专利名称：光盘重放装置的光道检测电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及在跳跃光道时检测有无横穿的光道的光盘重放装置的光道检测电路。
在已有的光盘重放装置中，附加有飞越光盘上的多条光道的跳跃功能。作为这种跳跃光道功能，开始，设定在光盘上跳跃的光道条数。设定后开始跳跃光道，根据随跳跃中有无光道而电平变化的检测信号，对飞越哪条光道进行计数，当达到预定的光道条段时停止跳跃光道。根据光道检测信号进行光道的计数，但是发生此光道检测信号的已有的光道检测电路的构成如图3所示。
图3中，从光盘(图中未示出)反射的激光，照射在分割成4份的光电二极管PDa至PDd上。此激光，在进行聚焦误差伺服的同时，是用于获得音频信号重放处理所用的RF信号的主激光，用于进行跟踪误差的两束付激光以及用于进行所谓3点方式的误差检测方式的激光。利用激光的光电转换而发生的光电二极管PDa和PDc的输出信号相加后，通过放大电路2放大，而且光电二极管PDb和PDd的输出信号相加后，通过放大电路1放大。放大电路1和2的输出信号经加法电路3相加，获得RF信号。
这里，若根据跳跃光道点光在光盘上沿半径方向移动，则加法电路3的输出信号a，如图4(イ)所示，上侧为一定电压、下侧随光道的有无而电平变化的信号。加法电路3的输出信号a由峰值检波电路4进行峰值检波，同时由底部检波电路5进行底部检波。由此，峰值检波电路4的输出信号b如图4(ロ)所示，成为包络检波图4(イ)和信号上侧的信号，底部检波电路5的输出信息C如图4(ハ)所示，成为包络检波图4(イ)的信号下侧的信号。峰值检波电路4和底部检波电路5的输出信号b和c，经减法电路6相减，从减法电路6获得减法结果，如图4(ニ)所示的输出信号d。
之后，减法电路6的输出信号d加在峰值保持电路7。由于峰值保持电路7的时间常数设定得比输出信号d的变化大得多，所以峰值保持电路7的输出信号成为保持输出信号d的峰值的值。然后，峰值保持电路7的输出信号经衰减电路8衰减，通过衰减获得如图4(ホ)所示的后段的比较电路9的基准值。在比较电路9中，减法电路d的输出信号d与基准值e比较，如图4(ハ)所示，在输出端OUT根据光道的有无发生光道检测信号。
但是，如果光盘存在损伤，则加法电路3的输出信号a如图5(イ)所示在信号上侧也变化。如果对此输出信号a做峰值检波，则峰值检波电路4的输出信号b如图5(ロ)所示，在损伤部分发生电平变动。但是，底部检波电路5的输出信号c不受损伤的影响。峰值检波电路4和底部检波电路5的输出信号b和c，经减法电路6相减，减法电路6的输出信号d如图5(ニ)所示，发生因光道有无的变化和因损伤的变化。在比较电路9，通过输出信号d与基准值e的比较，如图5(ホ)所示，获得光道检测信号f。如从图5(ホ)可知，因损伤而RF信号发生的变化也作为光道误检出，其结果表示为光道检测信号。
根据图3的已有例子，光点在有伤的光盘上沿半径方向移动时，存在损伤也作为光道被误检出的问题。为此，跳跃光道时，不能正确地对光道的条数进行计数，不能仅做设定的预定条数的跳跃光道。
根据本发明的光盘装置的光道检测电路，当光点沿光盘半径方向移动时，发生光道检测信号，其特征在于包括检波电路，对RF信号的底部或峰值之一进行检波；A/D转换电路，对所述检波电路的输出信号做数字信号的转换；数字处理电路，根据所述A/D转换电路的数字信号获得基准值；D/A转换电路，对来自所述数字处理电路的基准值做D/A转换，发生基准信号；比较电路，对所述检波电路的输出信号和来自所述D/A转换电路的基准信号做比较。
而且，本发明的特征在于，所述数字处理电路包括最大值检测装置和最小值检测装置，分别检测所述A/D转换电路的输出信号的最大值和最小值；运算装置，对所述最大值和最小值进行运算获得所述基准值，保持电路，保持所述运算装置的输出信号。
再者，本发明的特征在于，所述基准值的运算时，光点横跨光道的速度，成为所述AD转换电路的取样频率能响应检波电路的输出信号变化的速度。
根据本发明，在光点横跨光盘时，对RF信号的底部或峰值检波，经AD转换电路对底部或峰值做数字转换。把AD转换电路的输出信号加在数字处理电路，生成基准值。基准值经DA转换电路转换成基准信号，加在比较电路。底部值或峰值在比较电路与基准信号比较，根据光道的有无发生电平变化的光道检波信号。此时，由于使RF信号的底部或峰值之一与基准信号比较，所以因损伤而引起的RF信号的变化被检波电路遮断，因损伤而引起的变化不包含在光道检测信号中。
