用于运行光电子组件的方法和光电子组件与流程

本发明涉及一种用于运行光电子组件的方法和一种光电子组件。

背景技术：

光电子组件例如可以具有一个，两个或更多个发光二极管元件。所述发光二极管元件例如可以是发光二极管（LED）和/或有机发光二极管（OLED）或者发光二极管（LED）或有机发光二极管（OLED）的部分或区段。

尽管进行了发光二极管元件的耗费的质量控制，但不能完全排除，发光二极管元件在应用中自发地失效。例如在OLED的情况下，自发失效的典型错误形式是相应的发光二极管元件的电极之间的短路（英文：Short）。这种短路通常是小面积的。因此总电流的大部分集中在小面积的短路点处。因此，电流密度在短路点处显著提高，因此该短路点可以依赖于其面积范围地被强烈加热。这可能导致电极的熔化、OLED的发光图像中的黑斑、完全暗的OLED和/或OLED上的变热的位置。

为了防止由于该过热所致的潜在危险（燃烧危险，火灾，爆裂等），这样的短路应该被光电子组件的驱动器电子设备识别并且引入合适的保护反应（切断OLED或光电子组件，将供电电流从短路的OLED改道，输出警告信号等）。例如，在汽车领域中要求例如尾灯中的有缺陷的OLED或LED以电子方式被识别并且至少向车载系统报告。

应用中的发光二极管元件、例如OLED、光电子组件的常见互连出于技术原因并且出于成本原因是发光二极管元件的串联。例如，多个发光二极管元件可以串联成一个发光二极管和/或多个发光二极管可以串联。在许多应用中，例如在汽车领域中或在普通照明的领域中，因此更多的发光二极管元件电串联。如果应该以简单的方法识别串联电路中的各个有缺陷的发光二极管元件，则这是特殊的挑战。

从US 2011 204 792 A1、WO 2010 060 458 AI和WO 2012 004 720 A2已知用于确定个别OLED的短路的方法，其中相应的OLED上的过压或欠压被用作为缺陷的标准。以使控制电流改道（旁路）和/或以错误信号产生的方式对识别出短路进行反应。

在普通照明的领域中典型的是，灵活的控制设备具有可变的输出电压范围。由此可变数量的发光二极管元件可以连接到控制设备上。实际连接的数量在控制设备的编程和/或开发中是未知的。例如在两个和七个之间的OLED可以连接到普通照明领域中的典型的驱动电路上。数量在预先确定的范围内是可变的，也就是不能在驱动电路中规定固定的欠压识别阈值。驱动电路上的用于输入所连接的发光二极管元件的数量的输入能力是耗费的并且昂贵的。

图1示出常规的光电子组件10，其具有第一发光二极管元件12、第二发光二极管元件14、第三发光二极管元件16和第四发光二极管元件18。发光二极管元件 12、14、16、18被布置在光电子组件10的一个器件分支22中。第二发光二极管元件14具有短路，该短路在图1中被描绘成短路电阻24。短路电阻24与第二发光二极管元件14电并联并且在电气上与欧姆电阻类似地表现，其中电阻的值可以根据短路的类型而变化。

利用根据常规方法测量正向电压以用于确定图1和2中示出的光电子组件10中的短路，只要不在每个发光二极管元件12、14、16、18上进行单独测量，就得出以下问题：短路电阻24的电阻值（R_Short）例如在OLED的情况下处在宽的范围中、例如在10欧姆和几千欧姆之间。利用器件分支22的输入端和器件分支22的输出端可以在额定工作中仅检测所有发光二极管元件12、14、16、18上的总电压（Uges）。因此，总电压在相同的发光二极管元件12、14、16、18的情况下对应于发光二极管元件12、14、16、18的相应的单个电压（Uf）的四倍，并且在没有短路的情况下得出：Uges = 4×Uf。

如果在发光二极管元件12、14、16、18之一中存在短路，则得出 Uges = 3×Uf + R_Short×I。

在Uf = 6V的单个电压、额定工作电流（Ⅰ）为300 mA和具有10欧姆电阻值的短路的情况下得出总电压为

Uges = 3×6V + 10 Ohm X 0.3A = 21V。

如果在发光二极管元件12、14、16、18之一中的短路的识别阈值（U_T）被设定到单个电压的3.5倍上，则得出识别阈值为 U_T= 3.5×6V = 21V。

因此，总电压在该示例中精确地位于识别阈值上，这在相应测量值的在现实中出现的波动的情况下无法得出足够的识别可靠性。

如果短路只具有例如50欧姆的电阻值，则得出总电压为

Uges = 3×6V + 4.8V = 22.8V，因此具有上述识别阈值U_T= 21V的短路不被识别为这样的短路。这可能基于以下事实，相应的短路可能比短路OLED的有机材料的阻抗更高。因此相应OLED的单个电压主要由有机材料确定并且不由该短路来确定。尽管如此，在短路点处的电流密度提高，这导致了温度上升，因此应该对短路进行反应。

在用于连接不同数量的发光二极管元件12、14、16、18的灵活的控制设备中，总电压的由于短路而常规可识别的减小特别是在长的分支长度的情况下成百分比地下降，或者由于短路上的电压降部分地被抵消并且因此是公差易受影响的。短路的在总电压中存在的标志能够困难地识别或根本不能识别，因为在未定义的分支长度的情况下对于每个分支长度必须规定自身的错误阈值。

因此产生问题，在短路的情况下，所短路的发光二极管元件12、14、16、18上的单个电压由于在额定工作中短路上的电压降、与没有短路的发光二极管元件12、14、16、18相比不一定显著地下降，并且在未知数量的发光二极管元件12、14、16、18的情况下基本不能识别，总电压是正常的还是由于短路比正常的更低。

因此已知的是，每个驱动电路仅设置一个发光二极管元件、即没有串联电路，或者在每个发光二极管元件上安装自身的探测电子设备或必须将用于驱动器控制电子设备的电压测量导线引导至每个OLED连接点处，这意味着提高的布线耗费。这些方案是昂贵的和耗费的。

为了测量各个正向电压，因此要么在每个OLED上必须连接一个测量系统，这要求高的布线耗费和高数量的测量系统并且因此导致高的成本，要么唯一的测量系统例如借助多路复用器必须分别被接通到各个OLED上，然而这同样要求高的布线耗费和用于多路复用器的耗费并且因此导致高的成本。

然而已知以下系统，其中由结构类型决定地，每个发光二极管元件单独地与用于开关发光二极管元件的晶体管接触，并且存在至晶体管的相应控制导线，例如用于调光和/或闪烁系统。

图2示出常规的光电子组件10，其在很大程度上对应于前面解释的常规组件10。光电子组件10例如可以来自汽车领域，例如是机动车的方向指示器、例如动画闪烁灯。发光二极管元件12、14、16、18应该单独地电流恒定地来控制。出于成本原因，发光二极管元件12、14、16、18电串联，并且仅使用一个驱动电路20、例如快速进行调节的电流源，例如直流电压转换器。每个发光二极管元件12、14、16、18与各一个开关、例如第一晶体管32，第二晶体管34，第三晶体管36或第四晶体管36电并联。因此电流可以个别地从每个发光二极管元件12、14、16、18旁边引导并且尽管如此经过另外的发光二极管元件12、14、16、18引导。为了调光也可以脉宽调制地控制晶体管32、34、36、38。

