一种电力电缆半导电层电阻率测量装置的制作方法

本实用新型涉及半导电层电阻率测量领域，特别是一种电力电缆半导电层电阻率测量装置。

背景技术：

随着电力工业规模的发展及城市扩建，架空线改造为电力电缆的相关改造工程日益增多。针对电力电缆相关的结构优化、材料性能改造研究越来越多，诸如关于材料性能改善的半导电层的研究，为了缓和电缆内部电场集中，改善绝缘层内外表面电场应力分布，提高电缆的电气强度，要求在导电线芯和绝缘层、绝缘层和金属屏蔽层之间分别加有一层半导电屏蔽层。国内外学者研究表明，控制半导电屏蔽层性能是改善电缆运行特性、提高电缆运行寿命的重要技术措施，而半导电层电阻率是其中一个重要指标。因此，开展半导电层电阻率的相关试验研究具有重要意义，通过分析半导电层电阻率试验数据，指导半导电层材料优化，改善电缆运行特性，提高电缆运行寿命。

现有的半导电层电阻率的测量通常采用简单的铁丝绑扎，无法保证仪器与试样之间的接触良好，并且在试验仪器内，试样、模具容易与仪器内壁接触，同样容易造成检测结果的偏差。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种电力电缆半导电层电阻率测量装置，保证各个部分良好接触，同时可有效的避免系统误差，同时其结构简单，安装方便，极大方便了相关工作人员进行试验。

为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种电力电缆半导电层电阻率测量装置，包括圆柱体、恒力弹簧和片状电极，圆柱体侧壁上缠绕设有四根恒力弹簧，恒力弹簧一端设有片状电极。

优选的方案中，所述的圆柱体的侧壁上以二分之一的位置为零刻度，在零刻度上下两端分别25mm、50mm的位置设有第一卡槽，恒力弹簧未设有片状电极的一端上设有第一卡块，恒力弹簧通过第一卡块插入第一卡槽固定在圆柱体侧壁上。

优选的方案中，所述的片状电极上设有第二卡块，恒力弹簧在与片状电极连接的一端上设有连接块，连接块上设有第二卡槽，片状电极与恒力弹簧之间通过第二卡块插入第二卡槽固定。

优选的方案中，所述的圆柱体上设有轴向的通孔。

优选的方案中，所述的片状电极表面设有均匀分布的凹坑。

本新型所提供的一种电力电缆半导电层电阻率测量装置，通过采用上述结构，具有以下有益效果：

（1）利用恒力弹簧将试样固定在圆柱体侧壁上，保证了弹簧与试样之间的紧密贴合及接触，避免了因接触不到位造成的实验误差；

（2）在仪器中进行实验时，通过在圆柱体通孔中穿插一根水平的固定柱，能够使整个装置悬空，避免了装置与实验仪器内壁接触造成的实验误差；

（3）片状电极表面均匀分布的凹坑能够使实验仪器的夹具能够与片状电极紧密连接，保证连接的稳定性。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明：

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型的圆柱体结构示意图。

图3为本实用新型的恒力弹簧结构示意图。

图4为本实用新型的片状电极结构示意图。

图中：圆柱体1，恒力弹簧2，片状电极3，第一卡槽101，通孔102，连接块201，第二卡槽202，第一卡块203，第二卡块301。

具体实施方式

如图中，一种电力电缆半导电层电阻率测量装置，包括圆柱体1、恒力弹簧2和片状电极3，其特征是：圆柱体1侧壁上缠绕设有四根恒力弹簧2，恒力弹簧2一端设有片状电极3。

优选的方案中，所述的圆柱体1的侧壁上以二分之一的位置为零刻度，在零刻度上下两端分别25mm、50mm的位置设有第一卡槽101，恒力弹簧2未设有片状电极3的一端上设有第一卡块203，恒力弹簧2通过第一卡块203插入第一卡槽101固定在圆柱体1侧壁上。采用上述结构，利用恒力弹簧2，能够实现对试样的固定，同时保证了弹簧与试样之间的接触良好。

优选的方案中，所述的片状电极3上设有第二卡块301，恒力弹簧2在与片状电极3连接的一端上设有连接块201，连接块201上设有第二卡槽202，片状电极3与恒力弹簧2之间通过第二卡块301插入第二卡槽202固定。

优选的方案中，所述的圆柱体1上设有轴向的通孔102。所设置的通孔102，在装置处于实验仪器中时，通过固定柱穿过通孔，使装置处于悬空状态，以此保证装置与实验仪器内壁不发生接触，保证了实验结果的准确性。

优选的方案中，所述的片状电极3表面设有均匀分布的凹坑。所设置的凹坑，能够使实验仪器的夹具能够与片状电极紧密连接，保证连接的稳定性。

采用本新型进行实验的具体步骤如下：

试验前将该模具的圆柱体、恒力弹簧、片状电极进行组装（如图1），然后将被测试样通过恒力弹簧夹紧在圆柱体外壁上，将半导电层电阻率测量仪器的四个接线夹具夹在圆柱体外壁上的恒力弹簧上的片状电极上即可，然后将夹紧了试样的圆柱体放入试验仪器内，利用在装置内设置水平的固定柱，固定柱穿过圆柱体上的通孔来保证猪囊之处于悬空状态，避免模具与仪器内部试样放置台接触，最后通过测量仪器外部测量按钮进行设置，便可测量半导电层电阻率。