本发明涉及一种基于ft4222的spinandflash测试方法，属于spinandflash测试领域。
背景技术：
spinandflash测试通常由两块fpga板相连，一块作为host端，一块作为device端，测试时通过host端执行不同的指令测试device端的各种功能是否正确。此方法有2个弊端，一是由于host端执行的bin文件烧在rom里，因此测试过程中，需要频繁的烧录，比较麻烦。二是这种测试只能测正常情况下的spi的功能和响应，有些特殊情况或是测试内容无法实现，不够灵活。
于是，采用ft4222模拟host行为，把需要执行的指令编辑在文本文档中，测试时只需要修改文本文档中的内容，然后通过软件程序loadfile并执行，指令可以任意组合搭配，并且方便修改，提高效率。
spi协议是一个简易便捷的通信协议，各种主控芯片上都会存在，用于连接周边模块。目前存储芯片应用广泛，需求量大，spinandflash在各种设备上都有应用，而flash的稳定性需要大量测试保证，并且spinandflash的测试需要长时间大量的资料读写，随机区块存取等复杂的操作，所以需要一个系统的方法来对flash进行测试。
技术实现要素：
针对上述技术问题，本发明旨在提供一种基于ft4222的spinandflash测试方法，该测试方法可以测试简单的spinandflash的读、写、擦除、burnintest(稳定性测试)，同时还可通过修改测试软件程序代码，达到一些特殊的测试目的。
为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
基于ft4222的spi闪存测试系统，所述测试系统包括处理器模块、spinandflash模块、ft4222芯片模块以及各模块之间的通信连接。
所述处理器模块与ft4222芯片模块间通过usb连接。
所述处理器模块用于生成测试指令，所述测试指令经usb传输到ft4222芯片模块，由ft4222芯片模块自带usb和spi协议的转换功能，把待测的指令转换成spi形式，传给spinandflash模块运行指令后，再通过ft4222芯片模块把结果传回到所述处理器模块上，从而判断指令运行的正确性。
基于ft4222的spi闪存测试方法，所述测试方法根据测试人员输入的测试语句，调用调试工具中的ft4222芯片设备，针对不同参数的spinandflash模块配置测试条件，最后将测试语句载入到ft4222芯片模块对所述spinandflash模块进行测试。
进一步的，所述方法具体包括以下步骤：
步骤一，在处理器模块中输入所需要测试的指令；
步骤二，脚本文件输入完毕后，打开调用调试工具，获取与处理器连接的芯片设备，选中ft4222芯片设备；然后设置spinandflash模块参数以及测试所需的条件，将所述待测指令文档载入，通过ft4222芯片模块的库函数实现spinandflash的测试工作；
步骤三，通过逻辑分析仪观察波形检验指令运行结果的正确性。
所述处理器模块为pc。
所述在处理器模块中输入所需要测试的指令具体为：首先创建一个文本文档，输入所需要测试的指令，如果是多条组合需分行输入，格式为两个字节十六进制数，以空格隔开，依次排列下去，输入完以回车换行。
所述逻辑分析仪从fpga上采集数字信号。
本发明具有如下创新：
采用ft4222模拟host行为，把需要执行的指令编辑在文本文档中，测试时只需要修改文本文档中的内容，然后通过软件程序loadfile并执行，指令可以任意组合搭配，并且方便修改，提高效率。
spi协议是一个简易便捷的通信协议，各种主控芯片上都会存在，用于连接周边模块。目前存储芯片应用广泛，需求量大，spinandflash在各种设备上都有应用，而flash的稳定性需要大量测试保证，并且spinandflash的测试需要长时间大量的资料读写，随机区块存取等复杂的操作，所以需要一个系统的方法来对flash进行测试。