在图2中所示的常规光电子组件中，相比图1可以相对简单地测量各个正向电压。可以连接一个检测总电压的测量系统，并且可以依次地除了一个开关之外闭合所有其他开关，使得所有发光二极管元件除了一个之外都被桥接，并且然后可以借助该测量系统检测各个发光二极管元件的正向电压。然而，在这里相应的发光二极管元件在运行中也被测量，并且如以上所解释的那样依赖于短路电阻不能可靠地识别正向电压的下降。

在许多应用中，然而为了减少成本和布线耗费，多个OLED如图1和2中所示那样串联，并且由唯一的驱动通道电流调节地运行。在这样的应用中，用于识别短路的已知方法是不合适的，不够好地工作，或者仅仅能够以提高的技术和/或成本方面的耗费来应用。因此常规的方法不能或仅能够以高的技术耗费来可靠地识别串联电路之内的一个或多个短路的发光二极管元件。

技术实现要素：

本发明的任务是提供一种用于运行光电子组件的方法，该方法能够实现：可靠地识别光电子组件的单个发光二极管元件的短路，可靠地识别光电子组件的发光二极管元件的串联电路中的一个发光二极管元件的短路，利用光电子组件的驱动电路的仅仅一个输入端和输出端识别短路，最小化老化和/或温度对识别短路的干扰参量影响，和/或在没有对串联的和/或以驱动电路来运行的发光二极管元件的数量的了解的情况下可靠地识别短路。

本发明的另一任务是提供一种光电子组件，该光电子组件能够实现：可靠地识别光电子组件的单个发光二极管元件的短路，可靠地识别光电子组件的发光二极管元件的串联电路中的一个发光二极管元件的短路，利用光电子组件的驱动电路的仅仅一个输入端和输出端识别短路，最小化老化和/或温度对识别短路的干扰参量影响，和/或在没有对串联的和/或以驱动电路来运行的发光二极管元件的数量的了解的情况下可靠地识别短路。

所述任务通过独立权利要求的特征来解决。

所述任务根据本发明的一个方面通过一种用于运行光电子组件的方法来解决。光电子组件具有至少一个器件分支，该器件分支具有至少一个部段。该部段具有至少一个发光二极管元件。该部段被供应电能。该部段的能量供应被中断。该部段的输入端与该部段的输出端电耦合。检测流经该部段的放电电流的最大值。根据所检测的最大值确定，器件分支的该部段是否具有短路。

器件分支的不久之前还运行的部段的输入端和输出端的电耦合和流经所述电耦合的放电电流的在此出现的最大值的测量能够实现，已经可靠地识别该部段中的、特别是电气串联电路中的单独的短路的发光二极管元件。器件分支的分支长度和/或器件分支的该部段的或其他部段的分支长度、特别是电串联的发光二极管元件的数量，为了识别短路不必是已知的，因为放电电流的最大值与发光二极管元件的数量无关。用于运行、特别是用于驱控、控制和/或调节器件分支的发光二极管元件的驱动电路可以被用于识别短路，其中该驱动电路仅必须具有一个输入端和一个输出端。根据实施方案，干扰参量、如老化和温度对探测的影响可以被最小化/消除，如更下面详细解释的那样。发光二极管元件例如是OLED或LED，或者OLED或LED的一部分或一区段。

放电电流的最大值可以通过部段的输入端和输出端来测量。该最大值在没有短路的部段中显著地区别于具有短路的部段。该最大值与短路的电阻值无关或至少近似无关。该最大值与器件分支的并且特别是部段的分支长度无关或至少近似无关，其中分支长度涉及器件分支或部段中的发光二极管元件的数量。因此该最大值与器件分支中的并且特别是部段中的发光二极管元件的数量无关或至少近似无关。在部段中和/或在器件分支中存在短路意味着，在相应部段或器件分支中的发光二极管元件之一具有短路。最大值与短路的电阻值、与器件分支的并且特别是部段的分支长度和/或与器件分支中的并且特别是部段中的发光二极管元件的数量近似无关例如意味着，在现实中出现的可接受的公差范围内的最大值是相应独立的并且因此可以借助该最大值可靠地识别短路。

在给部段供应电能时，相应部段可以依赖于相应开关被绝缘或结合其他部段被供应电能。特别是为了给部段供应电能，可以给整个器件分支供应电能。与此相应地，在中断部段的电能供应时，可以仅仅中断该部段的供应或结合其他部段中断该部段的供应。特别是可以通过以下方式中断部段的电能供应，即中断器件分支的能量供应。

作为对识别到短路的反应，例如可以关断驱动电路，可以产生一个警告信号并且引导到上一级的单元、例如计算单元、例如机动车的车载计算机和/或被短路的发光二极管元件可以被电绕行。这例如可以在汽车领域中和/或普通照明领域中，尤其是在灵活的能连接不同数量的发光二极管元件的驱动电路中和/或在耗电器领域中，例如在具有一个单独的或多个OLED的手电筒中令人感兴趣。

根据一种改进方案，如果所检测的最大值等于或至少大致等于零，则识别出该部段具有短路，并且如果所检测的最大值不等于零，则识别出该部段不具有短路。这有助于以简单的方式识别短路，如果该部段、器件分支和/或光电子组件仅具有一个发光二极管元件的话。

根据一种改进方案，所检测的第一最大值与大于零的预先确定的额定值进行比较。如果所检测的最大值小于预先确定的额定值，则识别出器件分支的该部段具有短路。如果所检测的最大值等于或至少近似等于或大于预先确定的额定值，则识别出器件分支的该部段不具有短路。这有助于以简单的方式识别短路，如果如果该部段、器件分支和/或光电子组件具有两个、三个或更多个发光二极管元件的话。预先确定的额定值例如可以对应于发光二极管元件之一的阈值电压与电极电阻的商。电极电阻是相应发光二极管元件的阳极和/或阴极的欧姆电阻。额定值例如可以根据经验确定、存储并且然后预先确定。

根据一种改进方案，部段的输入端和部段的输出端在中断该部段的能量供应之后的预先确定的持续时间后才电耦合。预先确定的持续时间可以位于例如50μs至60s、例如500μs至1s、例如1ms至500ms、例如10ms至100ms的范围内。这可以有助于能够精确地确定最大值和/或可靠地识别短路。

根据一种改进方案确定，在中断部段的能量供应之后多长的持续时间之后，器件分支的该部段上的电压对应于该部段的所有发光二极管元件的阈值电压的和，并且在该部段中所确定的持续时间作为预先确定的持续时间来预先确定。换言之，只有当该部段的发光二极管元件上的相应电压下降到其阈值电压上时，输入端和输出端才电耦合，并且才检测放电电流的最大值。该持续时间例如可以根据经验来确定、存储并且然后预先确定。这可以有助于能够精确地确定最大值和/或可靠地识别短路。

根据一种改进方案，通过以下方式中断部段的能量供应，即关断用于运行器件分支的驱动电路或中断驱动电路和器件分支之间的电连接。这可以有助于可靠地和/或以简单的方式来中断器件分支的能量供应。驱动电路的关断例如可以借助用于驱控、调节或运行驱动电路的计算单元来实现。驱动电路和器件分支之间的电连接例如可以借助相应开关来中断。

根据一种改进方案，首先通过以下方式确定器件分支的具有第一发光二极管元件的第一部段是否具有短路，即器件分支的第一部段的输入端与器件分支的第一部段的输出端电耦合并且检测放电电流的第一最大值，该放电电流流经第一部段的电耦合。如果识别出第一部段不具有短路，则所检测的第一最大值被预先确定为额定值。第一部段的输入端和输出端之间的电耦合被中断。器件分支的第一部段和器件分支的与第一部段串联的第二部段被供应能量，该第二部段具有至少一个第二发光二极管元件。重新中断第一部段和第二部段的能量供应。第一部段的输入端和第二部段的输出端彼此电耦合。检测放电电流的第二最大值，该放电电流流经第一部段的输入端和第二部段的输出端的电耦合。所检测的第二最大值与预先确定的额定值进行比较。如果所检测的第二最大值小于预先确定的额定值，则识别出第二部段具有短路。如果所检测的第二最大值等于或至少近似等于或大于预先确定的额定值，则识别出第二部段不具有短路。

