技术总结
提供一种与现有技术相比电路构成简单且可高精确度观测内部电压波形的半导体装置，所述半导体装置包括：测试模式的控制电路，其检测半导体装置在既定的观测期间中进行动作时的内部电压而进行波形观测；以及比较单元，其在所述观测期间中将所述内部电压与既定的基准电压进行比较而输出比较结果信号，使所述基准电压变化而进行所述比较，并将所述观测期间的内部电压的电压波形的比较结果信号输出到测试装置。
技术研发人员：马蒂亚斯.Y.G.培尔
受保护的技术使用者：力晶科技股份有限公司
文档号码：201510900736
技术研发日：2015.12.09
技术公布日：2017.02.22