图1是本发明实施例的方框图。
图2是图1电路的各输出波形的波形图。
图3是已有技术的方框图。
图4是图3电路的各输出波形的波形图。
图5是使用有伤光盘时图3电路的各输出波形的波形图。
图1展示了本发明的实施例，10是对底部检波电路5的输出信号做数字变换的AD转换电路；11是数字处理电路，由检出AD转换电路10的输出信号的最大值的最大值检测电路12、检出AD转换电路10的输出信号的最小值的最小值检测电路13、从最大值检测电路12和最小值检测电路13的输出信号运算基准值和运算电路14、保持运算电路14的基准值和保持电路15组成；16是对保持电路15的输出信号做模拟转换的DA转换电路；17是对底部检波电路5和DA转换电路16的输出信号做比较的比较电路；18是控制电路，发生用于移动含光电二极管PD的光拾取头的控制信号i，并发生用于使保持电路15复位的复位信号h；19是根据控制信号i驱动的驱动器；20是根据驱动器19的输出信号移动光拾取头的螺旋马达。而且，图1中是仅采用RF信号的底部值获得光道检出信号的构成。与图3相同的电路标以与图3相同的标号。
图1中，交换盘时，如果在控制电路18施加表示盘交换结果的信号g，则控制电路18向保持电路15施加复位信号h，保持电路15复位。同时，控制电路18向驱动器19施加控制信号i，驱动器19驱动螺旋电机20，以包含光电二极管PDa至PDd的光拾取头以预定速度沿光盘半径方向移动。光电二极管PDa和PDc的相加信号经放大电路2放大后加在加法电路3，同时光电二极管PDb和PDd的相加信号经放大电路1放大后加在加法电路3。通过移动光拾取头使点光横跨光道，因而加法电路3的输出信号a，如图2(イ)所示，成为其下侧信号随光盘的光道有无而变化的信号。加法电路3的输出信号a经底部检波电路5做底部检波，其输出信号C如图2(ロ)所示成为对输出信号a的下侧信号进行包络检波的信号。
然后，底部检波电路5的输出信号C经AD转换电路10做AD转换。在AD转换电路10，按预定的取样频率对输出信号进行取样，根据其电平使取样值变换为多位数据。但是，按预定速度先移动光拾取头，而此预定速度是考虑AD转换电路10的取样频率而设定的。例如，如果以与跳跃光道时相同的速度移动光拾取头，则底部检波电路5的输出信号C的变化不能跟踪取样频率，AD转换电路10不能对底部检波电路5的输出信号C做正确的AD转换。为了对底部检波电路的输出信号C正确地AD转换，使光拾取头的移动速度变为AD转换电路9的取样频率充分跟踪底部检波电路5的输出信号变化的速度。在交换盘时或电源接通时的基准值运算情况下进行这种速度变更。图1中，通过控制信号i，跳跃光道时的光拾取头速度更为延迟。
AD转换电路10的输出信号j加在数字处理电路11内的最大值检波电路12和最小值检测电路13。最大值检测电路12检出AD转换电路10的输出信号的最大值Vmax，最小值检测电路13检出AD转换电路10的输出信号的最小值Vmin。最大值Vmax和最小值Vmin加在运算电路14，运算电路14运算比较电路17用的基准值。运算电路14中，若设基准值为Vr，则根据下式运算基准值VrVr＝(Vmax-Vmin)×N+Vmin(1)按最大值Vmax和最小值Vmin之差的预定比例运算，与查验值Vmin相加，获得基准值。但是，如下述N是用于确定光道检测信号的占空比的系数，O＜N＜1。
由运算电路14产生的基准值Vr加在保持电路15，进行保持。保持的基准值Vr经DA转换电路16做模拟转换，DA转换电路16产生基准电压Vref。基准电压Vref加在比较电路17的负输入端。基准电压Vref与底部检波电路5的输出信号C的关系如图2(ロ)所示。如果上述的基准值Vr的运算及保持结束，则进行光盘重放装置的通常动作。而且，每次盘交换都进行这种基准电压Vref的设定。不仅在盘的交换时，而且在电源接通时也进行基准电压Vref的设定。
然后，说明通常动作的跳跃光道时的动作。根据跳跃光道的指令，包含光电二极管PDa至PDd的光拾取头沿光盘半径方向移动。通过此移动，从加法电路3发生输出信号a，如图2(ハ)所示，信号a的下侧电平随着光盘的光道有无而变化。加法电路3的输出信号a经底部检波电路5做底部检波，获得如图2(ニ)所示对输出信号a的下侧做包络检波的输出信号c。底部检波电路5的输出信号c在比较电路17与基准电压Vref比较。基准电压Vev是进入通常动作前得到的值，通常动作中保持于保持电路15中。比较的结果，从比较电路17产生图2(ホ)所示，根据光盘的光道有无为“H”和“L”的光道检测信号K。比较电路17的光道检测信号K输送至后段电路，用于对光道条数的计数。而且，由于易于进行光道条数的计数，所以比较电路17的输出信号K的占空比可望达到50％左右。该占空比根据基准电压Vref变化。然后利用式(1)的系数N变更基准电压Vrev。因此式(1)的系数N设定成光道检测信号K的占空比约为50％。