换言之，两次执行该方法，首先在第一部段中，并且然后在整个器件分支、特别是第一和第二部段中。如果第一部段恰好具有一个发光二极管元件、即第一发光二极管元件，则在第一最大值是零或近似为零的情况下可以简单地识别在第一部段中存在短路。如果不存在短路，则第一最大值不等于零，并且如果第一部段的发光二极管元件与第二部段的一个或多个发光二极管元件相似或相同，则第一最大值可以用作特别是第二部段中的进一步测量的参考值、尤其是额定值，因为所检测的最大值与所述部段之一中的发光二极管元件的数量无关。这可以有助于，在很大程度上或甚至完全消除如温度和/或老化对识别短路的干扰影响，因为第一部段中的第一发光二极管元件通常受到与第二部段中的其他发光二极管元件相同的影响，并且因为干扰影响因此已经进入到在第一部段中所检测的第一最大值中并且因此被考虑。

根据一种改进方案，首先通过以下方式确定器件分支的具有第一发光二极管元件的第一部段是否具有短路，即器件分支的第一部段的输入端与器件分支的第一部段的输出端电耦合并且检测放电电流的第一最大值，该放电电流流经第一部段的电耦合，并且第一最大值与预先确定的第一阈值进行比较。第一部段的输入端和输出端之间的电耦合被中断。器件分支的与第一部段串联的第二部段被供应能量，该第二部段具有至少一个第二发光二极管元件。中断第二部段的能量供应。第二部段的输入端和第二部段的输出端彼此电耦合。检测放电电流的第二最大值，该放电电流流经第二部段的电耦合。所检测的第二最大值与预先确定的第二额定值进行比较。如果所检测的第二最大值小于预先确定的第二额定值，则识别出第二部段具有短路。如果所检测的第二最大值等于或至少近似等于或大于预先确定的第二额定值，则识别出第二部段不具有短路。第二额定值可以等于第一额定值。第二额定值可以等于所检测的第一最大值或者所检测的第一最大值可以作为第二额定值来预先确定。

换句话说，至少两次地执行该方法，首先在第一部段中，并且然后在第二部段中和/或在整个器件分支中。此外，器件分支可以划分为其他部段，并且该方法可相应更经常被执行。部段越短，在具有短路的该部段和没有短路的该部段之间的放电电流的最大值的区别就越显著。这可以有助于实现特别高的识别精度，其中错误容限是更高的，和/或在很大程度上消除如温度和/或老化对识别短路的干扰影响。

根据一种改进方案，用于确定部段之一中的短路的额定值被预先确定，使得该额定值对应于发光二极管元件之一的阈值电压与电极电阻的商，部段的所述之一具有二极管元件的所述之一。阈值电压也可以被称为阈值电压。因此额定值根据所述发光二极管元件之一来预先确定，并且与相应部段、器件分支中和/或相应光电子组件中的发光二极管元件的数量无关。

所述任务根据另一个方面通过一种光电子组件来解决。光电子组件具有：至少一个具有至少一个部段的器件分支，其中该部段具有至少一个发光二极管元件;与该器件分支电耦合的用于给该器件分支供应电能的能量源;用于中断器件分支的能量供应的第一开关;用于将器件分支的该部段的输入端与器件分支的该部段的输出端电耦合的第二开关;用于检测放电电流的最大值的电流表，该放电电流流经该部段的电耦合;分析单元，该分析单元被设立用于根据所检测的最大值来确定器件分支的该部段、特别是器件分支的该发光二极管元件是否具有短路。

该光电子组件适合于执行上述方法。特别是，可以借助第一开关提供或中断器件分支的能量供应，并且可以借助第二开关建立或中断部段的输入端和输出端之间的电耦合。关于方法提及的优点和改进方案可容易转移到光电子组件的相应优点和改进方案上。能量源例如可以是驱动电路，被称为驱动电路，或者是驱动电路的一部分。

根据一种改进方案，第一开关被构造成，使得借助第一开关可以接通或关断用于运行器件分支的驱动电路，或者可以连接或中断驱动电路和器件分支之间的电连接。

根据一种改进方案，器件分支具有第一部段和与第一部段电串联的第二部段。第一部段至少具有第一发光二极管元件。第二部段至少具有第二发光二极管元件。所述光电子组件具有第三开关，该第三开关在其第一开关状态中将第一部段的输出端与第二部段的输出端电耦合，并且在其第二开关状态中将第一部段的输出端与第二部段的输出端彼此电隔离，并且该第三开关与第二开关电耦合。第三开关能够实现，与第二部段无关地关于短路的存在来检查第一部段。

根据一种改进方案，光电子组件具有第四开关，该第四开关在其第一开关状态中将第一部段的输入端与第二部段的输入端电耦合，并且在其第二开关状态中将第一部段的输入端与第二部段的输入端彼此电隔离，并且该第四开关与第三开关电耦合。第四开关能够实现，与第一部段无关地关于短路来检查第二部段。

根据一种改进方案，发光二极管元件中的至少一个是无机发光二极管或无机发光二极管的一部分，并且与无机发光二极管并联地，电容器和电阻串联。电容器和电阻能够实现，在无机发光二极管的情况下执行上述方法并且可靠地识别短路。因为无机发光二极管的电极相较于OLED是相对小的并且具有相对小的电阻和小的电容，所以电容器和电阻负责光电子组件中的电子条件，所述电子条件能够实现方法的执行。特别是，在中断器件分支的能量供应之后，器件分支上的总电压对应于电容器上的电压的和，其中在短路的情况下，相应电容器能够通过电阻快速放电。替代地或附加地，发光二极管元件中的至少一个是有机发光二极管或有机发光二极管的一个区段。

根据一种改进方案，器件分支的至少一个部段具有至少两个发光二极管元件。

附图说明

本发明的实施例在附图中示出并在下面更详细地解释。

其中： 图1示出常规光电子组件的电路图； 图2示出常规光电子组件的电路图； 图3示出常规光电子组件的电路图； 图4示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图5示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图6示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图7示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图8示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图9示出具有电压和电流的示例性曲线的图形； 图10示出具有示例性的测量结果的表格; 图11示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图12示出光电子组件的一个实施例的电路图。

具体实施方式

在下面的详细描述中参考附图，所述附图构成说明书的一部分，并且在所述附图中为了阐明示出特定实施例，在所述实施例中可以实践本发明。在这方面，方向术语，诸如“上”、“下”、“前”、“后”、“前面的”“后面的”等参考所描述的图的定向来使用。因为实施例的部件可以以多个不同的定向来定位，所以方向术语仅用于阐明并且绝不是限制性的。易于理解的是，其他实施例可以被利用，并且进行结构的或逻辑的变化，而不偏离本发明的保护范围。易于理解的是，这里描述的不同实施例的特征可以彼此组合，除非另外特别说明。因此下面的详细描述不应该限制性地来理解，并且本发明的保护范围通过所附的权利要求来限定。

在本说明书的范围内，术语“连接”、“联接”以及“耦合”被用于描述直接和间接的连接，直接或间接的联接以及直接或间接的耦合。在附图中，相同或相似的元件配备有相同的附图标记，只要这是适宜的。

