专利名称：伺服校正记号检测电路及检测伺服校正记号的方法
技术领域：
本发明是有关于光盘，特别是有关于检测光盘的伺服校正记号(ServoCalibration Mark，SCM)的方法和检测电路。
背景技术：
光驱藉检测自一光盘的轨道上凹坑(pit)与平面(land)所反射的射频信号强度，而自光盘读取数据。当光盘的平面不完全垂直于射频信号的投射方向时，称之为「倾斜」(tilt)。这可能是光驱固定光盘片的平面没对准所造成。当倾斜发生时，射频信号的焦点无法正常地聚焦在光盘轨道面上，造成读取数据的错误。因此当读取光盘时，必须对倾斜进行补偿。对倾斜的补偿又称为倾斜平衡(tilt balance)。
HD-DVD或DVD-RAM中的伺服校正记号(SCM)，为记录在光盘轨道上的微小标记。图1为HD-DVD的两个相邻的轨道上所记录的伺服校正记号的示意图。两个相邻的轨道分别为内侧轨道130及外侧轨道110。内侧轨道130及外侧轨道110之间为平面区(land)。轨道的地址信息以调变过的摆动信号(wobble)型态记录在轨道110及130，若是正常相位摆动(Normal Phase Wobble，NPW)则表示0，而反转相位摆动(Inverted Phase Wobble，IPW)则表示1。记录在轨道110与130上的伺服校正记号共有两类。对称伺服校正记号132与112呈对称地记录于内侧轨道130与外侧轨道110。不对称伺服校正记号134与114不对称地记录于内侧轨道130与外侧轨道110。记录伺服校正记号的轨道部分被移除以在上面制造平面(land)。
射频信号的焦点102投射于HD-DVD光盘片表面上并沿着轨道移动以读取数据。焦点102可同时记录于内侧轨道130与外侧轨道110上的数据。焦点102被分割为四个象限A、B、C、D，分别由一光传感器进行反射信号强度的检测。因此，由内侧轨道130反射得到的射频信号强度可由(B+C)表示，而由外侧轨道110反射得到的射频信号强度可由(A+D)表示。
图2a显示记录在内侧轨道204与外侧轨道202的对称伺服校正记号206与208。对称伺服校正记号206与208包含多个平面区域(land)反复地形成于内侧轨道204与外侧轨道202上。每一平面区域的持续长度为8T。图2b显示当读取对称伺服校正记号206与208时光盘读取头接收到的反射信号强度。当投射于内侧轨道204与外侧轨道202之上的射频信号逐步如图1中所示般沿轨道移动时，射频信号的反射强度如图2b所示。由于对称伺服校正记号206与208在轨道204与202上包含反复的平面区域，每当投射聚焦点遇到平面区域时，射频信号的反射强度便对应地增加。因此，反射强度的波形如同一正弦波或一连串脉冲(glitch)。
图3a显示记录在内侧轨道304与外侧轨道302的不对称伺服校正记号306与308。不对称伺服校正记号306与308分别为两个平面区域不对称地形成于内侧轨道304与外侧轨道302上。每一平面区域的持续长度为摆动信号(wobble)的两个波长。图3b显示当读取不对称伺服校正记号306与308时光盘读取头接收到的反射信号强度。当投射于内侧轨道304与外侧轨道302之上的射频信号逐步如图1中所示般沿轨道移动时，射频信号的反射强度如图3b所示。当投射聚焦点遇到不对称伺服校正记号306与308的平面区域时，射频信号的反射强度便对应地增加。由于不对称伺服校正记号306在轨道304上的平面区域早于不对称伺服校正记号308在轨道302上的平面区域，因此反射强度的波形有两个峰值P1与P2，分别对应于不对称伺服校正记号306与308。
图4为估测伺服校正记号的位置的现有电路400的区块图。光驱的读取头首先检测轨道的摆动信号(wobble signal)。摆动信号处理器402接着依据摆动信号导出一连串的摆动数据位。摆动数据译码器404接着译码摆动数据位以得到地址信息。由于摆动信号中储存了地址信息，且伺服校正记号的位置可由地址信息推估，因此伺服校正记号指示器406可由地址信息估测出伺服校正记号的位置。接着，光驱的读取头再依据伺服校正记号的位置读取伺服校正记号，之后再依据伺服校正记号进行光盘的倾斜平衡。
