一种紫外LED芯片及其制作方法与流程

文档序号:20036067发布日期:2020-02-28 11:11阅读:270来源:国知局
一种紫外LED芯片及其制作方法与流程

本发明涉及发光二极管技术领域,尤其涉及一种紫外led芯片及其制作方法。



背景技术:

紫外led已广泛应用在日常生活中,其中包括健康照明、消毒杀菌、快速印刷、美甲、植物照明等。

随著应用的广泛增加,对于亮度部分的需求,也急遽上升。但是受限于紫光材料的限制,要能有效的提升亮度,变成一个重要的课题。



技术实现要素:

本发明所要解决的技术问题在于,提供一种紫外led芯片及其制作方法,有效提高芯片的亮度。

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种紫外led芯片,包括衬底、第一半导体层、有源层、开口层、第二半导体层,所述第一半导体层设置在衬底上,所述有源层设置在第一半导体层上,所述开口层设置在有源层上,所述开口层设置在有源层上,所述第二半导体层设置在开口层上;

所述开口层包括inxga(1-x)n层、alyga1-yn层和gan层,所述inxga(1-x)n层设置在有源层上,所述alyga1-yn层设置在inxga(1-x)n层和gan层之间;

所述第二半导体层设有孔洞,所述孔洞从第二半导体层刻蚀至开口层,所述孔洞内填充有反射材料,所述反射材料形成反射层;

所述开口层与反射层形成不规则导光柱,以减少了第二半导体层对紫光的全反射,提高芯片的出光效率。

作为上述方案的改进,x=0.1~0.5,y=0.1~0.3。

作为上述方案的改进,x=0.1~0.3,y=0.1~0.2。

作为上述方案的改进,所述inxga(1-x)n层的厚度为20~60nm,所述alyga1-yn层的厚度为10~50nm,所述gan层的厚度为100~300nm。

作为上述方案的改进,所述孔洞的深度为200~500nm。

作为上述方案的改进,所述反射层材料为银或/和铝。

相应地,本发明还提供了一种紫外led芯片的制作方法,包括:

在衬底上依次形成第一半导体层、有源层、开口层和第二半导体层;

对第二半导体层进行刻蚀,刻蚀至开口层形成孔洞;

在孔洞内填充反射材料,形成反射层;

所述开口层包括inxga(1-x)n层、alyga1-yn层和gan层,所述inxga(1-x)n层设置在有源层上,所述alyga1-yn层设置在inxga(1-x)n层和gan层之间;

所述开口层与反射层形成不规则导光柱,以减少了第二半导体层对紫光的全反射,提高芯片的出光效率。

作为上述方案的改进,所述开口层的制备方法如下:

通入tein气体与tega气体,通入量共为40~60sccm,在温度为700~900℃、压力为100~300torr的条件下,形成inxga(1-x)n层;

通入teal气体与tega气体,通入量共为40~60sccm,在温度为800~1050℃、压力为100~300torr的条件下,形成alyga1-yn层;

通入tega气体,通入量共为40~60sccm,在温度为800~1000℃、压力为100~300torr的条件下,形成gan层。

作为上述方案的改进,tein气体与tega气体的通入量比为1:(0.4~0.7),teal气体与tega气体的通入量比为1:(0.4~0.7)。

作为上述方案的改进,在形成完反射层后,对芯片进行退火处理,退火温度为450~600℃,退火时间为20~60min。

实施本发明,具有如下有益效果:

本发明提供的一种紫外led芯片,包括衬底、第一半导体层、有源层、开口层、第二半导体层,所述第一半导体层设置在衬底上,所述有源层设置在第一半导体层上,所述开口层设置在有源层上,所述开口层设置在有源层上,所述第二半导体层设置在开口层上;所述第二半导体层设有孔洞,所述孔洞从第二半导体层刻蚀至开口层,所述孔洞内填充有反射材料,所述反射材料形成反射层;本发明通过开口层与反射层形成不规则导光柱,以减少了第二半导体层对紫光的全反射,提高芯片的出光效率。

附图说明

图1是本发明紫外led芯片的结构示意图;

图2是本发明的出光示意图;

图3是本发明开口层的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述。

参见图1,本发明提供的一种紫外led芯片,包括衬底10、第一半导体层20、有源层30、开口层40、第二半导体层50,所述第一半导体层20设置在衬底10上,所述有源层30设置在第一半导体层20上,所述开口层40设置在有源层30上,所述开口层40设置在有源层30上,所述第二半导体层50设置在开口层40上。