光电子组件可以具有一个、两个或更多个发光二极管元件。可选地，光电子组件也可以具有一个、两个或更多个电子器件。电子器件例如可以具有有源和/或无源器件。有源电子器件例如可以具有驱动电路、能量源、计算单元、控制单元和/或调节单元和/或晶体管。无源电子器件例如可以具有电容器、电阻、二极管或线圈。

发光二极管元件可以是发射电磁辐射的半导体发光二极管元件、无机发光二极管（发光二极管，LED）和/或有机发光二极管（有机发光二极管，OLED）。然而，发光二极管元件也可以仅仅是发光二极管、例如LED或OLED的一部分或一个区段。例如OLED可以被分割并且在每个区段中具有发光二极管元件。发光二极管中的多个发光二极管元件可以电并联和/或电串联。发光二极管元件可以是集成电路的一部分。此外，多个发光二极管元件可以被设置、例如安装在共同的壳体中。发光二极管元件例如可见发射可见范围内的光、紫外光和/或红外光。

图1示出常规的光电子组件10，其具有第一发光二极管元件12、第二发光二极管元件14、第三发光二极管元件16和第四发光二极管元件18。发光二极管元件12、14、16、18被布置在组件10的器件分支22中。发光二极管元件12、14、16、18电串联。驱动电路20被布置并且用于运行、特别是用于控制或调节发光二极管元件12、14、16、18。

第二发光二极管元件14具有短路，该短路在图1中作为短路电阻24来描绘。短路电阻24与第二发光二极管元件14电并联并且在电气上表现得与欧姆电阻类似。欧姆电阻的值取决于短路的类型，例如取决于短路的面积。

图2示出常规的光电子组件10。该常规的光电子组件10例如可以在很大程度上对应于图1中所示的常规的光电子组件10。发光二极管元件12、14、16、18分别与一个开关、例如第一晶体管32、第二晶体管34、第三晶体管36或第四晶体管36电并联。因此电流可以单独地从每个发光二极管元件12、14、16、18旁边引导并且尽管如此经过其他发光二极管元件12、14、16、18引导。

图3示出常规的光电子组件10，其在很大程度上对应于图1中所示的光电子组件10，其中光电子组件10只有三个发光二极管元件12、14、16。发光二极管元件12、14、16在图3中以等效电路图示出。在等效电路图中，对于每个发光二极管元件12、14、16都描绘出本征电容44、50、56和电极电阻42、48、54以及体电阻46、52、58。换句话说，发光二极管元件12、14、16由于其本征特性而具有电容和电阻，所述电容和电阻在图3中除了二极管符号之外作为独立的电子器件绘出。在等效电路图中，二极管符号仅仅代表发光二极管元件12、14、16的发光层。图3并且特别是在图3中所示的等效电路图用于更好地理解参照以下附图解释的光电子组件和用于运行相应的光电子组件的方法。

第一发光二极管元件12具有第一电极电阻42、作为第一电容器44来示出的第一本征电容和第一体电阻 46。第二发光二极管元件14具有第二电极电阻48，作为第二电容器50来示出的第二本征电容和第二体电阻 52。第三发光二极管元件16具有第三电极电阻器54，作为第三电容器56来示出的第三本征电容和第三体电阻 58。

发光二极管元件12、14、16是OLED并且电极电阻42、48、54是OLED的阳极、特别是ITO层的和阴极的欧姆电阻。本征电容对应于由OLED的各一个阳极阴极对构成的电容器44、50、56。体电阻46、52、58对应于针对二极管典型的体电阻并且能够实现漏电流流经发光二极管元件12、14、16。

替代于此，发光二极管元件12、14、16也可以是LED，其中电阻​和/或电容的值于是可以比OLED中的更小。

第二电极电阻48与短路电阻24电串联。短路电阻24与第二电容器50和第二体电阻 52电并联。

常规光电子组件10的借助等效电路图可识别的电子特性在下面被充分利用，以便提供一种光电子组件和/或一种用于运行光电子组件的方法，其中可以简单并且可靠地识别发光二极管元件12、14、16之一的短路。

图4示出光电子组件100的一个实施例。组件100具有器件分支22和第一发光二极管元件12。第一发光二极管元件12具有本征电容和本征电极电阻，所述本征电容和本征电极电阻为清楚起见在图4中未示出。

器件分支22具有部段102，在该部段102中布置有第一发光二极管元件12。部段102具有部段的输入端106和部段102的输出端108。第一开关101与部段102的输入端106并且与驱动电路20电耦合。第一开关101在其第一开关状态中引起部段102的输入端106和驱动电路20之间的电耦合，并且因此在其第一开关状态中被闭合，并且在其第二开关状态禁止该电耦合，并且因此在其第二开关状态中被断开。第二开关104与输入端106和输出端108电耦合。第二开关104在其第一开关状态中引起输入端106和输出端108之间的电耦合，并且因此在其第一开关状态中被闭合，并且在其第二开关状态中禁止该电耦合，并且因此在其第二开关状态中被断开。输入端106和/或输出端108在闭合的第二开关104的情况下与电流测量设备105、特别是第一电流测量设备105电串联并且通过该电流测量设备彼此电耦合。换句话说，输入端106和输出端108之间的电耦合通过电流测量设备105实现。电流测量设备105在闭合的第二开关104的情况下实现放电电流的检测，该放电电流从输入端106流向输出端108或从输出端108流向输入端106。电流测量设备105被布置在第二开关104和输出端108之间，其中该电流测量设备105此外可以布置在驱动电路和输出端108之间，这能够实现，在光电子组件100的正常运行中使用电流测量设备105来调节光电子组件100。电流测量设备105可以替代地布置在第二开关104和输入端106之间，其中电流测量设备105可以附加地布置在第一开关101和输入端106之间，这能够实现，电流测量装置105中的光电子子组件100的正常运行，在光电子组件100的正常运行中使用电流测量设备105来调节光电子组件100。

在光电子组件100中可以简单地检查，在第一发光二极管元件12中是否存在电短路。在完好的第一发光二极管元件12的情况下、即如果在第一发光二极管元件12不存在短路，则在中断器件分支22的电能供应之后，第一发光二极管元件12首先仅仅一直经由第一发光二极管元件12的光学功能层结构、特别是在正常运行中的发光层和第一发光二极管元件12的本征体电阻来放电，直到在第一发光二极管元件12上仅仅存在其阈值电压，因为该发光二极管元件12直至阈值电压还是电导通的，其中该阈值电压对应于第一发光二极管元件12的本征电容上的电压。如果达到阈值电压，则第一电容器44的本征电容仅还非常缓慢通过体电阻放电。在输入端106经由第一开关104与输出端108电耦合的情况下，由于该阈值电压，短的放电电流流经该电耦合。在完好的第一发光二极管元件12的情况下，放电电流的最大值对应于第一发光二极管元件12的阈值电压与电极电阻的商，其中引线电阻和接触电阻被忽略不计。第一发光二极管元件12的电极电阻可以被预先确定为在完好的发光二极管元件12的情况下的最大值的额定值。如果在第一发光二极管元件12中存在短路，则第一个发光二极管元件12在输入端106与输出端108电耦合之前已经通过该短路放电，并且在输入端106与输出端108电耦合之后不再有放电电流流动，或者如果本征电容还没有完全放电，则仅仅很小的放电电流流经第二开关104。