图4的电路400需要藉摆动信号数据来决定伺服校正记号的位置。然而，当开始光盘的寻轨(tracking-on)时，并无法读取摆动信号，也就无法藉摆动信号数据来决定伺服校正记号的位置，更无法依据伺服校正记号进行光盘的倾斜平衡。因此，需要一种检测伺服校正记号的方法，以供光驱所运用。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种伺服校正记号检测电路(servocalibration mark detection circuit)，用于一光驱，以解决现有技术存在的问题。该伺服校正记号检测电路包括一相加处理器，一截剪电压产生器，以及一比较器。该相加处理器将自一内侧轨道(inner groove)与一外侧轨道(outer groove)反射的射频信号的强度相加，以得到一第一信号。该截剪电压产生器产生一截剪电压(slicing voltage)。该比较器比较该第一信号与该截剪电压，以产生一第二信号。其中该第二信号指示记录在该内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置以及记录在该外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。
本发明还提供一种检测伺服校正记号(servo calibration mark)的方法，用于一光驱。首先，将自一内侧轨道与一外侧轨道反射的射频信号的强度相加，以得到一第一信号。接着，产生一截剪电压。接着，比较该第一信号与该截剪电压，以产生一第二信号。其中该第二信号指示记录在该内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置以及记录在该外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。
本发明还提供一种伺服校正记号检测电路(servo calibration mark detectioncircuit)，用于一光驱。该伺服校正记号检测电路包括一推挽式处理器，一截剪电压产生器，一第一比较器，一第二比较器，以及一结合模块。该推挽式处理器(push-pull processo)将自一内侧轨道反射的射频信号的一第一强度与自一外侧轨道反射的射频信号的一第二强度相减，以得到一第一信号。该截剪电压产生器用以产生一第一截剪电压(slicing voltage)及一第二截剪电压。该第一比较器比较该第一信号与该第一截剪电压，以产生一第二信号，该第二信号指示记录在该内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置。该第二比较器比较该第一信号与该第二截剪电压，以产生一第三信号，该第三信号指示记录在该外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。该结合模块，结合该第二信号与该第三信号以得到一第四信号，其中该第四信号指示记录在该第一位置以及该第二位置。
本发明还提供一种检测伺服校正记号的方法，用于一光驱。首先，将自一内侧轨道反射的射频信号的一第一强度与自一外侧轨道反射的射频信号的一第二强度相减，以得到一第一信号。接着，产生一第一截剪电压及一第二截剪电压。接着，比较该第一信号与该第一截剪电压，以产生一第二信号，该第二信号指示记录在该内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置。接着，比较该第一信号与该第二截剪电压，以产生一第三信号，该第三信号指示记录在该外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。最后，结合该第二信号与该第三信号以得到一第四信号，其中该第四信号指示记录在该第一位置以及该第二位置。
本发明提供的检测伺服校正记号的方法和检测电路可以决定伺服校正记号的位置，依据伺服校正记号进行光盘的倾斜平衡。
图1为HD-DVD的两个相邻的轨道上所记录的伺服校正记号的示意图；图2a显示记录在内侧轨道与外侧轨道的对称伺服校正记号；
图2b显示当读取对称伺服校正记号时光盘读取头接收到的反射信号强度；图3a显示记录在内侧轨道与外侧轨道的不对称伺服校正记号；图3b显示当读取不对称伺服校正记号时光盘读取头接收到的反射信号强度；图4为估测伺服校正记号的位置的现有电路的区块图；图5为依据本发明的伺服校正记号检测电路的区块图；图6为依据本发明的检测伺服校正记号的方法的流程图；图7显示图5的伺服校正记号检测电路产生的信号；图8为依据本发明的另一伺服校正记号检测电路的区块图；图9为依据本发明的另一检测伺服校正记号的方法的流程图；以及图10显示图8的伺服校正记号检测电路产生的信号。
附图标号500、800～伺服校正记号检测电路；502、802～光盘；504、804～射频模块；506、808～相加处理器；806～推挽式处理器；510、810～伺服校正记号位置产生电路；512、812～直流部分取出器；514、814、815～电压调整模块；516、816～比较器；818～结合模块；520、820～伺服校正记号峰值检测电路；522、822、524、824～峰值记录模块；526、826～多工器；
528、828～模拟至数字转换器；以及530、830～数字处理器。
具体实施例方式
