专利名称：存储器测试方法
技术领域：
本发明属于计算机测试领域，涉及一种测试方法，尤其涉及一种存储器测试方法。
背景技术：
微电子技术的飞速发展加之电子设备小型化、集成化的趋势，大容量存储器的生产及应用更加广泛，给这一类器件的测试带来了更高的要求。针对存储器测试的ATE均使用地址发生器自动产生地址数据，其适合测试的存储器规模受到地址发生器的限制。目前对于容量较大超出地址发生器位数的器件，如要进行全地址的遍历，多采用手写地址图形的方法，编程人员工作量大，而且管脚图形深度有限(多为128K到16M之间)，完成整块的写入需分多个图形进行。
发明内容
为了解决背景技术中存在的上述技术问题，本发明提供了一种有效利用ATE资源、减少测试图形编写时间以及可提高编程的效率的存储器测试方法。本发明的技术解决方案是:本发明提供了一种存储器测试方法，其特征在于:所述存储器测试方法包括以下步骤:I)对待测试的存储器的所有存储单元中写入数据；2)读取记载于待测试的存储器中的所有存储单元中的数据；3)判断待测试的存储器的地址线的位数与地址发生器ATE地址线的位数的关系；若待测试的存储器的地址线的位数低于或等于地址发生器ATE地址线的位数，则直接进行步骤4);若待测试的存储器的地址线的位数高于地址发生器ATE地址线的位数，则进行步骤5)4)利用地址发生器ATE将步骤2)中所读取的数据与步骤I)中所写入的数据是否相同来判断待测试的存储器的所有存储单元是否正常工作；5)将待测试的存储器的地址线的位数分为低位地址线以及高位地址线；所述高位地址线作为固定位，按照固定位的递增将测试存储器的所有存储单元分块，固定位从全0增加至全1，每增加I就分为一个存储单元；所述低位地址线依次连接ATE地址发生器，由地址发生器ATE自动产生地址数据。本发明的优点是:本发明所提供的存储器测试方法是在测试大规模存储器的过程中，对于存储容量超出地址发生器的器件采用固定高位地址的方式:将较低的地址线依次连接ATE地址发生器，超出的高位地址作为固定位，按照固定位的递增将测试图形分块，固定位从全0增加至全1，每增加I就分为一个图形(对于每个测试图形，超出地址发生器的高位地址是固定不变的，所以称其为固定位)，这样，在每一个图形内，可采用地址发生器自动产生地址数据，通过分块执行所有测试图形，实现对器件所有存储单元的遍历。突破ATE地址发生器的限制，最大程度利用设备资源，减少编程人员图形编写量及由此可能带来的输入错误等问题。完成了对器件所有存储单元的检测，有效利用了 ATE资源，减少了测试图形编写时间，提高了编程的效率。
具体实施例方式本发明提供了一种存储器测试方法，该方法包括以下步骤:I)对待测试的存储器的所有存储单元中写入数据；2)读取记载于待测试的存储器中的所有存储单元中的数据；3)判断待测试的存储器的地址线的位数与地址发生器ATE地址线的位数的关系；若待测试的存储器的地址线的位数低于或等于地址发生器ATE地址线的位数，则直接进行步骤4);若待测试的存储器的地址线的位数高于地址发生器ATE地址线的位数，则进行步骤5)4)利用地址发生器ATE将步骤2)中所读取的数据与步骤I)中所写入的数据是否相同来判断待测试的存储器的所有存储单元是否正常工作；5)将待测试的存储器的地址线的位数分为低位地址线以及高位地址线；所述高位地址线作为固定位，按照固定位的递增将测试存储器的所有存储单元分块，固定位从全0增加至全1，每增加I就分为一个存储单元；所述低位地址线依次连接ATE地址发生器，由地址发生器ATE自动产生地址数据。