为了关于短路检查第一发光二极管元件12，第一开关101因此首先被切换到其第一开关状态，即被闭合，并且第二开关104被接通到其第二开关状态，即断开。器件分支22和尤其是第一发光二极管元件12借助驱动电路20来供应电能。接着，驱动电路20被关断和/或第一开关101被断开，使得器件分支22的电能供应中断。在预先确定的持续时间之后，第二开关104闭合，使得在输入端106和输出端108之间建立直接的电耦合。换句话说，输入端106和输出端108通过第二开关104被短路。同时，借助电流测量设备105检测在输入端106和输出端108电耦合的情况下流经第二开关104的放电电流。特别是检测放电电流的最大值。如果放电电流和/或放电电流的最大值等于零或近似等于零，则识别出：在第一发光二极管元件12中存在短路。如果放电电流的最大值不等于零、特别是大于零和/或例如对应于放电电流的预先确定的额定值，则识别出不存在短路。必要时可以将预先确定的额定值存储在用于关于短路检查光电子组件100的分析单元和/或计算单元的存储器单元上。

预先确定的持续时间例如可以根据经验确定。例如可以确定，在中断器件分支22的能量供应之后多长的持续时间之后，器件分支22的部段102上的电压对应于部段102的所有发光二极管元件12的阈值电压的和。这样确定的持续时间可以被预先确定为预先确定的持续时间。换句话说，只有当部段102的发光二极管元件12上的相应电压下降到其阈值电压上时，输入端106和输出端108才被电耦合，并且才检测放电电流的最大值。 预先确定的持续时间可以位于例如50μs至60s、例如500μs至1s、例如1ms至500ms、例如10ms至100ms的范围内。这可以有助于能够精确地确定最大值和/或可靠地识别短路。

前述的用于运行光电子组件100的方法例如可以作为特定的测试情景例如在切断驱动电路20中和/或在汽车领域中在切断具有光电子组件100的汽车灯中被充分利用。替代地或附加地，例如如果光电子组件100是机动车的闪烁灯的一部分，则测试方法可以在脉冲地运行（PWM运行）光电子组件100中一次、多次和/或定期以一个或多个脉冲停顿来执行。

图5示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件100例如可以在很大程度上对应于图4中所示的光电子组件100。光电子组件100具有四个发光二极管元件12、14、16、18，其在器件分支22和部段102中电串联。

如果发光二极管元件12、14、16、18不具有短路，则所述发光二极管元件在中断器件分支22的能量供应之后、特别是在断开第一开关101之后，由于其本征电容而通过其本征体电阻和有机功能层结构放电直至其阈值电压，其中各个阈值电压相加成器件分支22上的总电压。因此总电压对应于单个电压的和。在四个发光二极管元件12、14、16、18的情况下，总电压对应于单个电压的四倍。换句话说，由于本征电容，能量的剩余量继续存储在发光二极管元件12、14、16、18中，该剩余量能够作为总电压来测量。由发光二极管元件12、14、16、18的电极电阻的和得出部段102上的总电阻。该总电阻在发光二极管元件12、14、16、18的预先确定的数量n的情况下总是相同的，不依赖于所述发光二极管元件12、14、16、18中的一个是否具有短路。因此，放电电流的最大值对应于n倍的阈值电压与n倍的电极电阻的商，其中n可以缩小并且该商与发光二极管元件12、14、16、18的数量n无关。

如果在发光二极管元件12、14、16、18之一存在短路，例如在第二发光二极管元件14中存在短路，则在该第二发光二极管元件14中存储的能量通过短路电阻24放电并且总电压减小了所述一个阈值电压。然而，部段102上的由本征电极电阻的和得出的总电阻保持不变，因此商的值进而放电电流的最大值减小。在输入端106与输出端108通过第二开关104电耦合的情况下，在器件分支22中存储的能量因此通过第二开关104放电，并且放电电流的最大值能够借助电流测量设备105来测量。放电电流的最大值对应于完好的发光二极管元件12，16，18的阈值电压的和与所有发光二极管元件12、14、16、18的电极电阻的商。也就是说，在数量为n个发光二极管元件12、14、16、18的情况下，放电电流的最大值在存在一个短路的情况下比在只有完好的发光二极管元件12、14、16、18的情况下小了最大值乘以1/n。所检测的最大值与预先确定的额定值的偏差可以借助未示出的计算单元、例如与电流测量设备105和/或驱动电路20耦合的分析单元来识别。预先确定的额定值例如可以存储在计算单元或分析单元中。温度对放电电流的最大值的影响可以通过以下方式被消除或至少被最小化，即始终在相同的温度下执行关于短路的检查，例如在使用未示出的温度传感器的情况下。

因此在该方法中，在中断器件分支22的能量供应之后，器件分支22的待检查的部段102通过输入端106与输出端108借助第二开关104的电耦合而被短路，并且测量放电电流的最大值。放电电流的该最大值不显著地依赖于器件分支22、特别是部段102中的发光二极管元件12、14、16、18的数量。经由电耦合的放电电流在电耦合的时间点并且直接在电耦合之后达到最大值。然后，放电电流减小，因为部段102的总电容（Cges）以时间常数T = Rges * Cges放电，该总电容由部段102的发光二极管元件12、14、16、18的电容来确定（参见图3）。最大值（I_MAX）的结果是I_MAX= Uges / Rges。

部段102的总电阻Rges近似由电极电阻42、48、54的电阻值Rele的和得出，此外该总电阻Rges也可以包括导线电阻和/或电流测量设备的电阻，所述导线电阻和/或电流测量设备的电阻然而在本实施例中被忽略不计。在实践中，可以有利地选择电流测量设备，使得其具有小的电阻、特别是可以忽略不计的电阻。如果不存在短路，因此得出放电电流的最大值I_MAX为：I_MAX=n×Uf /（n×Rele）= Uf / Rele，因为发光二极管元件的数量n被抵消。也就是说，放电电流的最大值I_MAX与发光二极管元件12、14、16、18的数量n无关。

在发光二极管元件12、14、16、18之一短路的情况下、即在数量（n-1）个无瑕疵的发光二极管元件12、16、18和一个短路的发光二极管元件14的情况下，被短路的发光二极管元件14很快地通过短路电阻放电，并且在电耦合前不久存在的电压减小了单个电压Uf。然而电极电阻Rele的数量保持不变，由此放电电流的最大值I_MAX在当前的短路的情况下必须比在没有短路的发光二极管元件14的器件分支22、特别是部段102的情况下的更小。特别是放电电流的最大值的结果为：

I_MAX= Uf ×（n-1）/（n×Rele）=（Uf / Rele）×（n-1）/ n。

如果存在具有短路的一个发光二极管元件12、14、16、18，则放电电流的最大值I_MAX因此比在没有短路的发光二极管元件12、14、16、18的无瑕疵的器件分支22中的最大值减小了1/ n倍。此外，放电电流的最大值I_MAX与分支长度、即部段102中的发光二极管元件12、14、16、18的数量n无关，也就是说，该最大值可以固定地被编程到相应的分析单元中。特别是近似适用：

I_MAX（n = 7）= I_MAX（n = 6）>I_MAX（n = 7，但是一个短路）。

在例如2至7个部件的分支长度的情况下，这例如对于SELV <60V是典型的，最大值I_MAX在出现一个短路的情况下下降到86％（7个部件的分支）至50％（2个部件的分支）的值上。因此，在7个发光二极管元件12、14、16、18的情况下存在14％的系统的识别余量。