为了让本发明的上述和其他目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举数较佳实施例，并配合说明书附图，作详细说明如下图5为依据本发明的伺服校正记号检测电路500的区块图。伺服校正记号检测电路500设置于一光驱中，用以检测光盘502的伺服校正记号。于一实施例中，光盘502为HD-DVD。首先，光驱的射频模块504藉一射频信号同时投射至两个相邻的轨道上，包括一内侧轨道与一外侧轨道，如图1的射频信号焦点102所示。于一实施例中，射频模块504是一光盘读取头。光盘502的伺服校正记号包括如图1中的对称伺服校正记号112及132及如图1中的不对称伺服校正记号134及114。
伺服校正记号检测电路500包括相加处理器506、伺服校正记号位置产生电路510、数字处理器530、以及伺服校正记号峰值检测电路520。图6为依据本发明的检测伺服校正记号的方法600的流程图。伺服校正记号检测电路500依据方法600检测光盘502的伺服校正记号。相加处理器506首先于步骤602中将自内侧轨道与外侧轨道反射的射频信号的强度相加，以得到一N0信号。由于射频信号的反射信号被区分为4个象限，分别由不同的光传感器A、B、C、D独立检测，如图1所示，因此(A+D)及(B+C)分别表示自内侧轨道与外侧轨道反射的射频信号的强度，而相加处理器506产生的信号N0可表示为(A+B+C+D)。图7显示相加处理器506产生的信号N0。信号N0的区域708对应于对称伺服校正记号，而信号N0的区域712与714分别对应于记录于内侧轨道与外侧轨道的不对称伺服校正记号。
由于在本实施例中不需要运用对称伺服校正记号进行倾斜平衡，因此数字处理器于604中消除N0信号中因对称伺服校正记号而产生的脉冲708。伺服校正记号位置产生电路510接着于步骤606中依据N0信号产生记录在内侧轨道及外侧轨道的不对称伺服校正记号的位置。伺服校正记号位置产生电路510包括截剪电压产生器(slicing level generator)以及比较器516。于一实施例中，该截剪电压产生器包括一直流部分取出器512以及一电压调整模块514。直流部分取出器512取出信号N0的直流部分，该直流部分如图3b的L所示。电压调整模块514接着调整该直流部分的电压，以得到一调整后的直流部分，作为该截剪电压。比较器516接着比较信号N0与该截剪电压，以产生一信号N1，信号N1如图7所示。信号N1的区域702与704分别指示记录在内侧轨道及外侧轨道的不对称伺服校正记号的位置。
数字处理器530接着于步骤608中依据N1信号决定指示记录在内侧轨道的不对称伺服校正记号的位置的1信号以及指示记录在外侧轨道的不对称伺服校正记号的位置的2信号。1信号以及2信号皆显示于图7中，其中1信号的区域722对应于记录在内侧轨道的不对称伺服校正记号的位置，而2信号的区域724对应于记录在外侧轨道的不对称伺服校正记号的位置。
伺服校正记号峰值检测电路520接着依据信号N0、1、2检测记录于内侧轨道与外侧轨道的不对称伺服校正记号的位置。伺服校正记号峰值检测电路520包括两个峰值记录模块522及524、多工器526、以及模拟至数字转换器528。峰值记录模块522于步骤610中依据1信号的使能期间722记录N0信号的峰值P1。由于1信号的使能期间722对应于记录于内侧轨道的伺服校正记号，因此峰值P1对应于内侧轨道的伺服校正记号。峰值记录模块524于步骤612中依据2信号的使能期间724记录N0信号的峰值P2。由于2信号的使能期间724对应于记录于外侧轨道的伺服校正记号，因此峰值P2对应于外侧轨道的伺服校正记号。
在峰值P1与P2送至数字处理器530之前，必须先被转换为数字值。多工器526依据数字处理器530产生的信号3以一通道传送峰值P1与P2至模拟至数字转换器528，其中信号3也显示于图7。接着，模拟至数字转换器528将峰值P1与P2转换为数字值。由于峰值P1与P2表示被内侧轨道与外侧轨道的伺服校正记号所反射射频信号强度，若峰值P1与P2不相等，表示光盘502有倾斜发生。因此，数字处理器530于步骤616中依据峰值P1与P2决定光盘502的倾斜状态。接着，光驱便可于步骤616中依据该倾斜状态进行光盘502的倾斜平衡。因此，伺服校正记号检测电路500不需摆动(wobble)信号的数据便可检测伺服校正记号的位置。
图8为依据本发明的伺服校正记号检测电路800的区块图。伺服校正记号检测电路800依据图9的方法900进行伺服校正记号的检测。图8的伺服校正记号检测电路800大体类似于图5的伺服校正记号检测电路500，除了增加了推挽式处理器(push-pull processor)806、且图8的伺服校正记号位置产生电路810略微不同于图5的伺服校正记号位置产生电路510。因此，下面仅就两者不同处进行说明。
