[0049] 隔膜检测模块60与控制模块电连接或无线连接。隔膜检测模块60检测到的隔膜 质量信息实时传输至控制模块。
[0050] 叠片模块70设置于极片成型模块30和隔膜检测模块60之后，用于供切割极片和 隔膜带50进行交错叠片，得到叠片电芯。
[0051] 第二废料箱80设置于叠片模块70之后，用于收集在叠片模块70上叠制的不合格 的叠片电芯。
[0052] 后续工序90包括包胶、热压、分离、下料等电芯制备的其他工序，与现有技术中的 其他工序一样，在此处不再 描述。
[0053] 本发明还提供一种采用具有极片和隔膜检测的电芯制备系统100的电芯制备方 法，其包括对极片带10进行检测和对隔膜带50进行检测。
[0054] 请参考图2,对极片带10进行检测的步骤为：
[0055]S1:提供一极片带10。
[0056]S2:采用极片检测模块20检测极片带10是否存在缺陷。
[0057] 本步骤中，为了更好的检测极片带10的质量，极片检测模块20包括两个极片检测 元件201。两个极片检测元件201分别设置于极片带10的两侧，分别对极片带10的两个表 面进行检测。本实施方式中，两个极片检测元件201为CCD检测元件。
[0058] 当极片带10不存在缺陷时，进行S3、S4步骤：
[0059]S3:极片成型模块30对极片带10进行切割，得到切割极片。
[0060] 本步骤中，极片成型模块30可以对移动到其上的极片带10进行激光切割或模具 切割，从而得到设定形状的切割极片。
[0061]S4:在叠片模块70上将S3中的切割极片进行叠片。
[0062] 当极片带10存在缺陷时，进行S3'、S4'步骤：
[0063]S3'：控制模块控制极片成型模块30不切割所述存在缺陷的极片带10。
[0064]S4'：将S3'中存在缺陷的极片带10收集进第一废料箱40。
[0065] 请参考图3,对隔膜带50进行检测的步骤为：
[0066]A1:提供一隔膜带50。
[0067]A2:采用隔膜检测模块60检测隔膜带50是否存在缺陷。
[0068] 本步骤中，为了更好的检测隔膜带50的质量，隔膜检测模块60包括两个隔膜检测 元件601。两个隔膜检测元件601分别设置于隔膜带50的两侧，用于分别对隔膜带50的两 个表面进行检测。本实施方式中，两个隔膜检测元件601为对射式光纤检测元件。
[0069] 当隔膜带50不存在缺陷时，进行A3、A4步骤：
[0070]A3:在叠片模块70上对隔膜带50进行叠制，得到一叠片电芯。
[0071]A4:将A3中得到的所述叠片电芯在后续工序90进行处理。
[0072] 当隔膜带50存在缺陷时，进行A3'、A4'步骤：
[0073]A3'：在叠片模块70上对存在缺陷的隔膜带50进行叠制，得到一包含缺陷隔膜带 50的叠片电芯。
[0074]A4'：将A3'中包含缺陷隔膜带50的叠片电芯收集进第二废料箱80。
[0075] 与现有技术相比，本发明的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统100及其方法， 具有以下有益效果：通过极片检测模块20和隔膜检测模块60对极片带10和隔膜带50进 行实时检测，当发现极片带10存在缺陷时，不对有缺陷的极片带10做切割动作，并使有缺 陷的极片带10直接进入第一废料箱40,从而提高了切割设备的寿命，节约了资源，提高了 产品良品率；当发现隔膜带50存在缺陷时，待包含有缺陷的隔膜带50的叠片电芯叠置完成 后，直接将该有缺陷的叠片电芯送件第二废料箱80,不进入后续工序90,从而节约了后续 工序资源，降低了成本，而且提高了产品良品率。
[0076] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精 神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1. 一种具有极片和隔膜检测的电芯制备系统，包括极片带、隔膜带、极片成型模块、叠 片模块和后续工序，极片成型模块、叠片模块和后续工序依序设置，其特征在于，还包括检 测所述极片带质量的极片检测模块、检测所述隔膜带质量的隔膜检测模块、控制处理所述 有缺陷的极片带或隔膜带的控制模块、第一废料箱和第二废料箱； 所述极片检测模块设置于极片成型模块之前，所述隔膜检测模块设置于叠片模块之 刖； 所述第一废料箱设置于所述极片成型模块之后，存在缺陷的极片带收集于所述第一废 料箱中； 所述第二废料箱设置于所述叠片模块之后，包含缺陷隔膜带的叠片电芯收集于所述第 二废料箱中。2. 根据权利要求1所述的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统，其特征在于，所述极 片检测模块包括两个极片检测元件，所述两个极片检测元件分别设置于所述极片带的两 侧。3. 根据权利要求2所述的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统，其特征在于，所述极 片检测元件为CCD检测元件。4. 根据权利要求1所述的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统，其特征在于，所述隔 膜检测模块包括两个隔膜检测元件，所述两个隔膜检测元件分别设置于所述隔膜带的两 侧。5. 根据权利要求4所述的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统，其特征在于，所述隔 膜检测元件为对射式光纤检测元件。6. 采用如权利要求1至5中任意一项的具有极片和隔膜检测的电芯制备系统的电芯制 备方法，其特征在于，包括对所述极片带进行检测： 51 :提供一极片带； 52 :采用所述极片检测模块检测极片带是否存在缺陷； 当所述极片带不存在缺陷时，进行S3、S4步骤： 53 :所述极片成型模块对极片带进行切割，得到切割极片； 54 :在所述叠片模块上将S3中的切割极片进行叠片； 当所述极片带存在缺陷时，进行S3'、S4'步骤： S3' ：所述控制模块控制所述极片成型模块不切割所述存在缺陷的极片带； S4' ：将S3'中存在缺陷的极片带收集进第一废料箱。7. 根据权利要求6所述的电芯制备方法，其特征在于，还包括对所述隔膜带进行检测： Al:提供一隔膜带； A2 :采用所述隔膜检测模块检测隔膜带是否存在缺陷； 当隔膜带不存在缺陷时，进行A3、A4步骤： A3 :在所述叠片模块上对隔膜带进行叠制，得到一叠片电芯； A4 :将A3中得到的所述叠片电芯在后续工序进行处理； 当隔膜带存在缺陷时，进行A3'、A4'步骤： A3' ：在所述叠片模块上对存在缺陷的隔膜带进行叠制，得到一包含缺陷隔膜带的叠片 电芯；
【专利摘要】本发明公开一种具有极片和隔膜检测的电芯制备系统，包括极片带、隔膜带、极片成型模块、叠片模块和后续工序，极片成型模块、叠片模块和后续工序依序设置，还包括检测所述极片带质量的极片检测模块、检测所述隔膜带质量的隔膜检测模块、控制处理所述有缺陷的极片带或隔膜带的控制模块、第一废料箱和第二废料箱。本发明还公开一种具有极片和隔膜检测的电芯制备方法。所述具有极片和隔膜检测的电芯制备系统及方法节约了资源，并提高了产品良品率。
【IPC分类】H01M10/04, G01N21/88
【公开号】CN104934628
【申请号】CN201510306392
【发明人】郑新华, 李新标, 侯罗平, 张明, 阳如坤
【申请人】深圳吉阳智云科技有限公司
【公开日】2015年9月23日
【申请日】2015年6月5日