，若光盘基板2有缺陷时，例如光盘基板2具有因射出成形过程中的不当所造成的水波纹图案或刮痕的缺陷、甚至是射出成形过程不完全所造成的光盘基板2外围图案不清的情形，则使用者所观察到的光束会清楚呈现出水波纹图案、刮痕或不合规格的外围图案的轮廓，因此能够正确地判断光盘基板2是否具有缺陷。
请再参考图2所述，使用者将经过测试的光盘基板2移出基板缺陷检测装置1，并接着将其它待测试的光盘基板2移入第一偏光板12与第二偏光板13之间以进行检测动作。需注意者，为有效缩短检测时间，使用者更可以将复数个待测试的光盘基板2同时移入第一偏光板12与第二偏光板13之间，以便同时进行多个光盘基板2的检测动作。
综上所述，由于依本发明的基板缺陷检测装置将待检测的光盘基板设置于二偏光板之间，所以使用者可以于第二偏光板的另一侧快速地观察光盘基板的透光情形，并根据光盘基板的透光情形正确地判断出光盘基板是否存在有前述的缺陷，藉以提高最终光盘产品的产率、及节省其制造成本。
以上所述仅为举例性，而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于所述的权利要求范围中。
权利要求
1.一种基板缺陷检测装置，其用以检测一光盘基板，其特征是，包含一光源，其发出一光束；一第一偏光板，该光源设置于该第一偏光板的一侧；一第二偏光板，其设置于该第一偏光板的另一侧，且该第一偏光板的偏光方向与该第二偏光板的偏光方向垂直，其中该光盘基板设置于该第一偏光板与该第二偏光板之间，该光束依序穿过该第一偏光板、该光盘基板及该第二偏光板。
2.如权利要求1所述的基板缺陷检测装置，其特征是，更包含一扩散板，其设置于该光源及该第一偏光板之间。
3.如权利要求1所述的基板缺陷检测装置，其特征是，更包含一安定器，其与该光源电连接，以便该光源发出稳定不闪烁的该光束。
4.如权利要求1所述的基板缺陷检测装置，其特征是，更包含复数个保护层，其分别设置于该第一偏光板与该第二偏光板的两侧，以保护该第一偏光板与该第二偏光板。
5.如权利要求4所述的基板缺陷检测装置，其特征是，该等保护层为玻璃板。
6.如权利要求1所述的基板缺陷检测装置，其特征是，该光源为白光源。
7.如权利要求1所述的基板缺陷检测装置，其特征是，该光源为环型光源。
8.如权利要求1所述的基板缺陷检测装置，其特征是，更包含复数个支架，其分别设置于该第一偏光板与该第二偏光板之间，以便提供一空间以容置待测试的该光盘基板。
全文摘要
一种基板缺陷检测装置用以检测一光盘基板，其包括一光源、一第一偏光板以及一第二偏光板。其中，光源发出一光束；光源设置于第一偏光板的一侧，而第二偏光板设置于第一偏光板的另一侧；第一偏光板的偏光方向与第二偏光板的偏光方向垂直；当进行测试时，光盘基板设置于第一偏光板与第二偏光板之间，光源所发出的光束依序穿过第一偏光板、光盘基板及第二偏光板。本发明可以提高最终光盘产品的产率及节省其制造成本。
文档编号G11B7/26GK1744217SQ20041007519
公开日2006年3月8日 申请日期2004年9月2日 优先权日2004年9月2日
发明者林保兴, 张结雄, 张家玮 申请人:精碟科技股份有限公司