由于图5的伺服校正记号检测电路500仅仅将自内侧轨道与外侧轨道反射的射频信号的强度相加，因此得到的N0信号包含有因对称伺服校正记号所产生的一连串脉冲708，而数字处理器530必须额外去除脉冲708。否则，脉冲708会导致信号N1的错误。数字处理器530对于去除脉冲708的处理增加了其额外的负担并使其结构复杂化。
为了避免上述缺点，图8的伺服校正记号检测电路800增加了推挽式处理器806。推挽式处理器806于步骤902中将自内侧轨道反射的射频信号的第一强度与自外侧轨道反射的射频信号的第二强度相减，以得到N4信号。若反射射频信号如图1中分别由光传感器A、B、C、D进行检测，则推挽式处理器806所产生的N4信号可表示为(A+D-B-C)。如图10中所示，由于对称伺服校正记号产生的脉冲已因算式(A+D-B-C)相消，因此N4信号并没有如图7的N0信号般带有脉冲噪声。由于N4信号中的脉冲噪声已消除或减小，图8的数字处理器830不须额外去除脉冲708，因而减少了数字处理器830的工作负担，并简化了数字处理器830的电路设计。
伺服校正记号位置产生电路810接着于步骤904中依据N4信号产生记录在内侧轨道及外侧轨道的不对称伺服校正记号的位置。伺服校正记号位置产生电路810包括一截剪电压产生器、两个比较器816、817、以及一合并模块818。于一实施例中，该截剪电压产生器包括一直流部分取出器812以及两个电压调整模块814、815。直流部分取出器812取出信号N4的直流部分。由于信号N4的峰值P1’并非如信号N0的峰值P1般为正值，因此需要进行不同的处理。电压调整模块814及815接着分别调整直流部分的电压，以分别得到两个截剪电压。比较器816、817接着分别比较信号N4与该两个截剪电压，以产生信号N5及信号N6，信号N5及信号N6如图10所示。信号N5的区域1002与信号N6的区域1004分别指示记录在内侧轨道及外侧轨道的不对称伺服校正记号的位置。于一实施例中，合并模块818为一或门(OR gate)。或门818对信号N5及信号N6实行或(OR)运算以得到信号N7。如图10所示，信号N7的区域1012与区域1014分别指示记录在内侧轨道及外侧轨道的不对称伺服校正记号的位置。
数字处理器830接着于步骤906依据信号N7导出图7的信号1及2。相加处理器808接着于步骤908中将自内侧轨道与外侧轨道反射的射频信号的强度相加，以得到信号N0。峰值记录模块822与824接着于步骤910及912中依据1及2信号的使能期间记录N0信号的峰值P1及P2。最后，数字处理器830于步骤914中依据峰值P1与P2决定光盘802的倾斜状态。接着，光驱便可于步骤916中依据该倾斜状态进行光盘502的倾斜平衡。因此，伺服校正记号检测电路800也不需摆动(wobble)信号的数据便可检测伺服校正记号的位置。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此项技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。
权利要求
1.一种伺服校正记号检测电路，用于一光驱，该伺服校正记号检测电路包括一相加处理器，将自一内侧轨道与一外侧轨道反射的射频信号的强度相加，以得到一第一信号；一截剪电压产生器，用以产生一截剪电压；以及一比较器，比较所述的第一信号与所述的截剪电压，以产生一第二信号；其中所述的第二信号指示记录在所述的内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置以及记录在所述的外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。
2.如权利要求1所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的截剪电压产生器包括一直流部分取出器，所述的直流部分取出器取出所述的第一信号的直流部分，以作为所述的截剪电压。
3.如权利要求2所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的截剪电压产生器还包括一电压调整模块，该电压调整模块调整所述的直流部分的电压，以得到一调整后的直流部分以作为所述的截剪电压。
4.如权利要求1所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，该伺服校正记号检测电路还包括耦接至所述的比较器的一数字处理器，该数字处理器依据所述的第二信号决定表示所述的第一位置的一第三信号及表示所述的第二位置的一第四信号。
