具有极片和隔膜检测的电芯制备系统及方法
【专利说明】具有极片和隔膜检测的电芯制备系统及方法 【技术领域】
[0001] 本发明涉及电池电芯的制备领域，特别是涉及一种具有极片和隔膜检测的电芯制 备系统及方法。 【【背景技术】】
[0002] 锂电池以其零污染、零排放、能量密度高、体积小和循环使用寿命长等优点，广泛 应用于便携式电子产品、电动交通工具、大型动力电源、二次充电及储能等领域，已成为国 内外动力电池发展和应用的主体，因此锂电池的品质问题尤为重要。
[0003] 电极极片作为锂电池的主体，涂敷后的极片质量直接决定着锂离子电池的品质。 极片存在的折痕、漏印、损伤、颗粒等表面缺陷，将导致锂电池出现存储时间短、自放电高、 循环寿命短等质量问题。而且因为成卷的极片在冲切裁剪前未经过有效的检测手段检测极 片涂层是否损坏等问题，所以受损极片还是会进行激光切割或者模具冲切，从而减少了模 具等设备的有效寿命。
[0004] 隔膜在电池电芯中的作用为防止电芯中的正负极直接碰触而短路。隔膜存在的漏 陶瓷、破损、变形等损坏现象，将会导致在卷绕或叠片过程中正负极接触短路，直接导致制 备的电芯不合格。而由于现有技术中，没有有效的对隔膜的检测装置，即时排除损坏的隔膜 制备的不合格的电芯，所以对不合格电芯依然按流程进行后续工序，直至对电池成品进行 检测才能发现不合格，从而大大浪费了后续各项资源，降低了生产良品率。 【
【发明内容】
】
[0005] 鉴于【背景技术】中存在的问题，本发明的目的在于提供一种具有极片和隔膜检测的 电芯制备系统，所述电芯制备系统在电芯制备过程中，可以实时检测极片和隔膜的质量，并 对有缺陷的极片和隔膜进行处理，提高了产品良品率，而且避免有缺陷的极片或隔膜进行 后序工序，有效的节约了各项资源。
[0006] 本发明采用如下技术方案：
[0007] -种具有极片和隔膜检测的电芯制备系统，包括极片带、隔膜带、极片成型模块、 叠片模块和后续工序，极片成型模块、叠片模块和后续工序依序设置，还包括检测所述极片 带质量的极片检测模块、检测所述隔膜带质量的隔膜检测模块、控制处理所述有缺陷的极 片带或隔膜带的控制模块、第一废料箱和第二废料箱；
[0008] 所述极片检测模块设置于极片成型模块前面，所述隔膜检测模块设置于叠片模块 前面；
[0009] 所述第一废料箱设置于所述极片成型模块之后，存在缺陷的极片带放置于所述第 一废料箱中；
[0010] 所述第二废料箱设置于所述叠片模块之后，包含缺陷隔膜带的叠片电芯放置于于 所述第二废料箱中。
[0011] 优选地，所述极片检测模块包括两个极片检测元件，所述两个极片检测元件分别 设置于所述极片带的两侧。
[0012] 优选地，所述极片检测元件为C⑶检测元件。
[0013] 优选地，所述隔膜检测模块包括两个隔膜检测元件，所述两个隔膜检测元件分别 设置于所述隔膜带的两侧。
[0014] 优选地，所述隔膜检测元件为对射式光纤检测元件。
[0015] 本发明还提供一种采用上述任意一项的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统的 电芯制备方法，包括对所述极片带进行检测：
[0016]S1:提供一极片带；
[0017]S2:采用所述极片检测模块检测极片带是否存在缺陷；
[0018] 当所述极片带不存在缺陷时，进行S3、S4步骤：
[0019]S3:所述极片成型模块对极片带进行切割，得到切割极片；
[0020] S4 :在所述萱片|旲块上将S3中的切割极片进彳丁萱片；
[0021] 当所述极片带存在缺陷时，进行S3'、S4'步骤：
[0022] S3' ：所述控制模块控制所述极片成型模块不切割所述存在缺陷的极片带；
[0023]S4'：将S3'中存在缺陷的极片带收集进第一废料箱。
[0024] 优选地，还包括对所述隔膜带进行检测：
[0025] A1 :提供一隔膜带；
[0026]A2:采用所述隔膜检测模块检测隔膜带是否存在缺陷；
[0027] 当隔膜带不存在缺陷时，进行A3、A4步骤：
[0028]A3:在所述叠片模块上对隔膜带进行叠制，得到一叠片电芯；
[0029]A4:将A3中得到的所述叠片电芯在后续工序进行处理；
[0030] 当隔膜带存在缺陷时，进行A3'、A4'步骤：
[0031]A3'：在所述叠片模块上对存在缺陷的隔膜带进行叠制，得到一包含缺陷隔膜带的 叠片电芯；
[0032]A4'：将A3'中包含缺陷隔膜带的叠片电芯收集进第二废料箱。
[0033] 与现有技术相比，本发明的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统具有以下有益效 果：通过极片检测模块和隔膜检测模块对极片带和隔膜带进行实时检测，控制模块控制系 统对有缺陷的极片或隔膜进行处理，从而节约了资源，并提高了产品良品率。 【【附图说明】】
[0034]图1是本发明的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统的示意图；
[0035] 图2是本发明的对极片带进行检测的流程图；
[0036] 图3是本发明的对隔膜带进行检测的流程图。
[0037] 其中，附图标记说明如下：
[0038]
【【具体实施方式】】
[0040] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对 本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不 用于限定本发明。
[0041] 请参阅图1，展示了本发明的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统100的示意图。
[0042] 电芯制备系统100包括极片带10、极片检测模块20、极片成型模块30、第一废料箱 40、隔膜带50、隔膜检测模块60、叠片模块70、第二废料箱80、后续工序90和控制模块（图 未不）。
[0043] 极片带10由极片送料装置（图未示）提供，而且极片带10以设定的速度匀速移 动。隔膜带50由隔膜送料装置（图未示）提供，而且隔膜带50以设定的速度匀速移动。其 中，极片带10和隔膜带50的移动速度根据电芯制备系统100制备电芯的频率决定。
[0044] 本实施方式中，为了更好的检测极片带10的质量，极片检测模块20包括两个极片 检测元件201。两个极片检测元件201分别设置于极片带10的两侧，分别对极片带10的两 个表面进行检测。本实施方式中，两个极片检测元件201为CCD检测元件。
[0045] 极片检测模块20与控制模块电连接或无线连接。极片检测模块20检测到的极片 质量信息实时传输至控制模块。
[0046] 极片成型模块30设置于极片检测模块20之后。极片成型模块30用于对移动到 其上的极片带10进行激光切割或模具切割，从而得到设定形状的切割极片（图未示）。
[0047] 极片带10在极片成型模块30被切割后，继续移动至第一废料箱40。第一废料箱 40设置于极片成型模块30之后，用于收集被切割后的极片带10的废料。
[0048] 本实施方式中，为了更好的检测隔膜带50的质量，隔膜检测模块60包括两个隔膜 检测元件601。两个隔膜检测元件601分别设置于隔膜带50的两侧，用于分别对隔膜带50 的两个表面进行检测。本实施方式中，两个隔膜检测元件601为对射式光纤检测元件。