所述第二半导体层50设有孔洞,所述孔洞从第二半导体层50刻蚀至开口层40,所述孔洞内填充有反射材料,所述反射材料形成反射层60。

本发明的开口层40与反射层60形成不规则导光柱,以减少了第二半导体层50对紫光的全反射,从而提高芯片的出光效率。

具体的,参见图2,有源层发出的光经过开口层与反射层后,减少了第二半导体层对紫光的全反射,使得更多的光线从芯片的正面出射,从而提高芯片的出光效率。

参见图3,所述开口层40包括inxga(1-x)n层41、alyga1-yn层42和gan层43,所述inxga(1-x)n层41设置在有源层30上,所述alyga1-yn层42设置在inxga(1-x)n层41和gan层43之间。

需要说明的是,inxga(1-x)n层in的含量以及alyga1-yn层中al的含量,均对外延层的晶体结构起着重要的影响。若in的含量太高,则增加inxga(1-x)n层的吸光量,降低芯片的出光效率;若in的含量太低,则开口层与反射层的导光效果不明显。

本发明的alyga1-yn层用于增加开口层和反射层的晶格差异,若al的含量太高或太低,均影响外延层的晶体质量,降低芯片的发光效率。

优选的,x=0.1~0.5,y=0.1~0.3。

更优的,x=0.1~0.3,y=0.1~0.2。

需要说明的是,本发明开口层每一层的厚度均对芯片的出光效率起着重要的作用。若inxga(1-x)n层的厚度太厚,则增加inxga(1-x)n层的吸光量,降低芯片的出光效率;若inxga(1-x)n层的厚度太薄,则孔洞深度太浅,反射层和开口层难以形成导光柱。

优选的,所述inxga(1-x)n层的厚度为20~60nm,所述alyga1-yn层的厚度为10~50nm,所述gan层的厚度为100~300nm。

为了进一步减少紫光从gan出光的全反射,所述孔洞刻蚀至开口层的gan层。由于gan晶体本身会形成六角形孔洞,因此本发明的孔洞最终为六角形。

优选的,所述孔洞的深度为200~500nm。

需要说明的是,本发明的反射层材料为银或/和铝。若芯片发出的光为紫光,则反射材料为银即可;若芯片发出的光为紫光偏蓝,则反射材料优选为银和铝。

本发明的紫外led芯片还包括设置在第二半导体层50上的透明导电层70、第一电极81和第二电极82。本发明的紫外led芯片可以为正装结构、倒装结构或垂直结构,本发明不作具体限定。

相应地,本发明还提供了一种紫外led芯片的制作方法,包括:

一、在衬底上依次形成第一半导体层、有源层、开口层和第二半导体层;

具体的,采用mocvd工艺在衬底上形成第一半导体层、有源层、开口层和第二半导体层。

本发明第一半导体层、有源层和第二半导体层的材料为氮化镓材料,采用现有的工艺形成。

具体的,所述开口层包括inxga(1-x)n层、alyga1-yn层和gan层,所述inxga(1-x)n层设置在有源层上,所述alyga1-yn层设置在inxga(1-x)n层和gan层之间。

需要说明的是,inxga(1-x)n层in的含量以及alyga1-yn层中al的含量,均对外延层的晶体结构起着重要的影响。若in的含量太高,则增加inxga(1-x)n层的吸光量,降低芯片的出光效率;若in的含量太低,则开口层与反射层的导光效果不明显。

本发明的alyga1-yn层用于增加开口层和反射层的晶格差异,若al的含量太高或太低,均影响外延层的晶体质量,降低芯片的发光效率。

优选的,x=0.1~0.5,y=0.1~0.3。

更优的,x=0.1~0.3,y=0.1~0.2。

需要说明的是,本发明开口层每一层的厚度均对芯片的出光效率起着重要的作用。若inxga(1-x)n层的厚度太厚,则增加inxga(1-x)n层的吸光量,降低芯片的出光效率;若inxga(1-x)n层的厚度太薄,则孔洞深度太浅,反射层和开口层难以形成导光柱。

优选的,所述inxga(1-x)n层的厚度为20~60nm,所述alyga1-yn层的厚度为10~50nm,所述gan层的厚度为100~300nm。

本发明开口层的制备方法如下:

通入tein气体与tega气体,通入量共为40~60sccm,在温度为700~900℃、压力为100~300torr的条件下,形成inxga(1-x)n层;

通入teal气体与tega气体,通入量共为40~60sccm,在温度为800~1050℃、压力为100~300torr的条件下,形成alyga1-yn层;