测试大规模存储器的过程中，对于存储容量超出地址发生器的器件采用固定高位地址的方式:将较低的地址线依次连接ATE地址发生器，超出的高位地址作为固定位，按照固定位的递增将测试图形分块，固定位从全0增加至全1，每增加I就分为一个图形(对于每个测试图形，超出地址发生器的高位地址是固定不变的，所以称其为固定位)，这样，在每一个图形内，可采用地址发生器自动产生地址数据，通过分块执行所有测试图形，实现对器件所有存储单元的遍历。以使用配置有16位地址发生器的ATE机台J750测试SRAM器件ACT-S128K32为例:该器件存储单元为128K，即地址线AO A16共17位，为使用该方法进行器件全地址单元“走0”测试，将器件AO A15管脚接ATE地址发生器，测试图形分为两个，第一个A16固定为“0”，第二个A16固定为“1”，每个测试图形内部地址的递加由地址发生器生成，实现64K存储单元的测试，执行两个测试图形后，器件全地址单元“走0”测试完成。以使用配置有16位地址发生器的ATE机台J750测试EPROM器件AM27C4096为例:该器件存储单元为256K，即地址线AO A17共18位，为使用该方法进行器件全地址单元“走0”测试，将器件AO A15管脚接ATE地址发生器，按A16 A17从“00”递增至“ 11”编写4个测试图形，每个测试图形内部地址的递加由地址发生器生成，实现64K存储单元的测试，执行四个测试图形后，器件全地址单元“走0”测试完成。以使用配置有16位地址发生器的ATE机台J750测试FLASH器件ACT-F512K32为例:该器件存储单元为512K，即地址线AO A18共19位，为使用该方法进行器件全地址单元“走0”测试，将器件AO A15管脚接ATE地址发生器，按A16 A18从“000”递增至“111”编写8个测试图形，每个测试图形内部地址的递加由地址发生器生成，实现64K存储单元的测试，执行所有8个测试图形后，器件全地址单元“走0”测试完成。
权利要求
1.一种存储器测试方法，其特征在于:所述存储器测试方法包括以下步骤: 1)对待测试的存储器的所有存储单元中写入数据； 2)读取记载于待测试的存储器中的所有存储单元中的数据； 3)判断待测试的存储器的地址线的位数与地址发生器ATE地址线的位数的关系；若待测试的存储器的地址线的位数低于或等于地址发生器ATE地址线的位数，则直接进行步骤4);若待测试的存储器的地址线的位数高于地址发生器ATE地址线的位数，则进行步骤5)； 4)利用地址发生器ATE将步骤2)中所读取的数据与步骤I)中所写入的数据是否相同来判断待测试的存储器的所有存储单元是否正常工作； 5)将待测试的存储器的地址线的位数分为低位地址线以及高位地址线；所述高位地址线作为固定位，按照固定位的递增将测试存储器的所有存储单元分块，固定位从全O增加至全1，每增加I就分为一个存储单元；所述低位地址线依次连接ATE地址发生器，由地址发生器ATE自动产生地址数据。
全文摘要
一种存储器测试方法，包括1)写入数据；2)读取数据；3)若待测试的存储器的地址线的位数低于或等于地址发生器ATE地址线的位数，利用地址发生器ATE将读取的数据与写入的数据是否相同来判断待测试的存储器的所有存储单元是否正常工作；若待测试的存储器的地址线的位数高于地址发生器ATE地址线的位数，将待测试的存储器的地址线的位数分为低位地址线以及高位地址线；按照固定位的递增将测试存储器的所有存储单元分块，固定位从全0增加至全1，每增加1就分为一个存储单元；低位地址线连接ATE地址发生器，由地址发生器ATE自动产生地址数据。本发明具有可有效利用ATE资源、减少测试图形编写时间以及可提高编程的效率的优点。
文档编号G11C29/18GK103187103SQ20111044851
公开日2013年7月3日 申请日期2011年12月28日 优先权日2011年12月28日
发明者刘文媛, 罗弘 申请人:中国航空工业集团公司第六三一研究所