替代地，光电子组件100可以一个以上的器件分支22，一个以上的部段102和/或更多或更少的发光二极管元件12、14、16、18。

图6示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件100例如可以在很大程度上对应于图5中所示的光电子组件100。光电子组件100具有器件分支22，其中器件分支22具有在此上下文中被称为第一部段102的部段102和第二部段110。第一部段102具有输入端106和输出端108，所述输入端106和输出端108在此上下文中被称为第一输入端106或第一输出端108。第二部段110具有第二输入端116和第二输出端118。第一输出端108可以对应于第二输入端116或直接与第二输入端116电耦合。

第三开关112与第二部段110电并联。第三开关112在一侧与第一输出端108和/或第二输入端116电耦合，并且在另一侧与第二输出端118、电流测量设备105和驱动电路20电耦合。第三开关112在其第一开关状态下将第一输出端108与第二输出端118和/或第二开关104电耦合。换句话说，在第三开关112的第一开关状态下，电流从第二部段110绕行，使得只有第一部段102被供应能量。第三开关112例如被连接在器件分支的阴极或地（地面/ GND）与第一和第二发光二极管元件12、14之间的节点之间，并且在闭合的状态下桥接所有发光二极管元件14、16、18，除了在图6中最上面的、尤其是器件分支22的第一发光二极管元件12。对于第二和/或第三开关104、112可以使用成本适宜的N-MOSFET或NPN晶体管。

如果第三开关112处于其第一开关状态中，则在图6中示出的光电子组件100的功能对应于在图4中所示的光电子组件100，其中第一发光二极管元件12可以根据在图4中所示的光电子组件100关于短路被检查。尤其是，在关于短路的检查开始时可以首先闭合第三开关112，并且然后闭合第一开关101，并且第一部段102被供应能量，或者可以首先闭合第一开关101并且整个器件分支22被供应能量，并且然后闭合第三开关112。接着，将第一输入端106与第一输出端108借助第二开关104耦合，并且通过电流测量设备105确定放电电流的最大值。

如果识别出在第一发光二极管元件12中没有短路，则放电电流的所检测的最大值可以被称为第一最大值并且被预先确定为额定值用于进一步的测量方法。

如果第三开关112处于其第二开关状态中、即被断开，则在图6中示出的光电子组件100的工作方式对应于在图5中示出的光电子组件100。 然而与此不同地，现在在关于发光二极管元件12、14、16、18之一的短路检查第二部段110时，之前在第一部段102中确定的并且预先确定的额定值可以被考虑作为参考和比较值。特别是，在断开的第三开关112的情况下，可以闭合第一开关101并且器件分支22可以被供应能量。接着，将第一输入端106与第二输出端118借助第二开关104耦合，并且通过电流测量设备105确定放电电流的第二最大值。第二最大值现在可以与预先确定的额定值、特别是第一最大值进行比较。如果第二最大值等于或至少约等于第一最大值，则第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18不具有短路。如果第二最大值不等于或不至少约等于第一最大值，则第二、第三和/或第四发光二极管元件14、16、18具有短路。（第一发光二极管元件12已被检查）。

如果第一发光二极管元件12不具有短路，第一最大值的确定和第一最大值作为额定值的预先确定，在第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18与第一发光二极管元件12结构相同并且因此遭受与第一发光二极管元件12相同的老化、磨损或温度状态的情况下可能是特别有利的。老化、磨损或温度的影响于是已经进入到预先确定的额定值中并且因此已经被考虑并且因此可以完全或至少部分地被消除。第一发光二极管元件12和其他发光二极管元件14、16、18关于短路的检查应该短暂地依次地被执行，例如最大间隔几秒地依次地被执行，以便发光二极管元件12、14、16、18的温度能够不过强烈地改变，并且能够不使检查失真。

不存在以下必要性：必须为放电电流预编程或预先确定额定值形式的好/差阈值并且因此基于确定类型的发光二极管元件12、14、16、18设计光电子组件100。与此不同，可以将极不同类型的发光二极管元件12、14、16、18布置在器件分支22中，只要所有是相同类型。关于短路的检查因此不仅与分支长度无关，而且与发光二极管元件12、14、16、18的类型无关，特别是与所使用的OLED类型无关。此外，温度和老化影响被最小化，其中仅仅一个开关、更多特别是第三开关112是附加必需的。第三开关112例如可以具有晶体管或由该晶体管构成。此外，可以简单并且成本适宜地驱控第三开关112，因为用于相应MOSFET的控制信号可以参考地。

替代地，第三开关112也可以连接在第一部段102的输入端与第三和第四发光二极管元件16、18之间的部位之间。于是第三开关112在闭合的状态下桥接第一、第二和第三发光二极管元件12、14、16，使得器件分支22的最后的发光二极管元件、特别是第四发光二极管元件18可以独立于其他发光二极管元件地运行和检查。

图7示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件100例如可以在很大程度上与在图6中示出的光电子组件100相对应地构造。第一部段102至少具有第一和第二发光二极管元件12、14。第二部分110至少具有第三和第四发光二极管元件16、18。第一输出端108和第二输入端116被布置在第二发光二极管元件14和第三发光二极管元件16之间。第三开关112在一侧与第一输出端108和/或第二输入端116电耦合，并且在另一侧与第二输出端108电耦合。第三开关112与第二部段110电并联。第三开关112在其第一开关状态下将第一输出端108和第二输出端118直接相互电耦合。

组件100具有第四开关114。第四开关114在一侧与第一输入端106电耦合，并且在另一侧与第一输出端108和/或第二输入端116电耦合。第四开关114与第一部段102电并联。第四开关114在其第一开关状态下将第一输入端106和第二输入端108直接相互电耦合。

因此，在闭合的第三开关112和断开的第四开关114的情况下，只有第一部段102能够被供应电能，并且在闭合的第四开关114和断开的第三开关112的情况下，只有第二部段110能够被供应电能。

在给部段102、110之一供应电能的情况下，发光二极管元件12、14、16、18的本征电容充电，并且在中断能量供应的情况下放电直至各个发光二极管元件12、14、16、18的阈值电压，使得在相应部段102，110上出现由各个阈值电压的和组成的总电压。随着第二开关104的闭合，于是可以进行相应发光二极管元件12、14、16、18的放电，并且可以检测到放电电流的最大值。根据放电电流的最大值，根据在上文中解释的方法可以针对所述部段102、110中的每个单独地检查，相应部段102、110是否具有拥有短路的发光二极管元件12、14、16、18。关于短路的检查基本上可以与在上文中解释的检查对应地执行。替代地或附加地，所检测的最大值可以相互比较，由此可以相对和/或冗余地检查短路的存在。

原则上，在检测放电电流的最大值时，所检查的器件分支22或部段102、110越短，短路的标志就越显著。在一个短路的情况下，最大值原则上下降到没有短路的最大值的（（n-1）/n）倍。在例如两个发光二极管元件12、14的情况下，最大值下降到无短路情况下的值的50％。这可以更可靠地被识别，特别是，这与在具有例如八个发光二极管元件12、14、16的器件分支22或部段102、110的情况下相比允许更大的波动、更大的公差、更大的温度差和/或老化表现，在具有例如八个发光二极管元件12、14、16的器件分支22或部段102、110的情况下，最大值仅下降到其没有短路情况下的值的87.5％。

在图7中示出的光电子组件100中，器件分支22借助部段102、110和第三和第四开关112、114被对分，并且器件分支22中的短路的标志变得更明显。为此执行两次检查来代替一次检查。可选地，例如如果器件分支22还具有其他发光二极管元件12、14、16、18，则还可以添加其他开关。