该测试方法可以测试简单的spinandflash的读、写、擦除、burnintest(稳定性测试)，同时还可通过修改测试软件程序代码，达到一些特殊的测试目的，例如模拟h2test，随机区块的读写，各种datapattern组合以及测试flash的读写效能等，并且在测试中可以按需求增加测试项目，达到自动化测试功能。
附图说明
图1是本发明测试方法的系统结构图。
具体实施方式
本发明提供一种基于ft4222的spinandflash测试系统，如图1所示，所述测试系统包括处理器模块、spinandflash模块、ft4222芯片模块以及各模块之间的通信连接；所述处理器模块与ft4222芯片模块间通过usb连接。
所述处理器模块用于生成测试指令，所述测试指令经usb传输到ft4222芯片模块，由ft4222芯片模块自带usb和spi协议的转换功能，把待测的指令转换成spi形式，传给spinandflash模块运行指令后，再通过ft4222芯片模块把结果传回到所述处理器模块上，从而判断指令运行的正确性。
基于上述测试系统，本发明提供一测试方法，所述测试方法根据测试人员输入的测试语句，调用调试工具中的ft4222芯片设备，针对不同参数的spinandflash模块配置测试条件，最后将测试语句载入到ft4222芯片模块对所述spinandflash模块进行测试。
具体的说，所述方法具体包括以下步骤：
步骤一，在处理器模块中输入所需要测试的指令；把多条单一指令组合起来编辑成脚本进行自动化测试，减少繁琐的人工操作，脚本的优势；
步骤二，脚本文件输入完毕后，打开调用调试工具，获取与处理器连接的芯片设备，选中ft4222芯片设备；然后设置spinandflash模块参数以及测试所需的条件，将所述待测指令文档载入，通过ft4222芯片模块的库函数实现spinandflash的测试工作；(以脚本方式运行，可编辑性强，操作方便)
步骤三，按照界面上的操作流程进行测试，通过逻辑分析仪观察波形检验指令运行结果的正确性。
上述逻辑分析仪从fpga上采集的数字信号，如芯片使能，命令/地址锁存，读写使能，数据等信息，检验指令运行结果的正确性。
本实施例所采用的可编程的电路，用硬件描述语言完成电路的设计烧录到fpga上进行测试，这里的可编程电路是常规的选择，用作ic设计验证，这里即是用来测试spi闪存。
所述处理器模块为pc。
所述在处理器模块中输入所需要测试的指令具体为：首先创建一个文本文档，输入所需要测试的指令，如果是多条组合需分行输入，格式为两个字节十六进制数，以空格隔开，依次排列下去，输入完以回车换行。
具体实施方式：
1)首先创建一个文本文档，输入所需要测试的指令，如果是多条组合需分行输入，格式为两个字节十六进制数，以空格隔开，依次排列下去，输入完以回车换行。如：
写命令0x02+columnaddr+数据
读命令0x03/0x3b/0x6b/0xeb/0xbb+columnaddr+长度(两字节十六进制)
0x13/0x10+block/pageaddr
擦除命令0xd8+blockaddr
2)脚本文件输入完毕后，打开debugtool，点击scanbutton，openft4222device，然后在界面上设置各种flash参数以及测试所需的条件，完成后点击loadfilebutton，把刚才创建的指令文档载入，通过编程调用ft4222的库函数实现spinandflash的测试工作。
3)运行结果显示在右侧空白区域，同时可以通过逻辑分析仪观察波形检验指令运行结果的正确性。
该测试方法可以测试简单的spinandflash的读、写、擦除、burnintest(稳定性测试)，同时还可通过修改测试软件程序代码，如把多条单一指令有规律，可以按需求或者说是按照flash工作特性，例子就是下一句所描述的。的组合起来以达到一些特殊的测试目的，例如模拟h2test，flash全区块顺序写读检验，随机区块的读写，地址随机变化的写读操作，各种datapattern组合，不同数据如全0，全1以及随机数等，以及测试flash的读写效能，flash的写读速度稳定性等，并且在测试中可以按需求增加测试项目，达到自动化测试功能。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。