双层富硅SiNx背钝化结构及其工艺的制作方法

文档序号:6996845阅读:355来源:国知局
专利名称:双层富硅SiNx背钝化结构及其工艺的制作方法
技术领域
本发明涉及一种硅电池的背钝化技术领域。
背景技术
现在晶体硅太阳能电池背钝化高效电池一般采用热氧化生长的Si02实现背钝 化。部分高效电池也采用SiNx和Si02叠层实现背钝化,达到了提高Uoc的效果。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种实现电池背钝化,提高电池效率的硅电 池的背钝化结构及其工艺。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是一种双层富硅SiNx背钝化结构,包 括P型硅基体,在基体的正面是N型扩散区,在基体的背面通过双层SiNx叠层钝化。N型扩散区的表面镀氮化硅,或氧化硅和氮化硅的叠层,氮化硅在氧化硅的上层。一种双层富硅SiNx背钝化工艺,其工艺步骤如下1)P型硅片经过制绒、扩散、后清洗;2)正面PECVD镀SiNx,折射率为2 2. 1,厚度为75 90nm ;3)背面PECVD镀双层SiNx,折射率为2. 2 2. 4,叠层厚度为80 IOOnm ;4)制作电极;5)烧结。本发明的有益效果是在高效晶体硅太阳能电池的基础上,采用双层富硅SiNx叠 层作为背钝化的介质,和正常生产工艺相比有以下的特点1. SiNx带正电荷,用其做背钝 化面,可以降低背场复合,显著提高Uoc。采用双层富硅SiNx进一步降低了复合。2. IQE长 波响应可以得到提高。


下面结合附图和实施例对本发明进一步说明;图1是本发明的电池结构示意图;图中,1.基体,2. N型扩散区,3.双层SiNx叠层,4.氮化硅或氧化硅和氮化硅的叠 层,5.点接触Al。
具体实施例方式如图1所示,一种双层富硅SiNx背钝化结构,包括P型硅基体1,在基体1的正面 是N型扩散区2,在基体1的背面通过双层SiNx叠层3钝化,并用湿法化学刻蚀开槽,印刷 点接触A15,激光烧结。N型扩散区2的表面镀氮化硅或氧化硅和氮化硅的叠层4,氧化硅和 氮化硅的叠层中氮化硅在氧化硅的上层。双层富硅SiNx背钝化工艺的工艺步骤如下
1)P型硅片经过碱制绒、扩散、后清洗;2)正面PECVD镀SiNx,折射率一般为2. 0左右,厚度为75 90nm ;3)背面PECVD镀双层SiNx,折射率一般为2. 3左右,叠层厚度为80 IOOnm ;4)背面采用湿法刻蚀开槽,印刷点接触A15,激光烧结;5)正面印刷;6)烧结,测试。
权利要求
1.一种双层富硅SiNx背钝化结构,包括P型硅基体(1),在基体(1)的正面是N型扩 散区O),其特征是在在所述的基体(1)的背面通过双层SiNx叠层C3)钝化。
2.根据权利要求1所述的双层富硅SiNx背钝化结构,其特征是所述的N型扩散区(2) 的表面镀氮化硅或氧化硅和氮化硅的叠层,氧化硅和氮化硅的叠层中氮化硅在氧化硅 的上层。
3.根据权利要求1所述的双层富硅SiNx背钝化工艺,其特征是工艺步骤如下 DP型硅片经过制绒、扩散、后清洗;2)正面PECVD镀SiNx,折射率为2 2.1,厚度为75 90nm ;3)背面PECVD镀双层SiNx,折射率为2.2 2. 4,叠层厚度为80 IOOnm ;4)制作电极;5)烧结。
全文摘要
本发明涉及一种硅电池的背钝化技术领域,特别是一种双层富硅SiNx背钝化结构及其工艺,该结构包括P型硅基体,在基体的正面是N型扩散区,在基体的背面通过双层SiNx叠层钝化。其工艺步骤如下1、P型硅片经过制绒、扩散、后清洗;2、正面PECVD镀SiNx;3、背面PECVD镀双层SiNx;4、制作电极;5、烧结。在高效晶体硅太阳能电池的基础上,采用双层富硅SiNx叠层作为背钝化的介质,和正常生产工艺相比有以下的特点1.SiNx带正电荷,用其做背钝化面,可以降低背场复合,显著提高Uoc。采用双层富硅SiNx进一步降低了复合。2.IQE长波响应可以得到提高。
文档编号H01L31/0216GK102148263SQ20111006256
公开日2011年8月10日 申请日期2011年3月16日 优先权日2011年3月16日
发明者许艳 申请人:常州天合光能有限公司
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