图8示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件例如可以在很大程度上对应于在图5中解释的光电子组件100。光电子组件100具有无机发光二极管元件12、14、16。无机发光二极管元件12、14、16具有与有机发光二极管元件相比相对小的电极，并且电极电阻以及本征电容是相对小的。因此，在该光电子组件100中，光电子器件与发光二极管元件12电并联，使得具有无机发光二极管元件12、14、16的器件分支22的电子行为至少类似于具有有机发光二极管元件的相应器件分支的电子行为。

特别是，第一电容器44和第一欧姆电阻42与第一发光二极管元件12并联。第二电容器50和第二欧姆电阻48与第二发光二极管元件14并联。与第三发光二极管元件16并联地，第三电容器56和第三欧姆电阻54电串联。电容器44、50、58对应于相应的本征电容以及电阻42、48、54对应于在上文中解释的有机发光二极管元件12、14、16、18的本征电极电阻。

在给器件分支22供应电能的情况下，电容器44、50、56充电。在中断器件分支22的能量供应之后，该器件分支22放电直至在电容器44、50、56中储存的能量。在闭合第二开关104的情况下，电容器44，50、56通过第二开关104放电，使得放电电流的最大值可以借助电流测量设备105来检测。如果发光二极管元件12、14、16之一具有短路，那么相应电容器44、50、56甚至完全不充电或者在通过断开第一开关101中断能量供应之后已经放电。在断开第一开关101之后所存在的总电压于是又减小了相应电容器44、50、56的电容器电压，由此放电电流的最大值减小到n-1/n倍。因此，在上文中解释的用于运行光电子组件100、特别是用于确定发光二极管元件12、14、16、18之一中的短路的方法可以容易地被转移到具有无机发光二极管元件12、14、16的光电子组件100上。

电容器44、50、56和相应的电阻42、48、54分别成对地构成一个并联RC元件并且负责：电阻随着LED模块、特别是发光二极管元件12、14、16的数量n线性增大，在闭合第二开关104时电容通过该电阻放电。由此没有短路的放电电流的最大值如前面解释的那样又与LED模块的数量无关。电容器44、50、56导致阈值电压足够长地保持，如有机发光二极管元件的本征电容那样。被短路的LED模块的电容器44、50、56通过该LED模块的短路快速放电，并且在闭合第二开关104的瞬间失去其阈值电压。然而，对于总电容的放电，所短路的LED模块的电阻42、48、52始终还在放电回路中，由此器件分支的总电阻保持不变，因为在闭合第二开关104的时间点的放电电流是高频电流，对于所述高频电流，电容器44、50、56只是小的电阻。电容器44、50、56和相应的电阻42、48、54可以简单并且成本适宜地被一同安装在相应LED模块的未示出的电路板上。

如果电阻42、48、54的电阻值足够小地选择并且电容器44、50、56的电容足够大地选择，则电容器44、50、56也可以被用作附加的平滑电容器（电流脉动）和/或代替通常在驱动电路20中存在的输出电容器。

图9示出具有电压和电流的示例性曲线的图形。特别是，图9中的上图示出第一电压曲线120和第二电压曲线122。在时间点t = 0，器件分支22被供应能量并且电压曲线120、122分别上升到第一电压值124或第二电压值126上。第一电压曲线120对应于存在一个短路的情况下的电压，并且第二电压曲线122对应于不存在短路的情况下的电压。在第一时间点132，中断器件分支22的能量供应，使得总电压下降到完好的发光二极管元件12、14、16的阈值电压之和。特别是，第一电压曲线120下降到第三电压值128并且第二电压曲线122下降到第四电压值130。

图9中的下图示出放电电流的电流曲线，该放电电流除了第二时间点134之外基本上是零，在第二时间点，放电电流短暂地达到其最大值136。所检测的最大值130在仅仅完好的、即无瑕疵的发光二极管元件12、14、16、18的情况下与器件分支22和/或部段102、110之一中的发光二极管元件12、14、16、18的数量n无关。

图10示出测量值的示例性表格。在表格的第一列中说明待检查的部段102、110中的发光二极管元件12、14、16、18的数量n。在第二列中说明在相应部段102、110中不存在短路的情况下的放电电流的最大值I_MAX。在第三列中说明在不存在短路的情况下的相应部段102、110上的总电压Uges。在第四列中说明发光二极管元件12、14、16、18上的平均单个电压Uges /n。在第五列中说明在发光二极管元件12、14、16、18中分别一个具有短路的情况下的放电电流的最大值I_MAX。在第六列中说明在发光二极管元件12、14、16、18之一具有短路的情况下的相应部段102、110上的总电压Uges。在第七列中说明在发光二极管元件12、14、16、18之一具有短路的情况下的发光二极管元件12、14、16、18中的每个上的平均单个电压Uges /（n-1）。在第八列中说明在存在一个短路的情况下的放电电流的凭经验确定的最大值I_MAX相对于在仅仅无瑕疵的发光二极管元件12、14、16、18的情况下的放电电流的相应的凭经验确定的最大值I_MAX的百分比偏差VGL。在第九列中说明相应的理论上计算的期望值EW。在第十列中说明凭经验确定的偏差VGL与相应的理论上确定的期望值EW的差DEL。

从图9和10中得知，借助在前面解释的用于运行组件100的方法和/或借助在前面示出的组件100能够以简单的方式并且可靠地识别短路。

图形和表格确认在上文中描述的方法的工作方式。在光电子组件100的运行期间的由电压曲线120、122所表示的总正向电压可以根据短路的类型、大小和/或电阻值强烈地变化。放电电流的最大值136原则上在考虑可接受的公差的情况下与发光二极管元件12、14、16、18的数量无关。该最大值136在一个短路的发光二极管元件12、14、16、18的情况下下降到没有短路的最大值136的（n-1）/n倍。

图11示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件例如可以在很大程度上与在图6中示出的光电子组件100对应地构造。第一部段102至少具有第一发光二极管元件12。第二部段110至少具有第一和第二发光二极管元件12、14。第三部段140至少具有第一、第二和第三发光二极管元件12、14、16。第一输入端106和第二输入端116相互对应。第一输出端108被布置在第一和第二发光二极管元件12、14之间。第二输出端118被布置在第二和第三发光二极管元件14、16之间。第三部段140的第三输入端对应于第一和第二输入端106、116。第三部段140的输出端被布置在第三和第四发光二极管元件16、18之间。第四部段具有器件分支22的所有发光二极管元件12、14、16、18。第四部段的输入端对应于第一和第二输入端106、116。

第三开关112在一侧与第二输出端118电耦合并且在另一侧与第二电流测量设备141电耦合。第三开关112在其第一开关状态下将第三和第四发光二极管元件16、18桥接。第四开关144在一侧与第一输出端108电耦合并且在另一侧与第三电流测量设备142电耦合。第四开关144在其第一开关状态下将第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18桥接。第五开关146在一侧与第三部段140的第三输出端电耦合并且在另一侧与第四电流测量设备143电耦合。第五开关146在其第一开关状态下将第四发光二极管元件18桥接。

因此，在闭合的第四开关144的情况下，仅仅第一部段102可以被供应电能。此外，在断开的第四开关144和闭合的第二开关112的情况下，第二部段110可以被供应电能。此外，在断开的第四开关144、断开的第二开关112和闭合的第五开关146的情况下，第三部段140可以被供应电能。如果第二、第四和第五开关112、144、146都断开并且因此分别处在其第二开关状态下，那么整个器件分支22可以被供应能量。