5.如权利要求4所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的伺服校正记号检测电路还包括一第一峰值记录模块，耦接至所述的相加处理器及所述的数字处理器，依据所述的第三信号记录所述的第一信号的一第一峰值，其中该第一峰值是由所述的内侧轨道记录的所述的第一伺服校正记号所产生；以及一第二峰值记录模块，耦接至所述的相加处理器及所述的数字处理器，依据所述的第四信号记录所述的第一信号的一第二峰值，其中该第二峰值是由所述的外侧轨道记录的所述的第二伺服校正记号所产生。
6.如权利要求5所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的第一峰值及第二峰值被送至所述的数字处理器，该数字处理器依据所述的第一峰值及第二峰值决定所述的光盘的一倾斜状态，而所述的光驱依据该倾斜状态进行该光盘的倾斜平衡。
7.如权利要求5所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的伺服校正记号检测电路还包括一多工器，耦接至所述的数字处理器及所述的第一峰值记录模块及所述的第二峰值记录模块，依据所述的数字处理器产生的一第五信号以一通道传送所述的第一峰值及第二峰值；以及一模拟至数字转换器，耦接至所述的多工器，将所述的第一峰值及第二峰值自模拟转换为数字型态，以传送至所述的数字处理器。
8.如权利要求1所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的光驱为一HD-DVD光驱。
9.一种检测伺服校正记号的方法，用于一光驱，其特征在于，该方法包括下列步骤将自一内侧轨道与一外侧轨道反射的射频信号的强度相加，以得到一第一信号；产生一截剪电压；比较所述的第一信号与该截剪电压，以产生一第二信号；其中该第二信号指示记录在所述的内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置以及记录在所述的外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。
10.如权利要求9所述的检测伺服校正记号的方法，其特征在于，所述的截剪电压的产生步骤包括取出所述的第一信号的直流部分以作为所述的截剪电压。
11.如权利要求10所述的检测伺服校正记号的方法，其特征在于，所述的截剪电压的产生步骤还包括调整所述的直流部分的电压，以得到一调整后的直流部分以作为该截剪电压。
12.如权利要求9所述的检测伺服校正记号的方法，其特征在于，该方法还包括下列步骤决定表示所述的第一位置的一第三信号及表示第二位置的一第四信号；依据所述的第三信号记录所述的第一信号的一第一峰值，其中该第一峰值是由所述的内侧轨道记录的所述的第一伺服校正记号所产生；以及依据所述的第四信号记录所述的第一信号的一第二峰值，其中该第二峰值是由所述的外侧轨道记录的所述的第二伺服校正记号所产生。
13.如权利要求12所述的检测伺服校正记号的方法，其特征在于，该方法还包括下列步骤依据所述的第一峰值及第二峰值决定所述的光盘的一倾斜状态；以及依据该倾斜状态进行所述的光盘的倾斜平衡。
14.如权利要求9所述的检测伺服校正记号的方法，其特征在于，所述的光驱为一HD-DVD光驱。
15.一种伺服校正记号检测电路，用于一光驱，其特征在于，该伺服校正记号检测电路包括一推挽式处理器，将自一内侧轨道反射的射频信号的一第一强度与自一外侧轨道反射的射频信号的一第二强度相减，以得到一第一信号；一截剪电压产生器，用以产生一第一截剪电压及一第二截剪电压；一第一比较器，比较所述的第一信号与所述的第一截剪电压，以产生一第二信号，该第二信号指示记录在所述的内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置；一第二比较器，比较所述的第一信号与所述的第二截剪电压，以产生一第三信号，该第三信号指示记录在所述的外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置；以及一结合模块，结合所述的第二信号与所述的第三信号以得到一第四信号；其中该第四信号指示记录在所述的第一位置以及所述的第二位置。
16.如权利要求15所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的截剪电压产生器包括一直流部分取出器，取出所述的第一信号的一直流部分；一第一电压调整模块，调整所述的直流部分的电压，以作为所述的第一截剪电压；以及一第二电压调整模块，调整所述的直流部分的电压，以作为所述的第二截剪电压。
17.如权利要求15所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的结合模块为一或门。