以下，说明交换有伤光盘的情况。在进入通常动作之前，进行上述比较电路17的基准电压Vref的设定动作。此时，由于光盘有伤，所以加法电路3的输出信号a，如图5(イ)所示上侧电平因伤降低而变化。但是，由于底部检波电路5对加法电路3的输出信号a的底部进行检波，所以底部检波电路5的输出信号C，如图2(ロ)所示成为包络输出纹号a下侧的信号，不受上侧信号变化的影响。即，因伤而导致的加法电路3的输出信号a的变化被底部检波电路5遮断。结果，基准电压Vref的设定不受损伤的影响，可以仅由随光盘光道的有无而变化的信号良好地设定。
之后，通常动作的跳跃光道时，加法电路3的输出信号a上侧电平随着光盘上的伤如图5(イ)所示地变化。由于因光盘损伤而导致的电平变化被底部检波电路5遮断，所以底部检波电路5的输出信号C，如图2(ニ)所示成为仅对应于光盘光道的信号。由此，比较电路17的光道检测信号K成为随光道的有无而具有“L”和“H”的电平。
这样，比较电路17的基准电压Vref的运算以及光道检测信号的生成，全部根据RF信号的底部值进行，与受光盘损伤影响的RF信号的峰值无任何关系。由此，光道检测信号不受光盘损伤的任何影响。
以上，说明了加法电路3的输出信号之中，下侧对应于光盘的光道的信号的发生情况，上侧对应于损伤的信号的发生情况。但是，与此相反，加法电路3的输出信号之中，上侧对应于光盘光道的信号的发生情况，下侧对应于损伤的信号的发生情况，加法电路3的输出信号只是由图5(イ)的波形做上下颠倒。由此，若采用峰值检波电路代替底部检波电路5
可以象图1电路那样排除损伤的影响。
根据本发明，由于仅根据因光道的有无而产生的RF信号的变化，生成用于与RF信号的底部值比较的基准值，所以可以用底部检波电路遮断RF信号因损伤而产生的峰值变化，防止因损伤对光道检测信号的影响。由此，即使光盘有伤，也可以防止把损伤作为光道的误计数。
而且，由于根据底部值的最大值和最小值获得数字式的基准值，所以可以简单地改变获得基准值的处理，可以与光道检测信号的占空比，任意设定基准值。
再者，设定基准值时，由于按AD转换电路的取样频率与RF信号变化对应的方式改变光拾取头的移动速度，所以可正确地获得基准值。
权利要求
1.光盘重放装置的光道检测电路，光点沿光盘半径方向移动时，发生光道检测信号，其特征在于包括检波电路，对RF信号的底部或峰值之一进行检波；A/D转换电路，对所述检波电路的输出信号做数字信号的转换；数字处理电路，根据所述A/D转换电路的数字信号获得基准值；D/A转换电路，对来自所述数字处理电路的基准值做D/A转换，发生基准信号；比较电路，对所述检波电路的输出信号和来自所述D/A转换电路的基准信号做比较。
2.根据权利要求1的光盘重放装置的光道检测电路，其特征在于，所述数字处理电路包括最大值检测装置和最小值检测装置，分别检测所述A/D转换电路的输出信号的最大值和最小值；运算装置，对所述最大值和最小值进行运算，获得所述基准值；保持电路，保持所述运算装置的输出信号。
3.根据权利要求1的光盘重放装置的光道检测电路，其特征在于，所述基准值的运算时，光点横跨光道的速度，成为所述AD转换电路的取样频率能响应检测电路的输出信号的变化的速度。
全文摘要
一种光盘重放装置,随光道的有无而发生的光道检测信号不受光盘损伤的影响。光盘交换后,来自加法电路3的RF信号经底部检测电路5做底部检波,底部检波电路的输出信号经AD转换电路10做数字转换,由最大值检测电路12和最小值检测电路13分别获得最大值和最小值。最大值和最小值加在运算电路14,根据最小值或者最大值运算基准值。把基准值保持在保持电路15,再经DA转换电路16做模拟转换。光道跳跃时,底部检波电路5的输出信号在比较电路17与对应于所述基准的基准电压V
文档编号G11B7/085GK1199217SQ9712608
公开日1998年11月18日 申请日期1997年10月31日 优先权日1996年10月31日
发明者栗原信二 申请人:三洋电机株式会社