在所述部段102、110、140之一或整个器件分支22被供应电能的情况下，相应的发光二极管元件12、14、16、18的本征电容充电。在中断能量供应之后，本征电容放电，只要不存在短路，就放电仅仅直至相应的各个发光二极管元件12、14、16、18的阈值电压，使得在相应的部段102、110、140上出现由完好的发光二极管元件12、14、16、18的各个阈值电压之和构成的相应的总电压Uges。在第一输入端106通过第二开关104和第四开关144与第一输出端108电耦合的情况下，由于该阈值电压，短暂的放电电流流经该电耦合。在完好的第一发光二极管元件12的情况下，放电电流的最大值对应于第一发光二极管元件12的阈值电压与电极电阻的商，其中忽略引线电阻和接触电阻。在完好的第一发光二极管元件12的情况下，如果第一部段102只有第一发光二极管元件12，则第一发光二极管元件12的电极电阻可以被预先确定为最大值的额定值。如果在第一发光二极管元件12中存在短路，则第一发光二极管元件12在第一输入端106与第一输出端108电耦合之前就已经通过该短路放电并且在第一输入端106与第一输出端108电耦合时不再有放电电流流动，或者如果本征电容还没有完全放电，则仅仅很小的放电电流流经第二和第四开关104、144。

因此，为了关于短路检查第一发光二极管元件12，第一开关101首先被切换到其第一开关状态、即被闭合，并且第二、第三、第四和第五开关104、112、144、146被切换到其第二开关状态、即被断开。借助驱动电路20给器件分支22供应电能。接下来，驱动电路20被关断和/或第一开关101被断开，使得器件分支22的电能供应被中断。在预先确定的持续时间之后，第二开关104和第三、第四或第五开关104、112、144、146才闭合，使得在部段102、110、140的输入端106、116之一和相应的输出端108、118之间建立直接的电耦合。同时，借助相应的电流测量设备105、142、141、143检测在该电耦合中流动的放电电流。特别是检测放电电流的最大值。关于短路的检查基本上可以对应于在上文中解释的检查来执行。

替代地，为了检测器件分支22的各个部段的短路，第二开关104可以保持断开。例如，于是可以定义以下部段，使得该部段仅具有第四发光二极管元件18，并且相应的部段、尤其是第四发光二极管元件18于是可以通过以下方式关于短路被检查，即相应部段的输入端通过第五开关146和第四电流测量设备143与相应部段的输出端电耦合。于是可以借助第四电流测量设备143检测经过相应部段的放电电流的最大值。替代地或附加地，于是可以定义以下部段，使得该部段仅仅具有第三和第四发光二极管元件16、18，并且相应部段、特别是第三和第四发光二极管元件16、18于是可以通过以下方式关于短路被检查，即相应部段的输入端通过第三开关112和第二电流测量设备141与相应部段的输出端电耦合。于是可以借助第二电流测量设备141检测经过相应部段的放电电流的最大值。替代地或附加地，于是可以定义以下部段，使得该部段仅仅具有第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18，并且相应部段、特别是第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18于是可以通过以下方式关于短路被检查，即相应部段的输入端通过第四开关144和第三电流测量设备142与相应部段的输出端电耦合。于是可以借助第三电流测量设备142检测经过相应部段的放电电流的最大值。相应部段随后参考图12来解释。

替代地或附加地，所检测的最大值可以在考虑所述部段102、110、140中不同数量的发光二极管元件12、14、16、18的情况下相互比较，由此可以相对和/或冗余检查短路的存在。基本上，在检测最大值时，所检查的器件分支22或部段102、110、140越短，短路的标志就越显著。

在图11中所示的实施例中，始终只有一个发光二极管元件12、14、16、18被布置在开关112、144、146的两个端子之间。替代于此，然而也可以将两个或更多个发光二极管元件12、14、16、18布置在开关112、144、146的两个端子之间。此外，可以放弃第四开关144或第五开关146，或者还可以布置其他开关，使得这些开关定义新的部段并且分别直接与地连接。

图12示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件例如可以在很大程度上与在图11中示出的光电子组件100对应地构造。

在本实施例中，定义第一部段102，使得第一部段仅具有第四发光二极管元件18。定义第二部段110，使得第二部段具有第三和第四发光二极管元件16，18。定义第三部段140，使得第三部段具有第二、第三和第四发光二极管元件18。第一电流测量设备105被连接在器件分支22的输出端与开关112、144、146以及驱动电路20之间。

为了关于短路检查整个器件分支22，第二开关104可以被闭合，并且第三、第四和第五开关112、144、146可以保持断开。可以通过以下方式关于短路检查第一部段102、特别是第四发光二极管元件18，即第一部段102的输入端通过第五开关146和第一电流测量设备105与相应部段的输出端电耦合。于是可以利用第一电流测量设备105检测经过第一部段102的放电电流的最大值。替代地或附加地，可以通过以下方式关于短路检查第二部段110、特别是第三和第四发光二极管元件16、18，即第二部段110的输入端通过第三开关112和第一电流测量设备105与第二部段110的输出端电耦合。于是可以利用第一电流测量设备105检测经过第二部段110的放电电流的最大值。替代地或附加地，可以通过以下方式关于短路检查第三部段140、特别是第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18，即第三部段140的输入端通过第四开关144和第一电流测量设备105与第三部段140的输出端电耦合。于是可以利用第一电流测量设备105检测经过第三部段140的放电电流的最大值。

在图12中示出的光电子组件100中，开关112、144、146中的每个可以是与地直接连接的晶体管、例如MOSFET。由此可以简单并且成本适宜地驱控相应的开关112、144、146，因为相应MOSFET的控制信号可以参考地。此外，仅需要电流测量设备105、特别是第一电流测量设备105，以便能够检测最大值中的每个单独的最大值。电流测量设备105也可以直接参考地。这能够实现光电子组件100的成本适宜的实施和/或最大值的特别精确的检测。此外，第一电流测量设备105在光电子组件100的正常运行期间可以被用于调节光电子组件100。

本发明不限于所说明的实施例。例如所示出的器件分支22可以分别具有更多或更少的发光二极管元件12、14、16、18和/或更多或更少的部段102、110、140和相应更多或更少的开关104、112、144、146。此外，光电子组件100可以具有一个、两个或更多个另外的器件分支22。此外，实施例可以相互组合。例如，在所有实施例中可以使用无机发光二极管元件12、14、16、18，例如连同相应的电容器44、50、56和电阻42、48、54。

此外，在根据图4至11的实施方式和/或实施例中基本上适用：器件分支22的输入端可以对应于第一部段102的输入端和/或第一发光二极管元件12的第一电极，并且器件分支22的输出端可以对应于最后部段的输出端、例如第二部段110的输出端和/或器件分支22的最后发光二极管元件、例如第四发光二极管元件18的第二电极。

此外，在根据图12的实施方式和/或实施例中基本上适用：器件分支22的输出端可以对应于第一部段102的输出端和/或第一发光二极管元件12的第二电极，并且器件分支22的输入端可以对应于最长部段的输入端和/或器件分支22的第一发光二极管元件12的第一电极。

此外，发光二极管元件12、14、16之一的第二电极基本上可以对应于随后的发光二极管元件14、16、18的第一电极。如果器件分支22具有多个部段102、110，则部段102的输出端基本上可以对应于相应部段102中的最后的发光二极管元件12、14的第二电极和/或随后的部段110的输入端和/或随后的部段110中的第一发光二极管元件16、18的第一电极。

如果仅构造一个部段102，则该部段可以对应于器件分支22和/或被称为器件分支22。如果部段102和/或器件分支22仅具有一个发光二极管元件12，则该发光二极管元件12基本上代表部段102或器件分支22。