18.如权利要求15所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的伺服校正记号检测电路还包括耦接至所述的结合模块的一数字处理器，该数字处理器依据所述的第四信号决定表示所述的第一位置的一第五信号及表示所述的第二位置的一第六信号。
19.如权利要求18所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的伺服校正记号检测电路还包括一相加处理器，将从所述的内侧轨道与外侧轨道反射的射频信号的强度相加，以得到一第七信号；一第一峰值记录模块，耦接至所述的相加处理器及数字处理器，依据所述的第五信号记录所述的第七信号的一第一峰值，其中该第一峰值是由所述的内侧轨道记录的所述的第一伺服校正记号所产生；以及一第二峰值记录模块，耦接至所述的相加处理器及所述的数字处理器，依据所述的第六信号记录所述的第七信号的一第二峰值，其中该第二峰值是由所述的外侧轨道记录的第二伺服校正记号所产生。
20.如权利要求19所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的第一峰值及第二峰值被送至所述的数字处理器，该数字处理器依据所述的第一峰值及第二峰值决定所述的光盘的一倾斜状态，而所述的光驱依据该倾斜状态进行该光盘的倾斜平衡。
21.如权利要求19所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的伺服校正记号检测电路还包括一多工器，耦接至所述的数字处理器及所述的第一峰值记录模块及所述的第二峰值记录模块，依据所述的数字处理器产生的一第八信号以一通道传送所述的第一峰值及第二峰值；以及一模拟至数字转换器，耦接至所述的多工器，将所述的第一峰值及第二峰值自模拟转换为数字型态，以传送至所述的数字处理器。
22.如权利要求15所述的伺服校正记号检测电路，其特征在于，所述的光驱为一HD-DVD光驱。
23.一种检测伺服校正记号的方法，用于一光驱，其特征在于，该方法包括下列步骤将自一内侧轨道反射的射频信号的一第一强度与自一外侧轨道反射的射频信号的一第二强度相减，以得到一第一信号；产生一第一截剪电压及一第二截剪电压；比较所述的第一信号与该第一截剪电压，以产生一第二信号，所述的第二信号指示记录在所述的内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置；比较所述的第一信号与所述的第二截剪电压，以产生一第三信号，所述的第三信号指示记录在所述的外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置；以及结合所述的第二信号与第三信号以得到一第四信号，其中该第四信号指示记录在所述的第一位置以及第二位置。
24.如权利要求23所述的检测伺服校正记号的方法，其特征在于，产生所述的第一截剪电压及第二截剪电压的步骤包括取出所述的第一信号的一直流部分；调整所述的直流部分的电压，以作为所述的第一截剪电压；以及调整所述的直流部分的电压，以作为所述的第二截剪电压。
25.如权利要求23所述的检测伺服校正记号的方法，其特征在于，所述的方法还包括下列步骤依据所述的第四信号决定表示所述的第一位置的一第五信号及表示所述的第二位置的一第六信号；将从所述的内侧轨道与外侧轨道反射的射频信号的强度相加，以得到一第七信号；依据所述的第五信号记录所述的第七信号的一第一峰值，其中该第一峰值是由所述的内侧轨道记录的所述的第一伺服校正记号所产生；以及依据所述的第六信号记录所述的第七信号的一第二峰值，其中该第二峰值是由所述的外侧轨道记录的所述的第二伺服校正记号所产生。
26.如权利要求25所述的检测伺服校正记号的方法，其特征在于，该方法还包括下列步骤依据所述的第一峰值及第二峰值决定所述的光盘的一倾斜状态；以及依据所述的倾斜状态进行该光盘的倾斜平衡。
全文摘要
本发明提供一种伺服校正记号检测电路，用于一光驱。该伺服校正记号检测电路包括一相加处理器，一截剪电压产生器，以及一比较器。该相加处理器将自一内侧轨道与一外侧轨道反射的射频信号的强度相加，以得到一第一信号。该截剪电压产生器产生一截剪电压。该比较器比较该第一信号与该截剪电压，以产生一第二信号。其中该第二信号指示记录在该内侧轨道的一第一伺服校正记号的一第一位置以及记录在该外侧轨道的一第二伺服校正记号的一第二位置。本发明提供的检测伺服校正记号的方法和检测电路可以决定伺服校正记号的位置，依据伺服校正记号进行光盘的倾斜平衡。
文档编号G11B7/095GK101083092SQ200710105488
公开日2007年12月5日 申请日期2007年6月1日 优先权日2006年6月1日
发明者蔡鸿杰, 林郁轩, 谢享季 申请人:联发科技股份有限公司