通入tega气体,通入量共为40~60sccm,在温度为800~1000℃、压力为100~300torr的条件下,形成gan层。

优选的,tein气体与tega气体的通入量比为1:(0.4~0.7),teal气体与tega气体的通入量比为1:(0.4~0.7)。

更优的,tein气体与tega气体的通入量比为1:(0.4~0.5),teal气体与tega气体的通入量比为1:(0.4~0.5)。

二、对第二半导体层进行刻蚀,刻蚀至开口层形成孔洞;

为了进一步减少紫光从gan出光的全反射,所述孔洞刻蚀至开口层的gan层。由于gan晶体本身会形成六角形孔洞,因此本发明的孔洞最终为六角形。

优选的,所述孔洞的深度为200~500nm。

三、在孔洞内填充反射材料,形成反射层;

本发明采用蒸镀或溅射的方法在孔洞内填充反射材料,以形成反射层。

需要说明的是,本发明的开口层与反射层形成不规则导光柱,以减少了第二半导体层对紫光的全反射,提高芯片的出光效率。

本发明的反射层材料为银或/和铝。

若芯片发出的光为紫光,则反射材料为银即可;若芯片发出的光为紫光偏蓝,则反射材料优选为银和铝。

为了稳固渗入孔洞的反射材料,让其与第二半导体层和开口层形成良好的接触,减少之间的应力,在形成完反射层后,对芯片进行退火处理,退火温度为450~600℃,退火时间为20~60min。

下面将以具体实施例来进一步阐述本发明

实施例1

一种紫外led芯片,包括衬底、第一半导体层、有源层、开口层、第二半导体层、透明导电层、第一电极和第二电极,所述第一半导体层设置在衬底上,所述有源层设置在第一半导体层上,所述开口层设置在有源层上,所述开口层设置在有源层上,所述第二半导体层设置在开口层上,所述透明导电层设置在第二半导体层上;

所述开口层包括inxga(1-x)n层、alyga1-yn层和gan层,所述inxga(1-x)n层设置在有源层上,所述alyga1-yn层设置在inxga(1-x)n层和gan层之间,x=0.1,y=0.2,所述inxga(1-x)n层的厚度为40nm,所述alyga1-yn层的厚度为30nm,所述gan层的厚度为200nm;

所述第二半导体层设有孔洞,所述孔洞从第二半导体层刻蚀至开口层,所述孔洞内填充有银。

实施例2

一种紫外led芯片,包括衬底、第一半导体层、有源层、开口层、第二半导体层、透明导电层、第一电极和第二电极,所述第一半导体层设置在衬底上,所述有源层设置在第一半导体层上,所述开口层设置在有源层上,所述开口层设置在有源层上,所述第二半导体层设置在开口层上,所述透明导电层设置在第二半导体层上;

所述开口层包括inxga(1-x)n层、alyga1-yn层和gan层,所述inxga(1-x)n层设置在有源层上,所述alyga1-yn层设置在inxga(1-x)n层和gan层之间,x=0.2,y=0.1,所述inxga(1-x)n层的厚度为30nm,所述alyga1-yn层的厚度为20nm,所述gan层的厚度为150nm;

所述第二半导体层设有孔洞,所述孔洞从第二半导体层刻蚀至开口层,所述孔洞内填充有银。

实施例3

一种紫外led芯片,包括衬底、第一半导体层、有源层、开口层、第二半导体层、透明导电层、第一电极和第二电极,所述第一半导体层设置在衬底上,所述有源层设置在第一半导体层上,所述开口层设置在有源层上,所述开口层设置在有源层上,所述第二半导体层设置在开口层上,所述透明导电层设置在第二半导体层上;

所述开口层包括inxga(1-x)n层、alyga1-yn层和gan层,所述inxga(1-x)n层设置在有源层上,所述alyga1-yn层设置在inxga(1-x)n层和gan层之间,x=0.4,y=0.3,所述inxga(1-x)n层的厚度为50nm,所述alyga1-yn层的厚度为10nm,所述gan层的厚度为250nm;

所述第二半导体层设有孔洞,所述孔洞从第二半导体层刻蚀至开口层,所述孔洞内填充有银。

对比例1

一种紫外led芯片,包括衬底、第一半导体层、有源层、第二半导体层、透明导电层、第一电极和第二电极,所述第一半导体层设置在衬底上,所述有源层设置在第一半导体层上,所述第二半导体层设置在有源层上,所述透明导电层设置在第二半导体层上。

实施例1~3和对比例1的芯片尺寸相同,衬底、第一半导体层、有源层、第二半导体层、透明导电层、第一电极和第二电极的结构相同。

以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,因此依本发明权利要求所作的等同变化,仍属本发明所涵盖的范围。

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